圖1中的簡單晶體管測試儀可以判斷出晶體管的類型，并且能幫助檢測出晶體管的發(fā)射極,、集電極和基極。其方法是檢查被測晶體管三個(gè)端子T1,、T2和T3之間流過的各種可能電流方向的組合。

　　電路使用兩只CD4022或CD4017計(jì)數(shù)器IC1和IC2,；一只單門方波振蕩器G4；以及一個(gè)CD4011四與非門,，G1至G3,。每個(gè)測試端子串接一對LED,，用于指示電流的方向。LED的顏色直接表示出晶體管的結(jié)端,。

　　圖2是一個(gè)簡單示意圖，有助于理解測試的過程,。每個(gè)端子都有一對NPN晶體管Q1與Q3和PNP晶體管Q4與Q6，連接到-V或+V上,，它們在端子之間建立了所需電勢差。電路生成端子之間所有可能或需要的+V與-V組合,，以建立起結(jié)的關(guān)系。Q7和Q8作為電壓轉(zhuǎn)換器,，而G1至G3是抑制器,，防止T1至T3出現(xiàn)同時(shí)為+V和-V的沖突情況,。

　　當(dāng)一只正常晶體管插在測試端子之間時(shí)，它限制電流只能沿某些方向流動,。串聯(lián)的LED表示出這些方向，因此指示出了晶體管的類型,。例如，對NPN晶體管,，LED發(fā)光為紅-綠-紅,；而對PNP晶體管,，發(fā)光為綠-紅-綠。

　　了解這點(diǎn)以后,，就能輕松地選擇出晶體管的基極,。至于集電極與射極的區(qū)別,，必須了解其特性，即在反偏時(shí),，基-射結(jié)的擊穿要比基-集電極結(jié)更容易，后者在正常工作情況下是反偏的,。

　　由于晶體管的基-集電極反偏擊穿電壓各不相同，因此電路提供了一種改變電源電壓的簡單方式（圖3）,。隨著電壓的升高,，與發(fā)射極連接的兩只LED都發(fā)光,，而集電極只有一個(gè)LED發(fā)光（圖2中b和d）,。±4V的基本電壓足夠用于檢測晶體管的基極或類型,。如將電源電壓從±4V增至±15V,，就可以測試很多種晶體管的發(fā)射極,。考慮到串聯(lián)LED的壓降,，這個(gè)范圍可為基射結(jié)提供最高26V以上的反向擊穿電壓,。

　　本電路經(jīng)過了測試，可正常工作,。但是,，測試時(shí)采用的是CD4520計(jì)數(shù)器與CD4028解碼器（因?yàn)槭诸^沒有CD4022/CD4017 IC），這種替換應(yīng)該不成問題,。關(guān)鍵是電壓電平,，對CMOS器件的邏輯1或邏輯0來說,，它們基本是相同的。另外,，也可以只采用兩個(gè)電源電壓：±5V用于檢測基極,，±15V用于檢測射極。