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一款芯片從設(shè)計到流片再到量產(chǎn),，每個環(huán)節(jié)都需要測試。驗(yàn)證與測試貫穿整個流程,，堪稱責(zé)任擔(dān)當(dāng),，但測試方法的繁瑣與高成本經(jīng)常讓人望而卻步。 在即將舉行的“NI芯片驗(yàn)證與電子測量技術(shù)峰會2021”,，AET攜手NI邀請業(yè)內(nèi)專家專門討論芯片驗(yàn)證的痛點(diǎn)及解決辦法,。您將了解到如何縮短測量周期適應(yīng)不斷變化的需求、同步多儀器測量程序,、復(fù)用測量IP,，以及如何在整個產(chǎn)品生命周期內(nèi)快速訪問和解析產(chǎn)品數(shù)據(jù)。
時間：10月21日13:00-17:00（周四）
地點(diǎn)：上海浦東?？蒲艠奋幘频?F華夏廳（地鐵13號線中科路）