摘要
隨著諸如能源之星等節(jié)能標(biāo)準(zhǔn)在家電,醫(yī)療,,電動車等市場的接收和推廣,,以磁場定向控制(FOC)算法為基礎(chǔ)的高能效三相變頻器廣泛用于各類交流電機(jī)驅(qū)動應(yīng)用中,。FOC算法需 要精確檢測三相電流,,Shunt電流檢測電路因其成本低精度較高取得了廣泛應(yīng)用,。本文將探 討shunt電流檢測電路設(shè)計及不同Shunt電流檢測電路對運(yùn)算放大器的要求,。
關(guān)鍵詞 三相變頻器 Shunt電流檢測 運(yùn)放壓擺率
目錄
概述
1 shunt電流檢測電路設(shè)計
2 1-shunt電流檢測
3 2-shunt電流檢測
4 3-shunt電流檢測
結(jié)論
概述
磁場定向控制算法(FOC,FieldOrientedControl)通過一系列的前向Clarke運(yùn)算和Park運(yùn)算將檢測 得到交流電機(jī)的三相相電流處理,,間接得到轉(zhuǎn)矩分量和磁通分量,,經(jīng)過經(jīng)典的PI算法對其進(jìn)行精確控制,, 從而保證電機(jī)能以最佳的扭矩高效運(yùn)行,實(shí)現(xiàn)精確的速度變化控制,,算法框圖如圖1,。由此可知,相電流 檢測的精度是決定整個電機(jī)控制性能的一個重要因素,。一般來說,,相電流檢測共有閉環(huán)霍爾,Shunt電阻,, 開環(huán)霍爾三種方式,。Shunt電阻因其精度較高(全溫范圍校正后精度2%至5%),,成本低而得到廣泛應(yīng)用。
1Shunt電流檢測電路設(shè)計
圖1磁場定向控制算法框圖
常用的Shunt電流檢測電路如圖2所示,。Shunt電阻將電機(jī)的相電流轉(zhuǎn)化為相電壓,,經(jīng)過RC低通濾波,偏 置電壓預(yù)置之后經(jīng)過運(yùn)放放大,,輸出給MCU(如TI的C28xx系列)內(nèi)部12bitADC,。
圖2 常用Shunt電阻電流檢測電路原理圖
對于RC低通濾波部分,該濾波器可顯著減小功率部分的開關(guān)噪聲,,提高相電流檢測精度,。但是該濾 波器并不能采用高階濾波器,一是成本考慮,,二是高階濾波器雖然衰減效果更好,,但是濾波器群延時也相 應(yīng)顯著增加,限制了可檢測相電流的最小PWM占空比,,降低FOC系統(tǒng)控制精度,,一般來說,濾波電路不 宜高于2階,,RC常數(shù)取在100ns到200ns之間,。
因?yàn)橄嚯娏鞣较蚩烧韶?fù),所以Shunt電壓也帶有極性,,而一般MCU內(nèi)部ADC并非雙極性ADC,,所以在濾波電路之后有一個電阻分壓偏置電路將電壓轉(zhuǎn)化為單極性。經(jīng)過一級放大器之后得到動態(tài)范圍擴(kuò)展至 電源軌的信號,,以提高信噪比,。
影響Shunt電流檢測精度的因素主要來自于Shunt電阻精度及其溫漂,運(yùn)算放大器偏置電壓及其溫漂,, 運(yùn)算放大器非線性誤差及其溫漂,。可見,,要想提高Shunt電流檢測精度,,一顆性能較好的運(yùn)算放大器必不 可少。同時Shunt電阻檢測方式可根據(jù)Shunt電阻個數(shù)分為三類,,1-Shunt,, 2-Shunt和3-Shunt。不同的檢測 方式對運(yùn)放的壓擺率(SlewRate)有不同的要求,。壓擺率是衡量運(yùn)算放大器輸出電壓變化速率的重要參數(shù),, 單位是V/us,其定義如公式1所示,,
式1
例如一個運(yùn)放的輸出信號是頻率為f幅值為Vp的正弦信號,,則該運(yùn)放的壓擺率SlewRate=2πfVp,,如果輸 出信號是一個頻率為f幅值為Vp的三角波信號,則該運(yùn)放的壓擺率SlewRate=2fVp,。
在Shunt電阻電流檢測電路的PCB設(shè)計上,,有幾點(diǎn)需要注意:
1 RC低通濾波電路應(yīng)盡可能靠近運(yùn)放側(cè)。
2 Shunt電阻的功率側(cè)接地走線應(yīng)該盡可能粗短而且不要有過孔,。因?yàn)镮GBT的開關(guān)會引起較大的階躍電流 di/dt, 而階躍電流di/dt會通過走線或過孔產(chǎn)生的感生電感產(chǎn)生感生電壓,,造成較大的過沖,影響電流檢測 精度,。如果有過孔,,采用多過孔設(shè)計,一方面感生電感的并聯(lián)會減小總體感生電感,,另一方面通過多個過 孔增強(qiáng)可通過電流,。
2 1-Shunt電流檢測
1-Shunt電流檢測采用一個放置在母線上Shunt電阻來分時檢測ABC三相相電流。因其低成本廣泛用于如空 調(diào)壓縮機(jī)控制等家電領(lǐng)域中,如圖3所示
圖3 1-Shunt電流檢測原理
常用電機(jī)控制中,,PWM頻率一般是10KHz到20KHz,,以20KHz為例,一個PWM周期為50us,。在50us里需要檢測三相電流,,所以每相相電流檢測窗口時間是50/3us乘以PWM占空比。一般電機(jī)控制系統(tǒng)中最小 PWM占空比常常定義為5%,,所以每相相電流檢測窗口時間最小為50/3us×5%=0.83us,。而在程序控制中 ADC采樣時刻??刂圃谶@個相電流檢測窗口正中間,,所以對于Shunt電流檢測電路來說,必須在ADC采樣 時刻之前穩(wěn)定,,完成電壓信號的建立穩(wěn)定,。具體來說如圖3所示,此時間主要包含兩個時間,,上升沿時間(Tsr,,由運(yùn)放的壓擺率決定)和穩(wěn)定時間(Tset)。假設(shè)上升沿時間占相電流檢測窗口的20%,,即20%×0.83us=0.167us,,那么對于一個3.3V的MCU,運(yùn)放最小壓擺率SR=3.3V/0.167us=19.76V/us,。同時運(yùn)放的帶 寬應(yīng)遠(yuǎn)大于PWM頻率,,至少10倍以上。
3 2-Shunt電流檢測
對于2-Shunt電流檢測來說,,2個Shunt電阻分別置于2相,,如A,,B,那么C相電流就可以通過2相電流計 算出來,,如圖4所示,。
圖4 2-Shunt電流檢測原理
所以與1-Shunt電流檢測相比,2-Shunt電流檢測不需要利用分時檢測,。所以其每相相電流檢測窗口時 間最小值是1-Shunt的3倍,,即壓擺率應(yīng)為1-Shunt方式的1/3。所以對于一個PWM頻率10KHz,,5%最小占空
比,,3.3V的MCU系統(tǒng)來說,運(yùn)放的壓擺率SR=3.3V/0.48us=6.9V/us,。
4 3-Shunt電流檢測
3-Shunt電流檢測即利用3個Shunt電阻檢測ABC三相相電流,。因?yàn)槿我鈨上嚯娏鞫伎梢杂嬎愠龅谌嚯?流,而且在一個PWM周期里,,最小PWM占空比只能出現(xiàn)在某一相,,所以在一個PWM周期里,出現(xiàn)最小 PWM占空比的相電流可以不檢測而通過其他兩相計算得到,。這就意味著每相相電流檢測窗口時間沒有了 最小PWM占空比的限制,。另外,當(dāng)電機(jī)控制系統(tǒng)零電位參考取負(fù)母線電壓時有
公式2
其中Vdc為母線電壓,。所以三相占空比之和應(yīng)為1.5,。若C相出現(xiàn)最小占空比5%,那么A相占空比與B相占
空比之和為1.45,。因?yàn)楦飨嗾伎毡茸畲鬄?,,所以假設(shè)A相占空比達(dá)到最大值,則B相占空比達(dá)到最小值,, 即45%,,此時B相相電流檢測窗口時間達(dá)到最小值。對于一個PWM頻率20KHz的馬達(dá)系統(tǒng),,此時B相相電
流檢測窗口時間為50us×45%=22.5us,。那么對于一個3.3V的MCU系統(tǒng)來說,還是假定上升沿時間占相電流 檢測窗口的20%,,則運(yùn)放的壓擺率SR=3.3V/(22.5us×20%)=0.73V/us,。
結(jié)論
Shunt電流檢測廣泛應(yīng)用于各類交流電機(jī)控制器中。不同的Shunt電流檢測方式對電路中運(yùn)放的壓擺率參數(shù) 要求不一樣,,該參數(shù)跟控制系統(tǒng)中的PWM頻率,,最小占空比有關(guān)。由本文可知,在其他參數(shù)相同情況下,,
公式3
例如當(dāng)PWM頻率為20KHz,,最小占空比為5%和上升沿時間占相電流檢測窗口的20%情況下,三種Shunt電 流檢測電路中運(yùn)放的壓擺率最小值如表1所示,。
Shunt電流檢測方式 |
運(yùn)放壓擺率(V/us) |
推薦TI運(yùn)放 |
1-Shunt |
20.6 |
OPA141,,壓擺率20V/us,建立時 間880ns(12bitADC) |
2-Shunt |
6.9 |
TLV2772,,雙運(yùn)放,,壓擺率 10.5V/us |
3-Shunt |
0.73 |
TLC2274,四運(yùn)放,,壓擺率3.6V/us |
表1
參考文獻(xiàn)
1. FieldOrientedControl byWikipedia,http://en.wikipedia.org/wiki/Field-oriented_control
2. OPA141 器件手冊,,http://www.ti.com/lit/ds/symlink/opa141.pdf
3. TLV2772 器件手冊,http://www.ti.com/lit/ds/symlink/tlv2772.pdf
4. TLC2274 器件手冊,,http://www.ti.com/lit/ds/symlink/tlc2274.pdf
5. Predicting Op Amp Slew Rate Limited Response,