Multitest的Dura Kelvin顯著降低總測試成本
摘要: 面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,,設(shè)計(jì)和制造測試分選機(jī),、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,,日前欣然宣布其DuraKelvin測試座再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。
Abstract:
Key words :
面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,,設(shè)計(jì)和制造測試分選機(jī)、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,,日前欣然宣布其Dura Kelvin測試座再次證明在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳,。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,Dura Kelvin測試座顯著降低了總體測試成本,。
在項(xiàng)目期限內(nèi),,首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura Kelvin明顯超過了所有目標(biāo),,使用壽命已超過4百萬次插撥,,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%,。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就,。
Dura Kelvin 僅需要在大約100個(gè)小時(shí)之后清洗。與原來的測試單元配置相比,,這使與清洗相關(guān)的測試單元停機(jī)時(shí)間降低了90%,。尤其對于低溫測試而言,這具有重要影響,。
所有上述先進(jìn)性能為IDM帶來了獨(dú)特的測試成本優(yōu)勢,。
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