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IGBT在大功率斬波中問題的應用
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屈維謙
摘要: 斬波是電力電子控制中的一項變流技術,其實質是直流控制的脈寬調制,,因其波形如同斬切般整齊,、對稱,,故名斬波。斬波在內饋調速控制中占有極為重要的地位,,它不僅關系到調速的技術性能,而且直接影響設備的運行安全和可靠性,,因此,。如何選擇斬波電路和斬波器件十分重要。
關鍵詞: IGBT 斬波
Abstract:
Key words :

斬波是電力電子控制中的一項變流技術,,其實質是直流控制的脈寬調制,,因其波形如同斬切般整齊、對稱,,故名斬波,。斬波在內饋調速控制中占有極為重要的地位,它不僅關系到調速的技術性能,,而且直接影響設備的運行安全和可靠性,,因此。如何選擇斬波電路和斬波器件十分重要,。

IGBT是近代新發(fā)展起來的全控型功率半導體器件,,它是由MOSFET(場效應晶體管)與GTR(大功率達林頓晶體管)結合,并由前者擔任驅動,,因此具有:驅動功率小,,通態(tài)壓降低,開關速度快等優(yōu)點,,目前已廣泛應用于變頻調速,、開關電源等電力電子領域。

就全控性能而言,,IGBT是最適合斬波應用的器件,,而且技術極為簡單,幾乎IGBT器件本身就構成了斬波電路,。但是要把IGBT斬波形成產品,,問題就沒有那么簡單,特別是大功率斬波,,如果不面對現實,,認真研究,、發(fā)現和解決存在的問題,必將事與愿違,,斬波設備的可靠性將遭受嚴重的破壞,。不知道是出于技術認識問題還是商務目的,近來發(fā)現,,某些企業(yè)對IGBT晶體管倍加推崇,,而對晶閘管全面否定,顯然,,這是不科學的,。為了尊重科學和澄清事實,本文就晶閘管和以IGBT為代表的晶體管的性能,、特點加以分析和對比,,希望能夠并引起討論,還科學以本來面目,。

一. IGBT的標稱電流與過流能力

1) IGBT的額定電流

目前,,IGBT的額定電流(元件標稱的電流)是以器件的最大直流電流標稱的,元件實際允許通過的電流受安全工作區(qū)的限制而減小,,由圖1所示的IGBT安全工作區(qū)可見,,影響通過電流的因素除了c-e電壓之外,還有工作頻率,,頻率越低,,導通時間越長,元件發(fā)熱越嚴重,,導通電流越小,。

圖1 IGBT的安全工作區(qū)

顯然,為了安全,,不可能讓元件工作在最大電流狀態(tài),,必須降低電流使用,因此,,IGBT上述的電流標稱,,實際上降低了元件的電流定額,形成標稱虛高,,而能力不足,。根據圖1 的特性,當IGBT導通時間較長時(例如100us),,UCE電壓將降低標稱值的1/2左右,;如果保持UCE不變,元件的最大集電極電流將降低額定值的2/3,。因此,,按照晶閘管的電流標稱標準,,IGBT的標稱電流實際僅為同等晶閘管的1/3左右。例如,,標稱為300A的IGBT只相當于100A的SCR(晶閘管),。又如,直流工作電流為500A的斬波電路,,如果選擇晶閘管,,當按:

式中的Ki為電流裕度系數,取Ki=2,,實際可以選擇630A標稱的晶閘管,。

如果選擇IGBT,則為:

應該選擇3000A的IGBT元件,。

IGBT這種沿襲普通晶體管的電流標稱準則,,在功率開關應用中是否合理,十分值得探討,。但無論結果如何,IGBT的標稱電流在應用時必須大打折扣是不爭的事實,。

1) IGBT的過流能力

半導體元件的過流能力通常用允許的峰值電流IM來衡量,,IGBT目前還沒有國際通用的標準,按德國EUPEC,、日本三菱等公司的產品參數,,IGBT的峰值電流定為最大集電極電流(標稱電流)的2倍,有

例如,,標稱電流為300A元件的峰值電流為600A,;而標稱800A元件的峰值電流為1600A。

對比晶閘管,按國標,,峰值電流為

峰值電流高達10倍額定有效值電流,,而且,過流時間長達10ms,,而IGBT的允許峰值電流時間據有關資料介紹僅為10us,,可見IGBT的過流能力太脆弱了。

承受過流的能力強弱是衡量斬波工作可靠與否的關鍵,,要使電路不發(fā)生過流幾乎是不可能的,,負載的變化,工作狀態(tài)切換的過度過程,,都將引發(fā)過流和過壓,,而過流保護畢竟是被動和有限的措施,要使器件安全工作,,最終還是要提高器件自身的過流能力,。

 另外,,由于受晶體管制造工藝的限制,IGBT很難制成大電流容量的單管芯,,較大電流的器件實際是內部小元件的并聯,,例如,標稱電流為600A的IGBT,,解剖開是8只75A元件并聯,,由于元件并聯工藝(焊接)的可靠性較差,使器件較比單一管芯的晶閘管在可靠性方面明顯降低,。

二. IGBT的擎住效應

IGBT的簡化等效電路如圖3所示:

圖3 IGBT的等效電路及晶閘管效應

其中的NPN晶體管和體區(qū)短路電阻Rbr都是因工藝而寄生形成的,,這樣,主PNP晶體管與寄生NPN晶體管形成了寄生的晶閘管,,當器件的集電極電流足夠大時,,在電阻Rbr上產生正偏電壓將導致寄生晶體管導通,造成寄生晶閘管導通,,IGBT的柵極失去控制,,器件的電流迅猛上升超過定額值,最終燒毀器件,,這種現象稱為擎住效應,。IGBT存在靜態(tài)和動態(tài)兩種擎住效應,分別由導通時的電流和關斷時的電壓過大而引起,,要在實踐中根本避免擎住效應是很困難的,,這在某種程度大大影響了IGBT的可靠性。

三. IGBT的高阻放大區(qū)

“晶體管是一種放大器”,,ABB公司的半導體專家卡羅爾在文獻1中對晶體管給出了中肯*價,。晶體管與晶閘管的本質區(qū)別在于:晶體管具有放大功能,器件存在導通,、截止和放大三個工作區(qū),,而放大區(qū)的載流子處于非飽和狀態(tài),故放大區(qū)的電阻遠高于導通區(qū),;晶閘管是晶體管的正反饋組合,,器件只存在導通和截止兩個工作區(qū),沒有高阻放大區(qū),。

眾所周知,,功率半導體器件都是作為開關使用的,有用的工作狀態(tài)只有導通和截止,,放大狀態(tài)非但沒用,,反而起負面作用。理由是如果電流通過放大區(qū),由于該區(qū)的電阻較大,,必然引起劇烈的發(fā)熱,,導致器件燒毀。IGBT從屬于晶體管,,同樣存在高阻放大區(qū),,器件在作開關應用時,必然經過放大區(qū)引起發(fā)熱,,這是包括IGBT在內的晶體管在開關應用上遜色于晶閘管的原理所在,。

圖4a 晶閘管的PNPN結構與等效電路

四. IGBT的封裝形式與散熱

對于半導體器件,管芯溫度是最重要的可靠條件,,幾乎所有的技術參數值都是在允許溫度(通常為120○——140○C)條件下才成立的,,如果溫度超標,器件的性能急劇下降,,最終導致損壞,。

半導體器件的封裝形式是為器件安裝和器件散熱服務的。定額200A以上的器件,,目前主要封裝形式有模塊式和平板壓接式兩種,,螺栓式基本已經淘汰。

模塊式結構多用于將數個器件整合成基本變流電路,,例如,,整流、逆變模塊,,具有體積小,安裝方便,,結構簡單等優(yōu)點,,缺點是器件只能單面散熱,而且要求底板既要絕緣又要導熱性能好(實現起來很困難),,只適用于中小功率的單元或器件,。

平板式結構主要用于單一的大電流器件,是將器件和雙面散熱器緊固在一起,,散熱器既作散熱又作電極之用,。平板式的優(yōu)點是散熱性能好,器件工作安全,、可靠,。缺點是安裝不便,功率單元結構復雜,,維護不如模塊式方便,。

綜合利弊,當電流大于200A(尤其是500A以上)的半導體器件上首選平板式結構,已經是業(yè)內共識,,只是IGBT受管芯制作原理的限制,,目前無法制造成大功率芯片,不能采用平板式結構,,只好采用模塊式,,雖然安裝方便,但散熱性能差不利于可靠性,,這是不爭的事實,。

五. IGBT的并聯均流問題

目前,國外單管IGBT的最大容量為2000A/2500V,,實際的商品器件容量為1200A/2400V,,根據大功率斬波的需要,通常,,額定工作電流為400A——1500A,,考慮到器件工作安全,必須留有2倍左右的電流裕度,,再結合本文前述的IGBT最大電流標稱問題,,單一器件無法滿足要求,必須采用器件并聯,。半導體器件并聯存在的均流問題是影響可靠性的關鍵,,由于受離散性的限制,并聯器件的參數不可能完全一致,,于是導致并聯器件的電流不均,,此時的1+1小于2,特別是嚴重不均流時,,通態(tài)電流大的器件將損壞,,這是半導體器件并聯中老大難的問題,為此,,要提高斬波包括其它電力電子設備的可靠性,,應該盡量避免器件并聯,而采用單管大電流器件,。

從理論上講,,IGBT在大電流狀態(tài)具有正溫度系數,可以改善均流性能,,但是畢竟有限,,加上可控半導體器件的均流還要考慮驅動一致性,否則,,既使導通特性一致,,也無法實現均流,這樣,就給IGBT并聯造成了極大困難,。

六. IGBT的驅動與隔離問題

可控半導體器件都存在控制部分,,晶閘管和晶體管也不例外。為了提高可靠性,,要求驅動或觸發(fā)部分必須和主電路嚴格隔離,,兩者不能有電的聯系。

與晶閘管的脈沖沿觸發(fā)特性不同(沿驅動),,IGBT等晶體管的導通要求柵極具有持續(xù)的電流或電壓(電平驅動),,這樣,晶體管就不能象晶閘管那樣,,通過采用脈沖變壓器實現隔離,,驅動電路必須是有源的,電路較為復雜,,而且包含驅動電源在內,,要和主電路有高耐壓的隔離。實踐證明,,晶體管的驅動隔離是導致系統(tǒng)可靠性降低不可忽略的因素,,據不完全統(tǒng)計,由于驅動隔離問題而導致故障的幾率約占總故障的15%以上,。

 七. 結束語

附表1,、2總結了晶閘管和IGBT部分性能的對比:

附表1 SCR(晶閘管)與IGBT的部分性能對比

IGBT斬波受器件容量和晶體管特性的限制,在較大功率(500KW以上)的內饋調速應用上還存在問題,,其中主要表現在承受過流,、過壓的可靠性方面。不能以IGBT的全控優(yōu)點,,掩蓋其存在的不足,,科學實踐需要科學的態(tài)度。

在大功率開關應用的可靠性方面,,晶閘管要優(yōu)于晶體管,這是半導體器件原理所決定的,。目前,,新型晶閘管的發(fā)展速度非常之快,目的是解決普通晶閘管存在無法門極關斷的缺點,,國外(目前僅有ABB公司)最新推出的TGO與MOSFET的組合——集成門極換向晶閘管IGCT是較為理想的晶閘管器件,,最為適合大功率斬波應用。

IGCT和IGBT目前都存在依賴進口和價格昂貴的問題,,受其影響,,給我國的斬波內饋調速應用造成不小的困難,維修費用高,器件參數把控難,,供貨時間長等因素都應該在產品化時慎重考慮,。

盡管普通晶閘管存在關斷困難的缺點,如果能夠加以解決,,仍然是近期大功率斬波應用的主導方向,,理由是普通晶閘管的其它優(yōu)點是晶體管無法替代的。

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