文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.183229
中文引用格式: 張猛華,,薛海衛(wèi),于宗光,,等. 基于深亞微米的低成本高可靠BOD電路[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2019,45(7):40-43.
英文引用格式: Zhang Menghua,,Xue Haiwei,,Yu Zongguang,et al. BOD circuit of low cost and high reliability based on deep submicron[J]. Application of Electronic Technique,2019,,45(7):40-43.
0 引言
隨著超大規(guī)模集成電路的發(fā)展,集成電路越來(lái)越趨向于多功能,、高性能,、低功耗,由此帶動(dòng)電子技術(shù)的廣泛應(yīng)用,,促進(jìn)電子設(shè)備智能化程度的提高,。單片機(jī)(MCU)電路因其出色的性價(jià)比、很好的能效比和寬電壓工作范圍等優(yōu)點(diǎn),,在消費(fèi)電子領(lǐng)域取得了廣泛的應(yīng)用,,例如電動(dòng)車、電力線,、電表,、電子標(biāo)簽、醫(yī)療設(shè)備,、可穿戴設(shè)備等,。
在MCU的應(yīng)用系統(tǒng)中,經(jīng)常會(huì)遇到系統(tǒng)的電源電壓出現(xiàn)欠壓或意外掉電的情況,,欠壓可能會(huì)導(dǎo)致MCU的程序“跑飛”[1],,系統(tǒng)工作異常,意外掉電有可能會(huì)丟失重要的數(shù)據(jù),,并且丟失的數(shù)據(jù)不能夠恢復(fù)[2],。特別是在某些系統(tǒng)應(yīng)用場(chǎng)景下,當(dāng)由于電源電壓本身的原因,,致使系統(tǒng)電源電壓降低,,當(dāng)降低到一定程度時(shí),會(huì)使片內(nèi)邏輯門(mén)的輸出驅(qū)動(dòng)能力下降,,從而導(dǎo)致片內(nèi)數(shù)據(jù)混亂甚至數(shù)據(jù)丟失無(wú)法恢復(fù)[3],。為了盡量避免這些情況的出現(xiàn),,除了傳統(tǒng)的上電復(fù)位(POR)[4-9]設(shè)計(jì)之外,一般需要加上掉電檢測(cè)電路,,以提高單片機(jī)系統(tǒng)的抗干擾能力和系統(tǒng)的穩(wěn)定性,。掉電檢測(cè)電路能夠檢測(cè)到系統(tǒng)供電電源電壓的異常,并在其下降至能夠威脅系統(tǒng)的數(shù)據(jù)安全之前發(fā)出警告信號(hào),,系統(tǒng)據(jù)此采取措施,,在低電壓供電異常期間,會(huì)使MCU處于復(fù)位狀態(tài),,待電源電壓恢復(fù)正常值時(shí),,單片機(jī)自動(dòng)復(fù)位后,系統(tǒng)程序重新回到正常的工作狀態(tài),。
針對(duì)上述問(wèn)題,,本文提出了一種基于180 nm CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)工藝設(shè)計(jì)的電源電壓掉電檢測(cè)電路,該電路具備電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,、容易實(shí)現(xiàn),、工作穩(wěn)定可靠、版圖面積小的優(yōu)點(diǎn),,可在幾乎不增加電路額外成本的情況下,,集成在單片機(jī)及微處理器系統(tǒng)內(nèi),減少系統(tǒng)的外圍器件,,降低系統(tǒng)成本,。
1 掉電檢測(cè)電路原理
傳統(tǒng)掉電電路檢測(cè)BOD(Brown-out Detect)原理結(jié)構(gòu)采用分壓設(shè)計(jì),由電阻串聯(lián)分壓完成[10],,如圖1所示,,電阻R1和R2組成的采樣電路對(duì)被檢測(cè)電源電壓VDD進(jìn)行采樣,產(chǎn)生Vs采樣電壓,,比較器比較采樣電壓Vs和參考電壓Vref,,如果采樣電壓Vs低于參考電壓Vref則檢出Vout輸出低電平,如圖2所示,,表征電源電壓掉落到所允許的最低規(guī)定電壓,。
通常在大規(guī)模集成電路中采用的掉電檢測(cè)電路的功耗要求在微安(μA)量級(jí),需要串聯(lián)電阻值之和達(dá)到兆歐姆(MΩ)量級(jí),,如果R1,、R2采用多晶硅電阻,,版圖的面積非常大,,不能滿足電路設(shè)計(jì)對(duì)小版圖面積的需求。本文提出一種由MOS電阻代替分壓電阻檢測(cè)電源電壓的結(jié)構(gòu),,可以在不增加功耗的前提下實(shí)現(xiàn)小版圖,,滿足面積的需求,,且檢測(cè)電壓可調(diào)節(jié)。
2 采用MOS管的掉電檢測(cè)電路
采用MOS管對(duì)傳統(tǒng)的電阻串聯(lián)分壓結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn),,改進(jìn)后的電路結(jié)構(gòu)如圖3所示,。
圖3中,采用3.3 V NMOS管N31和1.8 V NMOS管N21組成電源電壓采樣電路,,常開(kāi)的1.8 V PMOS倒比管P21和1.8 V NMOS管N22構(gòu)成的放大器對(duì)B點(diǎn)電壓信號(hào)放大輸出,。P21為倒比管,為恒定開(kāi)啟狀態(tài),,作為放大器N22的負(fù)載電阻,。
NMOS管N31、N21均處于飽和區(qū),,N31和N21晶體管的電流為[11]:
VDD為3.3 V時(shí),,VB電壓可以使輸出保持在高電平,VDD下降到2.4 V左右時(shí),,VB電壓小于 Vth1.8,,使輸出變?yōu)榈碗娖健?/p>
圖3所示的NMOS串聯(lián)分壓結(jié)構(gòu)在設(shè)計(jì)實(shí)踐中存在設(shè)計(jì)參數(shù)調(diào)節(jié)難度大和對(duì)電源過(guò)電應(yīng)力抗擊能力弱的缺點(diǎn),本節(jié)通過(guò)在3.3 V NMOS管N31下面串聯(lián)一個(gè)3.3 V倒比NMOS管N32的優(yōu)化方式,,解決參數(shù)調(diào)節(jié)和抗過(guò)電應(yīng)力問(wèn)題,,具體電路原理結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖4。
圖4中,,采用3.3 V NMOS管N31,、N32和1.8 V NMOS管N21、N22組成電源電壓采樣電路,,其中N22柵極接電平“1”,,固定開(kāi)啟,作為串聯(lián)路徑的負(fù)載電流源,,限流作用,;常開(kāi)的1.8 V PMOS倒比管P21和1.8 V NMOS管N22構(gòu)成的放大器對(duì)B點(diǎn)電壓信號(hào)放大輸出。P21為倒比管,,為恒定開(kāi)啟狀態(tài),,作為放大器N23的負(fù)載電阻;N24源漏均接地,,為NMOS電容,。
圖4中所示各個(gè)NMOS管特性描述如下:3.3 V NMOS管N31(W/L:1.5/1.2),N32(W/L:1.5/3.0),;1.8 V PMOS管P21(W/L:0.25/6.5),;1.8 V NMOS管N21(3個(gè),W/L:1.2/1.0),,N22(W/L:1.2/0.5),,N23(W/L:1.5/1.0),、N24(3個(gè),W/L:1.7/0.9),。
NMOS管N31,、N32和N21均處于飽和區(qū),N31,、N32和N21晶體管的電流為:
VDD為3.3 V時(shí),,VB電壓可以使輸出保持在高電平,VDD下降到2.4 V左右時(shí),,VB電壓小于Vth1.8,,使輸出變?yōu)榈碗娖健?/p>
根據(jù)電路的整體設(shè)計(jì)需求,并為了防止觸發(fā)電壓點(diǎn)設(shè)置過(guò)高,,導(dǎo)致電路頻繁檢出供電異常,,按照此原則,表1給出了一個(gè)掉電檢測(cè)電路的參考設(shè)計(jì)參數(shù),。
3 仿真驗(yàn)證
本文采用TSMC 180 nm CMOS工藝設(shè)計(jì)整個(gè)掉電檢測(cè)BOD電路,,待檢測(cè)電源電壓為3.3 V,圖5為整個(gè)掉電檢測(cè)BOD電路的版圖,,版圖面積僅為46.5 μm×12.4 μm,。
圖6、圖7,、圖8為不同工藝角,、不同電源電壓、不同溫度的PVT仿真圖,。圖7給出在電源電壓由0 V線性上升時(shí)的掉電檢測(cè)電路的輸出情況,,例如:在典型(TT工藝角)情況時(shí),電源電壓上升至2.26 V之前,,掉電檢測(cè)電路輸出一直保持為低電平,,表明在此期間電源電壓低于規(guī)定電壓值,而當(dāng)電源電壓上升至2.26 V之后,,直至3.3 V,,掉電檢測(cè)電路輸出一直保持為高電平,表明在此期間電源電壓高于規(guī)定電壓值,,電源電壓處在正常的供電范圍內(nèi),,系統(tǒng)能夠正常穩(wěn)定地工作。
圖8給出在電源電壓由3.3 V線性下降時(shí)的掉電檢測(cè)電路的輸出情況,,與圖7類似,。
掉電檢測(cè)電路仿真結(jié)果如表2所示。
4 測(cè)試結(jié)果與分析
本文設(shè)計(jì)的掉電檢測(cè)電路,,在一款基于ARM M系列的高性能單片機(jī)中成功實(shí)現(xiàn)應(yīng)用,,并通過(guò)該單片機(jī)電路對(duì)本文的掉電檢測(cè)電路進(jìn)行了測(cè)試,其中10只電路的測(cè)試結(jié)果如表3所示,,從表中的數(shù)據(jù)可以看出,,電路上電過(guò)程中檢測(cè)電路觸發(fā)點(diǎn)VB_th+范圍為2.151 V~2.360 V,下電過(guò)程中檢測(cè)電路觸發(fā)點(diǎn)VB_th-范圍為2.113 V~2.325 V,,能夠很好地滿足電路的設(shè)計(jì)要求,。
通過(guò)對(duì)表3的分析,同時(shí)也看出該種電路的結(jié)構(gòu)在觸發(fā)翻轉(zhuǎn)電壓點(diǎn)精度上的不足對(duì)于一些精度要求不高的應(yīng)用場(chǎng)合,,本文設(shè)計(jì)的掉電檢測(cè)保護(hù)電路,,具有電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于實(shí)現(xiàn),、版圖面積小的特點(diǎn),,可集成于單片機(jī)內(nèi)部,提高單片機(jī)的可靠性,。對(duì)于更高精度要求(幾毫伏誤差)的應(yīng)用場(chǎng)合,,一般需要用到基準(zhǔn)電壓源對(duì)電路的電壓觸發(fā)點(diǎn)進(jìn)行精準(zhǔn)的比較,但是這種電路的版圖面積比本文述的結(jié)構(gòu)要大上10倍以上,。
5 結(jié)論
本文提出了TSMC 180 nm工藝節(jié)點(diǎn)下設(shè)計(jì)的電源電壓掉電檢測(cè)電路BOD,,介紹了電路結(jié)構(gòu)的原理及其優(yōu)缺點(diǎn),分析了采用MOS管做為采樣的分壓串聯(lián)電阻,,并優(yōu)化了設(shè)計(jì)和參數(shù)配置,,仿真驗(yàn)證了設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的可行性,最后給出了該結(jié)構(gòu)的樣品電路的實(shí)測(cè)結(jié)果,。結(jié)果表明,,對(duì)于一些精度要求不高的應(yīng)用場(chǎng)合,該檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,,易于實(shí)現(xiàn),,工作穩(wěn)定可靠,版圖面積小點(diǎn),,可在幾乎不增加電路額外成本的情況下,,集成在單片機(jī)及微處理器系統(tǒng)內(nèi),實(shí)現(xiàn)對(duì)系統(tǒng)電源電壓監(jiān)測(cè),,減少系統(tǒng)的外圍器件,,降低系統(tǒng)成本。
同時(shí),,該電路也可以使用于其他需要電壓監(jiān)控和保護(hù)的場(chǎng)合,,例如充電電路的充電指示、非易失性存儲(chǔ)器,、高壓或功率集成電路等的電源保護(hù)電路等,。該電路結(jié)構(gòu)可以非常容易地遷移至其他節(jié)點(diǎn)工藝,,具備良好的工藝遷移特性和應(yīng)用廣泛性。
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作者信息:
張猛華,,薛海衛(wèi),,于宗光,,張 繼,,陳振嬌
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所,江蘇 無(wú)錫214072)