文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.200480
中文引用格式: 王昊,,顧邦興,陳國彬,,等. 基于金剛石NV色心的微波近場矢量測量技術(shù)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,,2020,46(12):5-8,,13.
英文引用格式: Wang Hao,,Gu Bangxing,Chen Guobin,,et al. Microwave near field vector measurement method based on nitrogen-vacancy center ensembles in diamond[J]. Application of Electronic Technique,,2020,46(12):5-8,,13.
0 引言
近年來,,隨著軍用航空航天、5G技術(shù),、衛(wèi)星通信,、醫(yī)學(xué)檢測、汽車電子等應(yīng)用領(lǐng)域的蓬勃發(fā)展,,微波毫米波技術(shù)因其頻譜寬,、可靠性高、方向性好,、波長短等優(yōu)點(diǎn)受到人們的青睞,,微波毫米波器件的產(chǎn)生也推動(dòng)了半導(dǎo)體市場快速增長。現(xiàn)如今,,芯片等高集成度電路的工作頻率越來越高,,最小線寬不斷縮小,制造工藝,、加工精度也不斷地提升,,整個(gè)系統(tǒng)逐漸小型化、微型化,。芯片測試作為芯片設(shè)計(jì)生產(chǎn)過程的最后一個(gè)環(huán)節(jié),,為保證芯片的功能正常性與性能指標(biāo)的準(zhǔn)確性,起著非常重要的作用,,但是芯片測試與失效分析技術(shù)發(fā)展的速度遠(yuǎn)趕不上芯片設(shè)計(jì)與制造工藝發(fā)展的速度,。傳統(tǒng)的芯片微波近場測量一般利用金屬開放式波導(dǎo),由于金屬探頭會(huì)對(duì)待測微波磁場產(chǎn)生干擾,,且探頭本身尺寸相較于芯片的微米級(jí)布線來說較大,,難以進(jìn)入器件內(nèi)部,故無法滿足高分辨率,、非破壞性的矢量微波近場測試要求,,因此開發(fā)一種全新的芯片表面微波磁場矢量測量技術(shù)至關(guān)重要。
氮空位(Nitrogen-Vacancy,,NV)色心是金剛石中由替換碳原子的氮原子與其相鄰空位構(gòu)成的一種具有熒光特性的缺陷,。NV色心在空間中具有矢量敏感特性,沿著NV軸方向的靜磁場與垂直于NV軸平面的極化電磁場都會(huì)影響NV色心的熒光特性。根據(jù)金剛石的正四面體原子結(jié)構(gòu)可知,,具有多個(gè)NV色心的金剛石顆粒中共有4種不同固定方向的NV色心,,因此可以進(jìn)行靜磁場以及微波場的矢量測量[1]。
基于金剛石NV色心的光學(xué)性質(zhì)和矢量敏感特性[2],,利用末端粘有金剛石NV色心的錐形光纖探頭作為傳感器,,研究了一種微波器件表面的微波近場矢量測量技術(shù)。該技術(shù)采用全光學(xué)的方法,,不會(huì)對(duì)待測器件表面的電磁場產(chǎn)生干擾,,屬于非破壞性測量,且金剛石顆粒尺寸可以達(dá)到亞微米甚至納米級(jí)別,,能夠無障礙進(jìn)入器件內(nèi)部,,物理接近待測近場,空間分辨率得到顯著提高,。除此之外,,由于使用量子標(biāo)定的手段,理論上可以做到完全的磁場或者電場敏感,,工作頻率在DC-100 GHz之間,,可用于微帶天線、微波集成電路(Monolithic Microwave Integrated Circuit,,MMIC)芯片等微波器件的表征以及失效分析工作,。
本文介紹了3 μm金剛石探頭的制作流程和光學(xué)系統(tǒng)的搭建,詳細(xì)闡述了器件表面微波磁場矢量測量的原理和過程,,并在不同的微波頻率作用下,,分別對(duì)諧振頻率為2.87 GHz的微帶天線進(jìn)行近場矢量成像,驗(yàn)證了該技術(shù)的有效性與可操作性,。
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作者信息:
王 昊1,,顧邦興1,,陳國彬1,,2,杜關(guān)祥1
(1.南京郵電大學(xué) 通信與信息工程學(xué)院,,江蘇 南京210003,;2.宿遷學(xué)院 機(jī)電工程學(xué)院,江蘇 宿遷223800)