中國北京，2013年5月14日–全球領先的測試,、測量和監(jiān)測儀器提供商---泰克公司日前宣布,，其將在2013設計自動化大會（6月2 - 6日，德克薩斯州奧斯汀,，819展位）上展出其最新推出的Certus2.0ASIC原型(prototyping) 調試解決方案。設計自動化大會(DAC) 是以電子系統(tǒng)(EDA),、嵌入式系統(tǒng)及軟件(ESS) 和知識產權(IP) 為主題的重要大會,。

首次在設計自動化大會上亮相的Certus 2.0軟件套件和基于RTL的嵌入式儀器通過幫助實現完整的RTL級可視性使FPGA內部可視性成為原型化平臺的特性，從根本上改變了ASIC原型化流程,。仿真級可視性使工程師能夠使用現有工具在一天內診斷多個缺陷,，而不需要花一個星期或更多時間。

“FPGA合作生態(tài)系統(tǒng)范圍內一直缺少針對ASIC原型的主動式調試功能”,，泰克公司嵌入式儀器事業(yè)部總經理Dave Farrell表示,，“設計自動化大會參加者現在將能親眼目睹Certus 2.0如何從根本上改變ASIC原型化流程和顯著提高調試效率。”

主動式調試策略

Certus 2.0允許設計人員自動調試多FPGA ASIC原型中的每個FPGA可能需要的所有信號而很少影響FPGA的LUT,。這有助于采取主動式調試和工具化(instrumentation) 策略,，使得無需通過對FPGA進行重新編譯來調試每個新行為，而這在使用傳統(tǒng)工具時通常是一項需要8-18個小時的艱苦任務,。其他重要功能包括：

·         根據類型和實例名稱（包括觸發(fā)器[flip-flop],、狀態(tài)機,、接口和枚舉類型）進行RTL信號的自動識別和工具化

·         片上處理取高度壓縮的快速捕獲數據，無需使用特殊外部硬件或消耗FPGA I/O資源

·         先進的片上（on-chip）觸發(fā)功能使嵌入式儀器也能利用邏輯分析儀觸發(fā)方法

·         以時間相關方式捕獲來自不同時鐘域和多個FPGA 的捕獲數據提供了完整的目標設計的系統(tǒng)級視圖

Certus 2.0可運行于任何現有商業(yè)或定制ASIC原型化平臺,，且無需特殊連接器,、電纜或外部硬件。

泰克嵌入式儀器解決方案

在2011年收購了Veridae Systems公司后,，泰克嵌入式儀器解決方案在電子設計自動化(EDA) 軟件幫助工程師解決艱巨的工具化和調試挑戰(zhàn)方面,，變得越來越重要。

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關于泰克公司

60多年以來，工程師們不斷向泰克尋求測試,，測量和監(jiān)測解決方案以應對設計挑戰(zhàn),，提高生產效率，大幅縮短產品上市時間,。泰克公司是一家領先的測試儀器提供商,，為專注于電子設計、制造及先進技術開發(fā)的工程師提供支持,。泰克公司的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓,，為全球范圍內的客戶提供備受贊譽的服務和支持。獲得前沿技術,，請登陸www.tektronix.com.cn,。