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瑞薩電子基于SOTB工藝的嵌入式閃存低功耗技術刷新讀取能耗新極限

2019-06-15
關鍵詞: 瑞薩 嵌入式閃存

  日前,全球領先的半導體解決方案供應商瑞薩電子株式會社宣布,,推出基于65nm SOTB(Silicon On Thin Buried Oxide)工藝的新型嵌入式閃存低功耗技術,,可提供1.5MB容量,,是業(yè)界首款基于65nm SOTB技術的嵌入式2T-MONOS閃存。通過引入全新電路技術來降低閃存中外圍電路的功耗,,實現(xiàn)了在64 MHz的工作頻率下低至0.22 pJ/bit的讀取能耗--達到MCU嵌入式閃存能耗的業(yè)界最低水平,。用于外圍電路的新低功率技術包括:(1)在感測存儲器中的數(shù)據(jù)時減少能量消耗;(2)當讀取數(shù)據(jù)被傳至外部時減少傳輸能量消耗,。此先進技術幫助讀取存儲器數(shù)據(jù)時的能耗大幅降低,。

  基于SOTB的新技術已在瑞薩R7F0E嵌入式控制器中所采用,該控制器專門用于能量采集應用,。瑞薩獨有的SOTB工藝技術可顯著降低工作和待機狀態(tài)下的功耗,。通常,這兩種狀態(tài)下的功耗互為消長:即一種功耗較低意味著另一種功耗較高,。當從閃存讀取數(shù)據(jù)時,,新技術大幅降低功耗。與非SOTB 2T-MONOS閃存(約需50μA/MHz讀取電流)相比,,新技術實現(xiàn)的讀取電流僅6μA/MHz左右,,等效于0.22 pJ/bit的讀取能耗,達到MCU嵌入式閃存最低能耗級別,。這項新技術還有助于在R7F0E上實現(xiàn)20μA/MHz的低有效讀取電流,,達到業(yè)界最佳。

  全新嵌入式閃存技術的關鍵特性:

  適用于SOTB工藝的低功耗2T-MONOS閃存

  采用SOTB工藝的2T-MONOS嵌入式閃存具備包含電隔離元件的雙晶體管結(jié)構(gòu),。與單晶體管結(jié)構(gòu)不同,,在讀取操作期間無需負電壓,使讀取數(shù)據(jù)時的功耗降低。此外,,同其它存儲器處理相比,,MONOS在生產(chǎn)過程中使用更少的掩模,并可使用離散電荷捕獲方案存儲數(shù)據(jù),,從而能夠在不增加生產(chǎn)成本的情況下帶來低功耗和高重寫可靠性,。

  用于超低耗能的感測放大器電路及穩(wěn)壓器電路技術

  存儲器讀取過程中的大部分能量消耗發(fā)生在識別數(shù)據(jù)的感測操作,以及將識別的數(shù)據(jù)輸出至外部這兩個環(huán)節(jié),。為了解決此問題,,單端感測放大器在感測操作期間顯著降低了位線預充電能量,其采用全新電荷轉(zhuǎn)移技術,,可提高預充電速度和能源效率,。此外,新推出的穩(wěn)壓器電路技術利用漏電監(jiān)測,,對感測放大器的基準電壓進行最佳間歇控制,,使其以恒定的方式消耗能量。這些先進技術不僅大幅降低能耗,,同時加速感測操作,。

  大幅削減數(shù)據(jù)傳輸能耗的電路技術

  SOTB工藝的特性之一是實現(xiàn)了晶體管閾值(Vth)波動的最小化。新技術借助這一優(yōu)勢,,利用極小的電壓幅值實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸,。當讀取數(shù)據(jù)發(fā)送至外部時,該技術使得傳輸能量的消耗顯著降低,。

  瑞薩通過幫助使端點設備更加智能化,,以加速推動“智能社會”的發(fā)展。瑞薩認為,,通過無電池方案,,能源收集系統(tǒng)徹底擺脫更換電池的困擾,是實現(xiàn)這一目標的必要步驟,。同時,,瑞薩將持續(xù)致力于幫助實現(xiàn)環(huán)保型智能社會的技術開發(fā)。


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