中國(guó)上海,，2015年12月16日 –Atmel?公司 （納斯達(dá)克股票交易代碼：ATML）今日發(fā)布一款高精度調(diào)試工具，可在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段將產(chǎn)品的功耗可視化,。隨著超低功耗成為下一代物聯(lián)網(wǎng)（IoT）、可穿戴和電池供電型設(shè)備的一個(gè)關(guān)鍵因素,，能夠找出引發(fā)峰值功耗的代碼對(duì)于實(shí)現(xiàn)總體設(shè)計(jì)的超低功耗至關(guān)重要,。全新的Power Debugger是Atmel最新的開(kāi)發(fā)工具，旨在調(diào)試和編制Atmel |SMART ARM? Cortex?-M MCU以及使用JTAG,、SWD,、PDI,、debugWIRE、aWire,、TPI或SPI目標(biāo)接口的Atmel AVR? MCU,。

       除了標(biāo)準(zhǔn)的基本調(diào)試功能之外， Power Debugger還配備兩條獨(dú)立的電流檢測(cè)通道,，用于在應(yīng)用執(zhí)行期間采集實(shí)時(shí)功率測(cè)量結(jié)果,。Atmel Power Debugger將所采集的功率測(cè)量結(jié)果發(fā)送至Atmel Studio 7 IDE 中的Atmel Data Visualizer，進(jìn)行實(shí)時(shí)分析和顯示,。Data Visualizer以圖形方式顯示實(shí)時(shí)功耗,，并使用這些數(shù)據(jù)估算應(yīng)用的電池壽命。此外,，開(kāi)發(fā)人員還能用Data Visualizer將功耗樣本與樣本被采集時(shí)執(zhí)行的代碼進(jìn)行關(guān)聯(lián),，從而大幅縮短了識(shí)別開(kāi)發(fā)者應(yīng)用中 的“熱點(diǎn)”所需的時(shí)間。

       Atmel公司軟件開(kāi)發(fā),、應(yīng)用與工具業(yè)務(wù)部副總裁Steve Pancoast表示：“降低總功耗是眾多消費(fèi)類(lèi)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的關(guān)鍵,，且對(duì)于電池供電型設(shè)計(jì)和可穿戴設(shè)計(jì)也至關(guān)重要。Atmel提供各種經(jīng)濟(jì)高效的易用工具,，可幫助開(kāi)發(fā)人員分析他們自己硬件設(shè)備上應(yīng)用的功耗,，并將其作為標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)發(fā)周期的一部分。Power Debugger體現(xiàn)了Atmel將最新工具推向市場(chǎng)以幫助開(kāi)發(fā)人員以最低功耗將原型設(shè)計(jì)迅速投入生產(chǎn)的承諾,?！?/p>