新聞發(fā)布 - 2016年3月15日-作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰(zhàn)的供應商,，NI(美國國家儀器公司,，National Instruments,，簡稱NI)近日發(fā)布了《2016自動化測試趨勢展望》,。 這份年度測試和測量報告綜合概括了日益互聯化的自動化測試環(huán)境的主要趨勢，主題涵蓋從毫米波(mmWave)通信到如何有效利用制造測試數據來提高商業(yè)績效,。

　　“NI致力于不斷提高自動化測試系統(tǒng)的性能,，因此與客戶和供應商密切合作，借此深入了解制造與測試部門所面臨的主要挑戰(zhàn)，”NI自動化測試市場營銷總監(jiān)Luke Schreier表示,，“不論您的挑戰(zhàn)是測試數百萬個物聯網設備還是管理已使用20年的測試系統(tǒng),，我們的目標就是激起貴公司的內部對話和討論，進而幫助您降低測試成本以及保持競爭優(yōu)勢,?！?/p>

　　《2016自動化測試趨勢展望》探討了以下幾個主題：

　　計算： 采集生產測試數據

　　半導體行業(yè)率先采用實時數據分析來降低生產測試成本。

　　軟件： 生命周期管理的關鍵在于軟件

　　報廢,、操作系統(tǒng)更新換代以及兼容性給生命周期較長的項目帶來重重挑戰(zhàn) — 這個長期懸而未決的問題值得我們深入探究,。

　　架構： 測試管理軟件的崛起

　　在新編程語言不斷涌現的情況下，采用現成測試執(zhí)行軟件將是有效的解決辦法,。

　　I/O： 從表征到生產的平臺標準化

　　RFIC公司在整個產品設計周期中通過IP復用和硬件標準化來降低成本和縮短產品上市時間,。