干涉儀廣泛應用于各種高空間分辨率成像技術,，以擴大衍射極限。然而,，傳統(tǒng)的干涉測量方法,，只有在光子具有相同波長時才有效。

　　中國科學院中國科學技術大學（USTC）的研究人員,，用周期性極化鈮酸鋰波導（PPLN）搭建了一個彩色強度干涉儀,，成功測量了兩個距離非常接近但波長不同的激光源。這項研究發(fā)表在《物理評論快報》（Physical Review Letters）上,。

　　2016年,，諾貝爾獎獲得者Frank Wilczek和他的同事們在理論上提出，通過引入一種基于頻率轉換為強度干涉儀的顏色擦除探測器,，不同波長的光子可以進入探測器干涉并提取相位信息,。這種新技術被命名為色強度干涉測量法（chromatic intensity interferometry）。

　　隨后,，潘建偉教授團隊利用濟南量子技術研究所研制的PPLN波導,，構建了單光子探測器。在此基礎上,，他們在實驗室中演示了強度干涉技術,。

　　為了驗證色強干涉術的高空間分辨率成像,，研究人員進行了一系列的野外實驗。他們利用兩個不同波長的泵浦激光器（分別為1063.6 nm和1064.4 nm）泵浦一對平行的PPLN波導,，實現(xiàn)了不能區(qū)分1063.6 nm和1064.4 nm光子的彩色擦除探測器,。

　　利用這兩個探測器，他們安裝了兩個望遠鏡,，來建造一個基線長度為80厘米的強度干涉儀,。他們用望遠鏡在1.43 km的距離上測量了兩個相距4.2 mm的激光源之間的距離，提出了一種相位擬合（phase fitting）的方法,，來獲得兩個激光源之間的角距離,。

　　令人驚訝的是，該結果超過了單臺望遠鏡的衍射極限約40倍,，證明了色強干涉法具有更高的空間分辨率,。

　　未來，通過多波長設置,，該技術有望將強度干涉術的應用擴展到天文觀測,、空間遙感,、空間碎片檢測等多個領域,。