0 引言

    中科院強(qiáng)磁場科學(xué)中心在建的40 T穩(wěn)態(tài)強(qiáng)磁場裝置是由內(nèi)水冷磁體和外超導(dǎo)磁體兩部分組成,。本文針對外超導(dǎo)磁體所需的高穩(wěn)定度電源控制系統(tǒng)的設(shè)計。外超導(dǎo)磁體電源最大輸出5 V/16 kA,，而且要求輸出電流紋波在±5 ppm以內(nèi)（額定電流為16 kA）^[1],。

    經(jīng)過分析選定電源控制系統(tǒng)方案為數(shù)字調(diào)節(jié)環(huán)^[2]，這樣其穩(wěn)定度主要受限于反饋環(huán)節(jié),、給定及數(shù)字控制算法的選擇與實現(xiàn)等,。本文只討論輸出電流的測量電路，具體包含前端信號調(diào)理電路,、高精度電壓基準(zhǔn)電路和A/D轉(zhuǎn)換電路,。其中，前端信號調(diào)理電路對來自傳感器的信號進(jìn)行調(diào)理,，包含對輸入信號進(jìn)行幅值調(diào)整和偏置,、抑制共模干擾、抗混疊濾波等，以滿足ADC的輸入要求,。

    在模擬測量電路中,，主要有3類元器件，分別是前端信號調(diào)理電路中的運算放大器,、電壓基準(zhǔn)電路中的電壓基準(zhǔn)源及A/D轉(zhuǎn)換電路中的ADC,。

    外超導(dǎo)磁體電源的穩(wěn)定度要達(dá)到8小時±5 ppm，則其在ADC輸入端上的變化值為10 μV((5×10^-6×16 000 A)×(2.5 V/20 000 A)),。從控制角度,，希望ADC可分辨的電壓要小于該值。這就需要提高測量電路的測量精度,。

    對于這樣一個高精度高穩(wěn)定度的模擬測量系統(tǒng),，本文首先對三類主要元器件進(jìn)行選型，然后分別從系統(tǒng)噪聲（零輸入）和溫度特性兩方面對其進(jìn)行分析,，并得到最終的方案,。最后通過實驗驗證該方案滿足性能要求。

1 高穩(wěn)定度模擬測量電路的設(shè)計

1.1 關(guān)鍵元器件的選型

    對于ADC,，考慮其最小分辨率要小于10 μV,，而且高精度ADC的滿量程電壓都較小，以5 V計算,，則ADC的有效分辨率至少要達(dá)到21位(2.5 V/2²¹≈1.2 μV),，再考慮到噪聲的影響選擇24位∑-△型ADC。采樣頻率為500 Hz,。此外還需要極低溫度系數(shù),，經(jīng)過比較選擇TI的24位∑-△高精度A/D轉(zhuǎn)換芯片ADS1281。

    ADS1281為全差分輸入ADC,，而信號調(diào)理電路輸出為單極性信號,，為了信號匹配，需要將信號調(diào)理電路輸出的單極性信號轉(zhuǎn)換為全差分信號,。又因為所測量的信號能量弱,、幅度小，為了達(dá)到足夠高的精度,，全差分運放應(yīng)具有較高的輸入阻抗和很強(qiáng)的抗共模干擾能力,。而且為了達(dá)到較高的動態(tài)范圍和信噪比，運放選型需要低噪聲和低漂移特性,。ADC相關(guān)的電壓基準(zhǔn)源,、基準(zhǔn)源后的緩沖運放也是決定模擬測量電路最終性能的關(guān)鍵，其主要關(guān)注點也是低噪聲和低溫漂系數(shù)^[3],。

    以上三類器件的選型暫定為：+5 V電壓基準(zhǔn)源可選擇的方案為TI的REF5050ID和Maxim的MAX6350C_A,，基準(zhǔn)源后的緩沖運放選擇TI的OPA277A，ADC輸入端的全差分運放可選擇的方案為TI的OPA1632D(這款為TI針對ADS1281推出的評估板上推薦的運放)和LME49724。

    此外,，為了減小溫漂帶來的影響,，外部縮放和增益電路中也應(yīng)使用低漂移器件。

1.2 系統(tǒng)噪聲分析

    電流測量系統(tǒng)的信號來自高精度DCCT,，它不僅有反映被測參數(shù)的測量信號,，還有器件內(nèi)部和外界干擾引起的噪聲，該噪聲限定了測量電路所能準(zhǔn)確測量的最小量級,，是系統(tǒng)中的一項重要指標(biāo)。其中,，器件內(nèi)部噪聲是器件固有的,，一般無法消除^[4-6]，需要對器件相關(guān)參數(shù)進(jìn)行篩選,。

    接下來,，分析磁體電流測量電路中3類主要元器件在系統(tǒng)噪聲中的貢獻(xiàn)?？刂葡到y(tǒng)的帶寬為1 Hz^[2],，所以測量系統(tǒng)的有效信號頻帶為1 Hz，這樣噪聲分析時只分析1 Hz以內(nèi)的信息,。

    磁體電流測量電路中有兩類運放,，一種為全差分接法，作為ADC的輸入驅(qū)動電路,；一種為電壓跟隨器接法,，用于電壓基準(zhǔn)源后的緩沖電路。

1.2.1 運放的噪聲

    運放噪聲主要包含電壓噪聲,、電流噪聲及電阻產(chǎn)生的熱噪聲,。這里討論差分放大器的噪聲，其噪聲模型如圖1所示,。圖中的V_n為電阻熱噪聲,。e_N為輸入電壓噪聲。I_BN和I_BI分別為正反相端輸入電流噪聲,。

    其中運放的輸入電壓噪聲和輸入電流噪聲與頻率有關(guān),，在極低頻率時（0.1 Hz～10 Hz）主要是1/f噪聲（也稱為閃爍噪聲），這里只考慮1/f噪聲,；電阻熱噪聲相比于前兩種噪聲非常小,，可以忽略。

    (1)電壓噪聲

    l/f噪聲帶來的輸入電壓噪聲為：

    輸入電流噪聲與反饋電阻成正比,，實際中可通過減小反饋電阻以進(jìn)一步減小電流噪聲,。

    對于OPA277U在輸出端產(chǎn)生的電流噪聲為0。

    得出在差分放大電路中，反饋電阻取250 Ω時,，運放對噪聲的總貢獻(xiàn)為：

1.2.2 電壓基準(zhǔn)源的噪聲

    在溫度不變的情況下,，影響電壓基準(zhǔn)源輸出電壓的因素表現(xiàn)為電壓噪聲，它包含寬頻熱噪聲和窄頻1/f噪聲,。其中,，寬帶熱噪聲已經(jīng)通過RC低通濾波器濾除。而1/f噪聲不能被濾除,，其主要集中在0.1～10 Hz范圍內(nèi),。

    1/f噪聲帶來的電壓基準(zhǔn)源的輸出噪聲可由以下公式計算得到：

    其中G_AD為ADC的實際增益值，V_OS為ADC的失調(diào)誤差,，N為ADC分辨率,。

    電壓基準(zhǔn)源的噪聲對系統(tǒng)輸出噪聲的影響與輸入信號的幅值有關(guān)，隨著輸入電壓的增加,，參考電壓所帶來的誤差也隨之增大,。零輸入時，此噪聲對ADC輸出的影響可以忽略,。滿量程輸入時,，即V_IN=V_ref=5 V，則此噪聲對ADC輸出變化值為：

    可知,，由電壓基準(zhǔn)源的輸出噪聲造成的ADC輸出值變化最大約為0.57 ppm,。

1.2.3 ADC的噪聲

    ADC的內(nèi)部噪聲是芯片固有的，與輸入電壓和基準(zhǔn)電壓無關(guān),。

    ADS1281的內(nèi)部噪聲圖見圖2,。從圖2中可看出，在采樣率為1 000 S/s,、雙極供電時,，ADC的內(nèi)部噪聲約為1 μV(RMS)。通過數(shù)字平均,、降低采樣頻率等措施可以有效減少折合到輸入端的噪聲的影響,，所以實際上ADC的噪聲遠(yuǎn)小于該值。

    將以上三類主要元件的噪聲折算到輸出中,，可知ADC和電壓基準(zhǔn)源貢獻(xiàn)最大,，但依然遠(yuǎn)小于10 μV，所以系統(tǒng)噪聲在這里不成為影響因素,。

1.3 溫度特性分析

    溫度漂移是影響模擬測量電路精度的另一個重要因素,。同樣是針對測量電路中的三類主要元件進(jìn)行討論。

1.3.1 運放的溫度特性

    溫度變化時,，影響運放輸出電壓變化的主要為輸入失調(diào)電壓溫漂,。

    OPA1632D的輸入失調(diào)電壓的溫度系數(shù)為標(biāo)準(zhǔn)值5 μV/℃,。該值明顯不滿足要求。

    而TI的LME49724,，其輸入失調(diào)電壓的溫度系數(shù)為標(biāo)準(zhǔn)值0.5 μV/℃,，滿足要求。

1.3.2 電壓基準(zhǔn)源的溫度特性

    REF5050ID的溫度系數(shù)為最大3 ppm/℃,，則溫度每變化1 ℃,，電壓基準(zhǔn)源的輸出電壓變化量為最大1.5 mV，則該電壓基準(zhǔn)源輸出變化量引起的系統(tǒng)輸出電壓變化量為：

    基準(zhǔn)電壓源后接了OPA277U作為緩沖器,。所以該運放的溫度特性也必須計入電壓基準(zhǔn)源的總溫度特性中,。OPA277U的輸入失調(diào)電壓的溫度系數(shù)為標(biāo)準(zhǔn)值0.1 μV/℃，其遠(yuǎn)低于基準(zhǔn)電壓的溫度參數(shù),。

    零輸入時,，電壓基準(zhǔn)源輸出變化量對輸出電壓的影響，可以忽略,。而滿量程輸入時，由電壓基準(zhǔn)源的輸出噪聲造成的ADC輸出值變化則接近3 ppm,，太大,。

    電壓基準(zhǔn)源芯片選擇MAX6350C_A，其輸入失調(diào)電壓的溫度系數(shù)為最大值1 ppm/℃,。

1.3.3 ADC的溫度特性

    ADC受溫度影響的參數(shù)主要是失調(diào)電壓和線性增益值,。ADS1281的失調(diào)電壓漂移為經(jīng)典值0.06 μV/℃，增益漂移為經(jīng)典值0.4 ppm/℃,，非常小,。

    可見，運放和電壓基準(zhǔn)源的失調(diào)電壓溫度系數(shù)對輸出電壓的影響最大,，ADC影響可忽略,。

2 高穩(wěn)定度模擬測量電路的實現(xiàn)及驗證

2.1 具體電路實現(xiàn)

    ADC選型為Texas Instruments的ADS1281, 它是一款高速24位Δ-Σ型SPI接口的全差分輸入ADC。其增益漂移達(dá)到0.4 ppm/℃,，數(shù)據(jù)速率為250~4 000 S/s間5檔可選,。

    ADS1281接入的數(shù)字電源為3.3 V和模擬電源為±2.5 V，參考電壓源V_ref=±2.5 V,。

    為了保證設(shè)備的性能最大化,，必須對ADC的外圍電路進(jìn)行嚴(yán)格的設(shè)計，包含基準(zhǔn)電壓電路,、ADC的輸入端電路和主時鐘電路,。

    首先是基準(zhǔn)電壓，采用高穩(wěn)定度基準(zhǔn)芯片MAX6350C_A,，具體電路見圖3所示,。在基準(zhǔn)芯片的輸出端設(shè)置RC低通濾波器,，其截止頻率約為1.59 Hz，用來濾除高頻噪聲以滿足系統(tǒng)對基準(zhǔn)源低噪聲的要求,。然后加入電壓跟隨器,，以避免A/D基準(zhǔn)源輸入端的電流變化對基準(zhǔn)源輸出的影響^[8]。最后在進(jìn)入ADC之前加入穩(wěn)壓管,，以保證ADC基準(zhǔn)電壓的安全,。

    然后是ADC的輸入驅(qū)動電路，采用TI公司的全差分運放OPA1632D實現(xiàn),，見圖4所示,。要求在輸出端串接一個1 nF的NP0陶瓷電容，以減小THD(總諧波失真),。此外,，在輸出端接二極管來對ADC的輸入電壓進(jìn)行鉗位，以保證其輸入在安全范圍內(nèi),?？紤]到ADC的輸入范圍為±2.5 V，而DCCT的輸出電壓為0~10 V,，所以全差分運放需要對輸入信號進(jìn)行4倍縮放,。

    最后是ADC的主時鐘電路，為保證時鐘信號的高分辨率和穩(wěn)定度,，這里是由鎖相環(huán)分頻得到4.096 MHz的PWM信號,。

    此外，ADS1281有PIN模式和寄存器模式兩種工作模式,通過PINMODE管腳進(jìn)行選擇,根據(jù)所需要的功能,我們配置ADS1281工作在寄存器模式,。CLK,、SCLK分別為ADS1281主時鐘和SPI串行接口時鐘,它們共同完成數(shù)據(jù)的傳輸和模數(shù)轉(zhuǎn)換的進(jìn)行,DIN、DOUT分別為數(shù)字信號輸入和數(shù)字信號輸出,它們都以SPI的串行通訊方式實現(xiàn)與FPGA的交互,。

    同時,，縮放和增益電路中應(yīng)使用低漂移器件。這里使用Vishay體金屬薄膜分壓器電阻系列300144Z,，其電阻跟蹤溫度系數(shù)為0.1 ppm/℃,。

    對于PCB布線，為了保證設(shè)備的最佳性能,，必須將嘈雜的數(shù)字組件,，如微控制器和振蕩器，遠(yuǎn)離轉(zhuǎn)換器和前端末端組件,；將數(shù)字組件靠近電源入口點,，以保持?jǐn)?shù)字電流通路盡可能短；將數(shù)字組件和敏感的模擬組件分開,；所有的旁路電路均靠近設(shè)備引腳,。

2.2 實驗驗證具體電路實現(xiàn)

    在實驗室條件下（溫度在25 ℃±1 ℃）,，對VRE102C基準(zhǔn)芯片產(chǎn)生的10 V電壓進(jìn)行測量，雖然其datasheet上稱其溫度漂移在全溫度范圍內(nèi)最大0.6 ppm/℃,，但實際測量結(jié)果卻有3 ppm左右,。因為很難找到一個高穩(wěn)定度源（<1 ppm）來對測量電路進(jìn)行測量，所以這里只針對零輸入情況下進(jìn)行測量,。

    在全差分運放前還有一個抗混疊濾波器,，其截止頻率為500 Hz。將該濾波器的輸入端短接接地,。ADC的采樣頻率為500 Hz,，二進(jìn)制數(shù)進(jìn)入FPGA后再經(jīng)過50倍的中值濾波，最終得到10 Hz的信號,。本文通過Agilent8位半數(shù)字萬用表對ADC的輸入端進(jìn)行測量,，再將測量結(jié)果通過串口上傳到上位機(jī)（由LabVIEW編寫）來得到模擬電路的輸出波形；通過上位機(jī)軟件(由LabVIEW編寫)對ADC的轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行采集來測量最終的輸出波形,。兩種測量可以同時進(jìn)行,。測量結(jié)果見圖5和圖6所示。一共測量了26小時,，其中前10小時為預(yù)熱時間,，后8小時穩(wěn)定度基本維持在4 ppm以內(nèi)，滿足要求,。

3 結(jié)論

    電源實現(xiàn)高穩(wěn)定度的關(guān)鍵因素之一是輸出磁體電流的高穩(wěn)定度測量。本文針對磁體電流的測量,，分別從系統(tǒng)噪聲和溫度漂移兩個方面進(jìn)行分析提出了測量電路中三類主要元器件的選型依據(jù),，并給出了最終的實現(xiàn)方案。最后,，通過實驗進(jìn)行具體測量,，得出該方案在實驗條件下（溫度在25 ℃±1 ℃），穩(wěn)定度達(dá)到4 ppm,，滿足性能要求,。

    為了進(jìn)一步減小溫度漂移，可考慮對ADC增加溫度補(bǔ)償算法,，最終將ADC采集系統(tǒng)的穩(wěn)定度控制在3 ppm以內(nèi),。

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作者信息：

宋敏慧1,，費  偉1,，2，劉小寧2

（1.中國科學(xué)技術(shù)大學(xué),，安徽 合肥230026,；2.中國科學(xué)院強(qiáng)磁場科學(xué)中心，安徽 合肥230026）