IGBT" title="IGBT">IGBT技術進步主要體現(xiàn)在兩個方面：通過采用和改進溝槽柵來優(yōu)化垂直方向載流子濃度，以及利用“場終止”概念(也有稱為“軟穿通”或“輕穿通”)降低晶圓n襯底的厚度。
此外,，帶有單片二極管的IGBT概念也經(jīng)常被探討。首先投產(chǎn)的逆導型IGBT是針對電子鎮(zhèn)流器應用進行優(yōu)化的,，被稱之為“LightMOS”,。本文介紹了集成續(xù)流二極管(FWD)的1200V RC-IGBT，并將探討面向軟開關" title="軟開關">軟開關應用的1,200V逆導型IGBT所取得的重大技術進步,。
TrenchStop" title="TrenchStop">TrenchStop和RC-IGBT技術
在采用的TrenchStop技術中,，溝槽柵結合了場終止概念(見圖1中的IGBT)。由于發(fā)射極(陰極)附近的載流子濃度提高,，溝槽柵可使得導通損耗降低,。場終止概念是NPT概念的進一步發(fā)展，包含一個額外的植入晶圓背面的n摻雜層,。
將場終止層與高電阻率的晶圓襯底結合起來,，能使器件的厚度減少大約三分之一，同時保持相同的阻斷電壓,。隨著晶圓厚度的降低,，導通損耗和關斷損耗也可進一步降低。場終止層摻雜度低，因此不會影響背面植入的低摻雜p發(fā)射極,。為了實現(xiàn)RC-IGBT,，二極管的部分n摻雜背面陰極(圖1)將與IGBT集電極下面的p發(fā)射極結合起來。
RC-IGBT的溝槽柵概念所基于的技術與傳統(tǒng)的TrenchStop-IGBT(見圖2)相同,，但針對軟開關應用所需的超低飽和壓降Vce(sat)進行了優(yōu)化,，比如電磁爐或微波爐應用。數(shù)以萬計的溝槽柵通過金屬(鋁)相連,，該金屬鋁層同時也是連線區(qū),。柵極和發(fā)射極之間的區(qū)域和端子被嵌入絕緣亞胺薄膜里。最新的投產(chǎn)型RC2-IGBT,，其溝槽柵極更小,，與標準TrenchStop-IGBT相比要多出150%的溝槽柵單元。圖3為基于TrenchStop技術的最新一代RC2-IGBT的溝槽柵截面圖,。
超薄晶圓技術
由于導通電壓和關斷損耗在很大程度上取決于晶圓的厚度,，因此需要做更薄的IGBT。圖4顯示了英飛凌600/1,200V IGBT和EMCON二極管的晶圓厚度趨勢,。對于新型1,200V RC-IGBT而言,，120um厚度晶圓將是標準工藝。這需要進行復雜的晶圓處理,，包括用于正面和背面的特殊處理設備,。將晶圓變薄可通過晶圓打磨和濕式化學蝕刻工藝實現(xiàn)。
新型RC2-IGBT的優(yōu)勢
來自英飛凌的新型RC2-IGBT系列產(chǎn)品是以成熟的TrenchStop技術為基礎的,，具有超低飽和壓降,。此外，IGBT還集成了一個功能強大且正向電壓超低的二極管,。
新型RC2-IGBT的優(yōu)勢是針對軟開關應用(比如微波爐,、電磁爐和感應加熱型電飯煲)進行優(yōu)化的定制解決方案。與以前的器件相比,，RC2-IGBT可提升性能,，降低飽和壓降損耗。這可導致非常低的總體損耗,，因此所需的散熱器更小,。另外一個優(yōu)勢是最大結溫被提高到TvJ(max)=175℃，比普通IGBT芯片提高了25℃,。這種結溫已通過TO-247無鉛封裝的應用驗證,。
圖1：應用TrenchStop技術的RC-IGBT
圖2 ：RC-IGBT芯片(IHW20N120R)前視圖
圖3：基于TrenchStop技術的最新一代RC2-IGBT的溝槽柵截面圖(溝槽柵里的洞是為分析準備)
圖4 ：IGBT和二極管晶圓厚度變化
在典型飽和壓降Vce(sat)=1.6V@25℃/1.85V@175℃和典型正向電壓Vf=1.25V@175℃(額定電流)的條件下，功率損(特別是軟開關應用的導通損耗)可大幅度降低,。由IHW20N120R2的下降時間的切線可看出高速度—tf=24ns@25℃和Rg=30Ω(44ns@175℃),。IHW30120R2在下降時間方面是最為出色的：tf=33ns@25℃,，Rg=30Ω；tf=40ns@175℃,。(在硬開關條件下測量,，參見帶有Eoff曲線的圖6和圖7)。
圖5 ：來自英飛凌科技的最新一代RC2-IGBT(IHWxxN120R2,，xx=15A,、20A、25A和30A),。采用無鉛電鍍TO-247封裝
圖6 ：在硬開關條件下,，175℃結溫以及室溫下IHW20N120R2(IN=20A，Vces=1,200V)和IHW30N120R2(IN=30A)的下降時間切線
圖7 ：在硬開關條件下,，175℃結溫以及室溫下RC2-IGBT的Eoff曲線
圖6顯示如果柵極電阻低于30(,，下降時間再度上升。這對于實現(xiàn)良好的EMI行為非常重要,。所有市場上相關應用設計目前使用的柵極電阻都在10~20Ω之間,。這個柵極電阻選用區(qū)域也是最低開關損耗區(qū)(見圖7)。它具有最低的開關損耗和合適的EMI表現(xiàn),。
圖8 ：室溫和不同電流條件下IHW20N120R2的飽和壓降與Vf的關系
圖7和圖8顯示了最新一代RC2-IGBT(IHW20N120R2)的超低飽和壓降Vce(sat)和正向電壓Vf,。圖8顯示了1,000片該器件在室溫和不同電流條件下的最低和最高飽和壓降的曲線圖，圖9顯示了它們在不同溫度和20A額定電流條件下的飽和壓降曲線圖,。
圖9 ：20A標稱電流和不同溫度下IHW20N120R2的飽和壓降與Vf的關系
電壓諧振電路里的RC-IGBT
圖10顯示了用于軟開關應用的典型電壓諧振電路,。
圖10 ：用于軟開關應用的電壓諧振電路圖
對于190V~240V交流輸入電壓而言，RC-IGBT具有低飽和壓降和正向電壓：
1. 對于1.8kW的應用：IHW15N120R2(Vce=1,200V, Ic=15A@Tc=100℃),；
2. 對于2.0kW的應用：IHW20N120R2(Vce=1,200V, Ic=20A@Tc=100℃),；
3. 對于2.2kW的應用：IHW25N120R2(Vce=1,200V, Ic=25A@Tc=100℃)；
4. 對于2.4kW的應用：IHW30N120R2(Vce=1,200V, Ic=30A@Tc=100℃),。
為了測量IGBT的集電極電流Ice，應在發(fā)射極和地之間使用超低阻值的取樣電阻器,。圖11為Vce和Ic的波形(搪瓷燒鍋負載),。工作頻率為29.1kHz，LC電路在諧振范圍之外(電磁爐的溫度模式為50℃),。
圖11： 1.8kW電磁爐應用(IHW20N120R2)的電壓諧振電路波形
本文小結
針對軟開關應用進行優(yōu)化的RC-IGBT技術可大幅度降低飽和壓降造成的損耗,。最大結溫提升到175℃進一步增強了芯片的電流能力。關斷開關損耗以及發(fā)射極關斷電流幾乎沒有變化,。