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用電路測試采樣與保持放大器
摘要: 采樣與保持放大器對模擬電壓執(zhí)行采樣與保持,,直到ADC數(shù)字化。完善的采樣電路一直保持某個電壓,,直到完成數(shù)字化,。因此,放大器的輸出與它的輸入相同。
關鍵詞: 采樣 保持 放大器
Abstract:
Key words :

  采樣" style="color: blue; text-decoration: underline" title="采樣">采樣與保持放大器" style="color: blue; text-decoration: underline" title="保持放大器">保持放大器對模擬電壓執(zhí)行采樣與保持,,直到ADC數(shù)字化,。完善的采樣電路一直保持某個電壓,直到完成數(shù)字化,。因此,,放大器的輸出與它的輸入相同。但真實情況中,,采樣與保持放大器可能會使電壓升高或降低,,由此產(chǎn)生誤差。放大器中的偏移電壓會導致靜態(tài)加法誤差,。而且會發(fā)生一種特定的加法誤差,,即所謂的電壓基底(voltage pedestal),它的起源是在從采樣狀態(tài)向保持狀態(tài)的過渡中,,這一過渡是由于寄生電荷向保持電容器轉移引起的,。

  采樣與保持放大器用模擬開關把信號連接到保持電容器。當開關閉合時,,電阻很低,,因此電容器充電,達到被采樣的輸入電壓,。在保持期間,,當開關電阻很高時,,采樣電容器一直保持電壓,,直到ADC把它數(shù)字化。在從低開關電阻向高開關電阻過渡期間,,寄生電荷的注入(主要是從開關的柵極向保持電容器注入)不斷給電容器充電,,直到開關的控制電壓達到穩(wěn)定的邏輯電平。注入的電荷在電容器產(chǎn)生誤差電壓,。在保持期間也許會出現(xiàn)一些額外誤差,。放大器中的泄漏電流及偏置電流與開關和電容器中的數(shù)十皮安泄漏電流結合在一起,導致電容器在保持期間充電或放電,。

  如果應用占空比為D和1–D的邏輯控制信號,,你就能測量平均輸出壓差[?VOUT ]=[ VOUT – VIN ],如以下方程所示:

  

  其中?VOUT和?V/OUT分別是D和1–D的輸出壓差,,VSTAT是選定的基準輸入電壓值的穩(wěn)定輸出壓差,,D是占空比,VINJ是電壓基底,,VDROPPEAK是壓降峰值,。圖1表明方程中的電壓如何隨時間變化。如果你應用占空比為25%的互補控制波形,你就能測量采樣與保持放大器輸出電壓的另一個DC分量,。最后,,當采樣開關持續(xù)接通時,你可以測量VSTAT電壓,,它是真正的DC電壓,。VOUT和V/OUT包含一個波形,它疊加在選定的基準電壓值上,。因此,,你應該用某個阻值(比方說10 kΩ)的串聯(lián)電阻器測量這些電壓的均值。

圖1

圖1,,采樣與保持放大器的保持電容器由于泄漏電流,、偏置電流以及電壓階躍而出現(xiàn)壓降,導致放大器的輸出與輸入壓差,。

  把電壓基底(一個簡單的矩形波形)乘以占空比,,就得到均值。相比之下,,壓降波形看起來是一個鋸齒,。它的均值增加到占空比平方的一半。壓降峰值表示樣本/HOLD邏輯控制波形的整個周期T結束時的假設壓降,。

  你可用前述方程來求電壓基底值和壓降峰值,。75%占空比是一個很方便的值。下列方程對該占空比有效:

  

  你必須找出邏輯控制信號的最優(yōu)重復率fREP,。在最優(yōu)重復率上升時,,來自輸入端的輸出壓差幾乎純粹是由DC電壓偏移加上電壓基底導致的:(V/OUT–VSTAT)/(VOUT–VSTAT)≈3。以下方程可求出最優(yōu)重復率的最大值:fREP≤(0.01/4)×1/(tON–tOFF),,其中tONOFF分別是接通時間和關斷時間,。該方程確保采樣與保持放大器的內(nèi)部模擬開關的接通時間和關斷時間值之差,對精確的25%和75%占空比準確度的影響不會超過1%,。

  如果你為某種高性能模擬開關(比如Analog Devices公司的ADG1213)求解該方程,,你獲得的重復率不會超過33 kHz。壓降導致的差值在較低的重復率時占優(yōu),。在此情況下,,重復率可以是V/OUT–VSTAT≤1/10×VINMAX時的頻率值,其中VINMAX是最大輸入電壓范圍,。確定重復率下限的最佳方法是做實驗,。

  某個受測的采樣與保持放大器使用圖2中的電路,使用的電源電壓為–1V,,漏極至漏極電壓為5V,,并且脈沖發(fā)生器中的邏輯電路的電源電壓為3.3V,。在ADG1213的內(nèi)部開關的25%、75%和100%占空比數(shù)值處的兩組測量值控制著使用的0V和2.5V輸入電壓,。你將在1.762 kHz重復率位置測量輸出壓差(約為–0.0366 mV)和基底電壓(約為–0.0333 mV),。進入保持電容器(CH=2 nF)的殘留有效電荷注入值QINJ等于CH×VINJ。該值為負,,并且不超過–75 fC,。以下方程定義了2.5V輸入電壓范圍內(nèi)的電荷注入差值:ΔQIINJ=QINJ(2.5V)–QINJ(0V),并得出–6.7 fC值,。以下方程在重復率為160 Hz時,,根據(jù)獲得的壓降峰值確定了殘留有效泄漏電流:ILEAK=CH×VDROPPEAK×fREP,其中ILEAK是泄漏電流,。0V輸入電壓時的泄漏電流約為17 pA,,2.5V輸入電壓時的泄漏電流約為–17 pA。

圖2

圖2,,使用數(shù)字伏特計來測量采樣與保持放大器的輸出與輸入壓差,。

  參考文獻

  “Low Capacitance, Low Charge Injection, ±15 V/+12 V iCMOSTM Quad SPST Switches,” Analog Devices Inc, 2005.

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