《電子技術(shù)應(yīng)用》
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EMI濾波器測試技術(shù)研究
摘要: 在電子設(shè)備及電子產(chǎn)品中,電磁干擾能量可通過輻射性耦合或傳導(dǎo)性耦合進(jìn)行傳輸,。在抑制電磁干擾信號的輻射干擾方面,,屏蔽是有效的措施;在抑制電磁干擾信號的傳導(dǎo)干擾方面,,EMI濾波器是十分有效的器件,。由于EMI濾波器是抑制傳導(dǎo)干擾的重要器件,,所以研究EMI濾波器的測試方法就變得十分重要,。
關(guān)鍵詞: EMC|EMI EMI 濾波器 測試 EMC LabView
Abstract:
Key words :

  隨著科學(xué)技術(shù)和生產(chǎn)的發(fā)展,,電子產(chǎn)品日益增多,從而空間電磁環(huán)境越發(fā)復(fù)雜,,惡劣的電磁環(huán)境將會對人類及各種生物造成嚴(yán)重影響,,另外電子產(chǎn)品間也可能互相產(chǎn)生干擾導(dǎo)致其不能正常工作,于是出現(xiàn)了EMC測試,。

  在電子設(shè)備及電子產(chǎn)品中,,電磁干擾能量可通過輻射性耦合或傳導(dǎo)性耦合進(jìn)行傳輸。在抑制電磁干擾信號的輻射干擾方面,屏蔽是有效的措施,;在抑制電磁干擾信號的傳導(dǎo)干擾方面,,EMI濾波器是十分有效的器件。由于EMI濾波器是抑制傳導(dǎo)干擾的重要器件,,所以研究EMI濾波器的測試方法就變得十分重要,。

  l EMI濾波器的測試指標(biāo)

  1.1 共模干擾和差模干擾

  實際上EMI電源濾波器起兩種低通濾波器的作用:衰減共模干擾和衰減差模干擾,。對任何電源線上的傳導(dǎo)干擾信號,,都可以用共模和差模干擾信號來表示。并且可把L—E和N—E之間的共模干擾信號,、L—N之間的差模干擾信號看作獨(dú)立的EMI源,,把單相電源內(nèi)的L—E、N—E和L—N看作獨(dú)立網(wǎng)絡(luò)端口來分析EMI信號和有關(guān)的濾波網(wǎng)絡(luò),。圖1中,,U1和U2為共模干擾信號,U3為差模干擾信號,。

干擾信號示意圖

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  1.2 EMI濾波器網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

  圖2所示為單相電源濾波器的基本網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),。它是由集中參數(shù)元件構(gòu)成的無源低通網(wǎng)絡(luò),濾波網(wǎng)絡(luò)主要由兩只電感L1和L2,,三只電容CX,、CY1、CY2組成,。如果把該濾波器一端接入電源,,負(fù)載端接上被干擾設(shè)備,那么L1和CY1,,L2和CY2就分別構(gòu)成L—E和N—E兩對獨(dú)立端口間的低通濾波器,,用來抑制電源線上存在的共模EMI信號。此外,,L1,、L2又與CX構(gòu)成L—N獨(dú)立端口之間的低通濾波器,抑制差模干擾信號,。

單相電源濾波器的基本網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

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  1.3 EMI濾波器漏電流性能測試

  泄漏電流是指在250VAC的電壓下,,相線和中線與濾波器外殼(地線)間流過的電流。它主要取決于接地電容(共模電容)的取值,。較大的共模電容CY可以提高插入損耗,,但卻造成較大的漏電流。泄漏電流的測試電路如圖3所示:

泄漏電流的測試電路

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  1.4 EMI濾波器耐壓性能測試

  為確保電源濾波器的性能以及設(shè)備和人身安全,,必須進(jìn)行耐壓測試,。耐壓測試是在極端工作條件下的測試。若CX電容器的耐壓性能欠佳,在出現(xiàn)峰值浪涌電壓時,,可能被擊穿,。它的擊穿雖然不危及人身安全,但會使濾波器功能喪失或性能下降,。CY電容器除了滿足接地漏電流的要求外,,還在電氣和機(jī)械性能方面具有足夠的安全余量,避免在極端惡劣的環(huán)境條件下出現(xiàn)擊穿短路現(xiàn)象,。故線一地之間的耐壓性能對保護(hù)人身安全有重要意義,,一旦設(shè)備或裝置的絕緣保護(hù)措施失效,可能導(dǎo)致人員傷亡,。

  1.5 EMI濾波器的性能評定

  EMI電源濾波器在使用時考慮最多的是額定電壓及電流值,、耐壓性能、漏電流三項,,而其中最主要的評定性能為濾波器的插入損耗性能,。

  EMI電源濾波器對干擾噪聲的抑制能力用插入損耗I.L.(Insertion Loss)來衡量。插入損耗定義為:沒有濾波器接入時,,從噪聲源傳輸?shù)截?fù)載的功率P1和接入濾波器后,,從噪聲源傳輸?shù)截?fù)載的功率P2之比,用dB(分貝)表示,。

公式

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  2 EMI濾波器的頻域測試

  測試標(biāo)準(zhǔn)的確定為電源EMI濾波器的各項指標(biāo)提供了統(tǒng)一的衡定依據(jù),。其中最主要的測試項目為濾波器頻域上的插入損耗測試

  2.1 插入損耗的標(biāo)準(zhǔn)測試

  在標(biāo)準(zhǔn)測量法中規(guī)定,在50Ω~75之間的任一阻值的系統(tǒng)內(nèi)測試它的插入損耗特性,。測試原理如圖4所示,。

測試原理

  實際測試時,常常利用屏蔽室來測試濾波器的插入損耗,,測試圖如圖5所示,。

測試圖

  2.2 插入損耗的加載測試

  在EMI濾波器產(chǎn)品中,由于使用不合適的材料,,共模扼流圈不可能保證完全對稱會導(dǎo)致磁環(huán)的飽和,,同時寄生差模電感也可能產(chǎn)生磁環(huán)的飽和,使得濾波器的實際使用情況與廠家提供數(shù)據(jù)有很大差距,,因此必須對濾波器采用加載測試,。

  3 EMI濾波器的時域測試

  一般地,對于EMI電源濾波器我們只關(guān)心它的常規(guī)性能及頻域抑制性能,。而對于EMI信號線濾波器,,由于傳輸線本身就會產(chǎn)生一定的電磁干擾,所以測試信號必然會產(chǎn)生一定的衰減,。這時,,我們就要對其進(jìn)行時域傳輸性能上的測試。

  使用50kHz的方波對電容值為8000pF的濾波插針進(jìn)行濾波,發(fā)現(xiàn)其時域的上升沿和下降沿有明顯的變化,。頻域上,,經(jīng)過濾波后,方波信號的高頻分量被濾除,。

  對于通過同一濾波插針,,方波的頻率越高,其諧波信號被濾波插針?biāo)p的將會越大,,則方波的波形上升及下降時間將會越長,。同樣,對于同樣的頻率波形,,通過濾波插針,,其濾波容值越大,方波上升時間趨緩的程度越大,。

  4 EMI濾波器插損自動測試系統(tǒng)設(shè)計

  近年來,隨著EMC測試的內(nèi)容日趨復(fù)雜,,測試工作量急劇增加,,對測試設(shè)備在功能、性能,、測試速度,、測試準(zhǔn)確度等方面的要求也日益提高。在這種情況下,,傳統(tǒng)的人工測試已經(jīng)很難滿足要求,,再加上現(xiàn)在的國家標(biāo)準(zhǔn)(GB)和國家軍用標(biāo)準(zhǔn)(GJB)均要求電磁兼容的檢測必須自動進(jìn)行,并且對數(shù)據(jù)后處理有嚴(yán)格的要求,。因此,,發(fā)展EMC自動測試成為必然之路。本文所建立的自動測試系統(tǒng)使用了虛擬儀器技術(shù),,基于信號源一頻譜儀對EMI電源濾波器進(jìn)行插損測試的系統(tǒng),。

 

  4.1 測試系統(tǒng)程序流程

  本系統(tǒng)是在計算機(jī)上搭建一個虛擬的測試平臺,使用虛擬儀器技術(shù)通過通信總線GPIB在計算機(jī)上直接對頻譜儀進(jìn)行程控,,以減少測試夾具對濾波器插入損耗測試結(jié)果的影響,。程序流程圖如圖6所示。

程序流程圖

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  4.2 硬件接口與驅(qū)動

  要實現(xiàn)該自動測試系統(tǒng)的功能,,必須要解決的是實現(xiàn)計算機(jī)控制儀器運(yùn)動及讀取測量的數(shù)據(jù),,而實現(xiàn)這一步首先要解決的問題是儀器和計算機(jī)之間的通信問題。在這里,,選擇了具有GPIB(IEEE一488)接口的儀器,。

  另外系統(tǒng)還需要實現(xiàn)測試硬件的驅(qū)動,軟件中分別實現(xiàn)了對信號發(fā)生器的驅(qū)動和對頻譜分析儀的驅(qū)動。對信號發(fā)生器的程控是在VB環(huán)境中編寫的,,軟件語句中參考說明書中驅(qū)動程序的編寫方法,,完成了對信號發(fā)生器的基本設(shè)置,設(shè)置為射頻輸出方式,,射頻信號的頻率調(diào)用信息輸入界面產(chǎn)生的頻點(diǎn)列表,,發(fā)射頻率由用戶在軟件中設(shè)置。程序中首先定義命令中所用到的基本參數(shù),,然后進(jìn)行程序的編寫,,相應(yīng)代碼如圖7所示。

相應(yīng)代碼

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  對頻譜分析儀的驅(qū)動是通過在VB環(huán)境中編寫程序,,調(diào)用LabVIEW程序通過GPIB總線驅(qū)動頻譜.儀的方法,。采集頻譜儀測試濾波器所產(chǎn)生的圖形和數(shù)據(jù)。

  軟件通過調(diào)用LabVIEW文件的輸入輸出操作存儲數(shù)據(jù)或從磁盤文件中讀取校準(zhǔn)和測試數(shù)據(jù)(其中圖形為二維數(shù)組),,經(jīng)過調(diào)用代碼轉(zhuǎn)為圖形顯示出來并將校準(zhǔn)值和測試值存入數(shù)據(jù)庫,。這里使用了VB和LabVIEW的混合編程,相應(yīng)代碼如圖8所示,。

相應(yīng)代碼

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  4.3 測試軟件的界面設(shè)計

  用戶界面是用戶與應(yīng)用程序交互的媒介,。用戶界面是應(yīng)用程序里最重要的部分,也是直觀的現(xiàn)實世界,。對用戶而言,,界面就是應(yīng)用程序。

  本軟件由六個界面組成,,分別是功能選擇界面,、輸入信息界面、校準(zhǔn)界面,、測試界面,、結(jié)果顯示界面和歷史數(shù)據(jù)對比界面組成。功能選擇界面中用戶選擇軟件實現(xiàn)的功能,,進(jìn)行插損測試或者查詢歷史測試數(shù)據(jù),。在輸入信息界面中,用戶填入測試基本信息并確定測試頻點(diǎn)的范圍,,形成頻點(diǎn)列表,,測試頻點(diǎn)列表存入數(shù)據(jù)庫。在校準(zhǔn)界面,,首先驅(qū)動信號發(fā)生器產(chǎn)生信號進(jìn)行校準(zhǔn),,設(shè)置發(fā)射功率并存入數(shù)據(jù)庫,然后驅(qū)動頻譜儀對測試濾波器進(jìn)行校準(zhǔn),,產(chǎn)生校準(zhǔn)結(jié)果和圖形,,并顯示出來,。測試界面中再次驅(qū)動信號發(fā)生器,產(chǎn)生所需要的測試信號,,調(diào)用數(shù)據(jù)庫中的發(fā)射功率不,,再次驅(qū)動頻譜儀對濾波器插損性能進(jìn)行測試,產(chǎn)生測試結(jié)果和圖形并顯示出來,。在結(jié)果界面顯示插入損耗測試結(jié)果表和差模,、共模的插損曲線圖。歷史數(shù)據(jù)對比通過添加數(shù)據(jù)庫中不同型號濾波器的插損結(jié)果進(jìn)行對比,,并生成對比曲線圖,,方便用戶比較測試結(jié)果。

  4.4 測試數(shù)據(jù)庫

  在輸入信息界面,,用戶輸入測試基本信息后生成一個管理數(shù)據(jù)庫,。該數(shù)據(jù)庫中存放用戶定義的測試頻點(diǎn)和與之對應(yīng)的共模和差模的校準(zhǔn)、測試與插損的結(jié)果,。若文件名相同則覆蓋原數(shù)據(jù)庫,。確定測試頻點(diǎn)范圍后生成插入損耗子數(shù)據(jù)庫,校準(zhǔn)和測試結(jié)果存入子數(shù)據(jù)庫,,并計算得出插入損耗測試值,。如圖9所示。

測試數(shù)據(jù)庫

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  4.5 測試數(shù)據(jù)的處理

  由于頻譜儀產(chǎn)生的校準(zhǔn)值和測試值都是經(jīng)過處理后的計算值,,單位為dB。所以根據(jù)公式(1)可知,,插入損耗值即為校準(zhǔn)值與測試值之差,。軟件中通過VB和LabVIEW的混合編程,可將頻譜儀生成的校準(zhǔn)和測試圖形在界面上顯示,。

  另外,,軟件會將校準(zhǔn)結(jié)果和測試結(jié)果自動存入插入損耗數(shù)據(jù)庫中,并通過本軟件的插損計算公式得到共模插損數(shù)據(jù)和差模插損數(shù)據(jù)并保存,。通過調(diào)用插入損耗數(shù)據(jù)庫可生成一個數(shù)據(jù)報表,。本軟件使用DataReport數(shù)據(jù)報表設(shè)計器和數(shù)據(jù)源(Data Environment數(shù)據(jù)環(huán)境設(shè)計器),創(chuàng)建一個可打印輸出的報表并且可以將報表導(dǎo)出到HTML或文本文件中,。

  5 結(jié)論

  隨著電子設(shè)備以及各種電器的大量涌現(xiàn)和飛速發(fā)展,,電子設(shè)備之間的電磁干擾(EMI)已成為一種嚴(yán)重的公害。EMI濾波器作為抑制電磁干擾的最有力的手段,,日益為人們所了解和廣泛使用,。因此,對EMI濾波器的測試技術(shù)的研究就變得十分重要,。本文EMI濾波器各個方面的測試原理及方法進(jìn)行了簡要的分析,,并在插入損耗人工測試的基礎(chǔ)上編制了基于虛擬儀器技術(shù)的插損自動測試軟件,。避免人工測試的一些缺陷,實現(xiàn)了測試的自動化,,功能簡單,、操作靈活。

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