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泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測(cè)試獎(jiǎng)

2011-05-25
作者:泰克公司

    中國(guó)北京,,2011年5月25日---全球領(lǐng)先的測(cè)試、測(cè)量和監(jiān)測(cè)儀器提供商--泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評(píng)獎(jiǎng)活動(dòng)中榮獲“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”(Best in Test Award),。

    在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會(huì)”(Embedded Systems Conference)舉行期間進(jìn)行的頒獎(jiǎng)儀式上,TLA7SA00系列邏輯分析儀被授予“總線分析儀”類別的最佳產(chǎn)品獎(jiǎng),。“最佳測(cè)試”獎(jiǎng)分16個(gè)類別,。參加2011年“最佳測(cè)試獎(jiǎng)”評(píng)選的產(chǎn)品或服務(wù)必須是在2009年11月1日至2010年10月31日之間推出的產(chǎn)品或服務(wù)。

    “我們?cè)俅螌?duì)各廠商提名的許多出色產(chǎn)品進(jìn)行了評(píng)審”,,UBM Electronics旗下雜志《Test & Measurement World》的編輯部主任Rick Nelson表示,,“我們向泰克公司取得這一成就表示祝賀。”

    TLA7SA00系列是泰克去年四月推出的綜合性PCI Express 1.0/2.0/3.0測(cè)試解決方案,,集協(xié)議分析與物理分析于一體,。該解決方案包括TLA7SA16和TLA7SA08邏輯協(xié)議分析儀模塊,、總線支持軟件及探頭,為PCIe開發(fā)者了解系統(tǒng)行為提供了獨(dú)一無二的時(shí)間相關(guān)視圖,,從協(xié)議分析開始一直到物理層分析,,幫助查找棘手問題的根本原因。

    “總線速度及復(fù)雜性一代勝過一代,,我們意識(shí)到需要有一種將協(xié)議,、邏輯及物理分析結(jié)合起來的新解決方案,以便更有效地確定棘手軟硬件問題的原因”,,泰克公司邏輯分析產(chǎn)品線總經(jīng)理Dave Farrell表示,,“TLA7SA00系列榮獲最佳測(cè)試獎(jiǎng)是對(duì)我們基于‘客戶第一’原則的肯定,這一原則始終貫穿在我們重新定義總線分析測(cè)試儀的過程中,。”

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