汽車電子系統(tǒng)中使用的功率器件" title="功率器件">功率器件必須能抵受極為嚴(yán)峻環(huán)境的考驗(yàn)：它們必須能承受關(guān)閉瞬流和負(fù)載切斷電源故障引起的高壓毛刺；若環(huán)境工作溫度超過(guò)120℃,，器件結(jié)溫則將隨之而來(lái)升高,；線束中的眾多連接器位于方便組裝和維修的位置,，這可能造成器件電氣連接的間斷,。由于新的負(fù)載需要的功率越來(lái)越大,，所以即使在正常的條件下工作,，器件承受的壓力也明顯加大,。

　　為了提高系統(tǒng)可靠性并降低保修成本,，設(shè)計(jì)人員在功率器件中加入故障保護(hù)電路,，以免器件發(fā)生故障，避免對(duì)電子系統(tǒng)造成高代價(jià)的損害,。這通常利用外部傳感器,、分立電路和軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)，但是在更多情況下,，設(shè)計(jì)人員使用完全自保護(hù)" title="自保護(hù)">自保護(hù)的MOSFET" title="MOSFET">MOSFET功率器件來(lái)完成,。隨著技術(shù)的發(fā)展，MOSFET功率器件能夠以更低的系統(tǒng)成本提供優(yōu)異的故障保護(hù),。

　　圖1顯示了完全自保護(hù)MOSFET的一般拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),。這些器件常見(jiàn)的其他特性包括狀態(tài)指示、數(shù)字輸入,、差分輸入和過(guò)壓及欠壓切斷,。高端配置包括片上電荷泵功能。但是,，大多數(shù)器件都具備三個(gè)電路模塊,，即電流限制、溫度限制和漏-源過(guò)壓箝制,，為器件提供大部分的保護(hù),。

　　圖1：完全自保護(hù)MOSFET的一般拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

　　短路故障

　　最常見(jiàn)也最麻煩的故障可能是短路,。這類故障有以下幾種形式：負(fù)載間的短路,、開(kāi)關(guān)間的短路或電源接地的短路。而且,，這些短路器件啟動(dòng)和關(guān)閉時(shí)都會(huì)發(fā)生,。由于短路故障通常是間歇性，即使在很短時(shí)間中就存在多種形式,，使問(wèn)題更為棘手,。例如，在器件之間發(fā)生短路而MOSFET關(guān)閉的情況下,，電流通過(guò)短路向MOSFET周圍分流,。

　　然而，如果短路是間歇性、負(fù)載為電感的情況下,，電流中斷將在MOSFET上產(chǎn)生一個(gè)反激（flyback）電壓,。根據(jù)短路持續(xù)的時(shí)間和電阻，負(fù)載電感中的峰值電流可能會(huì)高于正常工作時(shí)的峰值電流,。因此,，器件比預(yù)期吸收更多的能量，而且多個(gè)間歇性短路事件的快速連續(xù)發(fā)生會(huì)導(dǎo)致峰值結(jié)溫急劇升高,，從而對(duì)器件產(chǎn)生潛在的破壞性,。

　　過(guò)溫故障

　　其他故障包括器件引腳的靜電放電（ESD）、線路瞬流或電感負(fù)載開(kāi)關(guān)引起的過(guò)壓,，還有就是過(guò)熱,。過(guò)溫故障通常由其他故障引起，如短路便會(huì)快速增加器件的功耗,，也可能由極端環(huán)境條件或熱路徑異常引起,，如器件散熱器和電路板之間的焊料失效。在諸多故障模式下,，自保護(hù)MOSFET產(chǎn)品的控制電路以一種安全模式來(lái)檢測(cè)并控制器件工作,，使器件在故障修復(fù)后可以恢復(fù)正常功能。

　　由于有源元件（MOSFET門極氧化物接口除外）已與門極輸入引腳連接,，因此漏極與源極之間短路時(shí),，此引腳的泄漏電流（50-100uA）比標(biāo)準(zhǔn)MOSFET泄漏電流的測(cè)量值（ 《 50nA）大三個(gè)數(shù)量級(jí)。泄漏電流的增加通常不會(huì)對(duì)門極驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生影響,，但是,，門極驅(qū)動(dòng)電路必須能夠在電流限制或熱關(guān)機(jī)故障情況下驅(qū)動(dòng)足夠大的電流。在過(guò)流和過(guò)溫故障的情況下,，器件一般將功率MOSFET門極節(jié)點(diǎn)電壓下拉至接近飽和的工作門限電壓或零伏,，以完全關(guān)閉器件。

　　通常門極輸入引腳和功率MOSFET門極節(jié)點(diǎn)之間存在一個(gè)串聯(lián)電阻Rs,，所以吸收的輸入電流大約等于（Vin-Vgate）/Rs,。器件通常在結(jié)溫超過(guò)預(yù)設(shè)限制溫度時(shí)關(guān)閉。在這種情況下,，Vgate=0伏,，所以在過(guò)溫故障時(shí)必須產(chǎn)生一個(gè)等于Vin/Rs的最小源極電流。否則,，內(nèi)部門極下拉電路將無(wú)法關(guān)閉功率場(chǎng)效應(yīng)管,，使其結(jié)溫可能達(dá)到產(chǎn)生破壞作用的水平。

　　過(guò)溫保護(hù)

　　通常過(guò)溫保護(hù)" title="過(guò)溫保護(hù)">過(guò)溫保護(hù)是通過(guò)對(duì)主功率MOSFET有源區(qū)域的溫敏器件（一般為二極管）設(shè)置偏壓來(lái)實(shí)現(xiàn)的,。若這些元件偵測(cè)到芯片結(jié)溫超過(guò)過(guò)溫設(shè)定值時(shí),，電路將主功率MOSFET門極拉至地,，關(guān)閉該器件。一些器件內(nèi)置滯后電路,，使器件可以在芯片結(jié)溫稍微下降（一般下降10℃-20℃）后返回導(dǎo)通狀態(tài),。圖2顯示安森美的NIF5022N器件短路電流和時(shí)間響應(yīng)之間的關(guān)系。在其它器件中,，若檢測(cè)到過(guò)溫故障情況,，電流將鎖存,，而輸入引腳必須固定對(duì)鎖存進(jìn)行復(fù)位,。

　　在過(guò)溫故障情況下，必須考慮兩個(gè)主要問(wèn)題,。首先,，溫度限制關(guān)斷電路通常與電流限制電路協(xié)同工作，即電流限制電路將門極節(jié)點(diǎn)驅(qū)動(dòng)至接近閾值電壓來(lái)使器件進(jìn)入飽和工作模式,，以便保持電流限制設(shè)定點(diǎn),。在負(fù)載間短路的情況下，這意味著在通過(guò)高電流時(shí),，功率MOSFET上的壓降接近電源電壓,。這種高功率情況很快地引起過(guò)溫故障。對(duì)于采用熱滯后電路讓零件在過(guò)溫故障情況下循環(huán)導(dǎo)通和關(guān)閉的器件,，結(jié)溫將穩(wěn)定在滯后電路高低設(shè)定點(diǎn)之間的溫度,。這與高溫可靠性測(cè)試類似，都取決于器件在故障情況下的工作時(shí)間,。一般來(lái)說(shuō),，當(dāng)器件的可靠性下降變成一個(gè)受重視的問(wèn)題時(shí)，別指望在故障情況下該器件工作幾千小時(shí)或更長(zhǎng)時(shí)間,。

　　圖2：NIF5022N器件短路電流和時(shí)間響應(yīng)之間的關(guān)系,。

　　更切合實(shí)際的考慮是，當(dāng)應(yīng)用電路在故障情況下將門極輸入循環(huán)地打開(kāi)并關(guān)閉,，使結(jié)溫可以在過(guò)溫事件之間的這段時(shí)間中進(jìn)行冷卻,。在這種情況下，器件進(jìn)入內(nèi)部熱循環(huán),，器件承受的熱循環(huán)數(shù)量有一定的限制,。循環(huán)的次數(shù)與許多因素有關(guān)，包括結(jié)溫幅度差,、溫度偵測(cè)布局和電路設(shè)計(jì),、硅結(jié)構(gòu)、封裝技術(shù)等,。設(shè)計(jì)人員必須清楚應(yīng)用電路是否可以在短路或其他激發(fā)過(guò)溫保護(hù)故障情況下對(duì)受保護(hù)的MOSFET進(jìn)行循環(huán),，然后評(píng)估器件在這些情況下的可靠性。這種故障模式分析可省去昂貴的場(chǎng)回路。

　　第二個(gè)問(wèn)題涉及到當(dāng)過(guò)溫保護(hù)無(wú)效,、隨后可能發(fā)生器件故障時(shí)器件的工作情況,。當(dāng)關(guān)閉電感負(fù)載時(shí)，器件必須吸收存儲(chǔ)在負(fù)載電感中的能量,。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)的MOSFET,，這種工作模式稱為非箝制感應(yīng)開(kāi)關(guān)（UIS）。在UIS事故中,，器件的漏-源硅結(jié)處于雪崩狀態(tài),，器件產(chǎn)生大量功耗（大小取決于雪崩電壓和峰值電流值）。當(dāng)MOSFET吸收的能量使結(jié)溫超過(guò)硅結(jié)構(gòu)的內(nèi)部溫度（一般超過(guò)300℃）時(shí),，UIS事故的普通故障模式將發(fā)生,。當(dāng)結(jié)溫超過(guò)內(nèi)部溫度時(shí)，器件不再像一個(gè)半導(dǎo)體,，門極控制出錯(cuò),，而且器件會(huì)快速毀壞，除非漏極電源功率立即消失,。自保護(hù)的MOSFET可能遭受同樣的情況,，因?yàn)楫?dāng)門極輸入電壓對(duì)控制電路進(jìn)行偏置時(shí)，由于門極偏置為零,，過(guò)溫限制電路處于無(wú)效狀態(tài),。在正常工作和最壞的故障情況下（如器件間歇性短路的情況），電路設(shè)計(jì)人員必須確保器件吸收的能量不超過(guò)最大額定值,。另外,，即使出現(xiàn)最高能量額定值，能量脈沖之間必須有足夠的時(shí)間讓結(jié)溫冷卻到初始結(jié)溫,。否則,，結(jié)溫在每個(gè)能量脈沖之后升高，最終達(dá)到內(nèi)部故障溫度,。

　　若過(guò)溫限制電路在電感負(fù)載關(guān)閉的情況下偏置,，由于大多數(shù)自保護(hù)MOSFET采用有源過(guò)壓箝制，過(guò)溫保護(hù)可能仍處于無(wú)效狀態(tài),。有源箝制電路中的關(guān)鍵元件是位于主功率MOSFET門極和漏極連接之間的背靠背串聯(lián)齊納二極管,。以此種狀態(tài)堆棧的齊納二極管的設(shè)計(jì)電壓小于主功率MOSFET漏-源結(jié)的雪崩電壓。因?yàn)殚T極已關(guān)閉,，所以當(dāng)漏極電壓超過(guò)門-漏齊納堆棧電壓時(shí),，電流將流過(guò)堆棧和串聯(lián)門極電阻，流至地面,。因此,，在主功率MOSFET門極產(chǎn)生接近閾值的電壓,，使MOSFET以正激線性工作模式傳導(dǎo)負(fù)載電流。由于器件已導(dǎo)通,，電感能量在有源區(qū)域以更均勻的電流密度耗散,，與雪崩工作模式下的能量耗散方式不同。而且,，因?yàn)轶橹齐妷旱陀谘┍离妷?，所以器件在有源箝制模式下的瞬時(shí)功耗低于雪崩模式下的瞬時(shí)功耗。在有源箝制工作模式下切換電感負(fù)載時(shí),，這些行為使器件具備更強(qiáng)的能量處理能力,。有源箝制由于具有上述特性，故經(jīng)常在其它故 障保護(hù)動(dòng)作之前執(zhí)行,。設(shè)計(jì)人員必須確保器件能夠吸收在最壞情況下所有可能的電感能量,。

　　作者：Don Zaremba，應(yīng)用經(jīng)理,，安森美半導(dǎo)體公司