本文分析當(dāng)前電子產(chǎn)品測試中普遍存在的問題,，提出一套通用電子產(chǎn)品com/search/?q=功能測試" title="功能測試">功能測試平臺,，利用COM技術(shù)實現(xiàn)基于TestStand引擎開發(fā)測試系統(tǒng)的流程編輯和執(zhí)行功能，并結(jié)合國際上通用的ATLAS測試語言和IVI規(guī)范分別進行測試流程和儀器驅(qū)動的管理,。近年來,，測試平臺在多個項目中得到了實際應(yīng)用，其中資源共享優(yōu)勢已經(jīng)得到了客戶們的充分認可,。

　　1．概述

　　1.1背景

　　1.1.1目前現(xiàn)狀

　　縱觀國內(nèi)外的電子產(chǎn)品測試系統(tǒng),，普遍存在以下幾點問題：

　　1)整個大系統(tǒng)的測試任務(wù)中，其統(tǒng)一性與整體性缺乏體系支持,；

　　2)測試工藝,、流程、標準不統(tǒng)一,；

　　3)測試模塊的通用性,、可移植性、可擴展性,、可維護性較差,；

　　4)測試人員問的素質(zhì)不一,；

　　5)不同人員測試不同階段，信息交流的程度不同,；

　　6)測試數(shù)據(jù)的組織,、存儲、管理和使用較為混亂,，數(shù)字化程度較低,；

　　7)數(shù)據(jù)的有效性、可靠性,、可追溯性,、共享度以及對數(shù)據(jù)的分析能力較差；

　　8)數(shù)據(jù)對于產(chǎn)生,、審批,、發(fā)布、變更,、流通的支持度不夠,；

　　9)生產(chǎn)效率偏低，導(dǎo)致單位生產(chǎn)成本較高,。

　　以上問題的出現(xiàn),，會降低電子產(chǎn)品的研制效率,，導(dǎo)致項目進度不可控,，產(chǎn)品質(zhì)量保證難度加大。

　　1.1.2未來發(fā)展

　　新一代電子產(chǎn)品測試系統(tǒng)會朝著通用化,、標準化,、組合化、網(wǎng)絡(luò)化的方向進行發(fā)展,。

　　結(jié)合現(xiàn)代自動測試技術(shù)的發(fā)展,，現(xiàn)代電子產(chǎn)品測試系統(tǒng)的測試技術(shù)必將產(chǎn)生深刻的變革，這主要表現(xiàn)在四個方面：

　　1)測試整體上,，要求C3M一體化,。C3M指的是控制(Control)、通信(Communication),、計算機(Computer)和測量(Measurement),；

　　2)測試平臺上，采用虛擬儀器技術(shù),；

　　3)測試管理上,，運用網(wǎng)絡(luò)化技術(shù)；

　　4)測試信息處理上,，采用智能傳感器信息處理和多傳感器信息融合技術(shù),。

　　1.2意義

　　自動化測試系統(tǒng)(ATS,，Automatic Test System)確保電子產(chǎn)品設(shè)計合理，節(jié)約生產(chǎn)調(diào)試成本．提高產(chǎn)品的自我保障能力,，使整個產(chǎn)品處于最佳工作狀態(tài),，這極為重要。測試儀器的可互換性 (IVI,，Interchangeable Virtual Instru-ment)和測試程序集(TPS,，Test Program Set)的重用性、可移植性是通用ATS的重要指標,。當(dāng)前ATS的開發(fā)方式有面向儀器和面向信號兩種,。面向儀器的TPS開發(fā)基于測試儀器，很難從本質(zhì)上反映被測設(shè)備的測試需求,，加上測試儀器種類繁多且功能各異,，因此，很難實現(xiàn)儀器的互換,。軟件平臺的通用性較差,。面向信號的開發(fā)方式基于被測對象 (UUT，Unit Under Test)的測試需求和測試資源的測試／激勵能力,，解決了需求與供應(yīng)之間的矛盾,，通用性較強。應(yīng)用在ATS中的軟件技術(shù)經(jīng)歷了過程編程語言(如C),、 Windows DLL,、面向?qū)ο缶幊獭⒔M件對象模型(COM)的漫長發(fā)展過程,。COM采用面向?qū)ο蟮能浖O(shè)計思想,。以標準接口提供功能調(diào)用，實現(xiàn)了程序的模塊化,、通用性設(shè)計,。TestStand是測試領(lǐng)域廣泛使用的流程測試項目管理平臺，利用COM技術(shù)實現(xiàn)基于TestStand引擎開發(fā)ATS中的測試流程編輯和執(zhí)行功能,，結(jié)合國際上通用的ATLAS測試語言和IVI規(guī)范分別進行測試流程和儀器驅(qū)動的管理,。另外，在充分考慮當(dāng)前電子產(chǎn)品測試存在問題的基礎(chǔ)上,，結(jié)合新一代電子產(chǎn)品測試系統(tǒng)的發(fā)展特點,，我們開發(fā)了電子產(chǎn)品功能測試軟件平臺(Electronic Test Platform，以下簡稱ETP),，從而為構(gòu)建通用電子產(chǎn)品功能測試平臺提供了很好的解決方案,。圖1為通用電子產(chǎn)品功能測試系統(tǒng)原理圖。

　　2．ATLAS介紹

　　2.1 ATLAS特性

　　ATLAS(Abbreviated Test Language for All Systems)是一個被廣泛應(yīng)用于軍事和電子測試領(lǐng)域的通用標準測試語言。用這個語言編寫的測試程序不依賴于任何特殊的被測系統(tǒng),，并且它能在ATS上執(zhí)行,。該語言與一般的程序設(shè)計語言相比具有如下一些特點：

　　1)設(shè)備無關(guān)性，即在用戶寫的ATLAS程序中不出現(xiàn)任何具體設(shè)備,，只有測試需求,；

　　2)信號相關(guān)性，ATLAS程序員書寫的測試程序都是面向信號的,；

　　3)可擴展性,，允許用戶擴展ATLAS標準中沒有的名詞、名詞修飾詞以及量綱等成份,；

　　4)并行性和定時功能,，ATLAS中的某些測試語句需要并行執(zhí)行，還有一些語句需要在特定的時刻才能被啟動,；

　　5)語法接近于自然語言,。文法限制不嚴格。

　　ATLAS語言從語義上可以分為常規(guī)語言部分,、信號和總線部分,。常規(guī)語言部分類似于一個完整的過程式語言，它能夠?qū)崿F(xiàn)一般語言的功能,，體現(xiàn)了ATLAS語言與其他語言的共性,；信號部分和總線部分描述具體的測試過程，展現(xiàn)了ATLAS語言作為測試語言的特性,。

 　　2.2 ATLAS描述

　　ATLAS測試語句基本格式如下所示：

　　動作,，(信號特征)，信號類型USING’虛擬資源’,，信號修飾參數(shù),，CNX儀器端被測端$

　　語句：APPLY,，AC SIGNAL,，VOLTAGE 115V，F(xiàn)REQ400HZ,，CURRENT MAX 2A,，CNX HI J32-3-A23$

　　意義：在UUT的J32-3-A23$點加載電壓為115V、頻率為400Hz,、最大電流為2A的信號,。

　　3．IVI介紹

　　3.1 IVI系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

　　為了實現(xiàn)互換性，IVI基金會將同類儀器的共性提取出來,，并作了規(guī)范,。目前已經(jīng)發(fā)布的八類儀器規(guī)范是：示波器(IviScope)、數(shù)字萬用表 (IviDmm)、信號發(fā)生器(IviF-Gen),、直流電源(IviDCPower),、開關(guān)矩陣／多路復(fù)用器(IviSwitch)、功率表 (IviPwrMeter),、頻譜分析儀(IviS-pecAn)和射頻信號發(fā)生器(IviRFSigGen),，其他類型儀器的規(guī)范也將被陸續(xù)制定發(fā)布。每一類的儀器都有各自的類驅(qū)動程序(IVI Class Driver),。每類驅(qū)動程序包含了該類儀器通用的各種屬性和操作函數(shù),。運行時，驅(qū)動程序通過調(diào)用每臺儀器的專用驅(qū)動程序(IVI Specific Driver)中相應(yīng)的函數(shù)來控制儀器,。

　　應(yīng)用程序可以直接調(diào)用專用驅(qū)動程序來控制儀器,。但是為了實現(xiàn)儀器互換，應(yīng)用程序應(yīng)該首先調(diào)用類驅(qū)動程序,，類驅(qū)動程序檢查IVI配置文件以確定應(yīng)該使用的專用驅(qū)動程序,。若系統(tǒng)中的儀器被更換，只需適當(dāng)修改IVI配置文件,，而應(yīng)用程序無須做任何改動,，因而實現(xiàn)了測試系統(tǒng)的通用性。

　　3.2 IVI驅(qū)動特性

　　1)互換性,。IVI驅(qū)動程序的互換性至少為我們帶來以下幾大好處：a)易于使用,。所用的IvI驅(qū)動程序都使用通用的接口，易于理解,，也就不再要求應(yīng)用程序的開發(fā)人員必須掌握某一特定儀器的編程方法,，從而使系統(tǒng)開發(fā)獲得了更大的硬件獨立性。b)降低了系統(tǒng)的維護和升級費用,。IVI構(gòu)架系統(tǒng)可以適用不同的儀器,。當(dāng)儀器陳舊或者有了升級的、高性能或低造價的儀器時,，可以任意更換,，而不需要改變應(yīng)用程序。c)代碼共享,。IVI構(gòu)架允許部門和設(shè)備之間方便地復(fù)用及共享測試代碼,，并且不需使用相同型號儀器硬件。

　　2)模擬功能,。每個儀器專用驅(qū)動程序都具有專門針對本型號儀器的模擬功能,。這些模擬功能使得工程師在缺少真實儀器的情況下，可以使用IVI驅(qū)動程序的模擬功能來開發(fā),、調(diào)試應(yīng)用程序,，還可以使用美國國家儀器公司(Na-tional Instruments，簡稱NI)提供的類模擬驅(qū)動程序以獲得更強大的模擬功能。

　　3)狀態(tài)緩存功能,。IVI驅(qū)動程序可以保存儀器每一屬性設(shè)置的當(dāng)前狀態(tài),。當(dāng)應(yīng)用程序試圖發(fā)送一些冗余命令到儀器時(例如，將儀器的某一屬性重新設(shè)置為當(dāng)前值,，這些命令顯然不會讓儀器產(chǎn)生任何變化或動作),，IVI驅(qū)動程序會跳過這些命令。在當(dāng)前的測試系統(tǒng)中,，影響軟件執(zhí)行速度的瓶頸通常在于儀器與計算機接口總線的傳輸速率,。IVI驅(qū)動程序的此項功能大大減少了儀器與計算機之間的通信，從而提升了系統(tǒng)性能,。

　　4)源碼開放,。高級用戶可以直接修改IVI驅(qū)動程序的源代碼，以對其進行優(yōu)化或添加功能,。

　　免費得到大量的驅(qū)動程序,。除了生產(chǎn)廠商自行開發(fā)的IVI驅(qū)動程序，NI公司也為各類常用儀器開發(fā)了大量IVI驅(qū)動程序,，這些程序都可以從NI的網(wǎng)站上免費下載,。此外，NI還提供了用于開發(fā)驅(qū)動程序的工具包,，以簡化用戶的IVI驅(qū)動程序的開發(fā)過程,。

　　4．測試平臺介紹

　　電子產(chǎn)品功能測試平臺所利用的軟件開發(fā)平臺為ETP，其開發(fā)與設(shè)計均在泛華測控“柔性測試”技術(shù)的核心理念指導(dǎo)下進行的,。平臺分為上層管理執(zhí)行和下層的驅(qū)動管理兩大部分：上層管理模塊可根據(jù)不同行業(yè)的不同需求特點進行模塊化定制,、擴展；下層驅(qū)動管理可使相關(guān)驅(qū)動資源得到最大化的共享,。針對ETP平臺實際應(yīng)用領(lǐng)域,，我們設(shè)計了一些通用硬件調(diào)理模塊，大大縮短ETP實際工程項目應(yīng)用的開發(fā)周期和開發(fā)成本,。目前各種調(diào)理模塊僅供開發(fā)人員使用,，相信不久就會以產(chǎn)品的形式為廣大用戶所共享。

　　1)ETP軟件平臺介紹

　　圖2是ETP軟件架構(gòu)示意圖,。上層管理軟件ETP采用C++編程,。底層驅(qū)動管理模塊SEE(SignaI ExecuteEngine)采用LabVIEW編程,。上層管理軟件通過調(diào)用SEE實現(xiàn)測試測量的功能,。采用C++開發(fā)，使ETP更具平臺性和拓展性,，最直接的優(yōu)勢是運行效率高,。軟件總體框架是：

　　配置文件(資源信息)->ETP引擎->報表文件(測試結(jié)果)。在底層驅(qū)動中，我們支持NI系列的數(shù)據(jù)采集卡,、數(shù)字萬用表,、波形發(fā)生器、數(shù)字示波器等各種儀器,。

 　　2)ETP調(diào)理模塊介紹

　　ETP調(diào)理模塊的各調(diào)理單元的主要功能如下：

　　·開關(guān)卡目前設(shè)計的是2×8的矩陣開關(guān),，輸入接口是USB接口，輸出接口是SMA接口,。另外,，可以根據(jù)實際需要，組合不同的拓撲結(jié)構(gòu),，比如使用兩塊開關(guān)卡,，可以組成2×16或4×8的矩陣開關(guān)。

　　·DI調(diào)理卡是數(shù)字信號輸入調(diào)理板,，具備支持多種遠程輸出類型,、光耦隔離、施密特觸發(fā)的功能,。

　　·DO調(diào)理卡是數(shù)字信號輸出調(diào)理板,，它是把NI卡的數(shù)字J／O口的數(shù)據(jù)隔離后輸出到被測板，或控制繼電器輸出,；同時可實現(xiàn)多種輸出類型,，測試和控制多種被測對象。

　　·CTV調(diào)理卡是電流電壓檢測調(diào)理板,，它被設(shè)計為電源電壓,、電流的檢測電路，能測量工業(yè)用的電源電壓,、電流和功耗,。對電壓的測量需要外面的降壓設(shè)備把電源電壓降到100V以內(nèi)才能進入CTV板。

　　·SAS調(diào)理卡是標準模擬傳感器信號調(diào)理板,，它的主要功能是實現(xiàn)電壓和電流的檢測功能,。其中的電壓檢測是通過程控實現(xiàn)放大、縮小轉(zhuǎn)換至標準電壓信號,。電流檢測設(shè)計有電流變送電路,，它可以測試溫度和壓力信號，通過電流變送電流轉(zhuǎn)換至標準電流信號,，再通過電流轉(zhuǎn)電壓電流,，輸出標準電壓信號。

　　·CD調(diào)理卡是編碼器調(diào)理板,，它主要是實現(xiàn)數(shù)字電平轉(zhuǎn)化,。比如,，常用的有：正弦信號轉(zhuǎn)方波信號，再通過施密特觸發(fā)電路,，輸出TTL電平,。另外，根據(jù)實際情況,，備選差分轉(zhuǎn)單端和濾波等電路,。

　　3)測試平臺特性

　　a)適應(yīng)性：

　　·支持近40種信號100余種參數(shù)的生成和測量；

　　·測試流程自動化,。典型單步測試時間≤30ms,，滿足生產(chǎn)線對測試效率的要求；

　　·接口采用模塊化標準設(shè)計,，保證接口可更換,，拆卸方便；

　　·適應(yīng)于眾多儀器,，比如NI系列的數(shù)據(jù)采集卡,、數(shù)字萬用表、波形發(fā)生器,、數(shù)字示波器等各種儀器,；另外，可支持PLC,、獨立儀器等傳統(tǒng)設(shè)備,，保證硬件系統(tǒng)具有廣泛的硬件基礎(chǔ)。

　　b)靈活性：根據(jù)客戶需求改變測試系統(tǒng)的功能及性能,，可自行定義測試步驟,、測試參數(shù)，支持按需設(shè)置外接設(shè)備和測試點,。

　　c)拓展性：測試流程編寫,、硬件設(shè)置只需通過界面操作即可實現(xiàn)。

　　d)可靠性：軟硬件充分考慮異常處理機制,，可長時間,、連續(xù)地?zé)o故障運行。

　　5．測試平臺應(yīng)用

　　運用電子產(chǎn)品功能測試平臺的項目開發(fā)流程如圖3所示,。我們通過客戶提供的測試需求,，即時地做出軟硬件設(shè)計，采用ETP軟件對各種配置文件進行修改,。同時,。運用強大的TestStand引擎功能編輯測試流程并進行測試，可以高效地完成測試任務(wù),。

　　平臺應(yīng)用特點如下：

　　·流程清晰,；

　　·測試方便,；

　　·報表規(guī)范,。

　　平臺應(yīng)用案例

　　案例名稱：某廠氣象雷達電路板測試項目

　　1)某廠氣象雷達電路板測試系統(tǒng)被測對象是13塊電路板,。

　　a)硬件配置

　　·PXI-8106、DMM-4070,、FGEN-5421,、DSO-5112、PXI-6509,、PXI-6713,、PXI-8421；

　　·自制信號調(diào)理機箱,；

　　·自制信號接口機箱,。

　　b)系統(tǒng)組成

　　本系統(tǒng)硬件由工作臺、PXI分系統(tǒng),、電源(交直流電源,、同步機等)機柜、測試接口機箱,、測試夾具等構(gòu)成,，加上測試軟件，組成完整的測試系統(tǒng),。

　　c)系統(tǒng)特性

　　·測試信號類型多

　　主要涉及AC SIGNAL,、DC SIGNAL、AM SIGNAL,、PULSED DC,、PULSED DC TRAIN、SQUARE WAVE,、WAVEFORM,、IMPEDANCE、LOGIC DATA,、RS SERIALS COMMUNICATION,、SERIALS COMM ADAPTAR等。

　　·測試點數(shù)特別多

　　13塊電路板,，最少板子的測試點數(shù)也要將近100個測試點,，最多的板子將近200個測試點。

　　2)下面通過對比來說明運用電子產(chǎn)品功能測試平臺搭建測試系統(tǒng)的優(yōu)越性,。

　　·人工測試方法

　　通過使用便攜式傳統(tǒng)儀器,，對每塊電路板進行手動測試，同時人工記錄每次測試數(shù)據(jù),。有這么多測試信號和測試點,，其工作量之大是可想而知的,，另外，人工測試帶來非儀器精度造成的誤差和過失也是不可避免的,。所以,，采用這種方式弊端很多：一方面測試效率低下，另一方面測試精度很難保證,，最終直接導(dǎo)致開發(fā)周期和進度很難把控,，整個系統(tǒng)開發(fā)質(zhì)量體系很難建立。

　　·自動化測試方法

　　常見的是通過VXI總線方式,，使用各種便攜式傳統(tǒng)儀器,，通過各種儀器總線，如GPIB,、CAN和LAN等,，再編制各種儀器控制面板軟件并逐一進行測試。這種方式帶來的問題主要是,，購買各種便攜式傳統(tǒng)儀器價格昂貴,，直接造成開發(fā)成本增加。另外,，由于各個儀器走的是外部總線,，會降低整個測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性指標。再有就是不使用測試平臺,，對各種儀器的控制,、繼承性和維護性很差，也會造成開發(fā)成本增加,，開發(fā)周期延長,。

 　　·自動化測試方法

　　首先由于使用PXI總線，采用虛擬儀器技術(shù),，使得我們的測試系統(tǒng)具有靈活性,、高穩(wěn)定性、強通用性,。另外,，通過使用我們的電子產(chǎn)品功能測試平臺，使得測試各種信號變得很方便,。就拿這套氣象雷達電路板測試系統(tǒng)來說,，使用我們的平臺，整個開發(fā)周期也就控制在1～2個月以內(nèi),，所做的工作主要有：根據(jù)針對13 塊電路板的測試需求,，編寫對應(yīng)的測試包，包括測試步驟和路由信息配置以及測試數(shù)據(jù)報表格式等,。這部分的工作一般都在5～10個工作日內(nèi)完成,，具體根據(jù)測試需求的復(fù)雜性而定,。另外一個主要的工作就是去設(shè)計UUT(被測板)與ATE(各種儀器)之間的調(diào)理模塊。這部分工作隨著我們平臺配套的硬件調(diào)理模塊的日趨完善和成熟,，會進一步縮短整個測試系統(tǒng)搭建的開發(fā)周期,。

　　6．結(jié)束語

　　·面對電子產(chǎn)品功能測試的挑戰(zhàn)，需要相適應(yīng)的軟硬件系統(tǒng),；

　　·PXI總線技術(shù)在通用電子產(chǎn)品功能測試平臺中扮演著重要的角色,；

　　·基于LabVIEW,、VC和TestStand軟件開發(fā)環(huán)境,，泛華測控成功開發(fā)出了ETP平臺；

　　·ETP所支持的硬件和測試信號類型可進一步擴充,；

　　·ETP已經(jīng)被成功地應(yīng)用到實際項目中,。