《電子技術(shù)應(yīng)用》
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IC 流片前的Check List

2021-02-28
來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察
關(guān)鍵詞: 流片 IC Checklist

     作者韓雁:浙江大學微納電子學院教授,,工學博士,、博導(dǎo),。歷任教研室主任,、研究所副所長,,信電系副主任,、杭州國家高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)管委會副主任兼濱江區(qū)副區(qū)長(掛職),。中國半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會IC分會理事,、中國電源學會理事、浙江省電源學會常務(wù)理事、浙江省電子學會理事,。從事微電子學科及集成電路設(shè)計,、功率器件設(shè)計方向的教學科研工作,承擔過國家863 IC設(shè)計重大專項,、國家科技重大專項(核高基),、國家自然科學基金面上項目、教育部博士點基金,、工信部電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展基金項目,、浙江省重大科技專項、浙江省自然科學基金,、海外合作項目,、重大橫向課題、企業(yè)委托項目在內(nèi)的60余項科研項目,。出版論著八部,,譯著兩部。發(fā)表論文145篇(包括國際微電子學領(lǐng)域頂級期刊JSSC),,獲授權(quán)發(fā)明專利135項(含美日專利3項),。

  摘要:在流片之前,需要對芯片的布局,,走線,,驅(qū)動/負載,IO 以及設(shè)計規(guī)則進行檢查,?;诙嗄甑牧髌?jīng)驗,對其每一部分需要檢查的內(nèi)容歸納如下,。

  1. 布局檢查

  1) 版圖布局前考慮好引出 pin 的方向和位置,,盡量讓時鐘 pin 遠離模擬信號 pin;2) 將不同電位的 n 阱分開,,混合信號電路尤其注意這點;3) 添加 dummy 電阻以提高電阻的匹配度,,dummy 電阻的兩端要接地,;4) 對于差分對等匹配要求較高的電路需要注意版圖的對稱性,利用叉指,、dummy 等結(jié)構(gòu)提高版圖對稱性,;5) 版圖中每個模塊中 MOS 管的柵的走向盡量一致,不應(yīng)有橫有豎,;6) 數(shù)字標準單元中有 Tap Cell 的,,檢查是否需要連接電源或地;7) 數(shù)字標準單元中有 Tie High、Tie Low Cell 的,,檢查是否漏接到電源或地,;8) 在數(shù)字、模擬 IO 環(huán)上添加相對應(yīng)的 Pad Filler,,在數(shù)字core 中添加 Core Filler,,然后導(dǎo)出 gds 文件;9) 雙叉指結(jié)構(gòu)的 ESD 防護器件的 source 放兩邊,,drain 放中間,,這樣有利于 ESD 電流的均勻?qū)ǎ?0) 對于多目標流片,die 的排列上要預(yù)留至少 80?m(具體要咨詢封裝廠)的劃片槽間距,。盡量在橫豎兩個方向上劃片能一刀到底(即盡量不要交錯排布芯片),;11) 針對 MPW 流片,設(shè)定芯片面積時應(yīng)將總面積控制在略小于規(guī)定尺寸,,單個芯片的形狀最好是長方形,,便于 MPW 版圖的拼接。

  2. 走線檢查

  1) 金屬連線不宜過長,,如果不得已需要長連線可以在中間添加 buffer 提高驅(qū)動能力,;2) 長連線的線寬不宜太窄;

  3) 管子的溝道上盡量不要走金屬連線,;

  4) 繪制版圖時連線接頭處一定要畫到重疊,,以避免肉眼難辨的開路發(fā)生;5) 數(shù)字電路的走線不要經(jīng)過模擬電路的器件,,否則容易引入強干擾,,影響模擬電路正常工作。反之模擬電路走線也不要經(jīng)過數(shù)字電路,;6) 數(shù)?;旌闲盘栯娐分心M電路的外圍最好加入 Guard Ring,必要時需要用單獨的管腳為隔離環(huán)接地或接電源電壓,;7) 對高壓電路而言,,為避免尖端放電,拐角處用 135 度角,,不要走90 度角甚至銳角,;8) 芯片內(nèi)部的電源線、地線和 ESD 上的電源線,、地線分開接,;數(shù)模信號的電源線要分開、地線也要分開,;9) 重要的高頻信號線,,必須要考慮隔離。一般用同層次的金屬地線,在兩側(cè)進行地線隔離,。高頻的時鐘線,,也要用地線進行隔離,防止其干擾到其它信號,。時鐘線最好與電源,、地線平行走線,盡量減少交叉,,防止通過交叉形成的寄生電容耦合到電源,、地上。高頻線路的性能實現(xiàn),,很大程度上取決于版圖的設(shè)計,。

  3. 驅(qū)動/負載檢查

  1) 要對金屬線的電流負載能力進行檢查;

  2) 在面積允許的情況下,,via 和 contact 打得越多越好,,尤其是 input/output 部分;3) 檢查模擬輸出管腳的驅(qū)動能力是否足夠,??砂?pad 的等效電容作為負載,觀察驅(qū)動能力是否足夠,;4) 與 IO 直接相連的輸出管要保證 Drain 的 contact 到 Poly 有足夠的距離,,大于等于 1.5um(不同工藝下這個值會有不同)為宜,或者加上SAB 層,,這樣有利于電流的均勻性,,可以保證足夠的ESD 可靠性;5) 在電流較大(100mA)時,,與 IO 直接相連的輸入,、輸出管的PMOS 和NMOS 版圖之間的距離至少為 30um,以防止閂鎖,。

  4. IO 檢查

  1) 不要將輸入弱信號和強信號的模擬 IO 放置在一起,,這樣弱信號會受到強信號的干擾;2) 數(shù)?;旌想娐芬褦?shù)字 IO power ring 和模擬 IO power ring 分 開供電,;3) 檢查 IO 上的 IO power ring 是否正確接到電源和地上;4) 對于直接連接到 I/O 的 CMOS 對管,,不論作為輸入還是輸出,NMOS 和 PMOS 之間的間距(有源區(qū))都要顯著增大,。比如對于連接 CORE 內(nèi)工作電壓電平的 I/O,,該間距要大于 2 um(40 nm 工藝);對于連接到高于 CORE 內(nèi)工作電壓電平的 I/O,該間距要更大(比如大于 3.2 um),;5) 從自動布局布線軟件(如 Astro 或者 ICC)導(dǎo)出的帶 IO 的 GDS 文件,,在導(dǎo)入 Virtuso 做 DRC 前,要將版圖中的 IO 替換為 Foundry 提供的完整的 IO gds文件導(dǎo)出來的 IO 庫單元中的 IO(包括 Pad Filler),,防止出現(xiàn)額外的層次,,如 HTNWL;6) 注意芯片封裝一般是逆時鐘排布,,芯片IO 的排列順序要跟封裝管腳一致,;7) 芯片 IO PAD 的布局不要上、下,、左,、右對稱,以便在封裝的時候利于機器識別(機器只識別 PAD布圖,,不識別 CORE里面的信息),,以免造成因識別不出而帶來的封裝錯誤。

  5. 設(shè)計規(guī)則檢查

  1) 電容的長寬不宜相差過大,,以保證上下極板的電場均勻分布,;2) 版圖中的空位盡量添加接地孔,避免閂鎖效應(yīng),;3) 對于連接到柵上的面積很大的金屬要注意天線效應(yīng),,必要時進行跳線,最終流片前需要做天線效應(yīng)檢查,;4) 數(shù)字電路的功能仿真,、布局布線后的仿真、時序仿真都要帶 IO 進行并獲得通過,;5) 在SMIC流片時,,工藝文件不能用PDK中自帶的,必須到Technology file 目錄下下載最新的,;6) 版圖繪制前,,要到 Foundry(如 SMIC)網(wǎng)站查看有沒有最新的 DRC, LVS 檢查文件,,如果有,,應(yīng)立即采用新的 DRC,LVS 文件(65nm 后要做 DFM 檢查),;7) 數(shù)模整合后,,要將導(dǎo)出的 gds 文件再導(dǎo)回 Virtuso,檢查各個版圖層次防止層次丟失,,并做 DRC,、LVS 檢查,;8) 數(shù)字標準單元或者其它第三方 IP 如果出現(xiàn) DRC 違反,應(yīng)及時與 IP提供方聯(lián)系溝通,,確保 IP 庫功能正確,,并能通過最新的 DRC 檢查;9) 每塊芯片均要做 LOGO,。建議 LOGO 組成:芯片名稱_流片日期,。如 ADC_080618;在完成了以上檢查之后,,要對設(shè)計數(shù)據(jù)進行備份,,避免數(shù)據(jù)丟失造成損失。下面以 SMIC 0.18um MPW(Multi Project Wafer)工藝 的流片為例,,對流片填寫表格的注意事項進行說明,。

  例:SMIC 0.18 MPW 流片須知

  1) PTO(Pre-tape Out)和 FSR(Foundry Service Request)必須在 smic now 網(wǎng)站給出的流片時間(dead line 1)之前提交,其他文 件可以延后一周時間(dead line 2)提交,。PTO 一旦提交后即鎖定,, 無法自行修改。如需修改,,可以聯(lián)系 CE,;2) Gate-OX Layers: Dual Gate 表示有兩種厚度的柵 1.8/3.3V;3) 數(shù)字 IO 中會用到 dif 電阻,,需添加到 FSR 表格中,;4) Polymide 是指在芯片的最頂層做 polymide,起輻射保護作用,,普通芯片不需要,;5) Seal Ring 位于每塊芯片最外面(IO 之外),介于芯片與劃片槽之間起保護作用,。如果選擇讓 SMIC 來加 Seal Ring,,只能在每個 MPW 芯片的最外面加,不能在 MPW 芯片內(nèi)的每個 IP 之間加,;6) Wafer Type:外延型 wafer 和非外延型 wafer,。外延型主要用于大功率芯片,我們普通芯片選擇 Prime Wafer,;7) Back Grinding Thickness 背面研磨厚度,,主要依據(jù)封裝廠對裸片厚度的要求來選擇;8) Smic 在 wafer 上直接完成切割,,所以每一刀都會切到底,;9) FSR 提交之后,Sales 會發(fā)送 quotation(報價單),,需按照 quotation 填好PO(訂單),,在Dead line 2 之前簽字蓋章發(fā)回給Sales,, 注意 PO 中 Order items 一欄,要填寫 MPW,,并包含面積,所需的 die 數(shù)量等信息,;10) LDDI(Layout Design Database Information)表格根據(jù) FSR 生成,。

  錯誤主要分兩種

  (1),。在 LDDI 中有的層次,,在 GDS 中沒有找到;(2),。在 GDS 中有的層次,,在 LDDI 中沒有找到。

  第(1)種錯誤:確定版圖中是否需要該層,,如確實不需要,,可以將 layer number 改為 N/A第(2)種錯誤:首先檢查 FSR 表格是否有誤。確定 FSR 無誤后,,可以在 LDDI 中添加這些層次,。層次名稱及編號可以在。tf 或,。map 文件中查找,。

  以上經(jīng)驗總結(jié),供中國芯從業(yè)者參考,。

  浙大微電子

  ICLAB 實驗室

  韓雁

2019年7月

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