自20年前推出SMU以來,，源測(cè)量單元（SMUs）已演變成一個(gè)多用途的儀器類別,，人們經(jīng)常要求SMU解決電子行業(yè)應(yīng)用的快速擴(kuò)大陣列：
　•半導(dǎo)體設(shè)備制造，工藝開發(fā)和產(chǎn)品研發(fā)/設(shè)計(jì)
　•電子產(chǎn)品的生產(chǎn)驗(yàn)證,，如便攜式無線設(shè)備
　•器件所需新型先進(jìn)材料的生產(chǎn)和開發(fā),，如太陽(yáng)能電池和高亮度LED
　•幾乎所有電子設(shè)備的測(cè)試應(yīng)用程序
　在探討定義SMU技術(shù)因素之前,，精確定義SMU是什么（不是什么）會(huì)很有幫助。本質(zhì)上講,，SMU是快速響應(yīng),、能夠回讀電壓和電流的源，具有高精度測(cè)量的能力,，緊密地集成在單封閉機(jī)箱內(nèi),。它們?cè)O(shè)計(jì)用于線路和設(shè)備評(píng)估，必須在測(cè)試設(shè)備上（DUT）施加一個(gè)直流信號(hào),，并且需要對(duì)被測(cè)信號(hào)做出響應(yīng),。SMU具有四象限運(yùn)行（圖1）的能力，作為正負(fù)直流電源或吸收（負(fù)載）。它們還提供高度可重復(fù)的測(cè)量,，通常具有5½-或6½-的數(shù)字分辨率,。 SMU通常對(duì)用于確定被測(cè)設(shè)備I-V特性的電流和電壓進(jìn)行掃描。由于這些優(yōu)勢(shì),，SMU已被廣泛地應(yīng)用在工業(yè)領(lǐng)域,，并且是許多自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的通用部件。

 圖1 四象限SMU設(shè)計(jì)

　有些主張與此相反,，認(rèn)為傳統(tǒng)儀器在測(cè)試與測(cè)量行業(yè)仍然是一個(gè)重要的,、逐漸增多的部件。雖然特定的通信接口（GPIB,，RS - 232等）可能會(huì)隨著時(shí)間的推移而過時(shí),，但是在系統(tǒng)中單獨(dú)使用或與其它SMU集成使用的基于儀器的SMU，通常為寬范圍需求的應(yīng)用提供最快,、最準(zhǔn)確,、最靈活的解決方案。“部件”SMU往往犧牲他們的性能以提供一個(gè)特定的外形因子,。
最寬的可用功率和信號(hào)范圍
　針對(duì)多類型裝置的測(cè)試,，期望測(cè)試設(shè)備具有工作在寬范圍信號(hào)等級(jí)的能力。例如,，功率MOSFET導(dǎo)通時(shí)的電阻非常低,，通過極大的電流，但是關(guān)斷時(shí)的電阻非常高,，并允許流過幾乎為零的電流,。MOSFET處于開通狀態(tài)時(shí)，電流高達(dá)幾十安培,，關(guān)斷時(shí)電流可能小于納安培,。功率二極管和高亮度發(fā)光二極管具有相似的動(dòng)態(tài)范圍要求，其全部特性也相似,。對(duì)于這類器件,，當(dāng)施加的正向偏置電壓低于閾值電壓時(shí)，流過器件的電流非常低,。當(dāng)電壓從0V至閾值電壓掃描時(shí),，器件的電流從亞納安范圍上升到毫安級(jí)。當(dāng)偏置電壓達(dá)到并超過閾值電壓時(shí),，測(cè)試電流快速增加,，達(dá)到幾十甚至幾百安培，這個(gè)電流值取決于設(shè)備,。期望測(cè)試設(shè)備能在寬范圍內(nèi)具有精確測(cè)量的能力,，這樣可以減少所需測(cè)試設(shè)備的數(shù)量,，從而降低系統(tǒng)的復(fù)雜性和成本。
 

圖2 吉時(shí)利SMU和競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的動(dòng)態(tài)范圍比較

　吉時(shí)利數(shù)字源表®儀器結(jié)合了大部分單一儀器最寬范圍信號(hào)的最大能力,。型號(hào)2651A高功率源表可提供高達(dá)200W的直流電源和2000W的脈沖功率,。它可以測(cè)量高達(dá)50A的電流，具有最大分辨率為1pA的測(cè)量能力,。型號(hào)2636A動(dòng)態(tài)范圍上領(lǐng)先于行業(yè),，具有測(cè)量10A降至1fA信號(hào)的能力，提供160位電流分辨率,。
一些基于SMU儀器的競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手宣稱，型號(hào)2636A雙通道系統(tǒng)源表儀器具有相同的動(dòng)態(tài)覆蓋范圍,，測(cè)量10A降至10fA的信號(hào),。然而，當(dāng)比較每一個(gè)SMU（圖2）測(cè)量范圍時(shí),，很明顯型號(hào)2636A在電流幅值上比競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品低兩個(gè)數(shù)量級(jí),。這意味著型號(hào)2636A不是必須依賴其測(cè)量范圍的最低有效位和最低精度位來實(shí)現(xiàn)真正的寬動(dòng)態(tài)范圍。對(duì)于儀器用戶,，在低電流測(cè)量的準(zhǔn)確度方面提供了更大的信心,。
　部件SMU的供應(yīng)商也宣稱他們的寬范圍覆蓋性。然而,，這些外形因子限制了他們的動(dòng)態(tài)范圍,，使其比基于SMU的Keithley儀器小幾十倍。在高端范圍,，他們受限于設(shè)備能夠提供多大的功率,，大多數(shù)部件SMU最大輸出100mA的電流。在低端范圍,，對(duì)于各種實(shí)際的低壓測(cè)量,，所有設(shè)計(jì)在較小空間、具有不充分屏蔽的線路的電磁干擾會(huì)產(chǎn)生過多的電噪聲,。結(jié)果就是通?？床坏讲考MU的任何電流低于10微安。
最快的模數(shù)轉(zhuǎn)換器
　測(cè)試設(shè)備制造商總是盡力推動(dòng)從SMU每秒讀出更多的讀數(shù),。SMU的數(shù)字引擎得到升級(jí),，通信信道的帶寬增加，但最終提高速度最有效的方法就是降低測(cè)量本身的時(shí)間,。由于卓越的抗噪能力,，大多數(shù)SMU使用積分模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）來進(jìn)行測(cè)量，并可以更好的獲得精確的高分辨率結(jié)果,。然而,，從積分ADC得到的測(cè)量的質(zhì)量直接與時(shí)間相關(guān),，因?yàn)樗黄冗\(yùn)行的很快，因此測(cè)量的質(zhì)量被降低,。
　通過將輸入信號(hào)的值轉(zhuǎn)換為輸入電壓電平給電容充電的時(shí)間和反極性參考電壓給電容放電的時(shí)間之間的關(guān)系,，那么積分ADC能夠產(chǎn)生杰出的測(cè)量結(jié)果。對(duì)于一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)雙斜率積分ADC,，這種關(guān)系表示為Vin = VREF（td / tc）,，其中Vin是被測(cè)信號(hào)，Vref是參考電壓,，td是電容放電時(shí)間,，tc是電容充電的時(shí)間。通過對(duì)電容充電一段時(shí)間,，輸入信號(hào)的噪聲尖峰經(jīng)過平均后輸出,，因此在測(cè)量中最大程度地減少了噪聲，提高了精度,。對(duì)充放電周期中固定速率時(shí)鐘的時(shí)鐘周期進(jìn)行計(jì)數(shù),，以此來測(cè)量電容進(jìn)行充放電的時(shí)間。假定tc和td為時(shí)鐘周期數(shù),，由這個(gè)方程可以看出,，精度是由電容充電（tc）的時(shí)間所提供的。當(dāng)允許流過更長(zhǎng)時(shí)間時(shí),，tc計(jì)數(shù)變得更大,，它提高了參考電壓（Vref）被拆分的步長(zhǎng)數(shù)。簡(jiǎn)單地說,，tc計(jì)數(shù)變長(zhǎng),，測(cè)量的分辨率將會(huì)增加。
　從這個(gè)等式可以看到儀器制造商可控制的變量是充電時(shí)間（tc）,。為了加快測(cè)量,，有必要允許積分ADC具有更少的充電時(shí)間，但是這樣做會(huì)降低測(cè)量的分辨率,。吉時(shí)利數(shù)字源表儀器使用積分ADC,，但是為了應(yīng)對(duì)速度提升帶來的分辨率的損失，他們引入了具有增強(qiáng)型多斜坡降低方法的積分ADC來替代更多的傳統(tǒng)的雙斜率方法,。增強(qiáng)型多斜率下降積分ADC采用了多種創(chuàng)新技術(shù)以加快放電時(shí)間,，允許在不降低充電時(shí)間的前提下提高速度，這樣就保證了最終的測(cè)量分辨率,。這種類型的積分ADC如何工作已超出本文的范圍,，但可在其它地方找到完整的描述。使用多斜率下降方法的創(chuàng)新技術(shù)允許吉時(shí)利使用積分型ADC的 SMU得到業(yè)界最快的高分辨率讀數(shù),。
　吉時(shí)利2600A系列數(shù)字源表儀器使用增強(qiáng)型多斜率下降積分型ADC,，具有每秒讀取20000個(gè)讀數(shù)的能力,。然而，對(duì)于需要更快測(cè)量的應(yīng)用,，積分ADC損失了分辨率和精度,，因此必須使用不同類型的ADC。
吉時(shí)利型號(hào)2651A高功率源表儀器包含一個(gè)積分ADC和18位高速數(shù)字化ADC,，具有每秒讀出高達(dá)百萬(wàn)個(gè)讀數(shù)的能力,。使用此高速ADC，2651A具有市面上所有SMU中最高的讀出速率,，同時(shí)仍保持高的測(cè)量分辨率,。

   圖3解釋了型號(hào)2651A高數(shù)字化ADC的能力。此ADC使用400個(gè)采樣和一微秒的時(shí)間間隔,，使得它可以完整捕獲全部300微秒50A的脈沖,。有了這樣的功能，型號(hào)2651A不需要額外的測(cè)試設(shè)備,，也可以準(zhǔn)確地捕捉設(shè)備的瞬態(tài)及熱效應(yīng)。

圖3：型號(hào)2651A的18位高速數(shù)字化ADC捕獲300微秒50A的脈沖

多通道的可擴(kuò)展性
　無論單個(gè)SMU可能的速度有多快,，當(dāng)集成到系統(tǒng)中性能降低的話,，它的優(yōu)點(diǎn)也被浪費(fèi)。部件SMU本質(zhì)上較少受這個(gè)問題的影響,，這要?dú)w功于他們的高速及通過PCI或PCIe背板（133MB / S的PCI 250MB / S的PCIe x1）連接到主機(jī)系統(tǒng)的低延遲,。相反地，基于儀器的SMU是通過外部總線如GPIB和主機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行通信,，GPIB的速度只是背板速度（1.8MB / s標(biāo)準(zhǔn)）的一小部分,。吉時(shí)利的工程師在設(shè)計(jì)2600A系列源表儀器時(shí)意識(shí)到了這點(diǎn)，并通過使用測(cè)試腳本處理器（TSP®）使其脫離主機(jī)系統(tǒng)自主運(yùn)作,，并通過稱為TPS-Link®的技術(shù)的高速,、低延遲總線進(jìn)行相互通信和同步。
　傳統(tǒng)的基于儀器源測(cè)量單元（SMU）要求每次從主機(jī)的一條總線傳送一個(gè)命令,，因?yàn)樗袃x表共用一條總線,，每次只能供一個(gè)儀表使用和通信。由于總線速度緩慢,，大部分時(shí)間用于在總線和儀表之間發(fā)送指令和數(shù)據(jù),，而其他儀表經(jīng)常閑置。TSP技術(shù)允許儀器自主運(yùn)行主機(jī)系統(tǒng)的測(cè)試腳本,，幾乎省去了傳輸指令的時(shí)間,。一旦腳本裝入基于TSP的源測(cè)量?jī)x表，就可以執(zhí)行整個(gè)測(cè)試序列,，主機(jī)只需要傳送一個(gè)命令：指示儀器運(yùn)行腳本,。

圖4：TSP-Link網(wǎng)絡(luò)實(shí)例,，含3個(gè)源數(shù)據(jù)儀表

　TSP-Link省去了連接多個(gè)源數(shù)據(jù)儀表的需求，只需一條帶寬有限的GPIB總線就可以滿足需求,。有了TSP-Link技術(shù),，只需將一個(gè)源數(shù)據(jù)儀表與GPIB總線相連，其他源數(shù)據(jù)儀表則與“菊花鏈”配置（通過便宜的CAT5e交叉線連接）相連,。首先,，通過TSP-Link技術(shù)將其他源數(shù)據(jù)儀表連接，這些儀表的源測(cè)量單元（SMU）以第一個(gè)源數(shù)據(jù)儀表的額外源測(cè)量單元（SMU）通道形式出現(xiàn),，通過在第一個(gè)源數(shù)據(jù)儀表上運(yùn)行腳本就可以快速訪問,。
　與組件源測(cè)量單元（SMU）不同，利用TSP-Link技術(shù)實(shí)現(xiàn)的通道擴(kuò)展不限于主機(jī)的少數(shù)插槽,。TSP-Link技術(shù)的無主機(jī)擴(kuò)展最多允許連接32個(gè)儀表,，有可能創(chuàng)建一個(gè)包含64個(gè)源測(cè)量單元（SMU）通道的系統(tǒng)。此外,，由于源測(cè)量單元（SMU）是基于儀表的,，可用電源數(shù)量不限于底板提供的電源。即使在基于大功率組件源測(cè)量單元（SMU）系統(tǒng)中,，某些型號(hào)也只能提供最大84W的電源,。通過接口TSP-Link可以連接32個(gè)2651A型大功率源數(shù)據(jù)儀表，這樣創(chuàng)建的系統(tǒng)就可以提供6.4kW直流電源,。
　TSP-Link技術(shù)提供了一流的系統(tǒng)擴(kuò)展方法,，不需要昂貴的GPIB適配器和線纜，而且通過大量減少儀表與主機(jī)之間通信數(shù)量,，可以提高系統(tǒng)吞吐量,。不過，TSP-Link技術(shù)的真實(shí)功率在于其同步運(yùn)行多個(gè)測(cè)試提高吞吐量的能力,。除了源測(cè)量單元（SMU）,，無論它們是在底板上基于組件的SMU還是在GPIB總線上基于儀表的SMU，訪問總線是受限的,，主機(jī)每次必須向每個(gè)SMU發(fā)送命令,。為系統(tǒng)增添更多的SMU意味著增加主機(jī)必須處理的器件數(shù)量，主機(jī)必須向其發(fā)送命令,。由于在這些系統(tǒng)中,，每次只能向一個(gè)SMU發(fā)送命令，因此所有測(cè)試都必須按順序進(jìn)行,。
　再通過TSP-Link接口連接的系統(tǒng)中,，可以對(duì)網(wǎng)絡(luò)中的儀表進(jìn)行分組，每組擁有自己的測(cè)試腳本處理器,，能夠與系統(tǒng)中的任何其他組并行運(yùn)行腳本,。分組中可以包括單一源數(shù)據(jù)表或多個(gè)源數(shù)據(jù)表,，而且通常可以根據(jù)測(cè)試器件所需的SMU通道數(shù)量進(jìn)行分組,。例如,，如果正在測(cè)試的器件是一個(gè)四端口（柵極、漏極,、源極,、基極）MOSFET，對(duì)晶圓進(jìn)行測(cè)試,，而且每個(gè)管腳需要一個(gè)SMU,，那么可以將其分組為兩個(gè)雙通道源數(shù)據(jù)表，如2636A型雙通道系統(tǒng)源數(shù)據(jù)表,。一旦確定分組而且為每組指定運(yùn)行的腳本,，主機(jī)就可以通過一個(gè)命令指示所有組開始并行運(yùn)行。由于在內(nèi)存中已經(jīng)存儲(chǔ)每組的腳本,，主機(jī)只需再次發(fā)送命令就可以進(jìn)行反復(fù)測(cè)試,。
以晶片上的4端口MOSFET為例，假設(shè)一個(gè)TSP-Link網(wǎng)絡(luò)包括一個(gè)組以及一個(gè)完整的測(cè)試序列,，步驟如下：
　• 主機(jī)發(fā)送開始執(zhí)行的命令,。
　• 腳本運(yùn)行并對(duì)器件進(jìn)行一系列完整的測(cè)試。
　• 數(shù)據(jù)反饋至主機(jī),，同時(shí)探測(cè)臺(tái)將探針移至下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
　如果整個(gè)序列需要1秒鐘完成,，那么照此速度,，每分鐘就可以測(cè)試60個(gè)點(diǎn)位。如果為TSP-Link網(wǎng)絡(luò)添加另外一組,，測(cè)試仍然只需1秒鐘完成,。不過，增加第二組后,，有可能對(duì)兩個(gè)器件并行測(cè)試,，因此吞吐量將翻倍，即每分鐘測(cè)試120個(gè)點(diǎn)位,。利用TSP-Link技術(shù),，只需為網(wǎng)絡(luò)添加分組，就可以提高系統(tǒng)吞吐量,。
支持最大性能的I/O連接器
　吉時(shí)利工程師為源數(shù)據(jù)表選擇了輸入/輸出連接器,，旨在為目標(biāo)應(yīng)用提供最大性能。對(duì)于中級(jí)信號(hào)范圍,，banana連接非常適合傳輸信號(hào)并提供最大的易用性,，這也是2400 系列源數(shù)據(jù)表提供這種連接的原因,。不過，對(duì)于那些電流很大或很小的應(yīng)用H,，banana連接則不能支持所需的性能等級(jí),，因襲必須使用其他連接器。
　對(duì)于像2651A型大功率源數(shù)據(jù)表這樣的大電流源數(shù)據(jù)表,，其直流電流高達(dá)20A,，脈沖電流高達(dá)50A。
常見的banana連接器的額定電流是15A,，接觸電阻高達(dá)10 mΩ,。在50A電流時(shí)，僅這個(gè)接觸電阻就將帶來0.5V的壓降,。吉時(shí)利選擇使用性能更優(yōu)的菲尼克斯連接器,，其額定電流高達(dá)76A DC。這種連接器的電流容量額定值不僅足以滿足2651A型儀表需求,，而且其接觸電阻非常低,，不會(huì)在測(cè)試引線產(chǎn)生過大的壓降，從而實(shí)現(xiàn)了性能最大化,，減緩上升和穩(wěn)定時(shí)間,。菲尼克斯連接器的額定接觸電阻僅為0.3 mΩ，在50A電流時(shí)的壓降僅為15mV,。為了便于器件連接,，連接器與螺旋式接線柱已進(jìn)行匹配，提高了易用性,。
對(duì)于電流低于1毫微安培的應(yīng)用,，選擇泄露電流最小并支持所需電壓的連接器非常重要。這也是吉時(shí)利公司的源數(shù)據(jù)表,，如237型高壓源測(cè)量單元,、2636A型雙通道系統(tǒng)源數(shù)據(jù)表以及6430型亞FA程控?cái)?shù)據(jù)源表，都使用三軸連接器的原因,。標(biāo)準(zhǔn)的三軸連接器可以在1500V高壓下安全運(yùn)行,，并涵蓋這些儀表的輸出電壓容量。不過,，使用三軸連接器的最大益處是將漏電流減到最小,，實(shí)際上通過保護(hù)測(cè)試信號(hào)，幾乎可以杜絕漏電流,。
解釋受保護(hù)三軸連接能夠消除漏電流的最簡(jiǎn)單方法是將其與未受保護(hù)得同軸連接進(jìn)行比較,。同軸連接是在中心導(dǎo)體周圍包裹一層屏蔽，二者之間是絕緣層。SMU的HI信號(hào)施加到中心導(dǎo)體,，LO信號(hào)加于屏蔽層,，如圖5所示。
 

圖5: 未受保護(hù)的同軸連接

　在同軸連接中,，中心導(dǎo)體和屏蔽層之間的絕緣體形成阻抗路徑(RL),，它以并聯(lián)方式與待測(cè)器件（RDUT）相連。這個(gè)額外的電流路徑產(chǎn)生漏電流(IL),，疊加到通過待測(cè)器件的電流(IDUT),，得到測(cè)量電流(IM)。
假設(shè)RDUT是200GΩ,，測(cè)試電壓是200V,。根據(jù)歐姆定律（I = V/R）可知，預(yù)計(jì)通過待測(cè)器件的電流是200V/200GΩ = 1nA,。同軸電纜絕緣體的典型阻抗大約是2TΩ/米,，因此假設(shè)電纜長(zhǎng)度是1米，那么由于電纜泄露流出的電流就是200V/2TΩ = 100pA,?？紤]到測(cè)量得到的電流是通過待測(cè)器件電流和漏電流之和，因此測(cè)量得到的電流是1.1nA (1nA + 100pA = 1.1nA),。因此,，計(jì)算出來的電阻是181.818GΩ (200V/1.1nA = 181.818GΩ)，誤差為9.1% [(200GΩ – 181.818GΩ)/200GΩ * 100% = 9.1%],。隨著電纜長(zhǎng)度的增加,，泄露電阻也隨之減小，漏電流就更大,；因此,，在同軸連接中因泄露帶來的誤差就更大。
　相反,，利用三軸連接，中心導(dǎo)體被內(nèi)部屏蔽層和外部屏蔽層所包圍,。與同軸連接相似,，中心導(dǎo)體傳輸HI信號(hào)，外部屏蔽層傳輸LO信號(hào),。但是,，內(nèi)部屏蔽層有一個(gè)專門用途：傳輸保護(hù)信號(hào)。

圖6: 受保護(hù)的三軸連接

　保護(hù)信號(hào)由單位增益,、低阻抗放大器驅(qū)動(dòng),，它隨著HI信號(hào)電壓而變化。通過使三軸線纜內(nèi)部屏蔽層電壓與中心導(dǎo)體電壓相同，那么中心導(dǎo)體與絕緣體(RL1)之間的電勢(shì)就是0V,，從而杜絕了漏電流(IL),。
從上面的例子中可以看出，即使阻抗非常高的絕緣體也可以泄露較大的電流,，并給測(cè)量結(jié)果帶來較大誤差,。吉時(shí)利公司的源測(cè)量單元（SMU）（低電流）使用天然的三軸連接，確保從儀表到電纜端口之間不存在漏電流路徑,。某些SMU使用匹配器將banana連接轉(zhuǎn)換為三軸連接,。雖然這實(shí)現(xiàn)了從儀表到待測(cè)器件的直接連接，但儀表與適配器之間的連接仍無法得到保護(hù),，從而留下電流泄露路徑,。如果儀表和適配器沒有定期清洗，那么操作員皮膚的油污就可能在端口之間形成相對(duì)低的阻抗,，這將成為一個(gè)非常重要的問題,。吉時(shí)利公司的源數(shù)據(jù)表使用天然的三軸連接，確保從根本上杜絕這些經(jīng)常被忽視的泄露路徑,。
SMU技術(shù)領(lǐng)先
　吉時(shí)利公司目前的SMU技術(shù)領(lǐng)先地位是從20世紀(jì)80年代以來數(shù)十年的儀表工程設(shè)計(jì)和開發(fā)努力的結(jié)果,，包括一系列廣泛的SMU相關(guān)專利：
　• 利用N溝道和P溝道FET實(shí)現(xiàn)范圍變化(5,144,154)
　• 利用電流/電壓限制實(shí)現(xiàn)電壓/電流源控制(5,039,934)
　• 電流控制高壓固態(tài)開關(guān)(5,146,100)
　• 受保護(hù)的印制電路板島(5,490,325)
　• 測(cè)試接觸點(diǎn)連接檢查方法與電路(5,886,530)
　• 遙控儀表接觸檢查(5,999,002)
　• 利用二次反饋實(shí)現(xiàn)失靈SMU的范圍變更(具有二次反饋的源測(cè)量單元，消除范圍變更其間的瞬變) (6,262,670)
　• 低噪聲電源變壓器(7,009,486)
　• 自動(dòng)確定范圍的電流分流(自配置電流測(cè)量) (7,276,893)
　• 源測(cè)量電路(阻抗遮蓋) 7,202,676
　• 大容量載荷測(cè)試(7,800,380)
　• 測(cè)試儀表網(wǎng)絡(luò)(動(dòng)態(tài)TSP-Link網(wǎng)絡(luò)細(xì)分(DTNS)) (7,680,621)
　目前,，吉時(shí)利擁有測(cè)量與測(cè)試業(yè)界技術(shù)最先進(jìn)儀表SMU生產(chǎn)線,，推出4種不同種類的源測(cè)量單元（SMU），涵蓋從臺(tái)式測(cè)試到大吞吐量生產(chǎn)測(cè)試等多種測(cè)試,，具有最廣泛的動(dòng)態(tài)范圍,。
　• 237型高壓SMU具有10fA、10µV測(cè)量靈敏度,，高達(dá)1100V源和測(cè)量電壓,。它是作為230系列產(chǎn)品之一于20世紀(jì)80年代推出的，目前237型SMU仍然用于高壓參數(shù)測(cè)試領(lǐng)域,，包括雙極-CMOS-DMOS (BCD)技術(shù)的工藝控制和可靠性監(jiān)控,。
　• 6430型亞fA程控源數(shù)據(jù)表集成了SMU的電壓和電流源以及測(cè)量功能，比靜電計(jì)靈敏度更高,、噪聲更低,、輸入阻抗更高。高達(dá)10aA的靈敏度使得它成為測(cè)試實(shí)驗(yàn)室評(píng)估試驗(yàn)組件的重要儀器,，適合低電流,、高阻抗或高靈敏度半導(dǎo)體測(cè)量。其低噪聲和低漂移特性還使得它非常適合單電子器件,、高阻抗納米線和納米管,、聚合物以及其他高阻抗納米材料的科學(xué)研究,。
　• 2400系列源數(shù)據(jù)表性價(jià)比高，適合臺(tái)式 (交互) 以及速度較低的集成系統(tǒng)測(cè)試,。公司最新推出2401型低壓源數(shù)據(jù)表,，這樣2400系列產(chǎn)品就可以為研究人員和系統(tǒng)構(gòu)建人員提供8種不同的儀表級(jí)解決方案，滿足其動(dòng)態(tài)范圍需求,。這些方案提供的測(cè)量范圍寬泛,，不存在儀表局限性，可以滿足各種測(cè)量要求,。
　• 2600A系列系統(tǒng)源數(shù)據(jù)表集測(cè)量速度,、測(cè)量完整性以及系統(tǒng)級(jí)吞吐量于一體，適合高速生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)以及PC控制測(cè)試臺(tái)應(yīng)用,。公司最新推出的2651A型儀表,，使得該系列產(chǎn)品支持高達(dá)200W DC和2000W的脈沖測(cè)試需求。
結(jié)束語(yǔ)
　吉時(shí)利公司將繼續(xù)鞏固和擴(kuò)大SMU的領(lǐng)先地位,，為用戶提供各種重要測(cè)量工具,，滿足其直流特性分析和測(cè)量需求。