如圖所示為反射光強度的檢測電路,。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管,、CMOS模擬開關(guān),、運算放大器等組成。 電路正常工作時,，首先使紅外發(fā)光二極管(LED)不發(fā)光,，光電二極管接收到的外部干擾信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至負方向積分電路，設(shè)此段時間為T1,；然后使LED發(fā)光,，光電二極管接收到的光信號轉(zhuǎn)換為電信號后加至正方向積分電路,，設(shè)此段時間為T2,。設(shè)T1=T2,。則電路顯示出來所保持的信號與外部干擾無關(guān)，僅與反射光強度有關(guān),。保持信號的這段時間稱為保持時間,，記為T3。相應(yīng)積分器復(fù)位對應(yīng)的時間為T4,。 在工作頻率(50Hz或60Hz)下,，為了有效地避免同步外部干擾，最好使T1=T2=N/f(N取整數(shù),，f為工作頻率),，或者取T1=T2<<1/f。 該電路結(jié)構(gòu)簡單,，使用輸出功率為5～10mW的紅外發(fā)光二極管和光電二極管,，可在距離10～100mm處檢測反射光強度。電路中運算放大器的輸入偏置電流應(yīng)遠小于光電流,。電路增益取決于積分時間和積分電容Ci,。 本電路除了可以排除干擾檢測反射光強度(反射光率)外，還可用于檢測距離,、傾斜和通過率,，特別適用于檢測各種光強。此外,，本電路還可用于霍爾元件的磁性測量及其他測量,。