電路的故障類(lèi)型較多,，產(chǎn)生故障的原因也各有不同,，因此排除故障的方法也不一樣。當(dāng)電路發(fā)生故障時(shí)，根據(jù)故障現(xiàn)象,，通過(guò)檢查,、測(cè)量，分析故障產(chǎn)生的原因并確定故障的部位,，找到發(fā)生故障的元器件的過(guò)程,。
一般比較簡(jiǎn)單的電路，其故障原因往往也比較簡(jiǎn)單,，故障的分析與定位較容易,；而較為復(fù)雜的電路，其故障往往也較為復(fù)雜,，故障原因的分析與定位相對(duì)也就要困難一些,。下面討論電路故障分析與定位的常用方法。
直接觀察法
所謂直接觀察法是指不借助于任何的儀器設(shè)備,，直接觀察待查電路的表面來(lái)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、尋找故障的方法,，一般分為靜態(tài)觀察和通電檢查兩種,，其中的靜態(tài)觀察包括如下幾方面內(nèi)容。
觀察印制及元器件表面是否有燒焦的印跡,，連線(xiàn)及元器件是否有脫落,、斷裂等現(xiàn)象發(fā)生。
觀察儀器使用情況,。儀器類(lèi)型選擇是否合適,，功能、量程的選用有無(wú)差錯(cuò),，共地連接的處理是否妥善等,。首選排除外部故障，再進(jìn)行電路本身的觀察,。
觀察電路供電情況,。電源的電壓值和極性是否符合要求，電源是否已確實(shí)接入了電路等,。
觀察元器件安裝情況,。電解電容的極性、二極管和三極管的引線(xiàn)端子,、的引線(xiàn)端子有無(wú)接錯(cuò),、漏接、互碰等情況,，安裝位置是否合理,，對(duì)于擾源有無(wú)屏蔽措施等。
觀察布線(xiàn)情況。輸入和輸出線(xiàn),、強(qiáng)電和弱點(diǎn)線(xiàn),、交流和直流線(xiàn)等是否違反布線(xiàn)原則。
靜態(tài)觀察后可進(jìn)行通電檢查,。接通電源后,，觀察元器件有無(wú)發(fā)燙、冒煙等情況,，變壓器有無(wú)焦味或發(fā)熱及異常聲響,。
直接觀察法適用于對(duì)故障進(jìn)行初步檢查，可以發(fā)現(xiàn)一些較明細(xì)的故障,。
儀器測(cè)試法
是在電路斷電條件下,，利用萬(wàn)用表歐姆檔測(cè)量電路或元器件電阻值，借以判斷故障的方法,。
如檢查電路中連線(xiàn),、焊點(diǎn)及熔絲等是否斷路，測(cè)量電阻值,、電容器漏電,、電感器的通斷，檢查半導(dǎo)體器件的好壞等,。
測(cè)試時(shí),，為了避免相關(guān)支路的影響，被測(cè)元器件的一端一般應(yīng)與電路斷開(kāi),，同時(shí),，為了保護(hù)元器件，不要使用高阻擋和低阻擋,，以防止高電壓或大電流損壞電路中半導(dǎo)體器件的PN結(jié),。
帶電測(cè)試法
是一種在電路帶電條件下，借助于儀器測(cè)量電路中各點(diǎn)靜態(tài)電壓值或電壓波形等,，并進(jìn)行理論分析,，尋找故障所在部位的方法。
如檢查晶體管靜態(tài)工作點(diǎn)是否正常,，集成器件的靜態(tài)參數(shù)是否符合要求,，數(shù)字電路的邏輯關(guān)系是否正確等。
信號(hào)尋跡法
是根據(jù)需要在電路輸入端加入符合要求的信號(hào),，按照信號(hào)的流程從前級(jí)到后級(jí),，用示波器或電壓表等儀器逐級(jí)檢查信號(hào)在電路內(nèi)各部分黃子健傳輸?shù)那闆r，分析ID安路的功能是否正常,，從而判斷故障所在部位,。
通常應(yīng)在電路靜態(tài)工作點(diǎn)處于正常的條件下使用這種方法,。
分割測(cè)試法
對(duì)于一些有反饋的環(huán)形電路，它們各級(jí)的工作情況互有牽連,，這時(shí)可以采用分割環(huán)路的方法,，將反饋環(huán)去掉，然后逐級(jí)檢查,，可以更快的查出故障部位,。
對(duì)自激振蕩現(xiàn)象也可以用這種方法檢查。
對(duì)比法
懷疑某一電路存在問(wèn)題時(shí),，可找一個(gè)相同的正常電路進(jìn)行比對(duì),，將兩者的狀態(tài)、參數(shù)進(jìn)行逐項(xiàng)對(duì)比,，很快就可以找到電路中不正常的參數(shù),，進(jìn)而分析出故障原因并查找到故障點(diǎn)。
替代法
有時(shí)故障比較隱蔽,，不能很快找到,，需要進(jìn)一步檢查，這時(shí)可用已調(diào)試好的單元電路或組件代替有疑問(wèn)的單元電路,，以此來(lái)判斷是否出在此單元電路,。
在確定了有問(wèn)題的單元電路后，還可以在該單元電路中采用局部替代法,，用確認(rèn)良好的元器件將懷疑有問(wèn)題的元器件替代下來(lái),，逐步縮小故障的懷疑范圍,，最終找到故障點(diǎn),。