《電子技術(shù)應(yīng)用》
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QC七工具之排列圖

2011-06-20
作者:吉時(shí)利公司

  排列圖(Pareto Plot)又叫帕累托圖,、8020圖等。它是將質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目從最重要到最次要順序排列而采用的一種圖表,,它在形式上是由兩張圖表組合而成的,,一個(gè)是標(biāo)記每個(gè)項(xiàng)目發(fā)生頻數(shù)的柱狀圖,,另一個(gè)是標(biāo)記項(xiàng)目累計(jì)百分比的折線圖。排列圖的主要用途有:按重要順序顯示出每個(gè)質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目對(duì)整個(gè)質(zhì)量問題的影響程度,;識(shí)別進(jìn)行質(zhì)量改進(jìn)的機(jī)會(huì),。


圖一  常規(guī)排列圖


  圖一顯示的就是一家生產(chǎn)電子產(chǎn)品的公司在對(duì)近期生產(chǎn)中發(fā)生的缺陷記錄進(jìn)行統(tǒng)計(jì),并整理成的排列圖形式,。顯而易見,,“Missing Screws”出現(xiàn)的頻次顯著地高于“Missing Clips”,、“Leaky Gaskets”等其他缺陷,應(yīng)該抓住這個(gè)機(jī)會(huì),,將它作為質(zhì)量改進(jìn)的主要方向,,值得對(duì)它作深入的調(diào)查研究與分析。
 
  應(yīng)用排列圖時(shí)應(yīng)當(dāng)注意到:繪制排列圖的主要目的,,是為了剔除次要的“多數(shù)”,,找到關(guān)鍵的“少數(shù)”。因此,,當(dāng)你發(fā)現(xiàn)柱狀圖下降趨勢(shì)緩慢,,頭部項(xiàng)目和尾部項(xiàng)目之間的落差不大時(shí),可以嘗試用以下方法調(diào)整:
 
  1. 柱狀圖的縱坐標(biāo)不用“件數(shù)”來表示,,而改用其他可量化的指標(biāo)(如“金額”等)來表示,。
 
  2.橫坐標(biāo)不用“缺陷”來表示,而改用其他分類指標(biāo)(如“產(chǎn)品類型”等)來表示,。
 
  3.增加分層變量(如“時(shí)間”等),,繪制“分層排列圖”Stratified Pareto Plot。
 
  所有這些方法的目的都是為了更快速,、更準(zhǔn)確地在雜亂無章的數(shù)據(jù)中發(fā)現(xiàn)主要矛盾,。
 
  JMP軟件深知實(shí)際工作中這些細(xì)節(jié)的重要性,因此在其“Pareto圖”平臺(tái)上都提供了相應(yīng)的選項(xiàng),。例如,,如果我們?cè)谟涗浫毕輹r(shí)記錄了日期(OCT1、OCT2或OCT3)和設(shè)備清洗狀態(tài)(before或after),,就可以將一張反映整體的排列圖細(xì)化為6(=3*2)張乃至更多,、體現(xiàn)兩個(gè)維度類別信息的分層排列圖(如圖二)。這樣就可以更加清晰地觀察不同日期,、不同設(shè)備清洗狀態(tài)下的缺陷分布情況,,便于我們發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵問題,同時(shí)也可用于進(jìn)行不同條件下的產(chǎn)品質(zhì)量對(duì)比,。


圖二  分層排列圖


  另外,,還有一個(gè)使用小技巧:考慮到國內(nèi)某些企業(yè)習(xí)慣用餅圖等簡(jiǎn)易圖形分析這類質(zhì)量問題,JMP軟件的“Pareto圖”平臺(tái)提供了“排列圖”和“餅圖”之間的快速轉(zhuǎn)換,。圖三就是一張將缺陷類別排序后展示的餅圖,,用它同樣能夠進(jìn)行“帕累托現(xiàn)象”的簡(jiǎn)單分析。


圖三  轉(zhuǎn)換成餅圖的排列圖
 

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