2010年7月23日，北京訊  惠瑞捷 (Verigy)（納斯達(dá)克代碼：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案,，進(jìn)一步拓展了面向 DDR3世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力的 V93000 HSM 平臺,。V93000 HSM3G 獨(dú)特的優(yōu)勢在于其未來的可升級性,，能夠?yàn)閿?shù)據(jù)傳輸速度高達(dá)6.8 Gbps未來的三代 DDR 存儲器提供價格低廉的測試服務(wù)，從而前所未有地長期節(jié)約經(jīng)濟(jì)成本,。
     惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“存儲器制造商一直在尋找一種既能滿足其生產(chǎn)和功能需求又能提供比一代器件壽命更長,、投資價值更高的節(jié)約型 ATE 解決方案。我們可升級前所未有的 V93000 HSM 測試平臺的壽命,，能夠?yàn)閺?DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 的至少三代設(shè)備提供卓越的投資回報(bào),。這些測試非常節(jié)約成本，業(yè)界其它產(chǎn)品均不可企及,。”
     V93000 HSM3G 的速度和功能將來都可以升級,，提供了高速存儲器測試市場上最完整的功能。其可編程的,、快速的每引腳 APG 能力得到了數(shù)據(jù)總線倒置 (DBI) 和循環(huán)冗余校驗(yàn)碼 (CRC) 數(shù)據(jù)的支持,，能夠?qū)Ω呒壍?DDR4 存儲器技術(shù)功能進(jìn)行測試，確保了較高的測試質(zhì)量和產(chǎn)量,。
     得益于其每引腳的存儲器自動測試設(shè)備處理能力,，V93000 HSM3G 可以節(jié)約高達(dá)20%的測試時間。它提供全并行模式的執(zhí)行(parallel pattern execution),、全并行的直流檢測以及眼寬的測量(eye-width measurements),，從而提供了非常高的多點(diǎn)效率。
     V93000 HSM3G 在整個速度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了 2.9 Gbps 的原生數(shù)據(jù)傳輸率以及 256-site DDR3 實(shí)際并行測試(parallel testing),，而無需任何測試時間管理費(fèi)用,，也不會影響準(zhǔn)確性、功能性,、測試范圍以及產(chǎn)量,。得益于其原生速度余量(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 總線速度需求以及高端游戲 DDR3 以及前兩個 DDR4 大規(guī)模速度等級,。V93000 平臺架構(gòu)確保將來能夠升級到更高速的設(shè)備,。