隨著摩爾定律的逐步失效,數(shù)字邏輯芯片和DRAM芯片隨著制程工藝提升所帶來(lái)的密度優(yōu)勢(shì)正在降低,,成本卻在高速提升。相比之下,,NAND Flash閃存的情況卻并非如此,。與半導(dǎo)體行業(yè)的其他行業(yè)不同,NAND每年的成本都在大幅下降,。
這主要是因?yàn)镹AND顛覆了摩爾定律,,不再依賴(lài)對(duì)于晶體管的微縮。相反,,NAND轉(zhuǎn)向了全新的3D NAND架構(gòu),,并于2013年首次商業(yè)化。從那時(shí)起,,NAND制造商通過(guò)添加越來(lái)越多的存儲(chǔ)單元層的堆疊來(lái)提高NAND的密度和成本結(jié)構(gòu),。制造的焦點(diǎn)也幾乎完全從光刻轉(zhuǎn)移到了沉積和蝕刻處理步驟。結(jié)果,,自從引入3D NAND以來(lái),,NAND的密度以非常一致的速度每年提高30%。
近日,,半導(dǎo)體研究機(jī)構(gòu)Semianalysis發(fā)布文章,,對(duì)NAND半導(dǎo)體市場(chǎng)、工藝技術(shù)擴(kuò)展途徑,、制造工藝,、NAND定價(jià)趨勢(shì)、當(dāng)前供過(guò)于求/未來(lái)短缺,、2023年至2025年NAND晶圓制造設(shè)備支出前景,、西部數(shù)據(jù)和Kioxia的未來(lái)進(jìn)行了分析,并深入探討了NAND高縱橫比蝕刻市場(chǎng),、3D DRAM的可能性,。Semianalysis認(rèn)為,沉積方面也即將發(fā)生的重大材料變化,,以及由于兩次制造變化,,代表超過(guò)10億美元的收入可能易手,市場(chǎng)份額可能從泛林集團(tuán)(Lam Research)大幅轉(zhuǎn)移到東京電子(TEL),。
一如既往,,技術(shù)背景將為每個(gè)人詳細(xì)介紹。NAND的沉積和蝕刻,、3D DRAM的可能性,、業(yè)務(wù)影響,、變化、高層成果和WDC/Kioxia評(píng)論方面的兩項(xiàng)新發(fā)展也將詳細(xì)介紹,。包括從超大規(guī)模集成電路日本和半導(dǎo)體西部的工具公司和NAND制造商那里收集的市場(chǎng)情報(bào),。
自引入3D NAND以來(lái),這種密度的增加使每比特的NAND成本每年下降約21%,,盡管未來(lái)可能會(huì)面臨一些挑戰(zhàn),,但預(yù)計(jì)仍將繼續(xù)擴(kuò)展。
美光認(rèn)為,,NAND每比特的成本可以繼續(xù)以每年低至百分之十幾的速度下降,,而DRAM更難擴(kuò)展,只能以每年高個(gè)位數(shù)的成本下降為目標(biāo),。這是DRAM行業(yè)最近經(jīng)歷的21%的倒退,。
NAND中這些大規(guī)模成本改進(jìn)的主要原因是晶圓廠可以在工藝步驟數(shù)沒(méi)有大規(guī)模相應(yīng)增加的情況下增加密度。3D NAND中最關(guān)鍵的步驟是薄膜沉積和高縱橫比蝕刻,。
NAND的一個(gè)過(guò)于簡(jiǎn)單的制造過(guò)程是沉積交替的薄膜,,然后有一些不同的蝕刻穿過(guò)堆疊,將cell分開(kāi)/連接到外部世界,。Lam Research是許多工藝步驟的領(lǐng)導(dǎo)者,,包括最關(guān)鍵的高縱橫比蝕刻。
NAND擴(kuò)展的四條大道
有4種主要途徑可以擴(kuò)展NAND閃存每片的存儲(chǔ)容量,。
邏輯縮放:每個(gè)單元存儲(chǔ)的位數(shù),。這需要每個(gè)單元存儲(chǔ)2^n個(gè)電壓電平;
垂直縮放:垂直堆疊的NAND單元的數(shù)量,;
橫向縮放:可以在2D矢量上擬合的單元格的大小/數(shù)量,;
體系結(jié)構(gòu)擴(kuò)展:各種技術(shù)可提高密度并減少單元/外圍的開(kāi)銷(xiāo)。
首先是邏輯縮放,,即每個(gè)物理存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)更多的位,。每個(gè)單元存儲(chǔ)的每個(gè)附加位需要將單元必須保持的可辨別電壓狀態(tài)的數(shù)量增加一倍。IE:每個(gè)單元1bit(SLC)的2個(gè)電壓電平,,每個(gè)單元2bit(MLC)的4個(gè)電壓電平,、每個(gè)單元3bit(TLC)的8個(gè)電壓電平以及每個(gè)單元4bit(QLC)的16個(gè)電壓電平和每個(gè)單元5bit(PLC)的32個(gè)電壓電平。
理想情況下,,這通過(guò)增加存儲(chǔ)字節(jié)而不增加存儲(chǔ)單元的物理數(shù)量來(lái)實(shí)現(xiàn)“自由”縮放。每個(gè)單元4bit的QLC NAND于2018年問(wèn)世,,SK海力士從英特爾收購(gòu)的Solidigm團(tuán)隊(duì)一直在談?wù)撁總€(gè)單元5bit PLC浮柵NAND,。Kioxia的研究人員甚至在2021年證明了在低溫條件下每個(gè)Cell可以達(dá)到7bit。
然而,,邏輯縮放的主要缺點(diǎn)是減少每個(gè)存儲(chǔ)狀態(tài)的電子數(shù)量,。增加每個(gè)單元的電壓狀態(tài)的數(shù)量意味著劃分每個(gè)存儲(chǔ)單元的電子存儲(chǔ)容量,。每個(gè)狀態(tài)的電子數(shù)量減少會(huì)增加可變性并破壞可靠性。2D NAND已經(jīng)達(dá)到了TLC技術(shù)的極限,,3D NAND也很快接近了類(lèi)似的極限,。展望未來(lái),我們開(kāi)始看到這種影響,,這標(biāo)志著邏輯縮放的結(jié)束,。
制造商發(fā)現(xiàn),制造更小的Cell(橫向+垂直),,每個(gè)Cell容納更少的電子,,使每個(gè)Cell的高位無(wú)法維持。例如,,Solidigm的192層PLC出現(xiàn)故障,,由于成本結(jié)構(gòu)較差,不會(huì)大量生產(chǎn),。
三星的大于236層V9代3D NAND也顯示出QLC與TLC的代擴(kuò)展性較差,。在V7代中,QLC比TLC密度高40%,。使用V9時(shí),,QLC的密度僅為T(mén)LC的20%。這是因?yàn)镼LC存儲(chǔ)單元不能像TLC單元那樣收縮得那么多,。因此,,美光和SK海力士相信TLC(每個(gè)單元3bit)NAND將是最具成本效益的長(zhǎng)期解決方案。
其次是垂直縮放,,這是過(guò)去十年中NAND密度增長(zhǎng)的主要途徑,。當(dāng)前的高縱橫比(HAR)蝕刻深度限制為6至7微米,每個(gè)單元的最小厚度約為40nm,。到目前為止,,制造商只能實(shí)現(xiàn)多達(dá)128個(gè)字線層堆疊(每個(gè)約50nm)。除此之外,,還需要將多個(gè)單獨(dú)蝕刻并組合在另一個(gè)deck(層面)上的deck串堆疊,。Solidigm的192層設(shè)計(jì)使用了四個(gè)48層deck,而海力士最新一代238層設(shè)計(jì)使用了兩個(gè)deck,,每個(gè)deck有119條活動(dòng)字線,。
理想情況下,deck越少越好,,因?yàn)樾枰貜?fù)的制造步驟越少,,堆疊deck時(shí)出現(xiàn)對(duì)齊錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)越低。否則,,垂直縮放的唯一其他方式是減小每個(gè)存儲(chǔ)器單元和字線的Z方向厚度,,或者增加HAR蝕刻深度,,下面詳細(xì)說(shuō)明。這就是為什么東京電子可以從泛林集團(tuán)公司獲得大量業(yè)務(wù)的原因,。稍后描述的沉積變化可能同樣具有影響力,。
第三是在X和Y方向上進(jìn)行傳統(tǒng)的橫向縮放。這可以通過(guò)增加存儲(chǔ)器溝道孔的密度或通過(guò)減少狹縫和存儲(chǔ)器塊細(xì)分的面積開(kāi)銷(xiāo)來(lái)實(shí)現(xiàn),。前者已經(jīng)被開(kāi)發(fā)出來(lái)了,,因?yàn)樾枰獙⑺袑佣及惭b在側(cè)壁上以形成電荷陷阱單元,所以空穴不會(huì)變得更小,??字g的間距目前也盡可能小。
對(duì)于后者,,美光和西部數(shù)據(jù)/鎧俠(WDC/Kioxia)增加了狹縫之間的通道孔的數(shù)量,,減少了狹縫的總數(shù),從而實(shí)現(xiàn)了通孔的更好面積利用,。這意味著它們的替換柵極工藝必須水平地深入層中,,以正確地去除所有SiN(氮化硅)殘留物并干凈地進(jìn)行隨后的W(鎢)填充。
自64層NAND產(chǎn)生以來(lái),,行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)一直是狹縫之間的9根支柱,。美光的232層NAND在狹縫之間變成了19個(gè)支柱,而西部數(shù)據(jù)/鎧俠 BiCS6 162層在狹縫間變成了24個(gè)支柱,,盡管我們尚未發(fā)現(xiàn)這種情況在市場(chǎng)上廣泛普及,。他們的 218 層 BiCS8 將會(huì)更進(jìn)一步,不再需要一排虛擬孔來(lái)分隔子塊,。
雖然與垂直縮放相比,,這些橫向縮放技術(shù)的密度增益較小,但它確實(shí)能夠在不增加WFE(晶圓廠設(shè)備投資)強(qiáng)度的情況下線性降低成本,。除此之外,,還可以通過(guò)使用交錯(cuò)“樓梯”設(shè)計(jì)來(lái)減少陣列兩側(cè)“樓梯”的頭頂面積,從而實(shí)現(xiàn)橫向縮放,。然而,,這是以增加布線密度和字線連接區(qū)域的復(fù)雜性為代價(jià)的。
最后是架構(gòu)縮放,。它關(guān)注CMOS邏輯外圍電路的放置位置,。設(shè)計(jì)從簡(jiǎn)單的CMOS Next to Array,到最近的CMOS Under Array,,通過(guò)在NAND堆棧下方構(gòu)建電路來(lái)節(jié)省芯片面積,。然而,由于NAND陣列處理步驟的苛刻性質(zhì),,CMOS邏輯處理技術(shù)存在限制,。CMOS鍵合陣列(CBA)通過(guò)在單獨(dú)的芯片上制造邏輯來(lái)解決這一問(wèn)題,然后通過(guò)混合鍵合將該芯片鍵合到存儲(chǔ)器陣列芯片上,。
這使得更高級(jí)的邏輯和更高的布線密度能夠?qū)崿F(xiàn)階梯和子塊劃分的進(jìn)一步橫向縮放,。由于并行制造邏輯和存儲(chǔ)器,可以通過(guò)降低設(shè)計(jì)/工藝復(fù)雜性和循環(huán)時(shí)間來(lái)抵消接合多個(gè)芯片帶來(lái)的成本增加,。YMTC憑借其64層X(jué)tacking 1.0和令人驚嘆的1.0微米間距混合粘合引領(lǐng)潮流,。西部數(shù)據(jù)/鎧俠 BiCS8 218層也將采用混合鍵合工藝,其他制造商也將效仿,。
這些擴(kuò)大規(guī)模的途徑大多已經(jīng)被挖掘出來(lái),。雖然垂直擴(kuò)展一直是擴(kuò)展的主要方式,但即使如此,,目前的制造設(shè)備也開(kāi)始采用這種方式,。
3D NAND結(jié)構(gòu)和制造流程
氧化物和氮化物薄膜的交替層首先沉積在基底芯片上。每個(gè)層的厚度在20至30nm之間,。每個(gè)疊層的理論極限可以超過(guò)250層高并且接近7微米的高度,。然后添加厚的硬掩模以準(zhǔn)備高縱橫比(HAR)溝道空穴蝕刻。這種反應(yīng)離子蝕刻工藝挖掘出比寬度深70倍的孔陣列,。通道孔在圓度和整個(gè)孔深度上的均勻性對(duì)于降低存儲(chǔ)單元性能的可變性至關(guān)重要,。對(duì)于具有多個(gè)deck的設(shè)計(jì),重復(fù)這些步驟,,然后將這些deck堆疊在彼此的頂部,。
由此,用多層填充溝道空穴以形成電荷陷阱單元,,每一層沉積在側(cè)壁上使得空穴逐漸變窄,。接下來(lái)是金屬置換柵極工藝。狹縫通過(guò)所有層被蝕刻下來(lái),,形成暴露出堆疊側(cè)面的溝槽,。這允許通過(guò)ALD和鎢字線填充進(jìn)行氮化物層的挖掘和隨后的勢(shì)壘沉積。在陣列的側(cè)面蝕刻階梯以將字線層暴露于垂直接觸,。
最后,,位線和金屬互連形成在所制造的CMOS電路之上,并與所制造的包括字線驅(qū)動(dòng)器和用于NAND接口的其他外圍電路的CMOS電路連接,。由此,,我們看到3D NAND高度依賴(lài)于HAR蝕刻和沉積能力來(lái)縮放密度和性能。
如前所述,,3D NAND主要限制是在制造工藝中蝕刻溝道通孔,。這就是為什么每GB的原始處理時(shí)間(以及因此的處理成本)擴(kuò)展預(yù)計(jì)將從我們觀察到的歷史趨勢(shì)放緩的原因。這是這篇文章的重點(diǎn),。
NAND市場(chǎng)信息更新
目前NAND市場(chǎng)持續(xù)疲軟,,產(chǎn)能?chē)?yán)重過(guò)剩,。由于供應(yīng)過(guò)剩,目前晶圓產(chǎn)能利用率在60%的范圍內(nèi),。庫(kù)存情況也是巨大的,。這是自1997年以來(lái)我們看到的最嚴(yán)重的供需不匹配。
現(xiàn)在,,主要的NAND制造商都在降低產(chǎn)能利用率,,試圖減少庫(kù)存,使市場(chǎng)恢復(fù)平衡,。然而,,技術(shù)轉(zhuǎn)型仍需要一些投資。三星做為最大的NAND生產(chǎn)商(34%的市場(chǎng)份額)在NAND工藝上已經(jīng)落后了,。它目前的die仍然主要是128層,,176層NAND仍然只是一小部分。這遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于SK海力士和美光,,后者處于超過(guò)200層的技術(shù)節(jié)點(diǎn),。
三星正試圖將今年的大部分產(chǎn)能轉(zhuǎn)移到236層。他們實(shí)際上在很大一部分生產(chǎn)中跳過(guò)了一個(gè)節(jié)點(diǎn),。雖然他們?cè)诩夹g(shù)轉(zhuǎn)型方面的投資將在今年支持NAND WFE,,但這只會(huì)推遲NAND市場(chǎng)復(fù)蘇,因?yàn)槊鎸?duì)不斷增強(qiáng)的產(chǎn)出能力,,需求能力顯得更加疲軟,。一旦三星技術(shù)轉(zhuǎn)型完成,他們將為市場(chǎng)帶來(lái)另外70%的NAND容量增長(zhǎng),。三星想強(qiáng)行進(jìn)行整合,,這是一種從公司最高層開(kāi)始的策略。
Semianalysis相信,,與2023年相比,,2024年將是NAND資本支出更加精簡(jiǎn)的一年。預(yù)計(jì)到2025年NAND供需將強(qiáng)勁復(fù)蘇,,因?yàn)榫薮蟮膸?kù)存和低產(chǎn)能利用率提供了緩沖,。長(zhǎng)期需求將繼續(xù)增長(zhǎng),該行業(yè)最終需要持續(xù)投資來(lái)滿足這一需求,。但是,,對(duì)于NAND制造的資本支出增長(zhǎng)可能將會(huì)相對(duì)較少,而且頭部的西部數(shù)據(jù)和鎧俠的可能的合并可能也將抑制這方面的資本支出,。
東京電子將突破泛林集團(tuán)在NAND刻蝕設(shè)備領(lǐng)域的壟斷,?
由于這篇報(bào)告后半部分為收費(fèi)內(nèi)容,因此這里只能給出Semianalysis的最新研究的結(jié)論,即隨著3D DRAM的可能性和即將到來(lái)的沉積材料的重大變化,,NAND制造設(shè)備市場(chǎng)將會(huì)面臨重大改變,,市場(chǎng)份額可能將更多的從泛林集團(tuán)轉(zhuǎn)向東京電子,這可能意味著超過(guò)10億美元的收入的易手,。
芯智訊此前3D DRAM相關(guān)文章:《DRAM將進(jìn)入3D時(shí)代,?230層堆棧,容量可提升8倍,!》
正如前面所介紹的,3D NAND制造過(guò)程當(dāng)中,,最多的制造步驟是刻蝕和薄膜沉積,。而在全球刻蝕設(shè)備和薄膜沉積設(shè)備市場(chǎng),美國(guó)泛林集團(tuán),、日本東京電子和美國(guó)應(yīng)用材料這三家廠商占據(jù)主導(dǎo)地位,。
Gartner數(shù)據(jù)顯示,在2020年的全球干法刻蝕設(shè)備市場(chǎng)(目前應(yīng)用主要以干法刻蝕為主,,占比90%以上),,泛林集團(tuán)(46.71%)、東京電子(26.57%)和應(yīng)用材料(16.96%)合計(jì)占據(jù)90%以上的全球刻蝕設(shè)備市場(chǎng)份額,,日立高新和細(xì)美事緊隨其后分別占3.45%和2.53%,。國(guó)內(nèi)刻蝕設(shè)備廠商當(dāng)中,中微公司占比1.37%,,北方華創(chuàng)占比0.89%,,屹唐股份占比0.10%。有數(shù)據(jù)顯示,,2022年,,泛林集團(tuán)在刻蝕設(shè)備的市場(chǎng)的份額已經(jīng)高達(dá)55%。
顯然,,目前泛林集團(tuán)在刻蝕設(shè)備市場(chǎng)的份額大幅高于東京電子,,特別是在NAND刻蝕設(shè)備領(lǐng)域居于近乎壟斷的優(yōu)勢(shì)地位。雖然芯智訊并未觀察到Semianalysis所說(shuō)的材料變化對(duì)于NAND制造設(shè)備領(lǐng)域的重大影響,,但是芯智訊注意到,,東京電子在今年6月的的半導(dǎo)體國(guó)際會(huì)議報(bào)告中,展示一項(xiàng)新的蝕刻技術(shù)(疑似命名為MolyDep+),,可以在400層以上的3D NAND堆疊結(jié)構(gòu)形成存儲(chǔ)通道孔洞(memory channel holes),。
據(jù)介紹,原本無(wú)法在極低溫環(huán)境下實(shí)際運(yùn)作的絕緣膜蝕刻,,現(xiàn)在東京電子開(kāi)發(fā)出新的制程技術(shù),,并制作出相應(yīng)的設(shè)備,首次將電介質(zhì)蝕刻應(yīng)用帶入低溫范圍,從而打造了一個(gè)具有極高蝕刻率的系統(tǒng),??稍诙潭痰?3分鐘內(nèi)形成高縱橫比的10微米的蝕刻深度,縮減了耗時(shí),,而且蝕刻結(jié)構(gòu)的幾何形狀相當(dāng)明顯,,也有助于制造更高容量的3D NAND閃存芯片。且比以前減少84%的全球暖化潛能值(Global warming potential),,也就是說(shuō)整體所需的能耗得到了大幅降低,。
東京電子還提供了蝕刻后的相關(guān)圖像,展示了開(kāi)發(fā)的成果,。其中包括顯示了蝕刻后通孔圖案的橫截面SEM圖像,,以及孔底的FIB切割圖像,另外還有東京電子的3D NAND閃存芯片的一個(gè)案例,。
或許東京電子最新的這項(xiàng)在蝕刻技術(shù)上的突破,,將有助于其提升在刻蝕設(shè)備市場(chǎng)的競(jìng)爭(zhēng)力,從而搶下更多屬于泛林集團(tuán)的市場(chǎng)份額,。