飛象網訊（崔玉賢/文）“木桶定律”眾所周知,，一個木桶最短的那塊木板決定了木桶的盛水量,。自從工信部將2.6GHz的190MHz頻率全部規(guī)劃為TDD使用后，TD-LTE發(fā)展勢頭更加兇猛,。但是，終端芯片和測試儀表的短板效應在這個發(fā)展盛況下更加凸顯,。因此,，盡快制定出一套適應TD-LTE終端發(fā)展的測試標準和環(huán)境成為產業(yè)鏈完善的一個重要環(huán)節(jié)。

    多模多頻挑戰(zhàn)大 終端測試短板凸顯

    近期在廣州舉行的高交會上,，工信部副部長尚冰在TD-LTE發(fā)展論壇上表示TD-LTE產業(yè)發(fā)展已取得階段性成果,，已經到了進一步加快發(fā)展的關鍵時刻，相應需要認真推進擴大規(guī)模試驗,，加快突破薄弱環(huán)節(jié),，大力加強國際合作。

    從今年下半年TD-LTE進入擴大規(guī)模試驗階段到今年10月份工信部明確將2.6G頻段的190MHz頻譜劃歸TD-LTE再到TD-LTE首輪終端招標,，16家廠商入圍……近期,，工信部無線電管理局副局長闞潤田表示正在探索在1427MHz~1525MHz的L頻段規(guī)劃給TD-LTE系統(tǒng)的可能性。TD-LTE從標準確立,、概念驗證,、技術試驗、規(guī)模試驗再到頻譜的規(guī)劃均取得了階段性的進展,。

    但是,，就像尚冰副部長所說，在TD-LTE發(fā)展的關鍵時刻,，還有加快突破薄弱環(huán)節(jié),。這個薄弱環(huán)節(jié)就是TD-LTE的終端芯片，尤其是TD-LTE的終端測試儀表,。“相對而言,，TD-LTE的終端芯片和測試儀表還是產業(yè)鏈相對薄弱的環(huán)節(jié)，TD-LTE系統(tǒng)設備和FDD成熟度差不多,，但是在終端芯片測試,、儀表方面和FDD相比還有一定的差距。”工信部科技司處長董曉魯這樣說道,。

    據工信部電信管理局巡視員張新生透露,，近期我國國內企業(yè)的TD-LTE系統(tǒng)設備經過測試機構的測試已經獲得了入網許可。“這說明TD-LTE在系統(tǒng)設備的產品和測試方面能力都有了進一步的提高,。”張新生表示,。“但是在終端測試方面還需要再加碼。”

    在TD-LTE終端發(fā)展方面,，中國移動一直堅持多模發(fā)展,。“從全球看,，不同運營商有著不同模式和頻段需求，測試儀表需要支持2G/3G/4G所有制式和頻段,，這給整個LTE產業(yè)帶來巨大挑戰(zhàn),。”工信部電信研究院高級工程師李傳峰認為。TD-LTE終端具有多頻多模的特點,，這就給儀表測試帶來了更高的要求,。

    “另外，從測試實施角度來看,，單個終端完整的測試方案使整個測試周期長到了產業(yè)界無法容忍,。比如單個LTE頻段可能需要100-200個小時，WCDMA頻段需要500個小時測試周期,，所有頻段都要進行測試,，測試周期太長了。”李傳峰認為,。

    測試標準亟待建立

    “從研發(fā)到認證再到產品上市再到網絡上應用都需要搞好測試工作,。我的體驗就是測試是為質量服務的，必須要把測試工作同質量管理緊密結合,，通過提高測試質量來提高產品的質量,。”闞潤田表示。

    因此,，對于TD-LTE發(fā)展的薄弱一環(huán)——終端測試,，張新生建議建立相應的測試標準，同時建立起自身的測試環(huán)境,。

    “從整體來看,，我們要把終端推向市場就必須制定出一套適應于其發(fā)展的測試標準，按照這個標準進行檢測,。能把這一步走好,，我覺得才能真正地推動TD-LTE、推動多模多頻終端的發(fā)展,。”張新生表示,。

    對此，工信部科技司處長董曉魯也持有相同的觀點,。他認為,，要進一步規(guī)范測試儀表本身的測試方法、流程以及測試儀表的指標要求,。同時,，他希望國內外相關儀表開發(fā)企業(yè)能夠積極跟蹤參與TD-LTE國際標準的制定工作，及時了解技術發(fā)展的動向和產業(yè)需求，把握好測試技術和產品開發(fā)的進度,。

    據張新生透露,，測試標準以及測試目前和測試環(huán)境目前相關部門正在緊鑼密鼓地做。