新興測(cè)量需求解決方案領(lǐng)導(dǎo)者美國(guó)吉時(shí)利" title="吉時(shí)利">吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前發(fā)布了兩款新型插卡：3724型雙1X30固態(tài)FET繼電器多路轉(zhuǎn)換" title="多路轉(zhuǎn)換">多路轉(zhuǎn)換卡和3750型多功能I/O" title="I/O">I/O卡，從而擴(kuò)展了其3700系列開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表和插卡產(chǎn)品系列,。新推出的這些插卡幫助測(cè)試工程師進(jìn)一步擴(kuò)寬了對(duì)各種開(kāi)關(guān)配置結(jié)構(gòu)的支持，以滿足測(cè)試復(fù)雜性日益增加的需求,。
???? 3724雙1X30 FET多路轉(zhuǎn)換卡的掃描速度高于每秒1000個(gè)通道（包括測(cè)量操作），開(kāi)關(guān)掃描速度超過(guò)每秒1200個(gè)通道,。該卡還提供了200V,、0.1A的開(kāi)關(guān)/存儲(chǔ)容量,，偏移電流低于10nA。長(zhǎng)壽命的固態(tài)繼電器可以自動(dòng)配置成雙1x30或1x60多路轉(zhuǎn)換器,。當(dāng)配合備選的螺旋端子附件一起使用時(shí),，該卡還能夠通過(guò)自動(dòng)CJC傳感器測(cè)量溫度。3724適用于對(duì)速度和壽命有較高要求的各種應(yīng)用,，例如加速老化測(cè)試,、生產(chǎn)測(cè)試、過(guò)程監(jiān)控,、數(shù)據(jù)采集和器件特征分析的研發(fā)和制造工作。
3750多功能I/O卡具有40個(gè)數(shù)字I/O通道,，其高電流驅(qū)動(dòng)輸出能夠承受高達(dá)300mA的電流,，無(wú)需任何接口電路即可直接驅(qū)動(dòng)繼電器。3750還帶有兩個(gè)可編程" title="可編程">可編程模擬輸出端,，能夠提供電壓和電流可編程隔離模擬輸出,，包括0-20mA、4-20mA或+/-12VDC,。它還配置了四個(gè)具有32位分辨率的累加器/計(jì)數(shù)器,，用于1MHz輸入頻率的門控。3750適用于與傳感器和其他機(jī)械/電子轉(zhuǎn)換器件有交互的生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用,。
3724和3750是不斷增加的吉時(shí)利3700系列系統(tǒng)開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表平臺(tái)的插卡開(kāi)關(guān)和控制卡系列產(chǎn)品之一,。3724和3750豐富了3700系列的插卡，增加了兼容各種信號(hào)和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)（包括多選器,、矩陣和隔離開(kāi)關(guān)功能）的高密度和通用插卡系列產(chǎn)品,。
3700系列具有可擴(kuò)展、高性能" title="高性能">高性能開(kāi)關(guān)和多通道測(cè)量功能,，專門針對(duì)電子產(chǎn)品和元件的自動(dòng)化測(cè)試進(jìn)行了優(yōu)化,。吉時(shí)利的新一代3700系列平臺(tái)能夠滿足中高通道數(shù)量應(yīng)用的需求，能夠控制多達(dá)576個(gè)多選器通道,，采用具有業(yè)界領(lǐng)先水平的六槽,、2U外形尺寸，大大節(jié)省了機(jī)架空間,，降低了測(cè)試成本,。高性能集成式DMM選件3706具有快速、低噪聲的測(cè)量能力,，分辨率高達(dá)七位半,，價(jià)格低于常見(jiàn)的六位半DMM。
3700系列開(kāi)關(guān)/萬(wàn)用表和插卡系列產(chǎn)品具有多項(xiàng)業(yè)界領(lǐng)先的功能,，例如符合IEEE 1588時(shí)序同步的LXI Class B,；吉時(shí)利的測(cè)試腳本處理器（TSPTM）技術(shù)通過(guò)將類似PC的功能引進(jìn)到測(cè)試儀器上,，具有無(wú)可比擬的系統(tǒng)自動(dòng)化、測(cè)試產(chǎn)能和靈活性,；TSP-Link?是一種主從式的通信總線,，能夠根據(jù)目前和今后測(cè)試需求的變化對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行方便的擴(kuò)展。