電解電容會隨時間而泄漏,。圖1中的電路可以用來測試電容,，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設定對泄漏的限制條件,。圖中的值適用于所有電容的一般測試,，從1nF的陶瓷電容,，到1000μF的電解電容。電路中,，CREF的值接近于待測電容值CX,。另外也可以用旋轉切換的方法選擇RREF，使之大于或小于22 MΩ,。

　　當按鍵開關閉合時,，電容CREF與CX通過各自相應的PNP晶體管充電。當開關打開時,，這些電容開始放電,。CREF（假設處于良好狀況）有額外的放電外接電阻。而待測電容CX則通過自己的內阻放電,。如果CX的泄漏大于CREF通過RREF的泄漏,，則CX電壓下降得更快。于是,，運放非反相輸入端的電壓會低于反相輸入端,，使運放輸出為低，使紅色LED發(fā)光,。這只LED用于表示被測電容有泄漏。對電路的測試表明,，甚至1nF的陶瓷電容都能檢測,。檢查測試電容的額定值，確保其高于將充電的電壓值,，此時VSUPPLY 為-1.8V,。

　　LF357的最低供電電壓為10V，但測試只需要6V,，因此測試電容允許有一個低的上限電壓,。要確認電容有FET或MOSFET的輸入級。