隨著示波器用戶對(duì)速度更快,、功耗更低和體積更小的存儲(chǔ)器的需求與日俱增,，雙倍數(shù)據(jù)速率（DDR）存儲(chǔ)器技術(shù)在過(guò)去五年里得到了巨大的發(fā)展。

　　DDR4 的含義是具有雙倍數(shù)據(jù)速率的第四代 SDRAM 存儲(chǔ)器,。與 DDR3 相比,，DDR4 的數(shù)據(jù)傳輸帶寬大幅增加，而且在速度,、密度和功率等方面都超越以往,。這些技術(shù)進(jìn)步推動(dòng)企業(yè)級(jí)應(yīng)用、微型服務(wù)器應(yīng)用和平板電腦應(yīng)用的性能和能效進(jìn)一步提高,，讓設(shè)計(jì)人員可以設(shè)計(jì)芯片更小,、功耗更低、散熱更少的器件,。

　　DDR4 存儲(chǔ)器的體系結(jié)構(gòu)整合了 DDR3（雙向 DQS）和類似 GDDR5 的數(shù)據(jù)總線（CRC 和數(shù)據(jù)誤碼檢測(cè)功能）兩方面的關(guān)鍵特性,。但 DDR4 信號(hào)也有一些特性與上一代 DDR 解決方案截然不同。這些關(guān)鍵差異促使新的測(cè)試方法問(wèn)世,。

　　信號(hào)完整性的問(wèn)題

　　信號(hào)完整性對(duì)于存儲(chǔ)器系統(tǒng)的可靠運(yùn)行至關(guān)重要,。測(cè)試信號(hào)完整性，首先應(yīng)從物理層開(kāi)始,，數(shù)據(jù)在這一層通過(guò)時(shí)鐘上升沿和下降沿進(jìn)行傳輸,。但是在測(cè)試 DDR4 存儲(chǔ)器的物理層時(shí)遇到了一些新的挑戰(zhàn)。

　　按照電子器件工程聯(lián)合會(huì)（JEDEC）標(biāo)準(zhǔn)的要求,，在實(shí)施電子,、時(shí)序和眼圖測(cè)試時(shí)都需要執(zhí)行輸入和輸出測(cè)量，其中包含大量測(cè)試操作以確保存儲(chǔ)器系統(tǒng)正常運(yùn)行,，不會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤,。DDR4 的速度提升還要求通過(guò)分離讀寫周期來(lái)測(cè)量 AC 時(shí)序參數(shù)。

　　存儲(chǔ)器速度的提高,，也導(dǎo)致隨機(jī)抖動(dòng)爆增,。DDR4 是第一款速度超快而必須將抖動(dòng)控制在規(guī)定范圍內(nèi)的 DRAM。過(guò)多的抖動(dòng)會(huì)減少數(shù)據(jù)有效窗口,，所以必須明確定義 DDR4 的數(shù)據(jù)有效窗口,。

　　DDR4 器件開(kāi)發(fā)人員所關(guān)注的另一個(gè)問(wèn)題是互操作性。其最終目標(biāo)是保證存儲(chǔ)器系統(tǒng)的通用功能,，同時(shí)提高效率和生產(chǎn)力,。唯有清晰地了解 DDR4 規(guī)范的測(cè)試要求（例如,，存儲(chǔ)器時(shí)序、眼圖測(cè)量和抖動(dòng)）和測(cè)試過(guò)程（例如,，正確的探測(cè)和仿真協(xié)議）,，您才能恢復(fù)裕量，縮短芯片/系統(tǒng)的設(shè)計(jì)周期,、降低成本并加快產(chǎn)品上市速度,。最終目標(biāo)是保證存儲(chǔ)器系統(tǒng)具備通用功能，且達(dá)到更高能效和生產(chǎn)效率,。

　　什么是抖動(dòng),？

　　抖動(dòng)是指信號(hào)的時(shí)序事件偏離其理想位置的現(xiàn)象。

　　DDR4測(cè)試要求

　　前幾代 DDR 存儲(chǔ)器的時(shí)序規(guī)范基于多種風(fēng)險(xiǎn)假設(shè),，其中最大的假設(shè)是,，只要數(shù)據(jù)設(shè)置和保持時(shí)間符合規(guī)范，就可以實(shí)現(xiàn)完美的數(shù)據(jù)捕獲,。DDR2 和 DDR3 的數(shù)據(jù)速率較慢且裕量較大,，其規(guī)范假設(shè)隨機(jī)抖動(dòng)可忽略不計(jì)且比特誤碼率（BER）為零。當(dāng)然,，它實(shí)際上并不為零,。對(duì)于時(shí)鐘抖動(dòng)，測(cè)量 10,000 個(gè)周期的時(shí)鐘周期,，其誤碼率將為 1e-4,，因而可以認(rèn)為它足夠接近零。DDR2 和 DDR3 較低的數(shù)據(jù)傳輸速度使得這些假設(shè)可以成立,，因?yàn)樵谙到y(tǒng)發(fā)現(xiàn)不合格結(jié)果之前存在足夠的裕量,。

　　DDR4 的數(shù)據(jù)速率更快，這會(huì)降低裕量,，隨機(jī)抖動(dòng)可能會(huì)快速關(guān)閉數(shù)據(jù)眼圖,，這意味著誤碼率會(huì)增加,。如果不加以控制,，有可能會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的系統(tǒng)可靠性問(wèn)題、延長(zhǎng)設(shè)計(jì)時(shí)間,、減緩產(chǎn)品上市時(shí)間并增加設(shè)計(jì)周期的成本,。然而，DDR4 測(cè)試要求可以正面地解決這些問(wèn)題,，保障可靠性并降低成本,。

　　將捕獲的波形數(shù)據(jù)顯示為實(shí)時(shí)眼圖（RTE），可以深入了解串行數(shù)據(jù)信號(hào)中的抖動(dòng),。眼圖基本上是數(shù)字化比特的疊加,，顯示比特何時(shí)有效（高或低）,。它提供了描述系統(tǒng)物理層特征質(zhì)量的合成圖像，并使峰峰值邊緣抖動(dòng)和噪聲得以具體顯示,。

　　實(shí)時(shí)眼圖測(cè)試執(zhí)行眼高和眼寬測(cè)量,，檢查信號(hào)完整性并預(yù)估數(shù)據(jù)有效窗口。然而,，僅測(cè)量數(shù)據(jù)眼圖并不能完全了解數(shù)據(jù)有效窗口或預(yù)估比特誤碼率,。目前，DDR4 規(guī)范的信號(hào)完整性測(cè)量的是最差情況下的時(shí)間裕度（tDIVW）和電壓（vDIVW）,。

　　眼圖模板測(cè)試是最重要的物理層測(cè)量之一,，可用于測(cè)試總體信號(hào)完整性。從總體抖動(dòng)可以推導(dǎo)出與眼圖模板相關(guān)的最小時(shí)間和最小電壓的裕量,。如果定義的 BER 很大（或者如果存在少量數(shù)據(jù)）,，就可以直接執(zhí)行測(cè)量。如果測(cè)試的 BER 很小,，那么測(cè)量數(shù)萬(wàn)億個(gè)單位間隔（UI）就會(huì)花費(fèi)太多時(shí)間,。

　　眼圖模板測(cè)試可確保數(shù)據(jù)眼圖不會(huì)超過(guò)可能發(fā)生抖動(dòng)（和誤碼）的模板邊界。除此之外,，它可以通過(guò) tDIVW 測(cè)量結(jié)果（圖 1）報(bào)告最小裕量（模板四個(gè)角的四個(gè)時(shí)序點(diǎn)）,。

　　圖 1. 眼圖模板測(cè)試可以確保信號(hào)不會(huì)超過(guò)模板邊界（在邊界上可能發(fā)生抖動(dòng)和誤碼）。

　　眼圖測(cè)試

　　–可以測(cè)量數(shù)據(jù)眼高和眼寬

　　–用戶還可以根據(jù)器件規(guī)范定義自己的眼圖模板

　　–如果眼圖不符合模板,，那么一致性應(yīng)用軟件可以報(bào)告不合格狀態(tài)

　　DDR4 規(guī)范考慮了抖動(dòng)和 BER 的關(guān)鍵作用,。計(jì)算抖動(dòng) BER 測(cè)量結(jié)果很重要，它可以統(tǒng)計(jì)測(cè)量總體抖動(dòng)（確定性抖動(dòng)+隨機(jī)抖動(dòng)）,，了解設(shè)計(jì)的數(shù)據(jù)有效窗口結(jié)果和可能出現(xiàn)錯(cuò)誤的概率,。

　　除了規(guī)范測(cè)試，采用正確的測(cè)試過(guò)程和方法也是至關(guān)重要的,。例如,，示波器探頭的正確放置會(huì)影響一致性測(cè)試結(jié)果以及設(shè)計(jì)裕量的準(zhǔn)確表征和測(cè)試。對(duì)于 JEDEC 規(guī)范,，最佳探測(cè)點(diǎn)位于 DRAM 封裝的球上（不在傳輸線或通道上,，也不在存儲(chǔ)器控制器上）。

　　仿真是測(cè)試過(guò)程中的另一個(gè)重要卻經(jīng)常被忽略的步驟,。隨著總線速度的提高以及獲得盡量多裕量的需求,，仿真過(guò)程可以很大程度地幫助減少設(shè)計(jì)周期和成本。

　　例如,，仿真有助于確保系統(tǒng)能夠容忍內(nèi)插器的負(fù)載效應(yīng),。這一步驟評(píng)測(cè)所測(cè)量的帶寬/頻率響應(yīng)，確保內(nèi)插器不會(huì)斷開(kāi)總線。

　　最后,，是德科技與 JEDEC 組織密切合作,，以確保其測(cè)試和測(cè)量解決方案與 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試和測(cè)量規(guī)范保持高度一致。

　　圖 2. 然后將具有適當(dāng)負(fù)載效應(yīng)的仿真設(shè)計(jì)與原型的實(shí)際掃描結(jié)果進(jìn)行比較,，確定系統(tǒng)正常運(yùn)行,。

　　技術(shù)洞察：計(jì)算總體抖動(dòng)

　　確定性抖動(dòng)（DJ）通常是有界而可預(yù)測(cè)的，可以與數(shù)據(jù)流相關(guān)聯(lián),，例如符號(hào)間干擾和占空比失真,。隨機(jī)抖動(dòng)（RJ）屬于高斯分布并且是無(wú)界的。與任何高斯分布一樣,，隨著總量的增加,，分布的峰-峰值也會(huì)增加。因此,，總體抖動(dòng)（TJ）等于確定性抖動(dòng) DJ 加上隨機(jī)抖動(dòng) RJ 與 BER 的乘積,。了解抖動(dòng)的組成和來(lái)源可以幫助設(shè)計(jì)人員降低設(shè)計(jì)中抖動(dòng)的發(fā)生率，確保更好的數(shù)據(jù)性能,。

　　物理層 DDR4 測(cè)試的解決方案

　　準(zhǔn)確執(zhí)行測(cè)試的三個(gè)步驟：

　　選擇合適的探頭并把它置于正確的位置

　　選擇能夠執(zhí)行適當(dāng)應(yīng)用分析的示波器

　　使用符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)一致性測(cè)試應(yīng)用程序

　　1. 選擇合適的探頭并把它置于正確的位置

　　對(duì)于采用 DDR4 存儲(chǔ)器的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)設(shè)計(jì),，有幾種探測(cè)方法可以訪問(wèn)用于測(cè)試的存儲(chǔ)器系統(tǒng)。第一種探測(cè)方法適用于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)有內(nèi)存插槽/連接器,，可以插入DIMM 或 SODIMM 的場(chǎng)景,。對(duì)于此類配置，訪問(wèn)信號(hào)的最簡(jiǎn)單方法是使用插槽內(nèi)插器（圖 3）,。

　　圖 3. SODIMM 插槽內(nèi)插器

　　插槽內(nèi)插器將所有命令信號(hào)路由到電纜,，該電纜能夠代替 MSO 電纜而直接連接到混合信號(hào)示波器（MSO）的輸入端。訪問(wèn)數(shù)據(jù)選通信號(hào)（DQS）和輸出數(shù)據(jù)（DQ）時(shí),，探頭前端可以焊接到插槽內(nèi)插器上并連接到模擬通道（圖 4）,。這樣就可以查看 SODIMM 的 16 個(gè)數(shù)字通道以及通過(guò)模擬通道傳輸?shù)?DQS 和 DQ 信號(hào)。

　　圖 4. 使用焊入式探頭前端可以訪問(wèn)路由到示波器模擬通道的 DQS 和 DQ 信號(hào),。在本例中,，我們使用的探頭前端是 E2677A。

　　另一種選擇是 DDR4 BGA 探測(cè),，它適用于測(cè)試嵌入式系統(tǒng)（或 DIMM 配置）,。對(duì) DDR4 而言，BGA 內(nèi)插器的設(shè)計(jì)目的是提供訪問(wèn)所有信號(hào)的途徑,，以便在表征所有信號(hào)（數(shù)據(jù),、地址、控制,、命令、選通和時(shí)鐘）時(shí)實(shí)現(xiàn)最大的靈活性。使用這種探測(cè)方法時(shí),，需要將 BGA 內(nèi)插器焊接在 DRAM 和電路板之間,。連接示波器的焊點(diǎn)位于 BGA 頂部（圖 5）。

　　圖 5. Keysight DDR BGA 內(nèi)插器,。通過(guò)內(nèi)插器周圍的示波器焊點(diǎn)訪問(wèn)信號(hào),。

　　如果空間特別狹小（特別是在 DIMM 配置中）,，可能需要轉(zhuǎn)接器將內(nèi)插器從電路板上架高,，這樣它就不會(huì)干擾任何相鄰的元器件（圖 6）。在這種情況下,，轉(zhuǎn)接器將焊接在內(nèi)插器的底部,。

　　圖 6. DDR BGA 內(nèi)插器配有一個(gè)轉(zhuǎn)接器，用于在表面積較小的區(qū)域內(nèi)架高內(nèi)插器,。

　　定制內(nèi)插器

　　如果您需要一款內(nèi)插器,，而我們現(xiàn)有的設(shè)計(jì)無(wú)法滿足您的需求，那么我們的設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)能夠與您合作創(chuàng)建定制解決方案,。請(qǐng)與是德科技合作以啟動(dòng)這一流程,，或訪問(wèn)：www.keysight.com/find/contactus。

　　2. 選擇能夠執(zhí)行適當(dāng)應(yīng)用分析的示波器

　　確定探測(cè)協(xié)議之后,，下一個(gè)關(guān)鍵的考慮因素是選擇測(cè)試設(shè)備,。盡管存儲(chǔ)器技術(shù)的 BER 規(guī)范才剛制定，但這種測(cè)試已然成熟運(yùn)用于高速設(shè)計(jì),，并得到相應(yīng)測(cè)量工具（如示波器）的支持,。使用具有先進(jìn)測(cè)量分析功能的示波器非常重要，這些功能包括去嵌入,、實(shí)時(shí)眼圖測(cè)量,、混合模擬和數(shù)字信號(hào)；以及交叉參照仿真設(shè)計(jì)等,。

　　MSO 示波器是一種能夠同時(shí)顯示和分析數(shù)字和模擬信號(hào)的儀器,。MSO 的一個(gè)優(yōu)勢(shì)是能夠分離讀寫數(shù)據(jù)。用戶可以將命令總線,、行地址選通（RAS）,、列地址選通（CAS）、寫入激活（WE）,、片選（CS）和時(shí)鐘信號(hào)連接到數(shù)字通道,，使示波器根據(jù)這些信號(hào)中的任意信號(hào)或信號(hào)組合觸發(fā)讀命令或?qū)懨睢Ｋ梢苑蛛x相應(yīng)的數(shù)據(jù)并執(zhí)行電子和時(shí)序測(cè)試,。MSO 還允許測(cè)試人員查看命令協(xié)議的流程,，檢測(cè)協(xié)議是否違規(guī),。

　　選擇示波器時(shí)，必須要了解它與其他設(shè)計(jì)和測(cè)試工具如何整合,。是德科技利用其作為世界知名電子測(cè)量公司的獨(dú)特地位,，精心構(gòu)建先進(jìn)的 EDA（軟件仿真）工具和示波器。當(dāng)在 DDR4 設(shè)計(jì)的最后階段運(yùn)行傳統(tǒng)的電子和時(shí)序規(guī)范時(shí),，是德科技的工具套件提供了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),，能夠?qū)蜻x版本中的仿真波形和物理原型的波形測(cè)量結(jié)果執(zhí)行完全相同的一致性測(cè)試。換句話說(shuō),，仿真波形可以導(dǎo)入示波器中,，與從物理原型獲得的波形進(jìn)行比較。

　　仿真過(guò)程可以顯著減少設(shè)計(jì)的迭代次數(shù)和成本,。每次執(zhí)行探測(cè)時(shí),，都會(huì)給系統(tǒng)增加額外負(fù)載。仿真該負(fù)載可確保內(nèi)插器不會(huì)破壞總線或產(chǎn)生任何未知負(fù)載,。Keysight W2351 DDR4 一致性測(cè)試臺(tái)可用于仿真負(fù)載效應(yīng)并生成去嵌入文件,，從而消除探測(cè)效應(yīng)并使用示波器進(jìn)行測(cè)量（關(guān)于去嵌入的詳細(xì)信息，請(qǐng)參閱下一頁(yè)的步驟 3）,，這樣就可以真實(shí)地將您仿真的設(shè)計(jì)與原型進(jìn)行比較,。

　　Keysight Infiniium V 系列示波器

　　Keysight Infiniium V 系列示波器針對(duì)高速 DDR 存儲(chǔ)器測(cè)量進(jìn)行了優(yōu)化。V 系列提供業(yè)界較低的本底噪聲和抖動(dòng)測(cè)量本底以及較高的有效位數(shù)（ENOB）,，因而成為發(fā)射機(jī)信號(hào)完整性測(cè)量的理想工具,。提供從 8 GHz 至 33 GHz 的各種型號(hào)，并可升級(jí)其帶寬以滿足您未來(lái)的需求,。它與 InfiniiMax III 和 III+ 探測(cè)系統(tǒng)結(jié)合使用,，可以提供更精確的測(cè)量，滿足更苛刻的設(shè)計(jì)裕量要求,。另外,，它還提供 16 個(gè)數(shù)字通道，時(shí)間分辨率高達(dá) 50 ps,。此外,，借助是德科技先進(jìn)設(shè)計(jì)系統(tǒng)（ADS）和 DDR4 軟件，您可以直接將仿真結(jié)果與示波器軟件測(cè)得的實(shí)際特征相關(guān)聯(lián),。

　　需要詢問(wèn)示波器供應(yīng)商的問(wèn)題：

　　我可以交叉觸發(fā)和測(cè)量數(shù)字和模擬通道嗎,？

　　示波器是否具有去嵌入功能？

　　它是否具有實(shí)時(shí)眼圖測(cè)量功能,？

　　我可以將它交叉引用到我的仿真設(shè)計(jì)中嗎,？

　　3.使用符合 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)一致性測(cè)試應(yīng)用程序

　　測(cè)試解決方案的最后一個(gè)組成部分是示波器軟件。利用 DDR4 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件（例如Keysight N6462A DDR4 電氣一致性測(cè)試軟件）,，您可以使用日常用于調(diào)試的示波器,，按照 JEDEC 規(guī)范執(zhí)行自動(dòng)存儲(chǔ)器測(cè)試和裕量分析,。每次測(cè)試時(shí)，該應(yīng)用軟件都會(huì)自動(dòng)配置示波器,，使其可以提供有效結(jié)果,。它還包括裕量分析,，指示您的器件距離各項(xiàng)規(guī)范的合格標(biāo)準(zhǔn)有多遠(yuǎn),。

　　一致性應(yīng)用軟件還應(yīng)具有某種“自定義”模式，可以涵蓋包括眼圖分析,、模板測(cè)試和振鈴在內(nèi)的關(guān)鍵測(cè)量,。這些測(cè)量對(duì)表征 DDR4 器件至關(guān)重要。

　　Keysight DDR4 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件可測(cè)試 JEDEC SDRAM 規(guī)范中規(guī)定的時(shí)鐘,、電氣和時(shí)序參數(shù),。該應(yīng)用軟件可以幫助您使用 Keysight Infiniium 示波器測(cè)試所有 DDR4 和 LPDDR4（低功耗）器件的一致性。

　　是德科技的應(yīng)用軟件還可以提供詳細(xì)的報(bào)告,，包括用屏幕快照顯示的最差情況值,，以及根據(jù)規(guī)范確定的測(cè)量結(jié)果的合格/不合格狀態(tài)。它還可以計(jì)算距離規(guī)范合格線的裕量,。用戶可以增加運(yùn)行次數(shù),，收集更多數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。統(tǒng)計(jì)報(bào)告將顯示測(cè)試的最小值,、最大值和標(biāo)準(zhǔn)差,。這些數(shù)據(jù)在比較 DRAM 供應(yīng)商或不同客戶的測(cè)試結(jié)果時(shí)特別有用。

　　Keysight DDR4 電氣一致性測(cè)試軟件報(bào)告包括：

　　1.利用屏幕快照顯示的最差情況值

　　2.合格/不合格狀態(tài)以及距離該標(biāo)準(zhǔn)的裕量

　　3.多次試運(yùn)行結(jié)果

　　4.包括最小值,、最大值和標(biāo)準(zhǔn)差的統(tǒng)計(jì)報(bào)告

　　技術(shù)洞察：InfiniiSim

　　Keysight InfiniiSim 波形轉(zhuǎn)換工具套件提供更靈活,、更準(zhǔn)確的方法，來(lái)顯示數(shù)字串行數(shù)據(jù)鏈路中任意處的波形,。高度可配置的系統(tǒng)建模能夠簡(jiǎn)單快速地幫你消除多余通道元素的有害影響,，仿真插入了通道模型的波形，查看物理上無(wú)法探測(cè)位置的波形,，補(bǔ)償探頭和其他電路元件的負(fù)載效應(yīng),。最終目標(biāo)是在根據(jù)規(guī)范進(jìn)行測(cè)試或執(zhí)行表征工作時(shí)獲得更多裕量。

　　Keysight DDR4 電氣一致性測(cè)試軟件的優(yōu)勢(shì)：

　　是德科技積極參與 JEDEC 組織的各項(xiàng)工作 — 在 DDR4/LPDDR4 BER 測(cè)試方法上做出了關(guān)鍵貢獻(xiàn)

　　比競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手更多的測(cè)試覆蓋率

　　DDR4 一致性測(cè)試解決方案的一站式商店（軟件+ BGA 內(nèi)插器）

　　通過(guò) W2351 一致性測(cè)試臺(tái)軟件交叉引用并仿真運(yùn)行

　　Infiniisim 波形轉(zhuǎn)換工具套件

　　總結(jié)

　　DDR4 的速度要求以新的方式定義和測(cè)量關(guān)鍵的 AC 時(shí)序參數(shù)（例如數(shù)據(jù)輸入有效窗口的時(shí)序和電壓）,。示波器配備的探測(cè)分析工具與自動(dòng)一致性測(cè)試相結(jié)合,，可以確保測(cè)試結(jié)果的可重復(fù)性和可靠性。

　　設(shè)計(jì)人員若想縮短學(xué)習(xí)時(shí)間,，盡快掌握新一代測(cè)試與測(cè)量協(xié)議的知識(shí),，那么最好考慮與積極參與 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)工作的測(cè)試工具廠商合作。通過(guò)密切的協(xié)作和溝通,，設(shè)計(jì)人員可以找到更新,、更好的一致性測(cè)試解決方案,。這對(duì)于新發(fā)布的技術(shù)尤其重要，因?yàn)槠湟?guī)范和測(cè)量方法仍然處于討論過(guò)程中,。

　　Keysight DDR4 眼圖輪廓測(cè)試方法目前得到 JEDEC 的采納,，用于 DDR4 標(biāo)準(zhǔn)化工作。是德科技還是一家在 DDR 芯片開(kāi)發(fā)所有階段均提供硬件和軟件解決方案的測(cè)試與測(cè)量公司,。從仿真到調(diào)試,，從驗(yàn)證到一致性測(cè)試，是德科技的解決方案都發(fā)揮了重要作用,。

　　任何從 DDR 存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)的技術(shù)人員都面臨著在不斷縮小的封裝中實(shí)現(xiàn)更快存取速度和更低功耗的持續(xù)壓力,。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段盡早洞察您的設(shè)計(jì)，可以快速采取糾正措施,，確保您的產(chǎn)品達(dá)到質(zhì)量,、互操作性和上市時(shí)間等目標(biāo)。成功的設(shè)計(jì)取決于效率以及縮短設(shè)計(jì)周期,，控制設(shè)計(jì)成本,。幸運(yùn)的是，今天有許多工具可以幫助您實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),。