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ASML今年將推新一代EUV光刻機(jī),產(chǎn)能為每小時(shí)170片

2019-01-24
關(guān)鍵詞: 光刻機(jī) ASML 晶圓

昨天,荷蘭光刻機(jī)大廠(chǎng)ASML發(fā)布了其2018年的財(cái)報(bào),。數(shù)據(jù)顯示,公司2018全年銷(xiāo)售額為109億歐元,,凈收入為26億歐元,,預(yù)計(jì)2019年第一季度銷(xiāo)售額約為21億歐元,毛利率約為40%,。


ASML總裁兼首席執(zhí)行官Peter Wennink還表示:“,。在第四季度,我們收到五份EUV訂單,。2019年,,客戶(hù)有著對(duì)30個(gè)EUV系統(tǒng)的需求,這些出貨量將包括DRAM客戶(hù)的第一批量產(chǎn)系統(tǒng),。預(yù)計(jì)2019年我們的EUV掃描儀生產(chǎn)的芯片將開(kāi)始供消費(fèi)者和企業(yè)使用,。”


他們還指出,,公司將在今年推出新一代的EUV光刻設(shè)備N(xiāo)XE:3400C,,規(guī)格為每小時(shí)170片晶圓,可用率超過(guò)90%,。該系統(tǒng)將于2019年下半年提供給客戶(hù),。目前,ASML主流的EUV設(shè)備機(jī)型是NXE:3400B,,在合作伙伴的工廠(chǎng)中已經(jīng)實(shí)現(xiàn)了125WPH的產(chǎn)能,。


據(jù)ASML介紹,這個(gè)新設(shè)備是以“NXE:3400B”為基礎(chǔ),,首次開(kāi)發(fā)降低重合誤差的版本,,而在后續(xù)的發(fā)展則是是以“降低重合誤差版本”為基礎(chǔ),開(kāi)發(fā)提高“吐出量”(生產(chǎn)性能)的版本,。在持續(xù)降低重合誤差的同時(shí),,ASML還在繼續(xù)開(kāi)發(fā)提高產(chǎn)能的新版本,ASML還沒(méi)有公布新版本的型號(hào),出貨時(shí)間預(yù)計(jì)在2021年的下半年,,新版本應(yīng)該會(huì)承擔(dān)3nm的量產(chǎn)工作吧,。

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而據(jù)媒體報(bào)道,下一代EUV(極紫外)曝光技術(shù)的發(fā)展正在全面發(fā)展,,這種技術(shù)將使得半導(dǎo)體邏輯和DRAM的小型化和高密度化成為可能,。如果發(fā)展順利進(jìn)行,在2020年下半年,,最先進(jìn)的半導(dǎo)體工藝可以受益于新的設(shè)備,。他們指出,在“當(dāng)前一代”EUV曝光技術(shù)中,,3nm代半導(dǎo)體邏輯有望成為小型化的極限,。但在“下一代”EUV曝光技術(shù)出來(lái)之后,則讓2納米,,甚至1.4納米成為可能,。


ASML預(yù)估,在2021年底之前將裝配N(xiāo)AV為0.55的EUV曝光設(shè)備的原型系統(tǒng),,大規(guī)模生產(chǎn)系統(tǒng)的出貨計(jì)劃于2024年開(kāi)始。

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EUV光刻技術(shù)發(fā)展態(tài)勢(shì)


光刻(lithography)為集成電路微細(xì)化的最關(guān)鍵技術(shù),。當(dāng)前在16/14nm節(jié)點(diǎn)乃至10及7nm節(jié)點(diǎn),,芯片制造商普遍還在使用193nm ArF浸潤(rùn)式光刻機(jī)+多重成像技術(shù),但采用多重成像技術(shù)后將增加曝光次數(shù),,導(dǎo)致成本顯著上升及良率,、產(chǎn)出下降等問(wèn)題。根據(jù)相關(guān)企業(yè)的規(guī)劃,,在7/5nm節(jié)點(diǎn),,芯片生產(chǎn)將導(dǎo)入極紫外(EUV)光刻技術(shù),EUV光刻使用13.5nm波長(zhǎng)的極紫外光,,能夠形成更為精細(xì)的曝光圖像,。芯片廠(chǎng)商計(jì)劃將EUV光刻應(yīng)用到最困難的光刻工序,即金屬1層以及過(guò)孔生成工序,,而其他大部分工序則仍將延用193nm ArF浸潤(rùn)式光刻機(jī)+多重成像來(lái)制作,。據(jù)EUV光刻機(jī)生產(chǎn)商阿斯麥(ASML)稱(chēng),相比浸潤(rùn)式光刻+三重成像技術(shù),,EUV光刻技術(shù)能夠?qū)⒔饘賹拥闹谱鞒杀窘档?%,,過(guò)孔的制作成本降低28%。

 

EUV光刻的關(guān)鍵技術(shù)包括EUV光源和高數(shù)值孔徑(NA)鏡頭,,前者關(guān)乎光刻機(jī)的吞吐量(Throughput),,后者關(guān)乎光刻機(jī)的分辨率(Resolution)和套刻誤差(Overlay)能力等。目前,全球EUV光刻機(jī)生產(chǎn)基本上由荷蘭阿斯麥公司所壟斷,,其最新 NXE:3400B EUV機(jī)型,,采用245W光源,在實(shí)驗(yàn)條件下,,未使用掩膜保護(hù)膜(pellicle),,已實(shí)現(xiàn)每小時(shí)曝光140片晶圓的吞吐量;該機(jī)型在用戶(hù)端的測(cè)試中,,可達(dá)到每小時(shí)曝光125片晶圓的吞吐量,,套刻誤差2nm;按照阿斯麥公司EUV技術(shù)路線(xiàn)規(guī)劃,,公司將在2018年底前,,通過(guò)技術(shù)升級(jí)使NXE:3400B EUV機(jī)型的套刻誤差減小到1.7nm以下,滿(mǎn)足5nm制程的工藝需求,;在2019年中,,采用250W EUV光源,達(dá)到每小時(shí)145片晶圓的量產(chǎn)吞吐量,;在2020年,,推出升級(jí)版的NXE:3400C EUV機(jī)型,采用250W EUV光源達(dá)到155片/時(shí)的量產(chǎn)吞吐量,??傮w上,目前的250W EUV光源已經(jīng)可以滿(mǎn)足7nm甚至5nm制程的要求,,但針對(duì)下一代的EUV光源仍有待開(kāi)發(fā),。據(jù)估算,在3nm技術(shù)節(jié)點(diǎn),,對(duì)EUV光源的功率要求將提升到500W,,到了1nm技術(shù)節(jié)點(diǎn),光源功率要求甚至將達(dá)到1KW,。


高數(shù)值孔徑(High-NA)光學(xué)系統(tǒng)方面,,由于極紫外光會(huì)被所有材料(包括各種氣體)吸收,因此極紫外光光刻必需在真空環(huán)境下,,并且使用反射式透鏡進(jìn)行,。目前,阿斯麥公司已開(kāi)發(fā)出數(shù)值孔徑為0.33的EUV光刻機(jī)鏡頭,,阿斯麥正在為3nm及以下制程采開(kāi)發(fā)更高數(shù)值孔徑(NA)光學(xué)系統(tǒng),,公司與卡爾蔡司公司合作開(kāi)發(fā)的數(shù)值孔徑為0.5的光學(xué)系統(tǒng),預(yù)計(jì)在2023-2024年后量產(chǎn),,該光學(xué)系統(tǒng)分辨率(Resolution)和生產(chǎn)時(shí)的套刻誤差(Overlay)比現(xiàn)有系統(tǒng)高出70%,,每小時(shí)可以處理 185 片晶圓,。


除光刻機(jī)之外,EUV光刻要在芯片量產(chǎn)中應(yīng)用仍有一些技術(shù)問(wèn)題有待進(jìn)一步解決,,如:光刻膠,、掩膜、掩膜保護(hù)薄膜(pellicle),。


光刻膠方面,,要實(shí)現(xiàn)大規(guī)模量產(chǎn)要求光刻膠的照射反應(yīng)劑量水平必須不高于20mJ/cm2。而目前要想得到完美的成像,,EUV光刻膠的照射劑量普遍需要達(dá)到30-40mJ/cm2,。在30mJ/cm2劑量水平,250w光源的EUV光刻機(jī)每小時(shí)吞吐量只能達(dá)到90片,,顯著低于理想的125片,。由于EUV光刻產(chǎn)生的一些光子隨機(jī)效應(yīng),要想降低光刻膠的照射劑量水平仍需克服一系列挑戰(zhàn),。其中之一是所謂的光子發(fā)射噪聲現(xiàn)象,。光子是光的基本粒子,成像過(guò)程中照射光光子數(shù)量的變化會(huì)影響EUV光刻膠的性能,,因此會(huì)產(chǎn)生一些不希望有的成像缺陷,,比如:線(xiàn)邊緣粗糙(line-edge roughness:LER)等。


光掩膜版,,EUV光刻使用鏡面反射光而不是用透鏡折射光,,因此EUV光刻采用的光掩膜版也需要改成反射型,改用覆蓋在基體上的硅和鉬層來(lái)制作,。同時(shí),EUV光刻對(duì)光掩膜版的準(zhǔn)確度,、精密度,、復(fù)雜度要求比以往更高。當(dāng)前制作掩膜版普遍使用的可變形狀電子束設(shè)備(VSB),,其寫(xiě)入時(shí)間成為最大的挑戰(zhàn),,解決方案之一是采用多束電子束設(shè)備。包括IMS公司,、NuFlare公司等已在開(kāi)發(fā)相關(guān)多束電子束產(chǎn)品,,多束電子束設(shè)備能夠提高光掩膜版制作效率,降低成本,,還有助于提高光掩膜版的良率,。未來(lái),大部分EUV光掩膜版仍可以使用可變形狀電子束設(shè)備來(lái)制作,,但是對(duì)少數(shù)復(fù)雜芯片而言,,要想保持加工速度,必須使用多束電子束設(shè)備。


EUV薄膜,,EUV薄膜作為光掩膜的保護(hù)層,,提供阻隔外界污染的實(shí)體屏障,可以防止微塵或揮發(fā)氣體污染光掩膜表面,,減少光掩膜使用時(shí)的清潔和檢驗(yàn),。阿斯麥公司已經(jīng)開(kāi)發(fā)出83%透射率的薄膜,在采用245W光源,,測(cè)試可達(dá)到100 片晶圓/時(shí)吞吐量,,阿斯麥的目標(biāo)是開(kāi)發(fā)出透射率90%的透明薄膜,可承受300W的EUV光源,,實(shí)現(xiàn)125片晶圓/時(shí)的吞吐量,。


初期,EUV光刻還是主要應(yīng)用于高端邏輯芯片,、存儲(chǔ)芯片的生產(chǎn),,主要芯片企業(yè)已相繼宣布了各自導(dǎo)入EUV光刻的計(jì)劃。


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