摘 要： 設(shè)計(jì)了一款針對學(xué)校實(shí)驗(yàn)室常用的中規(guī)模集成電路芯片的功能測試儀,。測試儀的核心AT89C55單片機(jī)管理和控制整個(gè)測試流程,，對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理、判斷,，并通過LCD,、LED顯示和指示其測試結(jié)果。詳細(xì)介紹了測試儀的總體設(shè)計(jì)思路,，給出了ADC0809,、DAC0832、LM555,、SG3524等芯片的詳細(xì)測試電路圖,。
關(guān)鍵詞： 中規(guī)模集成電路; 功能測試; 單片機(jī); D/A轉(zhuǎn)換器
集成電路的測試技術(shù)隨著集成電路開發(fā)應(yīng)用的飛速發(fā)展而發(fā)展。集成電路測試儀也從最初測試小規(guī)模集成電路發(fā)展到測試中規(guī)模,、大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路。集成電路測試儀按測試門類可分為：數(shù)字集成電路測試儀,、存儲器測試儀,、模擬與混合信號電路測試儀、在線測試系統(tǒng)和驗(yàn)證系統(tǒng)等,。目前市場上的測試儀產(chǎn)品功能較單一,，價(jià)格非常昂貴，給電路的測試,、維護(hù)帶來不便,。因此，研究開發(fā)簡單快捷,、具有一定智能化的集成電路測試儀有很高的實(shí)用價(jià)值[1-2],。
在高等學(xué)校的電子實(shí)驗(yàn)教學(xué)中，經(jīng)常要用到如模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC）,、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC),、555集成定時(shí)電路、3524開關(guān)電源控制器等中規(guī)模集成電路,。由于學(xué)生通常是初次接觸使用芯片,，經(jīng)常會由于操作不當(dāng)造成電路芯片的損傷或損壞，而表面上卻無法作出正確的判斷,。在這種情況下,，非常需要有適當(dāng)?shù)募呻娐返臏y試儀,，用于測試、判斷芯片的好壞,。而市面上又沒有合適的測試儀可供選購,。因此，本文設(shè)計(jì)制作了可用于一些特定的中規(guī)模電路的測試儀,。根據(jù)具體的需要選取了ADC0809,、DAC0832、LM555,、WC3524等幾種芯片作為測試對象,，并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的專門測試儀。
測試儀的結(jié)構(gòu)示意框圖如圖1所示,。該測試儀器的控制器采用了Atmel 公司的八位單片機(jī)89C55,，用于完成界面管理和自動檢測控制功能[3]。其中采用了Maxim公司的MAX197高精度的A/D轉(zhuǎn)換器來完成模擬信號的測試[4],。下面分別介紹各類器件的測試原理和方法,。
1 測試原理和測試電路
測試一個(gè)器件的功能或特性參數(shù)，通常采取該器件的典型應(yīng)用電路,，把功能體現(xiàn)出來,，把參數(shù)值直接或間接地反映出來。
1.1 模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809的測試
模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC0809的測試電路圖如圖2所示,。根據(jù)測試電路,，ADC0809的8個(gè)通道輸入同樣的模擬量，該模擬量同樣也輸送給MAX197,?？刂破鬟x擇ADC0809的1個(gè)模擬通道，并發(fā)出啟動轉(zhuǎn)換信號,，使ADC0809開始轉(zhuǎn)換,，然后控制MAX197也開始轉(zhuǎn)換。等待轉(zhuǎn)換結(jié)束,，分別讀取兩者的轉(zhuǎn)換結(jié)果,，并進(jìn)行數(shù)值比較，根據(jù)誤差限確定器件功能是否正常,。改變通道繼續(xù)測試,，直到8個(gè)通道測試完畢，顯示其結(jié)果,。
1.2 DAC0832的測試
D/A轉(zhuǎn)換器DAC0832是8位二進(jìn)制數(shù)模轉(zhuǎn)換器,，8個(gè)數(shù)字量輸入端分別為DI7~DI0，其中DI7為MSB,DI0為LSB。它的模擬量輸出端為電流輸出IOUT1和IOUT2,，當(dāng)輸入的數(shù)字量最大時(shí),，IOUT1端輸出的電流最大；當(dāng)輸入的數(shù)字量為零時(shí),，輸出電流最小,。IOUT2端的電流輸出情況正好相反。這兩個(gè)端子可以和外部的運(yùn)算放大器相接實(shí)現(xiàn)電流/電壓的變換,。此芯片內(nèi)部還有1個(gè)反饋電阻,，可以作為外部運(yùn)算放大器的反饋電阻，DAC0832測試原理圖如圖3所示,。芯片內(nèi)有兩級輸入寄存器,，使之具備雙緩沖、單緩沖和直通3種輸入方式,，以適于各種電路的需要,，例如要求多路D/A異步輸入、同步轉(zhuǎn)換等,。
由單片機(jī)輸送1個(gè)8位的二進(jìn)制數(shù)字量給DAC0832,，使兩級緩沖的寫控制和片選控制都有效時(shí)，開始D/A轉(zhuǎn)換,，轉(zhuǎn)換速度為微秒級,。經(jīng)過數(shù)模轉(zhuǎn)換后，輸出的電流再經(jīng)過運(yùn)放轉(zhuǎn)換成電壓,，該電壓經(jīng)過MAX197轉(zhuǎn)換成數(shù)字量讀回到單片機(jī)中,，然后和原輸出的數(shù)字量相比較，以判斷被測芯片正常與否,。
1.3 LM555定時(shí)電路的測試
集成定時(shí)電路LM555的應(yīng)用非常廣，其測試電路如圖4所示,。這是一個(gè)典型的定時(shí)電路接法,，用于測試內(nèi)部的2個(gè)比較器和RS觸發(fā)器是否正常，同時(shí)可以測試控制電壓是否正常,。
參考文獻(xiàn)
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[4] Max197.pdf. http://www.maxim-ic.com. 1996．
單片機(jī)輸出1個(gè)負(fù)脈沖到LM555芯片的第2引腳，觸發(fā)定時(shí)電路。單片機(jī)讀取定時(shí)電路的輸出端信號,，確定是否出現(xiàn)相應(yīng)的上升沿和下降沿,，從而可以判斷芯片的功能正常與否。
1.4 SG3524的測試
SG3524內(nèi)部方框圖如圖5所示,。輸入直流電源UIN從15腳進(jìn)入后分2路：一路作為放大器,、比較器、振蕩器以及邏輯電路和控制電路的電源,；另一路作為基準(zhǔn)電壓源,，產(chǎn)生＋5 V基準(zhǔn)電壓輸出到16引腳，作為外部電壓基準(zhǔn),。在振蕩器部分的引腳7和引腳6上外接定時(shí)電容CT和定時(shí)電阻RT,，得到所需的振蕩頻率。SG3524測試原理圖如圖6所示,，連接成一個(gè)典型的降壓型開關(guān)電源電路,，利用誤差放大器構(gòu)成電壓負(fù)反饋。通過改變?nèi)颖壤禂?shù)就可以改變輸出電壓,，單片機(jī)通過測取引腳3上的脈沖頻率,，通過MAX197測取輸出端的電壓，即可判斷SG3524芯片的好壞,。測試中暫時(shí)沒有考慮過流保護(hù)功能的測試,。
2 操作和軟件結(jié)構(gòu)
測試儀的基本工作流程是：接通電源后，電源指示燈亮,，表明電源工作正常,，顯示器顯示等待測試信息，表明可以開始測試操作,。由按鍵1選擇所要測試的芯片,，顯示光標(biāo)停留的芯片型號表示是當(dāng)前待測芯片。每按1次選擇鍵,，光標(biāo)指向下一個(gè)型號,，不斷地按鍵可以循環(huán)選擇。當(dāng)光標(biāo)移到所要測試的芯片時(shí),，按下確定鍵2,，接下來由單片機(jī)控制，開始自動測試該芯片,，此時(shí)對應(yīng)該芯片的指示燈亮;然后由外部電路或單片機(jī)給待測芯片一定的模擬或數(shù)字輸入量,，經(jīng)過每個(gè)芯片的測試電路后，通過MAX197進(jìn)行處理（或直接送到單片機(jī)）,，與單片機(jī)中預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,。如果測試值在標(biāo)準(zhǔn)值附近的一定范圍內(nèi),，則芯片正常，測試指示燈常亮,，液晶顯示器顯示OK,；否則，芯片出錯(cuò),，測試指示燈閃爍,，液晶顯示器顯示BAD。此芯片測試完畢,，按下復(fù)位鍵3,，即回到初始狀態(tài)，可以進(jìn)行下一輪測試,。軟件流程圖如圖7所示,。
實(shí)驗(yàn)樣機(jī)經(jīng)老師、學(xué)生使用,，測試效果非常理想,，測試準(zhǔn)確率可達(dá)90%以上，給教學(xué)提供了方便,。