《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 電源技術(shù) > 新品快遞 > ROHM推出1700V 250A全SiC功率模塊

ROHM推出1700V 250A全SiC功率模塊

2018-11-13
關(guān)鍵詞: ROHM SiC

  全球知名半導(dǎo)體制造商ROHM(總部位于日本京都)面向以戶外發(fā)電系統(tǒng)和充放電測試儀等評(píng)估裝置為首的工業(yè)設(shè)備用電源的逆變器和轉(zhuǎn)換器,,開發(fā)出實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)※可靠性的額定值保證1700V 250A的全SiC功率模塊“BSM250D17P2E004”,。(※截至2018年11月13日 ROHM調(diào)查數(shù)據(jù))

  近年來,由于SiC產(chǎn)品的節(jié)能效果優(yōu)異,,以1200V耐壓為主的SiC產(chǎn)品在汽車和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域的應(yīng)用日益廣泛,。隨著各種應(yīng)用的多功能化和高性能化發(fā)展,,系統(tǒng)呈高電壓化發(fā)展趨勢,1700V耐壓產(chǎn)品的需求日益旺盛,。然而,,受可靠性等因素影響,,遲遲難以推出相應(yīng)產(chǎn)品,所以1700V耐壓的產(chǎn)品一般使用IGBT,。

  在這種背景下,,ROHM推出了實(shí)現(xiàn)額定1700V的全SiC功率模塊,新產(chǎn)品不僅繼承了1200V耐壓產(chǎn)品中深獲好評(píng)的節(jié)能性能,,還進(jìn)一步提高了可靠性,。

  此次新開發(fā)的模塊采用新涂覆材料和新工藝方法,成功地預(yù)防了絕緣擊穿,,并抑制了漏電流※1)的增加,。在高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB)※2)中,實(shí)現(xiàn)了極高的可靠性,,超過1,000小時(shí)也未發(fā)生絕緣擊穿現(xiàn)象。從此,,在高溫高濕度環(huán)境下也可以安心地處理1700V的高耐壓了,。

  另外,模塊中采用了ROHM產(chǎn)的SiC MOSFET和SiC肖特基勢壘二極管(SBD),,通過優(yōu)化模塊內(nèi)部結(jié)構(gòu),,使導(dǎo)通電阻性能比與同等SiC產(chǎn)品優(yōu)異10%,非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能,。

  本模塊已于2018年10月開始投入量產(chǎn),。前期工序的生產(chǎn)基地為ROHM Apollo Co., Ltd.(日本福岡),后期工序的生產(chǎn)基地為ROHM總部工廠(日本京都),。

  未來,,ROHM不僅會(huì)繼續(xù)擴(kuò)充讓客戶安心使用的產(chǎn)品陣容,還會(huì)配備可輕松測試SiC模塊的評(píng)估板等,,以進(jìn)一步滿足日益擴(kuò)大的市場需求,。

1.jpg

   <特點(diǎn)>

  1. 在高溫高濕環(huán)境下確保業(yè)界頂級(jí)的可靠性

    2.jpg

  通過采用新涂覆材料作為芯片的保護(hù)對(duì)策,并引進(jìn)新工藝方法,,使新模塊通過了HV-H3TRB高溫高濕反偏試驗(yàn),,從而使1700V耐壓的產(chǎn)品得以成功走向市場。

  比如在高溫高濕反偏試驗(yàn)中,,比較對(duì)象IGBT模塊在1,000小時(shí)以內(nèi)發(fā)生了引發(fā)故障的絕緣擊穿,,而BSM250D17P2E004在85℃/85%的高溫高濕環(huán)境下,即使施加1360V達(dá)1,000小時(shí)以上,,仍然無故障,,表現(xiàn)出極高的可靠性。

  2.優(yōu)異的導(dǎo)通電阻性能,,有助于設(shè)備進(jìn)一步節(jié)能

3.jpg

  新模塊中使用的是ROHM產(chǎn)的SiC SBD和SiC MOSFET,。通過SiC SBD和SiC MOSFET的最佳組合配置,,使導(dǎo)通電阻低于同等普通產(chǎn)品10%,這將非常有助于應(yīng)用進(jìn)一步節(jié)能,。

 ?。糞iC功率模塊的產(chǎn)品陣容>

4.jpg

  <術(shù)語解說>

  ※1) 漏電流

  功率元器件中從絕緣的位置泄漏出來的微小電流,。抑制漏電流可防止元器件損壞和功耗增加,。

  ※2) 高溫高濕反偏試驗(yàn)(HV-H3TRB:High Voltage High Humidity High Temperature Reverse Bias)

  對(duì)于在高溫高濕環(huán)境下使用功率元器件時(shí)的耐久性進(jìn)行評(píng)估的試驗(yàn)。通過電場和水分引起的絕緣處漏電流的增加,,來檢測絕緣擊穿等故障現(xiàn)象,。


本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點(diǎn),。轉(zhuǎn)載的所有的文章、圖片,、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有,。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認(rèn)版權(quán)者。如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)和其它問題,,請(qǐng)及時(shí)通過電子郵件或電話通知我們,以便迅速采取適當(dāng)措施,,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟(jì)損失,。聯(lián)系電話:010-82306118;郵箱:[email protected],。