1 引言
隨著半導體工藝的發(fā)展,，片上系統(tǒng)SOC已成為當今一種主流技術(shù),。基于IP復用的SOC設(shè)計是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個系統(tǒng),，提高了設(shè)計效率,，加快了設(shè)計過程，縮短了產(chǎn)品上市時間,。但是隨著設(shè)計規(guī)模的增大,，集成密度的提高，IP引腳的增多,，IP的植入深度加大必然使得測試驗證工作繁重,。據(jù)統(tǒng)計，在SOC設(shè)計中,，各種內(nèi)核的測試驗證工作所用的時間占整個設(shè)計過程的60％～80％,，SOC及IP核的測試驗證已成為SOC技術(shù)發(fā)展的瓶頸。如何在最短的時間內(nèi)高效迅速地通過IP核驗證與測試．并把其集成在SOC中成為業(yè)界關(guān)注的焦點和研究領(lǐng)域急待突破與實現(xiàn)的方向,。
基于IP核復用的SOC,，其IP核類型和來源都不相同，即使已驗證好的IP核在集成時也不能確保不出差錯,。IP核被集成到SOC后,，其輸入輸出端口也嵌入到SOC，原本可測的端口失去了原有的可控性和可觀測性,，變得不可測,。
因此人們一直尋求有效的測試驗證技術(shù)。本文給出了基于內(nèi)建自測試方法(BIST),，在設(shè)計編譯碼器IP核的同時,，考慮其測試外殼設(shè)計，以期提高IP核可測性,。
2測試結(jié)構(gòu)
所謂測試,，就是在被測電路的輸入引腳施加相應的激勵信號,，然后檢測輸出引腳的響應，并將檢測的輸出引腳的響應與期望引腳的響應進行比較以判斷電路是否存在故障的過程,。
IP核測試的目的在于檢測IP核是否存在功能和時序錯誤,，從而對IP核進行修改，提高產(chǎn)品的可靠性,。一般采用訪問,、隔離、控制的手段對IP核的輸入端施加激勵來得到響應與期望的響應進行比較,。嵌入式IP核的測試結(jié)構(gòu)如圖1所示,。
測試激勵源為嵌入式IP核生成測試所需的激勵。響應分析器對所得到的響應進行分析,，如果相同則表明沒有故障,，不同則表明存在故障。測試訪問機制是 SOC傳送數(shù)據(jù)的一種手段,，它將測試激勵傳送到IP核的輸入端口并將測試響應從IP核的輸出端口傳送到響應分析器,。測試外殼是IP核同訪問機制及器件其他邏輯之間的接口；測試外殼以實現(xiàn)片上核與核之間的測試隔離,，也可以為IP核提供了測試數(shù)據(jù)傳送通道,。
3內(nèi)建自測試原理
內(nèi)建自測試是可測性設(shè)計的一種重要方法。其基本思想是讓電路自己生成測試向量,，而非通過外部施加測試向量,，并且依靠自身判斷所得到的結(jié)果是否正確。內(nèi)建自測試原理圖如圖2所示,。
其中測試外殼(wrapper)在IP核的設(shè)計之中就予以考慮,。通過測試外殼外部可以控制BIST和正常模式的切換。測試外殼內(nèi)部多采用邊界掃描模塊,、移位寄存器或多路訪問器等,，它起到訪問、隔離,、控制的作用,，可提高IP核的可測性。然而加入測試外殼會使IP核的面積開銷增大,，因此必須在IP核的可測性和面積之間進行權(quán)衡,。
4 內(nèi)建自測試的實現(xiàn)
可控性指驅(qū)動一個節(jié)點為邏輯狀態(tài)0或1的難易程度；可觀測性指從外部端口觀察內(nèi)部節(jié)點故障的難易程度,；可測性就是指在整個電路全部節(jié)點的可控性和可觀測性,。很顯然，高可測性比較容易產(chǎn)生測試向量并且測試效果良好。
為了提高IP核的可測性,，在IP核的設(shè)計中就考慮了設(shè)計特定電路方便測試,。以BIST實現(xiàn)IP核的測試，一般具有如下優(yōu)勢：簡化測試接口,；改善測試質(zhì)量,；降低測試成本；提高測試可靠性,。
基于BIST的編譯碼器IP核測試實現(xiàn)框圖如圖3所示,。
通過測試外殼控制輸入／輸出寄存器將編譯碼器隔離使它們互不影響，正常狀態(tài)和測試狀態(tài)能夠切換,，提高了IP核的可測性。具體的實現(xiàn)過程如下：
(1)正常狀態(tài)下原始碼輸入編碼器,，由其輸出的碼再進入譯碼器又轉(zhuǎn)換為原始碼,；
(2)測試狀態(tài)下測試外殼的測試向量輸入編碼器，由其輸出的碼直接進入譯碼器,，由譯碼器輸出的碼為測試響應輸出,，使其與期望值比較；圖3中的模式選擇模塊的邏輯結(jié)構(gòu)如圖4所示,。
圖4中mod為模式選擇控制端,，置0為正常狀態(tài)。當rood為1時,，out_sel輸入測試向量,，再由in_tem輸出，進入in_sel,；當mod 為0時,，cod_out輸出片外，從而實現(xiàn)了正常狀態(tài)和測試狀態(tài)的切換,?？梢杂糜布枋稣Z言編寫此邏輯電路。用VHDL描述如下：
此模式選擇模塊實現(xiàn)狀態(tài)之間的切換,，電路簡單,，易于實現(xiàn)。
5 結(jié)束語
BIST為嵌入式內(nèi)核的測試提供了一個可解決的方案,，其測試效果明顯,，故障覆蓋率較高，實現(xiàn)簡單,。通過加入測試外殼可以實現(xiàn)對IP核的訪問,、隔離、控制,，有效地提高了IP核的可測性,。但是采用BIST會使電路面積增加額外開銷,，必須在IP核的可測性和面積之間進行權(quán)衡。