0 引言

    由于芯片設(shè)計(jì)和制造過(guò)程的全球化,，集成電路變得更易受到惡意更改和攻擊,，用戶也更難以把控集成電路供應(yīng)鏈中的各個(gè)環(huán)節(jié)。硬件木馬可以操縱掩碼改變?cè)O(shè)計(jì)網(wǎng)表,，植入惡意邏輯電路,，而不影響設(shè)計(jì)的主要功能。芯片在RTL設(shè)計(jì)代工階段各環(huán)節(jié)都有可能被植入硬件木馬,，在軍事,、金融、政府等部門造成嚴(yán)重危害,。

    硬件木馬檢測(cè)方法多種多樣,，包括物理檢測(cè)、邏輯測(cè)試,、側(cè)信道分析等,。其中側(cè)信道分析^[1]是通過(guò)對(duì)比和分析待測(cè)芯片與模板芯片運(yùn)行時(shí)所產(chǎn)生的功耗、時(shí)延和電磁輻射等側(cè)信道信息的方法,，實(shí)現(xiàn)硬件木馬的檢測(cè),。鑒于側(cè)信道分析準(zhǔn)確率高、速度快和價(jià)格低的優(yōu)點(diǎn),，側(cè)信道分析逐漸成為硬件木馬檢測(cè)研究的主要方向^[2],。文獻(xiàn)[3]運(yùn)用歐式距離相關(guān)分類法進(jìn)行硬件木馬的分類識(shí)別。文獻(xiàn)[4]通過(guò)主成分分析（Principal Component Analysis,，PCA）對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行降維處理,，通過(guò)馬氏距離方法進(jìn)行硬件木馬檢測(cè)。文獻(xiàn)[5]提出了一種構(gòu)建自組織競(jìng)爭(zhēng)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的方法進(jìn)行硬件木馬檢測(cè),。文獻(xiàn)[6]提出了一種能快速激活并能定位以低活躍度信號(hào)為觸發(fā)木馬的方法,。

    因此，本文提出了一種基于支持向量機(jī)（Support Vector Machine,，SVM）的硬件木馬檢測(cè)方法,，通過(guò)PCA解決樣本特征值之間相關(guān)的問(wèn)題，利用遺傳算法（Genetic Algorithm,，GA）對(duì)所需核函數(shù)參數(shù)和懲罰因子無(wú)法動(dòng)態(tài)獲取的問(wèn)題進(jìn)行了優(yōu)化,。實(shí)驗(yàn)表明，優(yōu)化型SVM方法提高了硬件木馬分類器的檢測(cè)準(zhǔn)確率和檢測(cè)速度,。

1 基于分類的硬件木馬檢測(cè)方法

    因硬件木馬芯片工作時(shí)存在功耗異常,，在特定環(huán)境下多次采集其工作功耗,，通過(guò)與模板功耗的對(duì)比，可進(jìn)行硬件木馬的檢測(cè),?；诜诸惖挠布抉R檢測(cè)方法如圖1所示。

    在基于分類的硬件木馬檢測(cè)中,，可采用距離判別分析方法^[7],。其中歐氏距離判別法對(duì)噪聲干擾較為敏感，需要采用多條功耗取均值的方法進(jìn)行預(yù)處理,，但也存在觸發(fā)木馬時(shí)的功耗被掩蓋的問(wèn)題,；而馬氏距離雖受噪聲影響較小，但在應(yīng)用時(shí)會(huì)受到樣本維度的限制,。

    此外,，樸素貝葉斯算法利用概率統(tǒng)計(jì)進(jìn)行分類，其檢測(cè)準(zhǔn)確率表現(xiàn)良好,，但時(shí)間消耗過(guò)高^[8],；而BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法在使用時(shí)會(huì)存在過(guò)度擬合的缺陷^[9]。

    SVM算法是一種機(jī)器學(xué)習(xí)方法,，在解決小樣本,、非線性及高維模式識(shí)別中，表現(xiàn)出了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)^[10],。因此,，本文結(jié)合側(cè)信道的信息特點(diǎn)，首先從中提取訓(xùn)練集和測(cè)試集,，然后通過(guò)優(yōu)化型SVM分類器來(lái)預(yù)測(cè)測(cè)試集中的標(biāo)識(shí)屬性,，最后達(dá)到提高硬件木馬檢測(cè)的準(zhǔn)確率和檢測(cè)速度的目的。

2 硬件木馬分類器設(shè)計(jì)

    本文設(shè)計(jì)的優(yōu)化型SVM分類器主要由3個(gè)核心部分構(gòu)成：PCA降維處理模塊,、GA算法模塊和SVM分類器模塊,。模塊的運(yùn)行與連接方式如圖2所示。

    在獲取側(cè)信道數(shù)據(jù)后,，首先提取部分?jǐn)?shù)據(jù)作為訓(xùn)練集,，然后利用PCA對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，接著采用GA對(duì)SVM參數(shù)尋優(yōu),，最后根據(jù)得到的懲罰因子c和核函數(shù)參數(shù)值g構(gòu)建優(yōu)化型SVM硬件木馬分類器,。分類器中主要模塊實(shí)現(xiàn)如下：

    （1）PCA降維處理

    考慮到要處理的側(cè)信道數(shù)據(jù)量較大且存在噪聲，所以選擇采用PCA方法降低冗余,，精煉數(shù)據(jù),，從而加快分類器處理速度，具體實(shí)現(xiàn)步驟如圖3所示。

    PCA是一種簡(jiǎn)單有效的特征提取方法,。通過(guò)線性變換將原始樣本變換為一組各維度線性無(wú)關(guān)的表示,，使得到的各變量在彼此不相關(guān)的前提下盡可能多地反映原始樣本所包含的信息。

    （2）關(guān)鍵參數(shù)優(yōu)化

    SVM算法的兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)懲罰因子c和核函數(shù)參數(shù)值g的初值一般由人工選取,，而導(dǎo)致的最終訓(xùn)練結(jié)果不一定最優(yōu),，因此本設(shè)計(jì)中采用GA算法進(jìn)行參數(shù)尋優(yōu)，以提高參數(shù)選擇的可靠性和準(zhǔn)確性,。

    GA算法基本思想簡(jiǎn)單,，實(shí)現(xiàn)步驟規(guī)范，具有實(shí)用高效,、魯棒性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),。利用GA算法進(jìn)行啟發(fā)式優(yōu)化搜索的主要過(guò)程如圖4所示,。

    （3）基于SVM的分類器

    在側(cè)信道數(shù)據(jù)分類時(shí),，每條特征曲線代表一個(gè)訓(xùn)練樣本，每個(gè)訓(xùn)練樣本中有多個(gè)屬性,，因此硬件木馬檢測(cè)實(shí)際上是對(duì)多維數(shù)據(jù)進(jìn)行分類,，故本文選擇SVM構(gòu)建分類模型。

    SVM是建立在統(tǒng)計(jì)學(xué)習(xí)理論基礎(chǔ)上的一種機(jī)器學(xué)習(xí)方法,，其泛化準(zhǔn)確率高,，計(jì)算效率高，結(jié)果易解釋,。其具體實(shí)現(xiàn)步驟如下：首先在低維空間中完成計(jì)算,，然后通過(guò)核函數(shù)將輸入空間映射到高維特征空間，最終在高維特征空間中構(gòu)造出最優(yōu)分離超平面,，從而把平面上難以分離的非線性數(shù)據(jù)劃分開,。

3 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

3.1 實(shí)驗(yàn)環(huán)境

    基于FPGA的硬件木馬側(cè)信道采集分析平臺(tái)如圖5所示，平臺(tái)主要包括PC,、FPGA板,、示波器、電源和采樣探頭5個(gè)部分,，能夠完成對(duì)芯片運(yùn)行時(shí)所產(chǎn)生的功耗信息的采集和傳輸功能,。

    側(cè)信道平臺(tái)搭建的主要過(guò)程為：

    (1)通過(guò)ISCAS’89基準(zhǔn)測(cè)試電路完成原始功能，并設(shè)計(jì)三種資源占比不同的硬件木馬植入載體電路,。其中木馬1,、木馬2、木馬3的資源占比約為原始電路的0.1%,、0.2%,、0.3%。

    (2)采用Altera EP4CE6E22C8作為實(shí)驗(yàn)芯片，利用FPGA測(cè)試板下載線將工程下載至芯片,。在芯片的電源引腳上連接電阻,，利用Tektronix DPO7104C示波器的差分探頭連接電阻兩端。

    (3)多次對(duì)標(biāo)準(zhǔn)芯片及待測(cè)芯片進(jìn)行采集,，通過(guò)LAN通信傳輸至PC端,，得到兩類功耗數(shù)據(jù)。其采樣頻率為10 Gb/s,，采樣點(diǎn)數(shù)為1 000,，每類芯片采樣2 000條。

    (4)在PC端,，利用標(biāo)準(zhǔn)芯片功耗信息建立模板,，使用MATLAB編寫，進(jìn)行木馬檢測(cè)性能驗(yàn)證,。

3.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

3.2.1 PCA數(shù)據(jù)降維

    在利用PCA進(jìn)行數(shù)據(jù)降維時(shí),，必須考慮所得到的各主成分所對(duì)應(yīng)的方差百分比和累積方差百分比，圖6給出了前100個(gè)主成分的貢獻(xiàn)率情況,。

    可以看出,，大部分方差都包含在較前的主成分中，舍棄貢獻(xiàn)率很低的主成分并不會(huì)損失很多有用信息,，但能夠大幅度減少運(yùn)算量,，降低時(shí)間開銷。

3.2.2 GA參數(shù)尋優(yōu)

    由于核函數(shù)參數(shù)和懲罰因子在很大程度上決定著SVM的分類精度,，而人工選取的方式效率較低且精度不足,，利用GA進(jìn)行參數(shù)尋優(yōu)的結(jié)果如圖7所示，c和g分別是懲罰因子和核函數(shù)最優(yōu)參數(shù)值,。

    可以看出,，通過(guò)GA算法選取的最優(yōu)參數(shù)在三種木馬植入情況下的適應(yīng)度均明顯高于平均適應(yīng)度，由此證實(shí)了GA用于SVM參數(shù)優(yōu)化的有效性,。

3.2.3 優(yōu)化結(jié)果

    為驗(yàn)證優(yōu)化算法的有效性,，分別利用傳統(tǒng)型SVM和優(yōu)化型SVM構(gòu)建分類器，對(duì)三種不同大小的硬件木馬進(jìn)行識(shí)別,。隨機(jī)選取木馬芯片和模板芯片的功耗信息各1 000條作為訓(xùn)練樣本,，對(duì)分類器進(jìn)行訓(xùn)練，再用分類器對(duì)4 000條待測(cè)芯片進(jìn)行分類,，統(tǒng)計(jì)分類結(jié)果和優(yōu)化后的性能提升幅度,。結(jié)果如表1所示。

    可以看出,，經(jīng)過(guò)優(yōu)化后的SVM所構(gòu)建的分類器性能明顯優(yōu)于傳統(tǒng)SVM,，經(jīng)過(guò)PCA降維處理后，不僅時(shí)間消耗大幅減少，而且還能濾除數(shù)據(jù)中的部分無(wú)用信息,，提升判別效率,；利用遺傳算法對(duì)SVM進(jìn)行參數(shù)尋優(yōu)，使得分類器能夠以最佳參數(shù)運(yùn)行,，與傳統(tǒng)人工選擇參數(shù)的方式相比,，參數(shù)選擇更加準(zhǔn)確和科學(xué)，經(jīng)過(guò)優(yōu)化,，基于SVM的硬件木馬分類器的分類性能最高可以提升15.6%,，時(shí)間消耗減少98.1%,。

    此外,，SVM分類準(zhǔn)確率與木馬的尺寸有關(guān)，木馬占用率越大,，準(zhǔn)確率越高,，與預(yù)期情況相符,，當(dāng)木馬占用率為0.1%時(shí)，仍具有81.03%的準(zhǔn)確率,，可以有效識(shí)別出芯片中所植入硬件木馬,。

3.3 木馬檢測(cè)性能分析

    對(duì)于硬件木馬檢測(cè)而言，性能測(cè)試主要在兩方面：檢測(cè)準(zhǔn)確率及檢測(cè)時(shí)間,。本文選取了基于主成分分析的歐式距離^[3]、馬氏距離^[4]以及樸素貝葉斯^[8]和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)^[9]等方法為對(duì)比實(shí)驗(yàn)對(duì)象,，以此來(lái)評(píng)估優(yōu)化型SVM硬件木馬檢測(cè)方法的性能,。設(shè)置相同的實(shí)驗(yàn)條件，性能對(duì)比結(jié)果如表2所示,。

    據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出,，無(wú)監(jiān)督型的檢測(cè)算法由于其規(guī)則、算法復(fù)雜度等因素在檢測(cè)時(shí)間上要優(yōu)于監(jiān)督型算法,。監(jiān)督型算法耗時(shí)較長(zhǎng),，但是在準(zhǔn)確率上要高于無(wú)監(jiān)督型算法。本文提出的優(yōu)化型SVM算法,，經(jīng)過(guò)PCA的預(yù)處理以及GA 算法的參數(shù)尋優(yōu)后,，在檢測(cè)速度上與歐式距離和馬氏距離相比耗時(shí)較長(zhǎng)，但與樸素貝葉斯和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)相比有大幅提高,。同時(shí)在準(zhǔn)確率方面比其他監(jiān)督型算法高,。

4 結(jié)論

    本文提出了一種基于優(yōu)化型SVM算法的硬件木馬分類器。首先采集功耗曲線建立樣本庫(kù),，然后利用PCA降維技術(shù)減少無(wú)用信息與分類器構(gòu)建時(shí)間,，再以GA算法提高SVM最優(yōu)參數(shù)的選取效率和準(zhǔn)確性能，最后利用優(yōu)化型的SVM分類器進(jìn)行硬件木馬檢測(cè)。實(shí)驗(yàn)表明,，在未經(jīng)均值降噪處理的情況下,，本文提出的方法與傳統(tǒng)SVM方法相比，硬件木馬檢測(cè)準(zhǔn)確率提升了9%,，對(duì)2 000組數(shù)據(jù)的分類耗時(shí)僅為0.75 s,；與其他硬件木馬檢測(cè)方法相比，本文提出的方法在檢測(cè)準(zhǔn)確率和檢測(cè)時(shí)間均有提高,?！　?/p>

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作者信息:

張  磊,，殷夢(mèng)婕，肖超恩,，董有恒

（北京電子科技學(xué)院 電子與信息工程系,，北京100071）