美國國家標準與技術(shù)研究院(NationalInstituteofStandardsandTechnology,，NIST)的研究人員近日通過測試發(fā)現(xiàn),，碳納米管元件的可靠性會是一個大問題,。
　　
　　NIST對金屬電極之間眾多納米管導(dǎo)線的測試結(jié)果顯示,，納米管可承受非常高的電流密度──耐受度是一般半導(dǎo)體電路的數(shù)百倍──時間長達數(shù)小時，但在持續(xù)不斷的電流之下,，耐受度會逐漸降低,。而研究人員表示，當電流升高到一定的閾值,，金屬電極大概在40個小時內(nèi)就會失效,。
　　
　　NIST正在開發(fā)一系列量測與測試技術(shù)，并研究不同的納米管結(jié)構(gòu),，專注于探討納米管與金屬,、以及與不同納米管之間交界處的運作情形。在一個相關(guān)的研究中,，NIST研究人員發(fā)現(xiàn)納米管網(wǎng)絡(luò)的故障發(fā)生處,，是因為電子自然在納米管之間跳躍,。研究人員指出,，這種故障狀況似乎是會發(fā)生在納米管之間電阻最高點。
　　
　　藉由監(jiān)測初始電阻(startingresistance)以及材料劣化的初始階段,，研究人員就能預(yù)測電阻是否會逐漸降低──因此可預(yù)設(shè)其運作極限(operationallimits),；而若是以零星、不可預(yù)測的方式變動,，這就會對元件的性能產(chǎn)生負面影響,。
　　
　　由NIST所開發(fā)的電氣應(yīng)力測試(electricalstresstest)，是將初始電阻與劣化率(degradationrate)相連,，以預(yù)測故障與元件整體生命周期,。這種測試能應(yīng)用于篩選最合適的制造技術(shù),，以及判別納米管網(wǎng)絡(luò)的可靠性。