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單結(jié)晶體管工作性能速測電路

2016-07-05 15:37
單結(jié)晶體管工作性能速測電路 如圖所示為單節(jié)晶體管工作性能速測電路。被測單結(jié)晶體管VBT(設(shè):BT33)與R3,、C2組成張弛振蕩器,。VBT在導(dǎo)通時,三極管VT1通過偏置電阻R2獲得偏置電流(此時S1斷開,,S2閉合),,發(fā)光二極管H1發(fā)光。 10V電源 通過R3經(jīng)VD2向C2充電,。電壓表V可以測量出C2兩端的電壓會隨著時間的推移在不斷上升,,E端電位達(dá)到VBT的峰值電壓時,,VBT的E~B1間便自動導(dǎo)通,電容C1上的電壓經(jīng)E~B1放電,,使三極管VT1的發(fā)射結(jié)受反偏截止,,H1熄滅。如果被測 單結(jié)晶體管VBT是好的,,電容C1就會周而復(fù)始地充電放電,H1就會明暗交替地閃光,。若是H1一直亮著,,可將VBT的B1、B2腳調(diào)換檢測(這樣也便于正確區(qū)分出Bl,、B2管腳),,要不然則此單節(jié)晶體管是壞管。