泰克實(shí)驗(yàn)室開(kāi)放日活動(dòng)【PCIe4/PCIe5專(zhuān)題】于9月17~19日在泰克上海辦公室舉行,，活動(dòng)首日的公開(kāi)課環(huán)節(jié)，特邀PCI-SIG 前Chairman - Dan Froelish擔(dān)任PCIe5專(zhuān)題的導(dǎo)師,，為工程師們帶來(lái)PCIe的最新信息,。Dan與參會(huì)工程師分享了PCI5.0以及PCIe6.0規(guī)范的最新進(jìn)展，設(shè)計(jì)和測(cè)試將面臨的挑戰(zhàn)，測(cè)試方法論的邏輯及其實(shí)現(xiàn)方法,。

　　加入泰克前,，Dan曾擔(dān)任PCI-SIG電氣工作組聯(lián)合主席(co-chair)和技術(shù)編輯，負(fù)責(zé)PCIe4.0和PCIe5.0電氣規(guī)范部分的開(kāi)發(fā),。在2005-2018年間，Dan還擔(dān)任PCI-SIG CEM 工作組的主席和技術(shù)編輯,，負(fù)責(zé)PCIe2.0/3.0/4.0以及PCIe5.0 CEM規(guī)范的早期開(kāi)發(fā),。此外，在2007-2018年間,，Dan作為Serial Enabling 工作組(一致性測(cè)試)的聯(lián)合主席和技術(shù)編輯,，領(lǐng)導(dǎo)并達(dá)成多個(gè)測(cè)試規(guī)范的技術(shù)攻堅(jiān)，推動(dòng)PCI-SIG一致性測(cè)試規(guī)范的進(jìn)程,。Dan 曾獲得Intel成就獎(jiǎng) ,，以表彰他在USB2.0和USB3.0規(guī)范及一致性測(cè)試開(kāi)發(fā)中所作出的卓越貢獻(xiàn)。

　　Dan侃侃而談兩小時(shí),，其深厚的技術(shù)功底和獨(dú)到的見(jiàn)解讓與會(huì)工程師深受啟發(fā),。除了規(guī)范最新進(jìn)展、測(cè)試方法論邏輯及其實(shí)現(xiàn),，公開(kāi)課環(huán)節(jié)還詳細(xì)介紹了當(dāng)前大熱的PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn),，泰克公司對(duì)發(fā)送端測(cè)試、接收端測(cè)試,、LinkEQ,、PLL Bandwidth等測(cè)試項(xiàng)目的完整解決方案，并做了現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)演示,。來(lái)自14家業(yè)內(nèi)知名公司共20位工程師參加了此次的公開(kāi)課,。

　　泰克卓越的PCIE測(cè)試方案如下。開(kāi)放日活動(dòng)的第二日和第三日 (9月18-19日),，實(shí)驗(yàn)室接待PCIe4開(kāi)發(fā)者攜帶自己的產(chǎn)品前來(lái)實(shí)測(cè)和體驗(yàn),，為產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和驗(yàn)證帶來(lái)信心。

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