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解讀世界四大晶圓廠EUV計劃

2017-03-07

SPIE高級光刻會議是世界領先的光刻技術會議,。在今年會議開幕的當天,,三星英特爾陳述了當前EUV用于大批量制造的準備狀況。本文將會總結四個世界領先晶圓制造廠的EUV計劃,,討論關于英特爾,、三星的進度,,探討EUV的大批量生產的前景。

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世界領先晶圓廠的EUV計劃

在2016年,三星和臺積電都開始進行10nm工藝的升級,,我們稱之為“制程工藝”,,節(jié)距在10nm節(jié)點時已經(jīng)變得沒那么嚴格。兩個廠商都用光刻技術生產,,也是目前最密集的晶圓制造方法,。對于臺積電來說,10nm節(jié)點算是一個短期的打算,,主要集中在手機處理器上,。對于三星10nm,,這可能將會是一個更長壽命的節(jié)點,原因如下,。

在2017年,,我們期待著臺積電7nm工藝的升級和英特爾能夠加速10nm節(jié)點進程。據(jù)目前報道,,預計臺積電7nm工藝和10nm工藝的間距相同,。有一些證據(jù)表明,英特爾的10nm工藝可能比臺積電7nm工藝擁有更小的軌道間距,,這就使得英特爾10nm工藝比臺積電的7nm工藝更密集,,公司所稱作的節(jié)點名稱似乎對進展進程沒啥意義。臺積電的7nm和英特爾的10nm工藝都將會采用光刻技術生產,,雖然臺積電使用的是7nm EUV測試工具,。

預計,2018年格羅方德和三星將會制造7nm工藝,。格羅方德的最初工藝將采用光刻技術生產,,但當EUV時機成熟時,將轉向EUV(事實上,,他們正在使用EUV來加速工藝的開發(fā)),,三星已經(jīng)對外宣稱,將使用EUV來應對7nm工藝,。三星這次對EUV的賭注,,也使得他們能否在2018年發(fā)布出來,增加了不確定因素,,如此看來,,三星10nm工藝節(jié)點將會擁有更長壽命。

在2019年,,臺積電可能將會升級到5nm制程工藝,,我們期待這個工藝將使用EUV技術。預計在2020年,,英特爾將采用7nm工藝,。如果EUV能夠成熟,英特爾也會采用此項技術,。

SPIE對于EUV的觀測

在2014年,,臺積電對EUV進行了非常悲觀的評估。在2015年和2016年,,會議上的EUV氛圍則變得更有希望,,包括臺積電已經(jīng)有了更多樂觀的評估。2017年,此次會議對EUV的評估則變?yōu)榱藰酚^,,雖然臺積電今年并沒有做出評價,,目前狀態(tài)似乎不是很樂觀。

另一個發(fā)現(xiàn)則非常有趣,,在過去,,EUV被視為一種比光學的成本要低的技術。現(xiàn)在看來,,我們需要EUV更多是在合理的經(jīng)濟層面上,。隨著光罩需求量的不斷增加,成本也水漲船高,。同時覆蓋物也將會成為Fab的災難,。覆蓋物需要把光罩層有秩序的精確地放置在彼此的身上。而隨著mask的增加,,覆蓋層也就會成為噩夢,。EUV的前景就是減少mask,實現(xiàn)更好的保真度和更一致的電產率,。

英特爾和三星

據(jù)英特爾報道,,在2015年有7套EUV系統(tǒng),現(xiàn)在有14套,,其中分別為8套NXE3300B系統(tǒng)和6套NXE3350B系統(tǒng),。從更多的行業(yè)數(shù)據(jù)來看,NXE3350B預計將類似于NXE3400,。三星也注意到了EUV的優(yōu)勢是更高的分辨率和更少的mask,EUV的7nm工藝就比光學10nm需要更少的mask,。

在ASML研討會上,,英特爾指出,ASML達到210瓦特和工作效率大于125wph,,它需要在高功率下實現(xiàn)控制,。“源”功率較低,,但是NXE3400系統(tǒng)有望與其縮小差距,。三星對此也有類似的消息,值得注意的是“源”功率接近HVM目標,,NXE3350B達到穩(wěn)定的130瓦特,。

三星和英特爾都討論了系統(tǒng)的可用性,液滴發(fā)生器和采集器壽命是關注焦點,。液滴發(fā)生器壽命比去年提高了3-5倍,,采集器壽命提高了1.5倍,但還是需要更多的改進。現(xiàn)在總體系統(tǒng)的可用性為70%,,具有高變異性,。英特爾報告了NXE3350B的可用性大于75%以及更少的額外超長停機事件。三星則認為,,NXE3350具有比NXE3300更好的可預測性,。

三星和英特爾都表示,在缺陷等級測量中要遠遠高于ASML,,并且兩家都強調了對薄膜的需求,。ASML在2016年初步實現(xiàn)了薄膜概念,ASML和合作者正在這些領域進行努力,。英特爾提到,,在缺陷的前提下,薄膜大于3500塊晶片?,F(xiàn)在薄膜存在的大問題是,,隨著源功率增加到250瓦以上時,需要增加產品并且需要更長時間的新薄膜材料,。三星已經(jīng)能夠使用自己內部系統(tǒng)的光化學mask來進行審查,,它現(xiàn)在能夠用于7nm,英特爾也表示仍然需要光化學mask檢查,。

據(jù)三星報告,,mask空白缺陷現(xiàn)在已經(jīng)達到HVM《5的目標。這算是一個很大的改進,,在SEMICON West 2016上,,空白缺陷限制了EUV的使用,僅僅能在暗場mask和低開放面積,。

按照英特爾說法,,光刻膠不會引入到EUV,但更好的隨機現(xiàn)象需要匹配到193,。三星則表示,,抗蝕劑性能對于7nm是可行的,但需要更佳的靈敏度,。英特爾提到,,ASML在晶片臺和光學元件之間引入一個膜,為光刻膠開辟了新材料的選擇,,因為它能夠保護光學元件面授光刻膠外泄的影響,。然而并沒有更多關于LWR的討論,雖然LWR是EUV最大的謎團,。專家則表示,,在7nm EUV初步階段的使用將用于過孔,,他們對LWR不太敏感,這種改進需要在5nm階段,。

其他意見

會議上有關于EUV有趣的討論:

EUV技術的遲到如何能給技術更多的成熟時間和行業(yè)準備,。當EUV將要替換多圖案作為單一曝光技術,未來在設備制造廠商將會需要更多的蝕刻和沉積系統(tǒng)的人才,,這也會是設備制造商的一大難題,。如今,EUV正準備滲透到行業(yè)中去,,作為一個互補作用的技術,,而不是去破壞其余OEM的基礎設施。

總結:

根據(jù)會議要點,,可以樂觀的看出,,我們將在2018年晚些時候開始在特定水準上看到EUV的制造使用,并能夠在2019年進行更廣泛的使用,。預計2018年三星會大量使用EUV,,其次是格羅方德。臺積電和英特爾可能將會在2019年和2020年,。


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