《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 模擬設(shè)計(jì) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > ADC基準(zhǔn)電壓誤差影響全范圍轉(zhuǎn)換
ADC基準(zhǔn)電壓誤差影響全范圍轉(zhuǎn)換
摘要: SAR(逐次逼近寄存器)ADC基準(zhǔn)電壓對(duì)轉(zhuǎn)換精度的影響比最初想象的還要大。圖1所示為理想和帶增益誤差的3位ADC轉(zhuǎn)換器的傳遞方程,。
Abstract:
Key words :

  SAR(逐次逼近寄存器)ADC基準(zhǔn)電壓對(duì)轉(zhuǎn)換精度的影響比最初想象的還要大。圖1所示為理想和帶增益誤差的3位ADC轉(zhuǎn)換器的傳遞方程。ADC的傳遞方程等于:

公式

理想和帶增益誤差的3位ADC轉(zhuǎn)換器的傳遞方程

  在這里,,DCODE為數(shù)字輸出代碼,VIN為轉(zhuǎn)換器的輸入電壓,,VOS為轉(zhuǎn)換器偏置電壓,,VREF為用于轉(zhuǎn)換器的基準(zhǔn)電壓,N為ADC位數(shù)或ADC分辨率,,VGE為ADC增益誤差,、基準(zhǔn)輸出電壓誤差和基準(zhǔn)電壓噪聲的綜合。

  容易看到基準(zhǔn)電壓給定值對(duì)ADC絕對(duì)精度的影響,。對(duì)高分辨率轉(zhuǎn)換器,,基準(zhǔn)電壓偏置誤差通常比ADC偏置誤差大,特別在過溫度狀態(tài),。從傳遞方程也注意到基準(zhǔn)電壓誤差對(duì)較高輸入電壓轉(zhuǎn)換器的結(jié)果影響更大,。

  可以用ratiometric設(shè)計(jì)減小ADC和基準(zhǔn)電壓的誤差。這需要電路或微處理器校準(zhǔn)算法中加入額外設(shè)備,。記住校準(zhǔn)算法需要每個(gè)電路的增益和偏置特性,。

  基準(zhǔn)電壓的噪聲誤差是不同的問題。它影響轉(zhuǎn)換的SNR(信噪比)和THD(總諧波失真),?;鶞?zhǔn)電壓噪聲影響輸入電壓較高的ADC轉(zhuǎn)換器的SNR和THD(圖2)。

基準(zhǔn)電壓噪聲影響輸入電壓較高的ADC轉(zhuǎn)換器的SNR和THD

  如果轉(zhuǎn)換器在基準(zhǔn)電壓引腳缺少內(nèi)部緩沖器,,將會(huì)引入或輸出電流尖峰,。轉(zhuǎn)換器在轉(zhuǎn)換期間使用這些電流為內(nèi)部電容充電。這個(gè)認(rèn)識(shí)也許引發(fā)了在外部基準(zhǔn)電壓和ADC之間插入低噪聲放大器的設(shè)計(jì),。

  不要嘗試用0V或地的輸入電壓測試ADC,。如果希望看到轉(zhuǎn)換中基準(zhǔn)電壓源的影響,,嘗試使用直流全范圍輸入,,信號(hào)輸入將幫助看到系統(tǒng)的頻率響應(yīng),。


此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載,。