文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
文章編號(hào): 0258-7998(2015)06-0006-03
0 引言
ΔΣ調(diào)制原理應(yīng)用到模數(shù)轉(zhuǎn)換器中是由Inose在上世紀(jì)六十年代第一次提出[1],。ΔΣ調(diào)制器已經(jīng)經(jīng)過(guò)了近60年的發(fā)展歷程,,這一過(guò)程中涌現(xiàn)出各種不同的電路及系統(tǒng)設(shè)計(jì)的方法?;谶^(guò)采樣及噪聲整形技術(shù)的ΔΣ調(diào)制器,,由于其對(duì)模擬電路的性能要求較低,將其應(yīng)用到現(xiàn)代片上系統(tǒng)(SoC)的模數(shù)轉(zhuǎn)換接口中成為一個(gè)很好的選擇,。在ΔΣ調(diào)制器設(shè)計(jì)中需要考慮許多實(shí)際設(shè)計(jì)的問(wèn)題及各電路指標(biāo)的折中以?xún)?yōu)化其功耗,、速度、面積及精度等,。近年來(lái)ΔΣ調(diào)制器成為國(guó)內(nèi)外研究的熱點(diǎn),,各種不同設(shè)計(jì)方法及新的結(jié)構(gòu)層出不窮,,而其中集成電路工藝尺寸的降低成為其發(fā)展的主要推動(dòng)力。
隨著工藝的演進(jìn)及設(shè)計(jì)方法的完善,,連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的性能指標(biāo)逐步提升,。連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的積分器是由運(yùn)放、電阻,、電容構(gòu)成的連續(xù)時(shí)間積分,。相較于利用開(kāi)關(guān)電容電路的離散型ΔΣ調(diào)制器,其采樣速率和能效能夠達(dá)到更高,,可以應(yīng)用到無(wú)線(xiàn)通信等這些對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換器帶寬具有較高需求的地方,。同時(shí)其輸入處是電阻,因此降低了對(duì)外部信號(hào)驅(qū)動(dòng)能力的要求,。本文將從兩個(gè)部分對(duì)其原理發(fā)展趨勢(shì)進(jìn)行闡述,。第一部分主要闡述連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的基本原理及結(jié)構(gòu)。第二部分主要分析了近年不同連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的設(shè)計(jì),。最后總結(jié)了連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器設(shè)計(jì)的趨勢(shì)及挑戰(zhàn),。
1 連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器原理及基本結(jié)構(gòu)
連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的工作原理中主要包含了兩個(gè)信號(hào)處理的方法:過(guò)采樣和量化噪聲整形。通過(guò)以上兩個(gè)方法可以降低調(diào)制器帶內(nèi)的噪聲從而達(dá)到提高ΔΣ調(diào)制器精度的目的,。過(guò)采樣技術(shù)是通過(guò)比奈奎施特頻率大過(guò)采樣率倍(OSR)的高速采樣頻率,,從而實(shí)現(xiàn)了帶內(nèi)量化噪聲的降低。對(duì)于連續(xù)型時(shí)間ΔΣ調(diào)制器,,其將采樣模塊移到了量化器處,,由于量化器處對(duì)信號(hào)精度要求較低,從而通過(guò)量化器高速采樣可以實(shí)現(xiàn)更大的調(diào)制器帶寬,。量化噪聲整形技術(shù)是通過(guò)積分器和反饋數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)構(gòu)成的反饋系統(tǒng),,實(shí)現(xiàn)對(duì)量化噪聲的整形過(guò)程,壓低調(diào)制器的帶內(nèi)噪聲,。連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的噪聲整形函數(shù)是連續(xù)域的傳輸函數(shù),,是通過(guò)連續(xù)型積分器來(lái)實(shí)現(xiàn)。
連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的基本結(jié)構(gòu)如圖1所示,,其由連續(xù)積分器構(gòu)成的環(huán)路濾波函數(shù)H(s)、量化器,、反饋DAC構(gòu)成,。這些不同的模塊受到電路非理想特性或非線(xiàn)性的影響。積分器中由于運(yùn)放的有限增益和帶寬,、有限擺幅等問(wèn)題,,在理想1/s傳輸函數(shù)中引入零極點(diǎn)。在反饋過(guò)程中,,通過(guò)DAC進(jìn)行信號(hào)重建,,這將對(duì)整個(gè)調(diào)制器的行為有很大影響,。不同的DAC反饋信號(hào)波形,對(duì)應(yīng)有不同的傳輸函數(shù)[2],。同時(shí)反饋DAC中非理想因素如非線(xiàn)性,、時(shí)鐘抖動(dòng)等也會(huì)對(duì)ΔΣ調(diào)制器的性能產(chǎn)生很大影響[3],量化器則受到非線(xiàn)性,、比較器亞穩(wěn)態(tài)等非理想特性的影響,。以上因素都需要在行為模型的建立和仿真中進(jìn)行考慮,以根據(jù)指標(biāo)要求,,選擇合適的ΔΣ調(diào)制器結(jié)構(gòu),。
2 連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器分類(lèi)
2.1 傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器
傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器在系統(tǒng)上基本由RC積分器、反饋DAC及量化器構(gòu)成,。通過(guò)優(yōu)化不同模塊以得到更好的性能,。
量化器在高采樣率下,其功耗增長(zhǎng)占整個(gè)芯片功耗的較大部分,,為了降低其功耗,,通過(guò)使用SAR ADC作為調(diào)制器中的量化器可以有效降低量化器的功耗。同時(shí)SAR ADC可以實(shí)現(xiàn)更高的精度,,從而提高整個(gè)調(diào)制器的精度[4-5],。圖2給出了SAR ADC作為量化器的ΔΣ調(diào)制器結(jié)構(gòu)。從圖中可以看到,,通過(guò)較高精度的異步SAR ADC提高量化器位數(shù),。相比于運(yùn)用Flash ADC作為傳統(tǒng)量化器的ΔΣ調(diào)制器,其只用了單個(gè)比較器,,可以大量地節(jié)省量化器的功耗和面積,。針對(duì)量化器功耗的優(yōu)化,還有很多其他文章提出了其各自的新型結(jié)構(gòu)[6],。
反饋DAC引入的非理想因素將會(huì)直接進(jìn)入信號(hào)通路,,從而對(duì)ΔΣ調(diào)制器性能產(chǎn)生直接的影響。為了降低DAC的非理想特性,,通過(guò)使用開(kāi)關(guān)電容反饋可以有效降低時(shí)鐘抖動(dòng)的影響[7-8],。圖3為開(kāi)關(guān)電容結(jié)構(gòu)可以作為反饋DAC的一個(gè)單元。由于開(kāi)關(guān)電容放電的電流是以指數(shù)形式遞減,,當(dāng)存在時(shí)鐘抖動(dòng)時(shí),,其反饋到回信號(hào)通路的誤差較小,因此降低了時(shí)鐘抖動(dòng)的影響,。同時(shí)由于電容型DAC的匹配性比電流舵型DAC好,,其線(xiàn)性度也有提高。
積分器中含有運(yùn)放,,這是整個(gè)ΔΣ調(diào)制器中功耗最大的部分,。在濾波器環(huán)路中,,可以通過(guò)使用無(wú)源RC濾波器[9],或者使用單個(gè)運(yùn)放實(shí)現(xiàn)雙階的濾波器[10]來(lái)減少運(yùn)放數(shù)量,,以達(dá)到降低功耗的目的,。相應(yīng)電路如圖4所示,圖4(a)中給出了一個(gè)單放大器的雙二階網(wǎng)絡(luò),。從電路的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中可以看到,,通過(guò)單個(gè)運(yùn)放可以實(shí)現(xiàn)兩個(gè)極點(diǎn),從而達(dá)到實(shí)現(xiàn)兩階的效果,,這樣可以省去一個(gè)運(yùn)放,。而圖4(b)中更是將運(yùn)放全部去掉,只剩下RC網(wǎng)絡(luò),,通過(guò)無(wú)源網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)濾波,,這樣可以達(dá)到極低的功耗。
2.2 帶數(shù)字校正的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器
雖然模擬電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)可以帶來(lái)更低功耗的ΔΣ調(diào)制器,,但模擬電路會(huì)受到更多非理想因素的影響,。為了降低這些影響,數(shù)字校正技術(shù)得到了更多的關(guān)注與應(yīng)用,。
在連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器中,,除了傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中的模塊,還加入數(shù)字校正模塊,,從而可以降低對(duì)模擬模塊的要求,。圖5所示為通過(guò)在反饋環(huán)路中應(yīng)用可替代的輔助型DAC,提高了反饋DAC的線(xiàn)性度,。DAC中每個(gè)單位電流源的失配都通過(guò)基于二進(jìn)制測(cè)試信號(hào)的互相關(guān)性進(jìn)行數(shù)字域的估計(jì),,然后將估計(jì)結(jié)果存儲(chǔ)到查找表中,用于校正輸出數(shù)字信號(hào)[11],。由于其數(shù)字校正過(guò)程是在模擬環(huán)路之中,,因此數(shù)字域不需要額外精確的誤差傳輸函數(shù),這種校正方式可以減小功耗,,不需要模擬電路與數(shù)字電路進(jìn)行匹配,,降低電路速度要求,且提升電路穩(wěn)定性,。通過(guò)這一數(shù)字校正系統(tǒng),,連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的諧波性能得以提升。相比于傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)元件匹配的線(xiàn)性化技術(shù),,其可以工作在較低的過(guò)采樣率下,同時(shí)不引入額外的環(huán)路延時(shí),。
2.3 基于壓控振蕩器的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器
隨著深亞微米工藝技術(shù)的發(fā)展,,時(shí)域ADC的精度得以提高,,其中VCO可以將電壓轉(zhuǎn)換為時(shí)域信號(hào),通過(guò)簡(jiǎn)單的數(shù)字電路即可將轉(zhuǎn)換的時(shí)域信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),,同時(shí)在轉(zhuǎn)換過(guò)程中VCO本身具有一階積分的特性,。由于VCO中具有較多的數(shù)字電路,因此基于VCO的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器更適應(yīng)于先進(jìn)CMOS制造技術(shù)的發(fā)展,。
圖6所示是利用VCO作為一階積分器,,以替換由RC運(yùn)放構(gòu)成的有源積分器[12]。其中VCO1的時(shí)域輸出信號(hào)通過(guò)控制電荷泵開(kāi)關(guān)來(lái)實(shí)現(xiàn)其前饋支路系數(shù)和到下一級(jí)的系數(shù),。前饋電阻R3用于降低VCO和CCO的信號(hào)輸入幅度,,以提高其線(xiàn)性度。最后通過(guò)RC運(yùn)放構(gòu)成的積分器,,提供一個(gè)虛擬地以利于該點(diǎn)電流的求和,。利用VCO和CCO的一階積分特性,可以實(shí)現(xiàn)近乎理想的一階積分函數(shù),,從而避免了因運(yùn)放非理想特性引入的零極點(diǎn)偏差,。同時(shí)在先進(jìn)工藝下,基于VCO的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器能夠?qū)崿F(xiàn)更大的帶寬,。
3 連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器發(fā)展的趨勢(shì)及挑戰(zhàn)
從以上所作的綜述中可以看出,,連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的研究主要集中在各個(gè)模塊的性能改善以及隨著CMOS制造工藝的進(jìn)步,設(shè)計(jì)中越來(lái)越多地使用數(shù)字模塊,,以降低對(duì)模擬模塊性能指標(biāo)的要求,。這些新的電路技術(shù)的提出與改進(jìn),其主要目的都集中在提高連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的帶寬及能效,。這也是連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器以后發(fā)展的趨勢(shì),。而隨著更多數(shù)字模塊的運(yùn)用,產(chǎn)生了相應(yīng)的新的問(wèn)題,。一方面數(shù)字模塊的增多,,使得數(shù)字信號(hào)對(duì)模擬模塊的影響加大,模擬模塊性能得不到相應(yīng)的提高,。另一方面數(shù)字模塊與模擬模塊接口變得復(fù)雜,,使得設(shè)計(jì)復(fù)雜度增加。對(duì)于基于VCO的連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器,,VCO的線(xiàn)性度不佳,這將出現(xiàn)新的問(wèn)題需要解決,。
4 結(jié)論
本文總結(jié)了近年來(lái)在連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器設(shè)計(jì)上的發(fā)展情況,,這些新技術(shù)的提出解決了連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器所遇到的DAC非線(xiàn)性,、量化器功耗較大,、運(yùn)放非理想特性引入的多個(gè)零極點(diǎn)問(wèn)題,。讓連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器的帶寬提高,,同時(shí)降低了整個(gè)電路的功耗,這將有利于拓展連續(xù)型ΔΣ調(diào)制器應(yīng)用范圍,。
參考文獻(xiàn)
[1] INOSE H,YASUDA Y,,MURAKAMI J.A telemetering system by code modulation Δ-Σ modulation[J].Space Electronics and Telemetry,,IRE Transactions on,1962,,SET-8(1):204-209.
[2] ORTMANNS M,GERFERS F.Continuous-Time Sigma-Delta A/D Conversion: Fundamentals, Performance Limits and Robust Implementations[M].New York:Springer,,2006.
[3] CHERRY J,,SNELGROVE W.Continuous-time Delta-Sigma modulators for high-Speed A/D conversion[M].Nowell,MA:Kluwer,,2000.
[4] Hung-Chieh Tsai,Chi-Lun Lo Chen-Yen Ho,,Yu-Hsin Lin.A 64fj/Conv.-Step Continuous-Time ΣΔ Modulator in 40 nm CMOS Using Asychronous SAR Quantizer and Digital ΔΣ Truncator[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2014,,48(11):2637-2648.
[5] RANJBAR M,MEHRABI A,,OLIAEI O,et al.A 3.1 mW continuous-time ΔΣ modulator with 5 bit successive approximation quantizer for WCDMA[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2010,45(8):1479-1491.
[6] PREFASI E,,HERNANDEZ L,GAGGL R,,et al.A 0.1 mm wide bandwidth continuous-time ΣΔ ADC based on a time encoding quantizer in 0.13 ?滋m CMOS[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2009,41(10):2745-2754.
[7] Jo Jun-Gi,,Noh Jinho,,Changsik Yoo.A 20 MHz bandwidth continuous-time Sigma-Delta modulator with jitter immunity improved full clock period SCR(FSCR) DAC and high-speed DWA[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2011,46(11):2469-2477.
[8] NANDI T,,BOOMINATHAN K,,PAVAN S.Continuous-time ΔΣ modulators with improved linearity and reduced clock jitter sensitivity using the switched-capacitor return-to-zero DAC[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2013,,48(8):1795-1805.
[9] Joao A.de Melo,,F(xiàn)abio Querido,Nuno Paulino,,et al.A 0.4 V 410 nW opamp-less continuous-times ΣΔ modulator for biomedical applications[C].In Proc IEEE Int.Symp.Circuit Systems(ISCAS’2014).2014:1340-1343.
[10] ZANBAGHI R,,HANUMOLU P K,F(xiàn)IEZ T S.An 80-dB DR,7.2-MHz bandwidth single opamp biquad based CT ΔΣ modulator dissipating 13.7-mW[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2013,48(2):487-501.
[11] KAUFFMAN J G,,WITTE P,LEHMANN M,,et al.A 72 dB DR. CT ΔΣ Modulator Using Digitally Estimated, Auxiliary DAC Linearization Achieving 88 fJ/conv-step in a 25 MHz BW[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2014,49(2):392-404.
[12] YOUNG B,,RAO S,,ELSHAZLY A,et al.A 75 dB DR 50 MHz BW 3rd Order CT-ΔΣ Modulator Using VCO-Based Integrators[J].IEEE J.Solid-State Circuits,,2013,,48(2):487-501.