《電子技術(shù)應用》
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USB3.0端口的ESD防護設計
摘要: 為實現(xiàn)十倍于USB2.0的傳輸速度,USB 3.0控制芯片必須使用更先進的制程來設計與制造,,但這也造成USB 3.0的控制芯片對ESD的耐受能力快速下降。除此之外,,USB 3.0會被大量用來傳輸影音數(shù)據(jù),對數(shù)據(jù)傳輸容錯率會有越嚴格的要求,,使得使用額外的保護組件來防止ESD事件對數(shù)據(jù)傳輸?shù)母蓴_變得很必要。除了傳輸速度的要求之外,,另一個用戶最普遍的USB應用就是即插即用,、隨拔即關(guān)。然而這個熱插入動作卻也經(jīng)常是造成電子系統(tǒng)工作異常,、甚至造成USB端口組件毀壞的元兇,,因為如靜電放電(ESD)等瞬時噪聲就是來自這個熱插入動作。
Abstract:
Key words :

     在當今計算機硬件的熱門話題中,,USB3.0絕對是最受矚目的,。自從公元2000年USB2.0釋出后,這項應用已深植各項電子產(chǎn)品中,,在各式各樣的端口規(guī)格中,, USB應可算是使用最廣泛的了。USB3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率比現(xiàn)有的USB2.0快上十倍,,剛好迎合日益大增的高畫質(zhì),、大容量儲存需求。無論是外接式硬盤,、隨身碟,、相機記憶卡均可大幅縮減儲存的時間。除了在計算機上的應用之外,,手機與相機的傳輸也幾乎都是使用USB規(guī)格,,甚至許多產(chǎn)品更直接把充電端與USB結(jié)合,難怪各界皆如此期待USB3.0的廣泛使用,,好讓用戶享受4.8Gbps的傳輸快感,。USB3.0接口分成主機(Host)端與裝置(Device)端,必須先有Host端的支持,周邊的Device端才能搭配,;而芯片大廠英特爾及超威自2010年起亦已開始研發(fā)將支持USB3.0為南橋規(guī)格,,加上微軟Windows 7也確定研發(fā)支持USB3.0的drivers,預估USB 3.0取代USB2.0已是既定趨勢,。

  為實現(xiàn)十倍于USB2.0的傳輸速度,,USB 3.0控制芯片必須使用更先進的制程來設計與制造,但這也造成USB 3.0的控制芯片對ESD的耐受能力快速下降,。除此之外,,USB 3.0會被大量用來傳輸影音數(shù)據(jù),對數(shù)據(jù)傳輸容錯率會有越嚴格的要求,,使得使用額外的保護組件來防止ESD事件對數(shù)據(jù)傳輸?shù)母蓴_變得很必要,。除了傳輸速度的要求之外,另一個用戶最普遍的USB應用就是即插即用,、隨拔即關(guān),。然而這個熱插入動作卻也經(jīng)常是造成電子系統(tǒng)工作異常、甚至造成USB端口組件毀壞的元兇,,因為如靜電放電(ESD)等瞬時噪聲就是來自這個熱插入動作,。

  要用在USB3.0端口ESD防護組件必須同時符合下面三項要求:

  第一、ESD防護組件本身的寄生電容必須要小,,為不影響USB3.0 4.8Gbps的傳輸速率,,其寄生電容必須小于0.3pF。

  第二,、防護組件對ESD的耐受能力必須要高,,最少要能承受IEC 61000-4-2接觸模式8kV ESD的轟擊。

  第三,、也是最重要的一項要求,,防護組件在ESD事件發(fā)生期間所提供的箝制電壓必須要夠低,不能造成傳輸數(shù)據(jù)的損壞,。

  以上三項要求缺一不可,,缺少了任何一個要項,USB3.0端口就無法被完善地保護,。然而要同時符合以上三項要求的ESD防護組件,,其本身的設計難度就相當高。

  晶焱科技擁有先進的ESD防護設計技術(shù),,特別針對USB3.0的防護需求,,推出AZ1065系列的ESD防護組件。為避免防護組件的寄生電容影響USB3.0 4.8Gbps差動(Differential)訊號的高速傳輸,,AZ1065的寄生電容已低于0.3pF,。在極低的電容特性下,任一接腳在室溫時仍皆可承受IEC 61000-4-2接觸模式10kV ESD的轟擊。最重要是,,以相同寄生電容來比較,,AZ1065擁有最低的ESD箝制電壓,可有效防止數(shù)據(jù)傳輸時被ESD事件所干擾,,才能讓擁有USB 3.0端口的電子系統(tǒng)有機會通過Class-A的IEC 61000-4-2系統(tǒng)級靜電放電保護測試,。利用傳輸線脈沖系統(tǒng)(TLP)測量AZ1065后,可以觀察到如圖一的ESD箝制電壓特性,。在IEC 61000-4-2接觸模式6kV的ESD沖擊下(TLP電流等效約為17A),,箝制電壓僅有13.4V,將得以有效避免系統(tǒng)產(chǎn)品于靜電測試時發(fā)生數(shù)據(jù)錯誤,、當機甚至損壞的情況,。

圖1:AZ1065-06F的ESD箝制電壓測試曲線。

  在電子產(chǎn)品的USB3.0應用中,,AZ1065-06F將是靜電放電防護的最佳解決方案,。圖2所示即為裝有ESD防護組件AZ1065-06F的USB3.0端口順利通過5Gbps的Eye Diagram測試結(jié)果。

圖2:AZ1065-06F 5Gbps的Eye Diagram測試結(jié)果,。

  在電子產(chǎn)品朝向輕薄短小的發(fā)展趨勢下,,產(chǎn)品的印刷電路板(PCB)也隨之越來越小,但在產(chǎn)品功能強大的要求之下,,線路也變得更加復雜,因此PCB的面積已變得寸土寸金,,造成產(chǎn)品設計時相當大的困擾,。AZ1065系列產(chǎn)品提供六個極低電容的接腳,可同時保護USB3.0的兩組差動對(TX and RX)及USB2.0的差動對(D+ and D-),,具有縮小PCB面積與降低布局(Layout)復雜度等優(yōu)點,,可節(jié)省系統(tǒng)成本。更特別的是AZ1065-06F首先采用交錯型式的接腳,,以提供PCB Layout時可利用穿透式(Feedthrough)的設計,,圖3即為AZ1065-06F的接線方式。此種首創(chuàng)的組件接腳方式將可免除繞線時的諸多困擾,,不但對縮短產(chǎn)品設計時間的PCB Layout工作有相當大的幫助,,同時差動訊號線的Layout也將更為對稱,減少訊號傳輸錯誤的機會,。

圖3:以AZ1065-06F作為USB3.0 ESD防護,,線路可利用穿透式Layout達成。

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