1 引言
     電磁兼容性(E1ectromagnetic Compatibility, EMC)是指電子,、電氣設(shè)備共處一個(gè)環(huán)境中能互不干擾,、兼容工作的能力,。對(duì)于一個(gè)設(shè)備,，既要求它不產(chǎn)生過(guò)大的干擾使其它設(shè)備工作失常,，也要求它具有一定的抗干擾能力,，以保證在其它設(shè)備發(fā)出的干擾環(huán)境下能正常工作。
    為了獲得一個(gè)產(chǎn)品(設(shè)備,、系統(tǒng))優(yōu)良的EMC,，其中之一是預(yù)測(cè)產(chǎn)品可能存在的EMC問(wèn)題。它包括了以下二個(gè)方面：⑴電磁干擾(Electromagnetic Interference, EMI)特性,、干擾耦合路徑特性,、受試設(shè)備的電磁敏感度(Electromagnetic Susceptibility, EMS)特性的物理模擬預(yù)測(cè)與數(shù)學(xué)模擬預(yù)測(cè)；⑵研究科學(xué)可行的EMC測(cè)試與試驗(yàn)技術(shù),，即包括測(cè)試方法與測(cè)試設(shè)備,。值此，本文將對(duì)EMC預(yù)測(cè)試技術(shù)特征與新型測(cè)試設(shè)備及其測(cè)試應(yīng)用實(shí)例作分析說(shuō)明,。

2  EMC預(yù)測(cè)試必不可少
     一個(gè)產(chǎn)品EMC的評(píng)價(jià)最終歸結(jié)為是否符合相應(yīng)的EMC標(biāo)準(zhǔn),，實(shí)施這種評(píng)價(jià)稱為EMC鑒定測(cè)試(CompliaHce Measurement)。它是在一個(gè)產(chǎn)品投放市場(chǎng)前的最后階段完成的,。其實(shí),，按照一個(gè)產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)全過(guò)程中所需要的EMC測(cè)試量而言,。鑒定測(cè)試只占了不到10%,，90%的測(cè)試工作量是在此前完成的，包括準(zhǔn)電路的板卡,、原理樣機(jī),、初樣到正樣研制的過(guò)程中，通過(guò)不斷的EMC測(cè)試逐步實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品良好的電磁兼容性,。將這90%的測(cè)試工作總稱為EMC預(yù)測(cè)試,。預(yù)測(cè)試可以比鑒定測(cè)試精確度低些、粗略一些,，以便迅速找出問(wèn)題并不使測(cè)試設(shè)施費(fèi)用過(guò)高,。
     預(yù)測(cè)試儀表在保證必需的精度的同時(shí)，縮短測(cè)量時(shí)間是一個(gè)不可忽視的因素,。如采用頻譜分析儀既可以保證與EMI接收機(jī)有相似的精度,，又可顯著提高測(cè)量速度，而且價(jià)格不足EMI接收機(jī)的一半,。因此,，預(yù)測(cè)試常采用頻譜分析儀代替EMI接收機(jī)，如圖2（b）所示,。也就是說(shuō),，預(yù)測(cè)試系統(tǒng)可以使單位具有全程的EMC檢測(cè)手段，可以全面提高產(chǎn)品的EMC特性,。

3  如何建立EMC預(yù)測(cè)試系統(tǒng)
    所謂預(yù)測(cè)試系統(tǒng),，實(shí)際上也是嚴(yán)格按照國(guó)家各種EMC標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的,，包括設(shè)備、方法等等,。但是,，預(yù)測(cè)試系統(tǒng)具有區(qū)別于鑒定測(cè)試的特點(diǎn)主要如下：其一是對(duì)環(huán)境要求較低，EMC標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于環(huán)境的要求比較嚴(yán)格,，一般必須在屏蔽室或暗室中進(jìn)行,，但預(yù)測(cè)試的主要目的在于初步摸底，只要找到問(wèn)題所在即可,，所以對(duì)環(huán)境要求可以低一些,，屏蔽室和暗室的尺寸、指標(biāo)可以低于認(rèn)證測(cè)試,；其二是核心測(cè)量?jī)x器利用高性能頻譜分析儀,，高性能的頻譜分析儀完全具備了EMC檢測(cè)的能力，可以取代傳統(tǒng)的EMI接收機(jī),，目前有一個(gè)共識(shí),，頻譜分析儀是建立預(yù)測(cè)試系統(tǒng)的最佳選擇；其三是專用的中文軟件,；其四是EMC預(yù)測(cè)試系統(tǒng)的靈魂是測(cè)試軟件與測(cè)試附件(傳感器/天線,、LISN、衰減器等),。
3.1 EMI預(yù)測(cè)試系統(tǒng)的基本組成,。
    EMI測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

       
     圖1 EMI測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)示意圖

     系統(tǒng)主要按照GJBl51A的CEl01,、CEi02,、REi01和REl02對(duì)電子、電氣或機(jī)電產(chǎn)品的EMI性能進(jìn)行測(cè)試,，檢查受試設(shè)備的相關(guān)EMI性能是否合格,。如果不合格必須指出頻率點(diǎn)及其對(duì)應(yīng)的幅度值，以備產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員有針對(duì)性地提出解決辦法,，將問(wèn)題較早地消除，為產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)前能通過(guò)EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試奠定堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ),。
    系統(tǒng)所采取的測(cè)試方法按照前述GJBl52A中有關(guān)部分所規(guī)定的程序進(jìn)行,，包括標(biāo)準(zhǔn)的檢查配置、正式測(cè)試配置,、校準(zhǔn)步驟,、測(cè)試步驟和測(cè)試完畢所應(yīng)提交的數(shù)據(jù)。
    基本的系統(tǒng)測(cè)量指標(biāo)：頻率范圍3Hz-26.5GHz,；距離容差±5%,；頻率容差±2%,；，測(cè)量接收機(jī)幅度容差±2dB,；測(cè)量系統(tǒng)(包括測(cè)量接收機(jī),、傳感器、電纜等)容差±3dB,；時(shí)間(波形)容差±5%,。

3.2  系統(tǒng)主要分為硬件和軟件兩部分
    ⑴ 硬件部分
    包括三個(gè)分系統(tǒng)：前端子系統(tǒng)(主要包括傳感器，如電流探頭,、環(huán)形天線,、桿天線、雙錐天線,、雙脊喇叭天線,；電源阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)；衰減器等),、接收機(jī)子系統(tǒng)(主要包括頻譜儀,、射頻預(yù)選器和EMI分辨帶寬選件等)和主控計(jì)算機(jī)子系統(tǒng)(主要包括IBM兼容機(jī)、PC-GPIB卡,、GPIB線纜),。
    ① 接收機(jī)子系統(tǒng)功能與指標(biāo)
    接收機(jī)子系統(tǒng)是采用新型的E4440A型EMI測(cè)量接收機(jī)(安捷倫公司產(chǎn))。功能與指標(biāo)如下,。
    E4440APSA系列頻譜分析儀與全新N9039A射頻預(yù)選器雙劍合璧且精確,、快速、頻率高達(dá)50GHz的EMI測(cè)量接收機(jī),。這款新型接收機(jī)能夠進(jìn)行精確和可重復(fù)的測(cè)量,。測(cè)量系統(tǒng)可在整個(gè)測(cè)量帶寬上提供最佳的幅度和頻率精度。該系統(tǒng)每次掃描8192個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),，可以分析超寬掃寬,，同時(shí)擁有CISPR所要求的分辨率。另外,，全新的射頻預(yù)選器使系統(tǒng)完全符合CISPR標(biāo)準(zhǔn),。可以從旁路快速切換到預(yù)選模式,，以進(jìn)行兼容性測(cè)量,。EMI測(cè)量系統(tǒng)可提供需要的幅度性能和系統(tǒng)精度，以實(shí)現(xiàn)低投入高產(chǎn)出,。
    ② EMI測(cè)量系統(tǒng)描述和元件
    包含帶有EMI專用軟件的頻譜分析儀E4440A PSA系列,、射頻預(yù)選器N9039A與N5181A系統(tǒng)調(diào)整信號(hào)發(fā)生器。
    ③ 進(jìn)行發(fā)射分析所需的所有特性
    9kHz至1GHz射頻預(yù)選,；ClSPR帶寬(200Hz,、9kHz,、120kHz和1MHz)；檢波器(平均值,、準(zhǔn)峰值和峰值),；限制線和限制范圍；天線,、線纜,、放大器和其他設(shè)備的校正因數(shù)；利用外部信號(hào)源進(jìn)行的預(yù)選濾波器校準(zhǔn),；執(zhí)行發(fā)射保護(hù)的內(nèi)置限制器,；極其靈敏的前置放大器；可從101個(gè)變到8192個(gè)的數(shù)據(jù)點(diǎn),。
    ④ 測(cè)量精度和可重復(fù)性
    1GHz頻率內(nèi)的輻射發(fā)射頻段靈敏度為152dBm,；絕對(duì)幅度精度為±1.0dB，9kHz至1GHz,；輸入VSWR為1.2：1,；預(yù)選TOI為+5dBm；100MHz掃寬時(shí)的掃寬精度：20kHz典型值,。
    ⑵ 軟件部分
    從功能上可以將該軟件系統(tǒng)劃分為五個(gè)模塊：系統(tǒng)管理模塊,、系統(tǒng)檢測(cè)模塊、掃描模塊,、數(shù)據(jù)處理模塊和測(cè)試結(jié)果輸出模塊,。

4   實(shí)用新型的電磁兼容性(EMC)測(cè)試設(shè)備
4.1  EMSCAN電磁干擾掃描系統(tǒng)
    采用陣列探頭和電子掃描技術(shù)的近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，能獲取被測(cè)物完整電磁場(chǎng)信息的測(cè)量系統(tǒng),，集EMC診斷和EMI測(cè)試為一體的電磁兼容綜合測(cè)量系統(tǒng),。
    ⑴ 獨(dú)特的EMC診斷系統(tǒng)
    由1218個(gè)探頭組成的陣列掃描器，實(shí)時(shí)看清電磁場(chǎng),，精確定位窄帶和寬帶電磁干擾源[見(jiàn)圖2(a)所示],，解決各類EMI問(wèn)題；能實(shí)時(shí)顯示EMS測(cè)試對(duì)被測(cè)物內(nèi)部電路的影響,，快速解決EMS問(wèn)題,；快速準(zhǔn)確評(píng)估機(jī)箱的屏蔽性能，能幫助工程師迅速積累正確的解決EMI/EMS問(wèn)題的經(jīng)驗(yàn),。

 圖2  (a) 獨(dú)特的EMC診斷系統(tǒng)示意圖

（b）為EMI預(yù)兼容測(cè)試系統(tǒng)示意圖

 
    ⑵ 主要特征
    最寬頻率范圍的近場(chǎng)測(cè)試工具：50kHz-4GHz,，具有頻譜掃描、空間掃描,、頻譜/空間掃描，天線掃描等功能,；具有單次掃描,、連續(xù)掃描,、同步掃描等方式，具有峰值保持功能,；
高速掃描,，利用連續(xù)掃描和峰值保持功能，能捕捉到一般手段所無(wú)法測(cè)量到的瞬態(tài)電磁干擾,；頻譜/空間掃描能一次測(cè)量獲取被測(cè)物完整電磁場(chǎng)信息,，能迅速準(zhǔn)確定位電磁干擾源；全方位測(cè)量任意體積和重量的被測(cè)物,，包括PCB,、電纜、機(jī)箱,、機(jī)架等,；呈人字形交叉排列的專利電磁場(chǎng)陣列掃描器，能測(cè)量各個(gè)方向的電磁場(chǎng),；功能強(qiáng)大的后臺(tái)分析和處理能力,，可以把測(cè)量結(jié)果和PCB的光繪文件疊加在一起顯示。
    ⑶ EMI預(yù)兼容測(cè)試功能
    圖2（b）為EMI預(yù)兼容測(cè)試系統(tǒng)示意圖,。配套LISN(線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò))/電流探頭/吸收鉗/天線等附件后,，EMSCAN能進(jìn)行準(zhǔn)確、高效的EMI預(yù)兼容測(cè)試,，具有背景信號(hào)自動(dòng)識(shí)別功能,，特別適合企業(yè)在普通實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行精確的EMI預(yù)兼容測(cè)試。
    EMSCAN控制軟件的ASM(天線掃描模塊),，用于電磁預(yù)兼容測(cè)試,。能依據(jù)CISPR 11/14/15/22/25/GJB152A-CEl02進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試。依據(jù)CISPR 11/14/22/25/GJB1 52A-REl02進(jìn)行功率或者輻射發(fā)射測(cè)試,。

4.2  Langer近場(chǎng)探頭.
    這是電磁兼容工程師必備的基本工具,，多達(dá)19個(gè)各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)：具有多種分辨率的探頭,，實(shí)現(xiàn)從粗略定位到精細(xì)定位,；低成本高性能；頻率范圍覆蓋100kHz-3GHz,；適用于檢查機(jī)箱泄漏,、PCB內(nèi)部電磁場(chǎng)分布、電纜上的電磁場(chǎng)分布等,；使用簡(jiǎn)單,，攜帶方便。
    近場(chǎng)探頭的用途：主要應(yīng)用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生的原因,；可以檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度,；可以檢測(cè)磁場(chǎng)耦合的通道，從而調(diào)整連接器或者元器件的位置,；可以檢測(cè)PCB附近的磁場(chǎng)環(huán)境,。
    為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的,。通過(guò)近場(chǎng)測(cè)量可以很方便的實(shí)現(xiàn)定位的功能,，甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線。圖3（a）所示為環(huán)形探頭,，分辨率從1mm到25mm,，適合檢測(cè)機(jī)箱泄漏、電流方向等,，檢測(cè)電纜及元器件連接處等產(chǎn)生的磁場(chǎng),。圖3（b）所示為檢測(cè)IC引腳的磁場(chǎng)分布，檢測(cè)IC下面或?qū)拰?dǎo)體的圓形磁場(chǎng),。

       圖3（a）環(huán)形探頭 ,；    （b）為檢測(cè)IC引腳的磁場(chǎng)分布示意

 
4.3  虛擬暗室EMC測(cè)量系統(tǒng)(無(wú)需暗室/屏蔽室)
    如果想在普通環(huán)境下測(cè)量被測(cè)設(shè)備(EUT)的電磁輻射，就必須設(shè)法“消除”背景噪聲的影響,。當(dāng)今己開(kāi)發(fā)出多種虛擬暗室EMC測(cè)量系統(tǒng),，值此以CASSPER虛擬暗室系統(tǒng)為例作新概念說(shuō)明。
    當(dāng)今的虛擬暗室系統(tǒng),，是最新的EMI測(cè)試系統(tǒng),。它具有獨(dú)一無(wú)二的頻率同步及相位鎖定功能，是一個(gè)雙通道,、多端口EMI接收機(jī),，符合CISPR-16標(biāo)準(zhǔn)要求。
    其虛擬暗室系統(tǒng)接收機(jī)使用兩套時(shí)間與頻率都同步的通道同時(shí)去接收一個(gè)復(fù)雜系統(tǒng)中的信號(hào),，用來(lái)進(jìn)行電磁發(fā)射的測(cè)量和電磁干擾源的定位,。虛擬暗室系統(tǒng)把先進(jìn)的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(DSP)引入到了EMI測(cè)量中，能通過(guò)算法準(zhǔn)確濾除背景噪聲,，得到被測(cè)設(shè)備(EUT)實(shí)際的準(zhǔn)確的電磁輻射情況,。CASSPER不僅能濾除一般的背景噪聲，還能精確提取與背景噪聲相同頻率的EUT信號(hào),。即使背景噪聲的幅度或者頻率被調(diào)制了,，其背景噪聲濾除性能也不會(huì)下降。虛擬暗室系統(tǒng)也能濾除來(lái)自多個(gè)地方的背景噪聲,。能在市內(nèi)區(qū)域精確測(cè)量電子設(shè)備的電磁發(fā)射,。
    ⑴ 系統(tǒng)組成
    系統(tǒng)由雙通道EMI接收機(jī)、高性能計(jì)算機(jī)、雙通道高速DSP卡(內(nèi)置于計(jì)算機(jī)),、天線,、近場(chǎng)探頭以及測(cè)量軟件等組成，見(jiàn)圖4(a)所示,。
    從圖4(a)可見(jiàn)該系統(tǒng)的接收機(jī)有A/B兩個(gè)通道，每個(gè)通道都在接收機(jī)的前面板上設(shè)有2至4個(gè)端口,，不同頻段的天線可以接到不同的端口上,，系統(tǒng)可以對(duì)不同頻段的天線進(jìn)行自動(dòng)切換。接收機(jī)把收到的信號(hào)經(jīng)過(guò)中頻處理后,，由AD變換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),，再由計(jì)算機(jī)內(nèi)部的高速雙通道DSP卡對(duì)兩個(gè)通道的數(shù)據(jù)按照有專利技術(shù)的算法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，最終由計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析,、存儲(chǔ),、顯示、打印等處理,。

圖4   (a) 虛擬暗室EMC測(cè)量系統(tǒng),；

(b) “時(shí)間/頻率/相位”同步識(shí)別技術(shù)應(yīng)用示意圖

 
    ⑵ 普通環(huán)境下的電磁預(yù)兼容測(cè)試
    在被測(cè)設(shè)備(EUT)的前方一定距離(d)處放置一天線并連接到通道A，負(fù)責(zé)接收來(lái)自EUT以及背景共同作用的信號(hào),。另外一個(gè)天線則放置在離EUT較遠(yuǎn)的地方,，其距離至少是d的十倍，并連接到通道B,，負(fù)責(zé)測(cè)量來(lái)自整個(gè)背景的噪聲情況,。
    同步的雙通道EMI接收機(jī)，可以保證背景信號(hào)能同時(shí)被接收機(jī)的兩個(gè)通道分別收到,。從而可以將收到的共同具有的背景噪聲記錄下來(lái)并濾除掉,，這就創(chuàng)建了一個(gè)虛擬的第三個(gè)測(cè)量通道，這種測(cè)量方法可以很真實(shí)地反映被測(cè)設(shè)備的電磁輻射情況,。
    系統(tǒng)在“消除”背景噪聲方面．采用了“時(shí)間/頻率/相位”同步識(shí)別技術(shù),，通過(guò)相位識(shí)別，把背景噪聲用傅立葉計(jì)算方法剔除掉,，并能提取被調(diào)制的EUT的信號(hào),，也能提取與背景噪聲頻率一致的EUT信號(hào)，見(jiàn)圖4(b)所示,。
    這種測(cè)試方法允許背景噪聲是不穩(wěn)定的,，如果背景噪聲在測(cè)試場(chǎng)地是“均勻”的，則測(cè)試結(jié)果能與標(biāo)準(zhǔn)EMC場(chǎng)地的測(cè)試結(jié)果保持基本一致,。而在實(shí)際測(cè)試中,，“背景噪聲均勻”的環(huán)境是很容易找到的。
    ⑶ 定位輻射源的測(cè)試
    相同頻率的兩個(gè)信號(hào)，未必來(lái)自同一信號(hào)源,。在定位輻射源的測(cè)試中,，通道A接到一個(gè)放在EUT附近的遠(yuǎn)場(chǎng)天線或者電流卡鉗，探測(cè)EUT產(chǎn)生的電磁干擾,，通道B連接一個(gè)近場(chǎng)探頭,。移動(dòng)通道B的探頭，通過(guò)兩個(gè)信號(hào)的相關(guān)性來(lái)確定輻射源的位置,。這就意味著即使不同的幾個(gè)發(fā)射器發(fā)出同樣頻率和幅度的信號(hào),，系統(tǒng)也可以加以區(qū)分，從而準(zhǔn)確定位干擾源,。
    該系統(tǒng)由于能通過(guò)“時(shí)間/頻率/相位”來(lái)識(shí)別兩個(gè)天線接收到信號(hào)的相關(guān)性,，所以在EMI定位方面，它能找到真正使遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試不合格的干擾源位置,。找干擾源的時(shí)候,，一個(gè)顯示窗口上同時(shí)顯示遠(yuǎn)場(chǎng)數(shù)據(jù)(天線收到的信號(hào))和近場(chǎng)數(shù)據(jù)(探頭收到的信號(hào))，能在產(chǎn)生相同頻率的多個(gè)位置中找出與遠(yuǎn)場(chǎng)信號(hào)相關(guān)聯(lián)的位置,，可以節(jié)約大量的時(shí)間,，能應(yīng)用于從板級(jí)設(shè)計(jì)一直到系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)。

5  EMC診斷實(shí)施舉例
5.1 借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問(wèn)題
    在通過(guò)EMC預(yù)測(cè)量發(fā)現(xiàn)設(shè)備(或分系統(tǒng))的EMC問(wèn)題后,，可以借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問(wèn)題,。這有助于測(cè)試(設(shè)計(jì))工程師有針對(duì)性的提出EMC對(duì)策，順利解決已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的EMC問(wèn)題,。以下介紹當(dāng)前使用比較普遍的84105EM診斷系統(tǒng),。
    其系統(tǒng)功能為用于表面電流、插槽,、電纜和集成電路的磁場(chǎng)輻射測(cè)量,。其系統(tǒng)組成是由三EMC分析儀、近場(chǎng)探頭和前置預(yù)放三部分組成,。系統(tǒng)特點(diǎn)：對(duì)環(huán)境沒(méi)有特別要求(不需要屏蔽室或暗室),，可測(cè)頻段寬，測(cè)量精度高,，只配置了磁場(chǎng)探頭,，操作簡(jiǎn)單、價(jià)格較低,。
   
5.2  簡(jiǎn)述電磁故障診斷84105EM故障診斷系統(tǒng)診斷內(nèi)容與測(cè)量配置,。
    ⑴ 診斷目的
    針對(duì)已經(jīng)檢測(cè)出的EMI不合格頻率點(diǎn)，采用近場(chǎng)檢測(cè)的方法進(jìn)一步定位干擾發(fā)生點(diǎn),；針對(duì)已經(jīng)檢測(cè)出的EMS不合格頻率點(diǎn),，進(jìn)一步定位敏感度薄弱部位,。
    ⑵ 診斷工具
    采用安捷倫84105EM電磁兼容診斷系統(tǒng)，該系統(tǒng)由EMC分析儀E7401A(含選件跟蹤發(fā)生器前置放大器11909A)和近場(chǎng)探頭套(含11941A和11940A近場(chǎng)探頭)組成,，參見(jiàn)圖5(a),。

 
圖5 (a) 電磁故障診斷系統(tǒng)測(cè)量配置示意圖；

(b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位測(cè)量示意

    近場(chǎng)探頭套所包含的探頭11941A的測(cè)量頻段為9kHz-30MHz,，11940A的測(cè)量頻段為30MHz～1MHz,，它們都采用雙環(huán)設(shè)計(jì)。探頭的兩個(gè)環(huán)天線在平衡/不平衡變換器(簡(jiǎn)稱“巴侖”)合并變?yōu)椴黄胶廨敵?同軸線采用雙環(huán)可使它們的電場(chǎng)感應(yīng)電壓分量反相,，相互抵消,，只保留磁場(chǎng)感應(yīng)電壓分量)。理論分析明在近場(chǎng)探測(cè)情況下,，電場(chǎng)探頭(如單極或偶極振子)不可避免或容性耦合周圍的雜散信號(hào)，難實(shí)現(xiàn)可重復(fù)的測(cè)量,，而環(huán)天線的磁場(chǎng)探頭有很好的測(cè)量可重復(fù)性,，并可抑制感應(yīng)的電場(chǎng)，所以本系統(tǒng)采用這種雙環(huán)結(jié)構(gòu)的磁場(chǎng)探頭,。
    為了進(jìn)行敏感度測(cè)量,，可采用E7402A分析儀配置的選件跟蹤發(fā)生器(1DS)，內(nèi)置在EHC分析儀中,。由于跟蹤發(fā)生器與測(cè)量接收機(jī)做成一體,，兩者的頻率保持同步，這比采用單獨(dú)的掃捅要方便得多,，尤其在濾波器傳輸特性的測(cè)量中可大大縮短測(cè)量時(shí)間,。
    每個(gè)近場(chǎng)探頭均用網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)，每個(gè)探頭在其頻段的5個(gè)頻率點(diǎn)測(cè)校正系數(shù)(dB(uA/m)/uV),，將接收機(jī)讀數(shù)(dB uv)加上此校正系數(shù)就得出所測(cè)的磁磁場(chǎng)強(qiáng)度(dB(uA/m)),。兩個(gè)近場(chǎng)探頭的校正系數(shù)已存儲(chǔ)在EMC分析儀的ROM中。
    ⑶ 診斷內(nèi)容
    尋找PCB板的“熱點(diǎn)”(即電磁輻射過(guò)強(qiáng)的部位),，記錄其頻率及幅值,；尋找PCB的“敏感度空洞”(即電磁敏感度薄弱部位)，記錄其頻率及幅值,；尋找屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位,。圖5(b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位的測(cè)量配置示意圖?！?/p>