《電子技術(shù)應(yīng)用》
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適用于UHF頻段RFID 近場天線的阻抗測量方法
摘要: 超高頻(UHF)頻段的射頻識別(RFID)近場讀寫器天線(NFRA)由于其在單品識別方面應(yīng)用的潛力[1],,對環(huán)境的不敏感性和比HF天線更高的讀寫速度,,正引起多方面的關(guān)注,。UHF頻段的NFRA通常采用帶有平衡端口的電大環(huán)結(jié)構(gòu)來實現(xiàn),。
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  引言

  超高頻(UHF)頻段的射頻識別(RFID)近場讀寫器天線(NFRA)由于其在單品識別方面應(yīng)用的潛力[1],對環(huán)境的不敏感性和比HF 天線更高的讀寫速度,,正引起多方面的關(guān)注,。UHF 頻段的 NFRA 通常采用帶有平衡端口的電大環(huán)結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)。

  對于 NFRA 來說,,良好的匹配網(wǎng)絡(luò)是至關(guān)重要的[2,,3]。通常UHF 頻段的NFRA 天線都被設(shè)計成安裝在金屬腔體里來減小環(huán)境對天線性能的影響,,如圖1 所示,。但是由于金屬腔體的存在,天線的阻抗會隨頻率的變化而劇烈變化,,這將導(dǎo)致在仿真軟件中得到的阻抗值不夠精確,,在此不精確的阻抗基礎(chǔ)上很難設(shè)計出性能良好的匹配網(wǎng)絡(luò)。通常,,我們將NFRA 的設(shè)計分成3 個步驟:

  1. 首先是環(huán)天線的設(shè)計和加工,;

  2. 第二步是環(huán)天線阻抗的測量;

  3. 第三部是匹配網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計以及匹配網(wǎng)絡(luò)和環(huán)天線的聯(lián)合仿真在這篇文章中,,我們針對步驟2 設(shè)計了一種聯(lián)合使用同軸線和de-embedding 技術(shù)來得出天線精確阻抗的方法,。在這種方法得到的阻抗的基礎(chǔ)上,,來完成匹配網(wǎng)絡(luò)和NFRA 天線的設(shè)計制作,。

  

  1 測量方法

  一般的,,帶有平衡端口的天線,尤其是像圖2 中的電小天線,,都需要使用巴倫[4],,巴倫的作用是完成平衡端口到非平衡端口的轉(zhuǎn)換。通常會在同軸線和天線結(jié)構(gòu)之間使用一個1:1的巴倫來抑制同軸線上共模電流的影響,,完成轉(zhuǎn)換,。

  

  然而,對于一個電大尺寸的平衡端口天線,,同軸線上的共模電流可以忽略,,同軸線可以直接的連接到天線上進(jìn)行測量,如圖3,。

  

  在UHF 頻段,,空氣中的波長大約是33cm,比一般的NFRA 的尺寸要小,。我們以一個歐洲頻段標(biāo)準(zhǔn)(865MHz-868MHz)的NFRA 為例來闡述阻抗的測量方法,。圖4 給出了這款天線的簡化的模型,可以看出天線是一個橢圓形的環(huán)狀結(jié)構(gòu),,周42cm,,遠(yuǎn)比866MHz 時的波長要長。我們在測量是可以不通過巴倫而直接把端口和同軸線相連,。

  

  圖 5 是這款天線加工實物的阻抗測量照片,,可以看出天線直接外接出一根長為l 的同軸線和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接。表格I 給出了天線測量時的主要尺寸,。

  

  

  2 De-embedding 技術(shù)

  通過第一節(jié)的方法,,可以得出帶有同軸線參數(shù)的NFRA 回波損耗參數(shù)。De-embedding技術(shù)就是用來消除同軸線參數(shù)的影響得到NFRA 真實阻抗的一種技術(shù)[5,,6],。圖6 給出了使用De-embedding 技術(shù)測量的等效電路模型,其中,,同軸線被一段長為l 的傳輸線等效

  

  

  3 測量結(jié)果

  圖 7 給出的是沒有添加匹配網(wǎng)絡(luò)時的S 參數(shù)的測量值和仿真結(jié)果的比較,,可以看出測量的結(jié)果和使用HFSS 軟件得到的仿真結(jié)果基本吻合。仿真結(jié)果的回波損耗在865MHz-868MHz 很小,,這將會導(dǎo)致仿真的阻抗值的不精確,。可以看出,,在865MHz-868MHz,,

  仿真得出的回波損耗為0.88dB 而測量得出的回波損耗為1.3dB.

  

  圖 8 中我們比較了仿真和測量的阻抗值,。從阻抗比較的小比例圖可以看出,天線的阻抗隨著頻率變化劇烈,,這意味著匹配后天線的帶寬很窄,。在 866MHz,仿真得到的阻抗值為366.9+j467.03(Ohm),,而de-embedding 后測量得到的阻抗值為 460.8+j309(Ohm),,二者的Q值相差了0.6 左右。對于窄帶的匹配,,任何Q 值的微小差異都會導(dǎo)致匹配的失敗,,所以精確的阻抗測量對于匹配網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計至關(guān)重要。這也是我們要對天線測量進(jìn)行de-embedding 技術(shù)處理原因,。

  

  基于在 866MHz 測量得到的阻抗值,,我們可以設(shè)計出匹配網(wǎng)絡(luò)。圖9 給出了添加了設(shè)計的匹配網(wǎng)絡(luò)后NFRA 的S 參數(shù)的仿真和測量值的比較,??梢钥闯觯抡娴玫降膸挒?/p>

  

  4 結(jié)論

  以一款設(shè)計好的 NFRA 為例,,闡述了一種低損耗的阻抗測量方法,。通過聯(lián)合測量和de-embedding 技術(shù),得到了天線阻抗的精確值,。在得到的測量阻抗的基礎(chǔ)上,,設(shè)計出了性能良好的匹配網(wǎng)絡(luò),匹配后的NFRA 的S 參數(shù)仿真值和測量值吻合良好,,證明了這種方法的有效性和精確性,。

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