《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 通信與網(wǎng)絡(luò) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > IGBT在大功率斬波中問題的應(yīng)用
IGBT在大功率斬波中問題的應(yīng)用
維庫開發(fā)網(wǎng)
屈維謙
摘要: 斬波是電力電子控制中的一項(xiàng)變流技術(shù),其實(shí)質(zhì)是直流控制的脈寬調(diào)制,,因其波形如同斬切般整齊,、對稱,,故名斬波,。斬波在內(nèi)饋調(diào)速控制中占有極為重要的地位,,它不僅關(guān)系到調(diào)速的技術(shù)性能,,而且直接影響設(shè)備的運(yùn)行安全和可靠性,,因此,。如何選擇斬波電路和斬波器件十分重要。
關(guān)鍵詞: IGBT 斬波
Abstract:
Key words :

斬波是電力電子控制中的一項(xiàng)變流技術(shù),,其實(shí)質(zhì)是直流控制的脈寬調(diào)制,,因其波形如同斬切般整齊、對稱,,故名斬波,。斬波在內(nèi)饋調(diào)速控制中占有極為重要的地位,它不僅關(guān)系到調(diào)速的技術(shù)性能,,而且直接影響設(shè)備的運(yùn)行安全和可靠性,,因此。如何選擇斬波電路和斬波器件十分重要,。

IGBT是近代新發(fā)展起來的全控型功率半導(dǎo)體器件,,它是由MOSFET(場效應(yīng)晶體管)與GTR(大功率達(dá)林頓晶體管)結(jié)合,并由前者擔(dān)任驅(qū)動,,因此具有:驅(qū)動功率小,,通態(tài)壓降低,開關(guān)速度快等優(yōu)點(diǎn),,目前已廣泛應(yīng)用于變頻調(diào)速、開關(guān)電源等電力電子領(lǐng)域,。

就全控性能而言,,IGBT是最適合斬波應(yīng)用的器件,而且技術(shù)極為簡單,,幾乎IGBT器件本身就構(gòu)成了斬波電路,。但是要把IGBT斬波形成產(chǎn)品,問題就沒有那么簡單,,特別是大功率斬波,,如果不面對現(xiàn)實(shí),認(rèn)真研究,、發(fā)現(xiàn)和解決存在的問題,,必將事與愿違,斬波設(shè)備的可靠性將遭受嚴(yán)重的破壞,。不知道是出于技術(shù)認(rèn)識問題還是商務(wù)目的,,近來發(fā)現(xiàn),,某些企業(yè)對IGBT晶體管倍加推崇,而對晶閘管全面否定,,顯然,,這是不科學(xué)的。為了尊重科學(xué)和澄清事實(shí),,本文就晶閘管和以IGBT為代表的晶體管的性能,、特點(diǎn)加以分析和對比,希望能夠并引起討論,,還科學(xué)以本來面目,。

一. IGBT的標(biāo)稱電流與過流能力

1) IGBT的額定電流

目前,IGBT的額定電流(元件標(biāo)稱的電流)是以器件的最大直流電流標(biāo)稱的,,元件實(shí)際允許通過的電流受安全工作區(qū)的限制而減小,,由圖1所示的IGBT安全工作區(qū)可見,影響通過電流的因素除了c-e電壓之外,,還有工作頻率,,頻率越低,導(dǎo)通時間越長,,元件發(fā)熱越嚴(yán)重,,導(dǎo)通電流越小。

圖1 IGBT的安全工作區(qū)

顯然,,為了安全,,不可能讓元件工作在最大電流狀態(tài),必須降低電流使用,,因此,,IGBT上述的電流標(biāo)稱,實(shí)際上降低了元件的電流定額,,形成標(biāo)稱虛高,,而能力不足。根據(jù)圖1 的特性,,當(dāng)IGBT導(dǎo)通時間較長時(例如100us),,UCE電壓將降低標(biāo)稱值的1/2左右;如果保持UCE不變,,元件的最大集電極電流將降低額定值的2/3,。因此,按照晶閘管的電流標(biāo)稱標(biāo)準(zhǔn),,IGBT的標(biāo)稱電流實(shí)際僅為同等晶閘管的1/3左右,。例如,標(biāo)稱為300A的IGBT只相當(dāng)于100A的SCR(晶閘管),。又如,,直流工作電流為500A的斬波電路,,如果選擇晶閘管,當(dāng)按:

式中的Ki為電流裕度系數(shù),,取Ki=2,,實(shí)際可以選擇630A標(biāo)稱的晶閘管。

如果選擇IGBT,,則為:

應(yīng)該選擇3000A的IGBT元件,。

IGBT這種沿襲普通晶體管的電流標(biāo)稱準(zhǔn)則,在功率開關(guān)應(yīng)用中是否合理,,十分值得探討,。但無論結(jié)果如何,IGBT的標(biāo)稱電流在應(yīng)用時必須大打折扣是不爭的事實(shí),。

1) IGBT的過流能力

半導(dǎo)體元件的過流能力通常用允許的峰值電流IM來衡量,,IGBT目前還沒有國際通用的標(biāo)準(zhǔn),按德國EUPEC,、日本三菱等公司的產(chǎn)品參數(shù),,IGBT的峰值電流定為最大集電極電流(標(biāo)稱電流)的2倍,有

例如,,標(biāo)稱電流為300A元件的峰值電流為600A,;而標(biāo)稱800A元件的峰值電流為1600A。

對比晶閘管,按國標(biāo),,峰值電流為

峰值電流高達(dá)10倍額定有效值電流,,而且,過流時間長達(dá)10ms,,而IGBT的允許峰值電流時間據(jù)有關(guān)資料介紹僅為10us,,可見IGBT的過流能力太脆弱了。

承受過流的能力強(qiáng)弱是衡量斬波工作可靠與否的關(guān)鍵,,要使電路不發(fā)生過流幾乎是不可能的,,負(fù)載的變化,工作狀態(tài)切換的過度過程,,都將引發(fā)過流和過壓,而過流保護(hù)畢竟是被動和有限的措施,,要使器件安全工作,,最終還是要提高器件自身的過流能力。

 另外,,由于受晶體管制造工藝的限制,,IGBT很難制成大電流容量的單管芯,較大電流的器件實(shí)際是內(nèi)部小元件的并聯(lián),,例如,,標(biāo)稱電流為600A的IGBT,,解剖開是8只75A元件并聯(lián),由于元件并聯(lián)工藝(焊接)的可靠性較差,,使器件較比單一管芯的晶閘管在可靠性方面明顯降低,。

二. IGBT的擎住效應(yīng)

IGBT的簡化等效電路如圖3所示:

圖3 IGBT的等效電路及晶閘管效應(yīng)

其中的NPN晶體管和體區(qū)短路電阻Rbr都是因工藝而寄生形成的,這樣,,主PNP晶體管與寄生NPN晶體管形成了寄生的晶閘管,,當(dāng)器件的集電極電流足夠大時,在電阻Rbr上產(chǎn)生正偏電壓將導(dǎo)致寄生晶體管導(dǎo)通,,造成寄生晶閘管導(dǎo)通,,IGBT的柵極失去控制,器件的電流迅猛上升超過定額值,,最終燒毀器件,,這種現(xiàn)象稱為擎住效應(yīng)。IGBT存在靜態(tài)和動態(tài)兩種擎住效應(yīng),,分別由導(dǎo)通時的電流和關(guān)斷時的電壓過大而引起,,要在實(shí)踐中根本避免擎住效應(yīng)是很困難的,這在某種程度大大影響了IGBT的可靠性,。

三. IGBT的高阻放大區(qū)

“晶體管是一種放大器”,,ABB公司的半導(dǎo)體專家卡羅爾在文獻(xiàn)1中對晶體管給出了中肯*價。晶體管與晶閘管的本質(zhì)區(qū)別在于:晶體管具有放大功能,,器件存在導(dǎo)通,、截止和放大三個工作區(qū),而放大區(qū)的載流子處于非飽和狀態(tài),,故放大區(qū)的電阻遠(yuǎn)高于導(dǎo)通區(qū),;晶閘管是晶體管的正反饋組合,器件只存在導(dǎo)通和截止兩個工作區(qū),,沒有高阻放大區(qū),。

眾所周知,功率半導(dǎo)體器件都是作為開關(guān)使用的,,有用的工作狀態(tài)只有導(dǎo)通和截止,,放大狀態(tài)非但沒用,反而起負(fù)面作用,。理由是如果電流通過放大區(qū),,由于該區(qū)的電阻較大,必然引起劇烈的發(fā)熱,,導(dǎo)致器件燒毀,。IGBT從屬于晶體管,同樣存在高阻放大區(qū),器件在作開關(guān)應(yīng)用時,,必然經(jīng)過放大區(qū)引起發(fā)熱,,這是包括IGBT在內(nèi)的晶體管在開關(guān)應(yīng)用上遜色于晶閘管的原理所在。

圖4a 晶閘管的PNPN結(jié)構(gòu)與等效電路

四. IGBT的封裝形式與散熱

對于半導(dǎo)體器件,,管芯溫度是最重要的可靠條件,,幾乎所有的技術(shù)參數(shù)值都是在允許溫度(通常為120○——140○C)條件下才成立的,如果溫度超標(biāo),,器件的性能急劇下降,,最終導(dǎo)致?lián)p壞。

半導(dǎo)體器件的封裝形式是為器件安裝和器件散熱服務(wù)的,。定額200A以上的器件,,目前主要封裝形式有模塊式和平板壓接式兩種,螺栓式基本已經(jīng)淘汰,。

模塊式結(jié)構(gòu)多用于將數(shù)個器件整合成基本變流電路,,例如,整流,、逆變模塊,,具有體積小,安裝方便,,結(jié)構(gòu)簡單等優(yōu)點(diǎn),,缺點(diǎn)是器件只能單面散熱,而且要求底板既要絕緣又要導(dǎo)熱性能好(實(shí)現(xiàn)起來很困難),,只適用于中小功率的單元或器件,。

平板式結(jié)構(gòu)主要用于單一的大電流器件,是將器件和雙面散熱器緊固在一起,,散熱器既作散熱又作電極之用,。平板式的優(yōu)點(diǎn)是散熱性能好,器件工作安全,、可靠,。缺點(diǎn)是安裝不便,功率單元結(jié)構(gòu)復(fù)雜,,維護(hù)不如模塊式方便,。

綜合利弊,當(dāng)電流大于200A(尤其是500A以上)的半導(dǎo)體器件上首選平板式結(jié)構(gòu),,已經(jīng)是業(yè)內(nèi)共識,,只是IGBT受管芯制作原理的限制,目前無法制造成大功率芯片,,不能采用平板式結(jié)構(gòu),只好采用模塊式,雖然安裝方便,,但散熱性能差不利于可靠性,,這是不爭的事實(shí)。

五. IGBT的并聯(lián)均流問題

目前,,國外單管IGBT的最大容量為2000A/2500V,,實(shí)際的商品器件容量為1200A/2400V,根據(jù)大功率斬波的需要,,通常,,額定工作電流為400A——1500A,考慮到器件工作安全,,必須留有2倍左右的電流裕度,,再結(jié)合本文前述的IGBT最大電流標(biāo)稱問題,單一器件無法滿足要求,,必須采用器件并聯(lián),。半導(dǎo)體器件并聯(lián)存在的均流問題是影響可靠性的關(guān)鍵,由于受離散性的限制,,并聯(lián)器件的參數(shù)不可能完全一致,,于是導(dǎo)致并聯(lián)器件的電流不均,此時的1+1小于2,,特別是嚴(yán)重不均流時,,通態(tài)電流大的器件將損壞,這是半導(dǎo)體器件并聯(lián)中老大難的問題,,為此,,要提高斬波包括其它電力電子設(shè)備的可靠性,應(yīng)該盡量避免器件并聯(lián),,而采用單管大電流器件,。

從理論上講,IGBT在大電流狀態(tài)具有正溫度系數(shù),,可以改善均流性能,,但是畢竟有限,加上可控半導(dǎo)體器件的均流還要考慮驅(qū)動一致性,,否則,,既使導(dǎo)通特性一致,也無法實(shí)現(xiàn)均流,,這樣,,就給IGBT并聯(lián)造成了極大困難。

六. IGBT的驅(qū)動與隔離問題

可控半導(dǎo)體器件都存在控制部分,,晶閘管和晶體管也不例外,。為了提高可靠性,,要求驅(qū)動或觸發(fā)部分必須和主電路嚴(yán)格隔離,兩者不能有電的聯(lián)系,。

與晶閘管的脈沖沿觸發(fā)特性不同(沿驅(qū)動),,IGBT等晶體管的導(dǎo)通要求柵極具有持續(xù)的電流或電壓(電平驅(qū)動),這樣,,晶體管就不能象晶閘管那樣,,通過采用脈沖變壓器實(shí)現(xiàn)隔離,驅(qū)動電路必須是有源的,,電路較為復(fù)雜,,而且包含驅(qū)動電源在內(nèi),要和主電路有高耐壓的隔離,。實(shí)踐證明,,晶體管的驅(qū)動隔離是導(dǎo)致系統(tǒng)可靠性降低不可忽略的因素,據(jù)不完全統(tǒng)計(jì),,由于驅(qū)動隔離問題而導(dǎo)致故障的幾率約占總故障的15%以上,。

 七. 結(jié)束語

附表1、2總結(jié)了晶閘管和IGBT部分性能的對比:

附表1 SCR(晶閘管)與IGBT的部分性能對比

IGBT斬波受器件容量和晶體管特性的限制,,在較大功率(500KW以上)的內(nèi)饋調(diào)速應(yīng)用上還存在問題,,其中主要表現(xiàn)在承受過流、過壓的可靠性方面,。不能以IGBT的全控優(yōu)點(diǎn),,掩蓋其存在的不足,科學(xué)實(shí)踐需要科學(xué)的態(tài)度,。

在大功率開關(guān)應(yīng)用的可靠性方面,,晶閘管要優(yōu)于晶體管,這是半導(dǎo)體器件原理所決定的,。目前,,新型晶閘管的發(fā)展速度非常之快,目的是解決普通晶閘管存在無法門極關(guān)斷的缺點(diǎn),,國外(目前僅有ABB公司)最新推出的TGO與MOSFET的組合——集成門極換向晶閘管IGCT是較為理想的晶閘管器件,,最為適合大功率斬波應(yīng)用。

IGCT和IGBT目前都存在依賴進(jìn)口和價格昂貴的問題,,受其影響,,給我國的斬波內(nèi)饋調(diào)速應(yīng)用造成不小的困難,維修費(fèi)用高,,器件參數(shù)把控難,,供貨時間長等因素都應(yīng)該在產(chǎn)品化時慎重考慮。

盡管普通晶閘管存在關(guān)斷困難的缺點(diǎn),,如果能夠加以解決,,仍然是近期大功率斬波應(yīng)用的主導(dǎo)方向,,理由是普通晶閘管的其它優(yōu)點(diǎn)是晶體管無法替代的。

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),,未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載,。