美國國家標準與技術研究院(NationalInstituteofStandardsandTechnology,，NIST)的研究人員近日通過測試發(fā)現(xiàn),，碳納米管元件的可靠性會是一個大問題,。
NIST對金屬電極之間眾多納米管導線的測試結果顯示,，納米管可承受非常高的電流密度──耐受度是一般半導體電路的數(shù)百倍──時間長達數(shù)小時,，但在持續(xù)不斷的電流之下,，耐受度會逐漸降低,。而研究人員表示，當電流升高到一定的閾值,，金屬電極大概在40個小時內就會失效,。
NIST正在開發(fā)一系列量測與測試技術，并研究不同的納米管結構,，專注于探討納米管與金屬,、以及與不同納米管之間交界處的運作情形。在一個相關的研究中,，NIST研究人員發(fā)現(xiàn)納米管網(wǎng)絡的故障發(fā)生處,，是因為電子自然在納米管之間跳躍。研究人員指出,，這種故障狀況似乎是會發(fā)生在納米管之間電阻最高點,。
藉由監(jiān)測初始電阻(startingresistance)以及材料劣化的初始階段，研究人員就能預測電阻是否會逐漸降低──因此可預設其運作極限(operationallimits),；而若是以零星,、不可預測的方式變動，這就會對元件的性能產(chǎn)生負面影響,。
由NIST所開發(fā)的電氣應力測試(electricalstresstest),，是將初始電阻與劣化率(degradationrate)相連，以預測故障與元件整體生命周期,。這種測試能應用于篩選最合適的制造技術,，以及判別納米管網(wǎng)絡的可靠性。
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