安捷倫科技公司日前宣布推出 67 GHz PNA-X 非線性矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，進一步擴展了其屢獲殊榮的 PNA-X 系列,。全新的 67-GHz 相位參考校準標準件也已上市,，可配置為與 67-GHz PNA-X NVNA 結(jié)合使用,。

　　借助這個硬件,，設(shè)計人員不僅能夠在高達 67 GHz 的頻率上輕松,、精確地完成元器件表征和建模，還能夠測量 X 參數(shù),，從而在極高頻率和寬帶寬范圍內(nèi)對線性和非線性元器件特性進行精確建模,。

　　在 10 月 11 日至 13 日于英國曼徹斯特市曼徹斯特中心舉行的歐洲微波周（G301 展位）上，安捷倫將展示全新 67-GHz PNA-X NVNA,、相位參考校準標準件及其它無線通信產(chǎn)品與服務(wù),。

　　Agilent NVNA 及先進設(shè)計系統(tǒng)軟件是業(yè)界首個設(shè)計非線性元器件的測量和仿真環(huán)境，能夠?qū)Ψ蔷€性器件的特性進行最深入的分析,，因而對于研究最新射頻技術(shù)的科學(xué)家和設(shè)計當(dāng)今高性能有源器件的工程師尤其有用,。用戶使用 NVNA 可以測量 X 參數(shù)。X 參數(shù)是確定性高頻率設(shè)計非線性網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的一個新類別,，可用于表征元器件的線性和非線性特性,。

　　全新 67-GHz NVNA 可使工程師在極寬的頻率帶寬內(nèi)進行高頻非線性測量。業(yè)界首款 67-GHz 相位參考校準標準件與 NVNA 結(jié)合使用,，能夠在高達 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)進行精確的非線性測量,測量結(jié)果可溯源到美國國家標準與技術(shù)研究院（NIST）的標準,。相位參考校準件使用一定頻率范圍內(nèi)已知的可溯源到 NIST的相位關(guān)系生成 10 MHz ～ 67 GHz 的梳狀波信號，對 NVNA 進行校準,，NVNA 因此可以在高達 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)測量器件的非線性特性,。

　　這一功能可實現(xiàn)在高達 67 GHz 的頻率范圍內(nèi)精確測量和預(yù)測諧波與失真，從而幫助用戶對有源元器件（例如發(fā)射和接收模塊）進行表征和 X 參數(shù)建模,。T/R 模塊通常是在 20-GHz 基頻范圍內(nèi)工作,，包含功率放大器、低噪聲放大器和混頻器,。

　　在表征模塊的非線性特性時,，需要在三次諧波（60 GHz）上進行測量，一般通過變頻器將 65-GHz 信號下變頻為 500 MHz 中頻信號,。通過使用 67-GHz NVNA,，工程師能夠?qū)ο伦冾l信號的幅度、交叉頻率相位關(guān)系以及在寬頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生的失真進行精確表征,。他們還可使用 X 參數(shù)在安捷倫先進設(shè)計系統(tǒng)（提供完整的系統(tǒng)設(shè)計能力）中對高頻上（下）變頻器和低噪聲放大器進行測量和建模,。

　　安捷倫副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經(jīng)理 Gregg Peters 表示：“在設(shè)計用于航空航天與國防應(yīng)用的線性系統(tǒng)解決方案時，精確測量和降低高頻元器件的非線性特性尤為重要,。安捷倫 67-GHz 相位參考校準標準件與 NVNA 提供元器件表征能力和 X 參數(shù),，能夠快速輕松、極其精確地對非線性特性進行測量和建模,。NVNA 具有全面的匹配校正,、精確的測量幅度以及與交叉頻率相關(guān)的相位信息,，從而為非線性元器件特性的精確測量和深入分析確立了新的標準。”