針對高反射率(R>99.7%)的光學樣品,,德國 IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)CRD高反射率測量儀,, 它通過對指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號的檢測,,去掉了傳統(tǒng)檢測方法中激光能量起伏所引起的誤差, 大大提高了測量精度,。
CRD 高反射率測量儀原理
當一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi),,忽略衍射及散射損耗,單色脈沖光在兩個腔鏡之間往返振蕩,,每經(jīng)過一次循環(huán)透射出部分光,,探測器通過接收光脈沖信號得到其以單指數(shù)形式衰減。
τ為衰蕩時間,,指光子出射脈沖光強衰減為初始光強的1/e時經(jīng)歷的時間,。C代表光速,L是代表腔長,,RM是兩個腔鏡的幾何平均反射率,,散射V和吸收系數(shù)α忽略不計,。則,衰蕩時間τ表示為:
從公式上可知,,腔內(nèi)損耗越小,,反射率越高,衰蕩時間越長,。
要計算待測樣品的反射率R,,需要知道參考片的反射率Rref (詳見參考片說明部分),則
CRD系統(tǒng)介紹
系統(tǒng)包含:
1. 激光光源
2. 光學零部件
3. A/D轉(zhuǎn)換器
4. 探測系統(tǒng)
更多信息可以來這里獲取==>>電子技術(shù)應用-AET<<
本站內(nèi)容除特別聲明的原創(chuàng)文章之外,,轉(zhuǎn)載內(nèi)容只為傳遞更多信息,,并不代表本網(wǎng)站贊同其觀點。轉(zhuǎn)載的所有的文章,、圖片,、音/視頻文件等資料的版權(quán)歸版權(quán)所有權(quán)人所有。本站采用的非本站原創(chuàng)文章及圖片等內(nèi)容無法一一聯(lián)系確認版權(quán)者,。如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)和其它問題,請及時通過電子郵件或電話通知我們,,以便迅速采取適當措施,,避免給雙方造成不必要的經(jīng)濟損失,。聯(lián)系電話:010-82306118,;郵箱:[email protected],。