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兆芯ZX-200 IO擴(kuò)展芯片通過USB3.1 Gen2官方認(rèn)證

2018-07-30

　　近日,，兆芯自主研發(fā)的ZX-200 IO擴(kuò)展芯片成功通過USB協(xié)會Platform Interoperability Lab (PIL)一系列嚴(yán)苛測試認(rèn)證工作,，并正式被列入U(xiǎn)SB 3.1 Certified Products列表,。

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　　兆芯ZX-200 IO擴(kuò)展芯片獲USB3.1 Gen2官方認(rèn)證

　　ZX-200于2017年12月28日，與兆芯開先KX-5000系列處理器和開勝KH-20000系列處理器同時(shí)發(fā)布，是兆芯自主研發(fā)的新一代高性能IO擴(kuò)展芯片。除了搭配兆芯國產(chǎn)x86通用處理器使用外,，還可搭配第三方廠商的芯片用以PCIe、SATA,、USB等接口擴(kuò)展,。

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　　兆芯ZX-200 IO擴(kuò)展芯片支持USB3.1 Gen2規(guī)范

　　ZX-200芯片內(nèi)部集成PCIe，SATA,，USB和千兆網(wǎng)絡(luò)控制器,。ZX-200支持RGMII端口，可擴(kuò)展7個PCIe端口,，4個SATA端口,，以及包括2個USB3.1 Gen2（支持TYPE-C規(guī)范）,，3個USB 3.1 Gen1和6個USB 2.0在內(nèi)的共計(jì)11個USB端口。該芯片具備低功耗,、擴(kuò)展性強(qiáng),、技術(shù)規(guī)范先進(jìn)等顯著優(yōu)勢，可滿足桌面/便攜終端,，服務(wù)器,，嵌入式等多種市場的應(yīng)用需求,。

　　USB協(xié)會Platform Interoperability Lab (PIL)測試項(xiàng)目包括物理層測試,、連接層測試、協(xié)議層測試,、協(xié)議向前兼容性測試,、150設(shè)備兼容性測試以及USB樹型拓?fù)鋽U(kuò)展測試。該認(rèn)證充分證明了ZX-200提供的USB3.1 Gen2 端口控制器符合國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求,，并且其穩(wěn)定性,、設(shè)備兼容性有著極高的保障。

　　兆芯因此成為目前國內(nèi)首家,，同時(shí)也是唯一一家自主設(shè)計(jì)開發(fā)該IP,，并且成功實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)的公司。


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