《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁(yè) > 模擬設(shè)計(jì) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 用于SAR ADC的片上多模式基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路的設(shè)計(jì)
用于SAR ADC的片上多模式基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路的設(shè)計(jì)
2018年電子技術(shù)應(yīng)用第7期
侯佳力1,2,,3,,胡 毅1,2,,3,,何 洋1,2,,3,,王小曼1,2,,3,,楊小坤1,2,,3
1.北京智芯微電子科技有限公司,,北京100192; 2.國(guó)家電網(wǎng)公司重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 電力芯片設(shè)計(jì)分析實(shí)驗(yàn)室,,北京100192,; 3.北京市電力高可靠性集成電路設(shè)計(jì)工程技術(shù)研究中心,北京100192
摘要: 針對(duì)工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)等應(yīng)用場(chǎng)景中ADC的供電電壓范圍寬,、功耗要求苛刻等問題,提出了一種配置靈活,、低功耗,、低噪聲的片上基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路,為ADC提供與電源無關(guān)滿量程電壓,。該電路在電源電壓為2.65 V~3.6 V時(shí)提供2.5 V參考電壓,,電源電壓為2.2 V~3.6 V時(shí)提供1.5 V的參考電壓。該電路可以配置成片外電容模式,,關(guān)閉緩沖器電路,,降低整體的功率,;還可以配置成內(nèi)部緩沖器模式,減小基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路的建立時(shí)間,,從而降低ADC單次采樣消耗的能量,。芯片測(cè)試結(jié)果表明,該方案能夠滿足ADC在各種應(yīng)用條件下的精度和速度需求,。
中圖分類號(hào): TN752
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.174395
中文引用格式: 侯佳力,,胡毅,何洋,,等. 用于SAR ADC的片上多模式基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路的設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2018,
44(7):34-37,,41.
英文引用格式: Hou Jiali,,Hu Yi,He Yang,,et al. Design of integrated multi-mode reference voltage generator for SAR ADC[J]. Application of Electronic Technique,,2018,44(7):34-37,,41.
Design of integrated multi-mode reference voltage generator for SAR ADC
Hou Jiali1,,2,3,,Hu Yi1,,2,3,,He Yang1,,2,3,,Wang Xiaoman1,,2,3,,Yang Xiaokun1,,2,3
1.Beijing Smart-Chip Microelectronics Technology Co.,,Ltd.,,Beijing 100192,China,; 2.State Grid Key Laboratory of Power Industrial Chip Design and Analysis Technology,,Beijing 100192,China; 3.Beijing Engineering Research Center of High-reliability IC with Power Industrial Grade,Beijing 100192,,China
Abstract: Aiming at the problems of complex supply voltage and high sensitivity of power in ADC for the industrial Internet of Things, this paper presents a flexible, low power and low noise reference voltage generator for the SAR ADC to obtain good PSRR and a stable supply-independent full-scale range. The 2.5 V or 1.5 V is available based on the different range of supply voltage(2.65 V~3.6 V or 2.2 V~3.6 V). This circuit support off-chip capacitor to provide transient current for the ADC to avoid the power-hungry integrated buffer in series sampling mode. An energy-efficient mode which uses integrated buffer rather than off-chip capacitor can be configured to obtain short setting time to save energy during each one-shot sample. Testing result shows the circuit can save power/energy with no loss in ADC performance.
Key words : ADC,;reference voltage generator;power,;energy

0 引言

    隨著工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展,,人們需要處理更多自然界中的信號(hào)。自然界中聲,、光,、電等模擬信號(hào)需要經(jīng)過模擬-數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Analog-Digital Convertor,ADC)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)才能被數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)一步處理,。

    逐次逼近(Successive Approximation Register,,SAR)型ADC因其低電源壓、低功耗,、與數(shù)字電路兼容性好的優(yōu)點(diǎn),,在傳感器、物聯(lián)網(wǎng)等中等精度(10 bit~12 bit),、中等速度(50 ks/s~200 ks/s)領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,。

    主流的SAR ADC一般通過電容的電荷分享的原理實(shí)現(xiàn)SAR邏輯的算法,電容型SAR ADC的優(yōu)點(diǎn)是:電容陣列沒有靜態(tài)功耗,,利于低功耗設(shè)計(jì),;電容的匹配性較好,精度接近12 bit,。

    電容型SAR ADC需要一個(gè)有驅(qū)動(dòng)能力的緩沖器為電容陣列提供一個(gè)參考電壓,。這個(gè)參考電壓作為ADC的滿量程電壓,需要有較高的精度,,保證ADC的滿量程不隨時(shí)間,、電源電壓變化;SAR ADC電容切換后,,參考電壓需要能快速恢復(fù),,因此,參考電路還需要有驅(qū)動(dòng)能力,。在傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,,這樣一個(gè)參考電壓產(chǎn)生電路需功耗很大,有時(shí)甚至超過SAR ADC本身的功耗,。

    本文提出了一種可以根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景靈活使用的參考電壓產(chǎn)生電路(Reference Voltage Generator,,RVG)。根據(jù)ADC的使用方式,,選擇電壓基準(zhǔn)電路的使用方式,可以在保證性能的前提下,兼具電源電壓低,、功耗低,、應(yīng)用靈活的優(yōu)點(diǎn)。

1 SAR ADC基本原理

    圖1所示為電荷型SAR ADC的基本架構(gòu)[1],。SAR ADC的基本結(jié)構(gòu)包含一個(gè)比較器,、一個(gè)數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器(Digital-Analog Convertor,DAC)和一個(gè)逐次逼近控制器(SAR Logic),。DAC采用電荷按比例縮放的結(jié)構(gòu),,通過比例電容的切換實(shí)現(xiàn)將輸入信號(hào)與基準(zhǔn)電壓VREF進(jìn)行比較。對(duì)于一個(gè)N bit分辨率的ADC,,最后的數(shù)字輸出用模擬量表示為:

    wdz1-gs1.gif

其中,,BN-1,BN-2,,…,,B0為N bit ADC量化后的數(shù)字輸出結(jié)果。

wdz1-t1.gif

    其中VREF是ADC的滿量程參考電壓,,當(dāng)ADC的電容陣列切換時(shí),,會(huì)對(duì)VREF造成擾動(dòng),但下一次切換時(shí),,需要VREF恢復(fù),。因此,RVG電路需要有較大帶寬,,并能提供大瞬態(tài)電流,。目前的商用芯片中,有些芯片需要將VREF直接連接到電源電壓上,,如意法半導(dǎo)體的STM32芯片[2],,但是其缺點(diǎn)是ADC的滿量程電壓與電源電壓相關(guān),不適用于電源電壓有較大波動(dòng)的場(chǎng)景,;有些芯片集成了內(nèi)部參考電壓產(chǎn)生電路,,可以產(chǎn)生出與電源電壓無關(guān)的參考電壓,但是沒有驅(qū)動(dòng)能力,,需要外接片外電容,,啟動(dòng)時(shí)間接近20 ms,如TI公司的MSP430[3]芯片,;有些芯片中集成有內(nèi)部參考電壓產(chǎn)生電路和緩沖器電路,,但功耗很大,如NXP公司的KL17[4],,ADC使用時(shí),,最大功耗高達(dá)1.7 mA,。

    本文提出了一種可以根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景靈活選擇工作模式的片上RVG電路。

2 RVG電路原理

    本文提出的ADC如圖2所示,,芯片內(nèi)部集成RVG電路,。RVG電路包含:帶有斬波(chopper)功能的帶隙基準(zhǔn)電路[5];可以提供1.5 V或2.5 V輸出電壓的電壓倍增電路,;低通濾波器電路,;帶有驅(qū)動(dòng)能力的緩沖器(buffer)電路;模式選擇開關(guān),;電荷泄放開關(guān)M1,;濾波與防閂鎖(latch up)電阻R1和R2;RB和LB是對(duì)Banding線的建模,;C1是片外電容,,大小定為10 μF。

wdz1-t2.gif

    在工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的應(yīng)用中,,芯片的供電方式多樣,,例如,電池供電,、50 Hz交流電網(wǎng)取電等,,如圖3所示。

wdz1-t3.gif

    靈活的供電方式增強(qiáng)了芯片的適應(yīng)能力,,但同時(shí)給芯片設(shè)計(jì)帶來很大挑戰(zhàn),。在互感器供電中,電源電壓會(huì)有10%的波動(dòng),,需要電路有較好的電源抑制比,;電池供電中,需要ADC在低至2.2 V的電源電壓下可以工作,。

    為了使ADC有較高的精度,、較大的輸入范圍,希望ADC的參考電壓盡量大,。在一些供電比較穩(wěn)定的應(yīng)用中,,例如電源電壓保持在2.65 V~3.6 V以內(nèi),用戶可以選擇2.5 V模式為ADC提供參考電壓,;在電源變化范圍較大的應(yīng)用中,,如電源電壓會(huì)在2.2 V~3.6 V之間波動(dòng),用戶可以選擇1.5 V參考電壓,,雖然會(huì)降低了ADC的精度,,但是保證了ADC在低電源電壓下功能正常。

    電壓倍增電路的結(jié)構(gòu)如圖4所示,,電壓選擇開關(guān)控制電阻R3是否接入電路,。

wdz1-t4.gif

    當(dāng)V_SEL=1時(shí),,R3被短路

     wdz1-gs2-3.gif

    此時(shí)輸出電壓為1.5 V。當(dāng)V_SEL=0時(shí),,R3接入電路,,R3=R1,此時(shí)電壓倍增電路的輸出電壓為2.5 V,。

3 SAR ADC工作方式

    在傳感器和工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)中,SAR ADC一般集成在MCU中使用,,根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)景的變化,,整個(gè)MCU會(huì)在電池供電或電網(wǎng)取電的模式下工作,在不同場(chǎng)景下,,ADC的工作模式不同,,例如單點(diǎn)采樣的工作方式、連續(xù)采樣的工作方式,。芯片對(duì)功耗的要求也不同,,有對(duì)能量消耗嚴(yán)格的場(chǎng)景,如電池供電,;有對(duì)功率要求的場(chǎng)景,,如連續(xù)采樣或使用線圈耦合供電。采用本文提供的RVG電路,,通過合理地選擇工作模式,,可以分別在單次采樣應(yīng)用和連續(xù)采樣應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)低功耗。

3.1 能量高效率應(yīng)用模式

    如果應(yīng)用中對(duì)采樣頻率要求較低,,例如,,間隔1 s采集環(huán)境的溫度,ADC會(huì)采用單次采樣的模式,,使能后進(jìn)行一次采樣,,立即關(guān)閉ADC的使能,進(jìn)入關(guān)斷模式,,等待下一次采樣,。

    單次采樣應(yīng)用模式如圖5所示,ADC消耗的電荷不僅取決于ADC開啟時(shí)的電流,,還取決于ADC完成一次轉(zhuǎn)換的時(shí)間,。如圖5所示,ADC1(網(wǎng)狀曲線)開啟時(shí)功率較大,,ADC2(斜線曲線)開啟時(shí)功率較小,,假設(shè)ADC1的功率P1是ADC2的功率P2的兩倍,P1=2×P2,,但ADC1采樣一次的時(shí)間為ADC2的0.1倍,,即T1=0.1×T2,。

wdz1-t5.gif

    ADC消耗的能量為E=P×T,所以E1=0.2×E2,。

    即雖然ADC1的功率較大,,但是在單點(diǎn)采樣的工作方式下,消耗的能量?jī)H為ADC2的1/5,。

    使用內(nèi)部buffer時(shí),,如圖6所示,陰影中的電路處于關(guān)斷狀態(tài),。低通濾波器消除了帶隙基準(zhǔn)電路的紋波,,限制前面電路的噪聲;ADC中切換電容時(shí)造成的紋波,,依靠緩沖器的環(huán)路穩(wěn)定,,因此,這種組態(tài)下,,緩沖器的帶寬要求較高,,功率很大。但是,,使用內(nèi)部buffer時(shí),,沒有大電容,整個(gè)電路的建立較快(<1 ms),,相比于市場(chǎng)上使用片外電容的芯片接近20 ms的建立時(shí)間,,建立時(shí)間縮短,一次采樣消耗的總能量減小,。

wdz1-t6.gif

    仿真和測(cè)試結(jié)果表明,,VREF可以在1 ms以內(nèi)建立到ADC的1/2 LSB以內(nèi)。

3.2 功率高效率應(yīng)用模式

    當(dāng)芯片頻繁使用連續(xù)采樣時(shí),,對(duì)芯片的功率要求嚴(yán)格,,可以配置成片外電容模式,ADC切換電容陣列時(shí),,片外電容為電容陣列提供瞬態(tài)電流,。另外,大片外電容C1與R1同時(shí)構(gòu)成了低通濾波器,,可以濾除帶隙基準(zhǔn)電路的chopper紋波和噪聲,。這種應(yīng)用方式,由于不需要開啟緩沖器,,其功率較?。坏?,由于每次開啟都需要給片外大電容充電,,因此,,其建立時(shí)間很長(zhǎng)(<10 ms)。但RVG電路建立好后,,可不再關(guān)閉,,ADC可以連續(xù)運(yùn)行。

    在使用片外電容的工作方式時(shí),,當(dāng)電壓倍增電路從2.5 V模式向1.5 V模式切換時(shí),,需要進(jìn)行電荷的泄放:

    wdz1-gs4.gif

    傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電荷只能通過圖4中所示的電阻串流過,為了降低靜態(tài)功耗,,電阻串的電流設(shè)計(jì)為10 μA,,要將10 μC的電荷泄放,需要長(zhǎng)達(dá)1 s的時(shí)間,。因此,在使用片外電容的應(yīng)用方式中,,當(dāng)切換1.5 V/2.5 V的過程中,,會(huì)將M1開關(guān)打開,快速泄放電容上的電荷,。圖7是參考電壓電路開啟與切換的過程,。

wdz1-t7.gif

    仿真中,對(duì)Banding線的寄生電容和電阻進(jìn)行了建模,,如圖6所示,,LB=5 nH,RB=0.3 Ω,。

    圖7中的I_CAP分別為通過Banding線給片外電容充放電的電流,,在放電階段,可以提供28 mA的放電電流,,在參考電壓建立階段,,可以提供12 mA的充電電流。參考電壓建立到ADC的精度范圍需要10 ms的時(shí)間,。在參考電壓2.5 V到1.5 V的切換過程中,,1 ms內(nèi),參考電壓可以從2.5 V降到1 V以下,。

    RVG中各個(gè)模塊的功耗見表1,,片上低通濾波器使用MOS電阻和電容濾波,沒有靜態(tài)功耗,。

wdz1-b1.gif

    結(jié)合前面的分析,,如果ADC進(jìn)行單點(diǎn)采樣,并每次采樣結(jié)束后關(guān)閉ADC所有電路,,使用片外電容的應(yīng)用方式,,完成一次采樣需要1 410 nC的電荷,;使用內(nèi)部buffer的應(yīng)用方式,完成一次采樣需要229 nC的電荷,。如果使用電池供電,,采用內(nèi)部buffer應(yīng)用方式,可以有效減小對(duì)電池的消耗,,延長(zhǎng)使用壽命,,參考電壓產(chǎn)生電路不同應(yīng)用方式下的參數(shù)如表2所示。

wdz1-b2.gif

    當(dāng)ADC連續(xù)采樣,,不需要關(guān)閉內(nèi)部參考電壓產(chǎn)生電路時(shí),,使用片外電容的應(yīng)用方式可以降低功耗。另外,,如果芯片的供電模式是線圈取電,,由于磁感應(yīng)強(qiáng)度有限,對(duì)芯片的功率有一定限制,,采用帶片外電容的應(yīng)用模式可以降低其功率,。

    綜上所述,使用內(nèi)部buffer是能量高效率的應(yīng)用模式,;而使用片外電容是功率高效率的應(yīng)用模式,。

4 芯片測(cè)試

    本芯片已經(jīng)在TSMC180 nm工藝下流片,SAR ADC的版圖如圖8所示,,其中虛線框部分為RVG電路,,其余部分為SAR ADC。

wdz1-t8.gif

    芯片測(cè)試結(jié)果如下,,RVG電路的輸出電壓的啟動(dòng),,穩(wěn)定性滿足SAR ADC的需求,如圖9所示,。使用片上集成的RVG電路,,當(dāng)芯片電源電壓在2.2 V~3.6 V時(shí),電路均可正常工作,,SAR ADC的信噪比可以達(dá)到66 dB,,如圖10所示。

wdz1-t9.gif

wdz1-t10.gif

5 結(jié)論

    針對(duì)工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)芯片中供電情況復(fù)雜,、ADC使用方式多樣功耗要求高的特點(diǎn),,提出了一種全集成多模式RVG電路,可以根據(jù)供電電壓范圍的不同,,選擇1.5 V/2.35 V電壓輸出,;可以根據(jù)ADC的應(yīng)用方式配置成能量高效率模式和功率高效率模式。測(cè)試結(jié)果表明,該方案穩(wěn)定性良好,,能夠?yàn)锳DC提供可靠的滿量程參考電壓,。

參考文獻(xiàn)

[1] ALLEN P E,HOLBERG D R.CMOS模擬集成電路設(shè)計(jì)[M].馬軍,,李智群,,譯.北京:電子工業(yè)出版社,2011.

[2] Texas Instrument Inc.MSP430 data sheet[Z].2006.

[3] STMicroelectronics Company.STM32 data sheet[Z].2015.

[4] NXP Simiconductors.KL17 data sheet[Z].2016.

[5] 畢查德·拉扎維.模擬CMOS集成電路設(shè)計(jì)[M].陳貴燦,,程軍,,張瑞智,等,,譯.西安:西安交通大學(xué)出版社,,2003.  



作者信息:

侯佳力1,2,,3,,胡  毅1,2,,3,,何  洋1,2,,3,王小曼1,,2,,3,楊小坤1,,2,,3

(1.北京智芯微電子科技有限公司,北京100192,;

2.國(guó)家電網(wǎng)公司重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 電力芯片設(shè)計(jì)分析實(shí)驗(yàn)室,,北京100192;

3.北京市電力高可靠性集成電路設(shè)計(jì)工程技術(shù)研究中心,,北京100192)

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),,未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。