某系統(tǒng)的A／D模塊需實(shí)現(xiàn)檢測(cè)輸入電壓值,，變化范圍為0～58 V。主芯片選用NXP公司的ARM7系列的LPC2368,，片上自帶10位ADC和DAC,，ADC測(cè)量輸入電壓范圍是0～3 V，而DAC的范圍是0～3 V,。傳統(tǒng)方法是直接將輸入電壓送入ADC法滿足精度要求,，但輸入電壓的變化范圍大于ADC的輸入電壓范圍?；诖?，這里給出一種利用MCU自帶ADC和DAC，并結(jié)合運(yùn)放,、電容,、電阻等元件搭建外圍硬件電路，實(shí)現(xiàn)10～20位測(cè)量精度可調(diào)的ADC的方法,。

1 高精度ADC設(shè)計(jì)原理
    輸入電壓經(jīng)過(guò)電阻分壓產(chǎn)生電壓U入,，送入由運(yùn)放和電阻組成的減法運(yùn)算電路的同相端，分壓的原因是輸入電壓最大值大于運(yùn)放的最大輸入電壓,。MCU的DAC輸出經(jīng)過(guò)同相比例運(yùn)算電路放大之后產(chǎn)生與U入相近的電壓U近,，送入減法電路的反相端。同相比例運(yùn)算電路的作用是擴(kuò)大DAC的輸出電壓范圍,，使U入和U近的最大值近似相等,。經(jīng)過(guò)減法運(yùn)算電路之后的電壓差值U差經(jīng)過(guò)箝位電路送入MCU的ADC，通過(guò)讀ADC寄存器的值可得U差的值,。箝位電路是防止ADC的輸入電壓超過(guò)量程,，而導(dǎo)致燒毀MCU,。
    在測(cè)量時(shí)，由軟件控制改變DAC寄存器的值,，從而改變DAC輸出電壓值,，使U差的電壓值在量程范圍(0～3 V)之內(nèi)。此時(shí)通過(guò)讀DAC和ADC的寄存器的值,，可得DAC輸出電壓與送入ADC的電壓U差的值,。根據(jù)DAC的輸出電壓和同相比例運(yùn)算電路公式可得U近電壓值，根據(jù)減法電路公式,、U差和U近的值可得輸入電壓值,。
    系統(tǒng)硬件框圖如圖1所示。

2 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
    圖2為實(shí)現(xiàn)17位ADC原理圖,。U101,、R100、R101,、R102,、R103組成減法電路，U102,、R108,、R109、R116組成同相比例運(yùn)算電路,。VD100
組成箝位電路,。VR是由基準(zhǔn)電壓源產(chǎn)生的3 V的基準(zhǔn)電壓。R117和R118組成分壓電路,，在R118上的電壓為45 mV可抵消運(yùn)放的零漂,。ADO是MCU的ADC通道0的輸入端。

    圖2所示的電路雖然只是實(shí)現(xiàn)17位ADC,，但通過(guò)修改幾個(gè)特定的電阻阻值就可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍和ADC測(cè)量分辨率,。通過(guò)修改同相比例運(yùn)算電路中R109與R116比例值，可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)輸入電壓的測(cè)量范圍,；通過(guò)修改減法電路中的R103與R100比例值,，可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)ADC的分辨率。下面結(jié)合實(shí)現(xiàn)17位ADC硬件設(shè)計(jì)電路圖,，具體說(shuō)明如何實(shí)現(xiàn)17位高精度ADC,、調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍和實(shí)現(xiàn)10～20位精度可調(diào)的ADC。
2．1 17位ADC的實(shí)琨過(guò)程
    對(duì)于一個(gè)n位的ADC,，其分辨率為可測(cè)量最大輸入電壓值與2n的比值,。因此，此電路圖可實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù)可以通過(guò)輸入電壓的最大值和分辨率計(jì)算得出,。
    1)計(jì)算輸入電壓測(cè)量范圍的方法 由圖2可知,，ADC的輸入電壓計(jì)算公式如下：

    式中,，VIN是輸入電壓，VDAOUT是當(dāng)ADC的輸入電壓處于量程范圍之內(nèi)時(shí)DAC電壓,，VDAO是ADC輸入電壓,。
    由式(2)可知，當(dāng)DAC的輸出電壓和ADC的輸入電壓剛好達(dá)到最大值3 V時(shí),，輸入電壓為59．1 V,，此電壓值為系統(tǒng)可測(cè)量的最大輸入電壓值。由此可見(jiàn)輸入電壓的測(cè)量范圍是0～59．1 V,。
    2)ADC分辨率的計(jì)算方法 當(dāng)DAC的輸出為零時(shí),，即VDAOUT=0時(shí)，由式(2)可知輸入電壓VIN與VADO的電壓的關(guān)系為：
    VIN=VADO／10,。MCU的ADC位數(shù)是1O位,、最大輸入電壓是3 V。因此,，ADC分辨率為0．292 mV。
    3)實(shí)現(xiàn)17位ADC根據(jù)輸入電壓最大值與ADC分辨率的比值計(jì)算出此電路圖實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù),。由59．1／(0．292x10-3)=202 397=217．6,，可以看出此電路實(shí)現(xiàn)了17位的ADC。
2．2 調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍的方法
    因?yàn)閂ADO和VDAOUT的最大值都是3 V,，由式(2)可知,，可測(cè)量的最大輸入電壓值是由R100、R103,、R116,、R109決定的。改變R100與R103的比值會(huì)影響ADC的測(cè)量精度,，因此,，調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍主要是通過(guò)調(diào)節(jié)R116與R109的比值。由式(2)容易看出,，當(dāng)R116增加時(shí),，測(cè)量電壓輸入范圍增加，R109增加時(shí)測(cè)量電壓輸入范圍減小,。
2．3 實(shí)現(xiàn)10～20位精度可調(diào)ADC的方法
    由17位ADC的實(shí)現(xiàn)過(guò)程可知,，此電路實(shí)現(xiàn)ADC的位數(shù)是由測(cè)量輸入電壓最大值和ADC的分辨率決定的。所以在改變ADC的位數(shù)時(shí),，要通過(guò)改變測(cè)量輸入電壓范圍或者ADC分辨率,。但是，系統(tǒng)測(cè)量輸入電壓范圍是固定的,。因此,，可通過(guò)改變ADC分辨率實(shí)現(xiàn)ADC的位數(shù)改變,。
    1)調(diào)節(jié)ADC分辨率的方法當(dāng)DAC的輸出電壓為零時(shí)，將式(2)化簡(jiǎn)為式(3)：
   
    由式(3)可知,，當(dāng)MCU的ADC變化一個(gè)電壓刻度值時(shí),，VIN變化6R100／R103。ADC位數(shù)是10位,、最大輸入電壓是3 V,。因此，ADO分辨率為3 V／1 024=2．92 mV,，ADC的分辨率為2．92x10-3x6R100／R103,。由此可見(jiàn)，R100增加時(shí),，分辨率下降,；R103增加時(shí)，分辨率提高,。
    2)實(shí)現(xiàn)10～20位精度可調(diào)ADC通過(guò)可測(cè)量的輸入電壓最大值與要實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù)可計(jì)算出ADC的分辨率,，再通過(guò)式(3)可求出R100與R103的比例關(guān)系。按照R100與R103的比例關(guān)系修改其阻值,，即可實(shí)現(xiàn)要得到的ADC的位數(shù),。例如將本系統(tǒng)修改為20位ADC，則ADC測(cè)量精度應(yīng)該為59．1 V／220=0．056 mV,。由式(3)可知0．056=6x0．292xR100／R103,，所以修改R103與R100的比值為312．8，即可以實(shí)現(xiàn)20位的ADC,。通過(guò)此方法可實(shí)現(xiàn)10～20位精度可調(diào)的ADC,。
2．4 硬件設(shè)計(jì)說(shuō)明
    U100是由運(yùn)放OPA177F組成的電壓跟隨器，具有輸入阻抗高,，輸出阻抗低的特點(diǎn),，在本系統(tǒng)中的作用是實(shí)現(xiàn)匹配U101的輸入電阻和提高對(duì)輸入電壓分壓的精確度。R101和R100第二級(jí)減法運(yùn)算電路的輸入匹配電阻,，其阻值不宜小于10 kΩ,，太小會(huì)影響ADC的測(cè)量精度。R104為限流電阻,，防止電流超過(guò)VD100的最大額定電流,。
    R117和R118組成分壓電路，在R118上的電壓為45 mv,，可抵消運(yùn)放的零漂,。若不加此分壓電路且DAC輸出為零時(shí)，經(jīng)過(guò)實(shí)際測(cè)量TP102點(diǎn)的電壓約為120 mV，這是由運(yùn)放的零漂造成的,，會(huì)影響ADC的測(cè)量精度,。在每一個(gè)運(yùn)放輸入端添加了0．1 μF的電容，去除高頻信號(hào),，提高輸入信號(hào)的穩(wěn)定性,。

3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
    軟件部分主要功能是對(duì)輸入電壓的測(cè)量。因?yàn)橛布O(shè)計(jì)中,，運(yùn)放和電阻本身的參數(shù)存在誤差,，所以它們組成的放大電路的放大倍數(shù)存在誤差，從而造成ADC測(cè)量產(chǎn)生誤差,。因此,，傳統(tǒng)方法直接利用它們組成的放大電路的計(jì)算公式(式(2))計(jì)算出的輸入電壓值誤差比較大，電壓跳動(dòng)明顯,。因此,，在系統(tǒng)第一次測(cè)量輸入電壓前，首先通過(guò)軟件設(shè)計(jì)建立輸入電壓校正表校正的方法實(shí)現(xiàn)減小誤差,。
    校正表是在第一次測(cè)量之前建立的數(shù)據(jù)表,，作用是通過(guò)此表觀察輸入電壓值與測(cè)量值之間滿足何種曲線關(guān)系。在測(cè)量輸入電壓時(shí),，通過(guò)得到的曲線關(guān)系選擇拉格朗日插值算法,，并將測(cè)量的值代入選擇的拉格朗日插值公式，計(jì)算出較為精確的輸入電壓值,。
3．1 軟件實(shí)現(xiàn)過(guò)程
    軟件設(shè)計(jì)過(guò)程主要包括MCU的ADC進(jìn)行初始化，建立輸入電壓校正表,，計(jì)算表達(dá)式(5)的值,，拉格朗日插值計(jì)算輸入電壓，顯示輸入電壓值,。軟件設(shè)計(jì)流程如3所示,。

    設(shè)X為MCU的DAC數(shù)字量十進(jìn)制的值，Y為MCU的ADC數(shù)字量十進(jìn)制的值,。
   
    由式(4)可得式(5)：
   
3．1．1 初始化ADC
    主要是對(duì)MCU的ADC進(jìn)行初始化,，主要包括ADC寄存器配置、選擇I／O口的工作模式,、選擇ADC的通道,、啟動(dòng)ADC。
3．1．2 校正
    校正是在測(cè)量輸入電壓前,，首先利用基準(zhǔn)電壓源輸入多個(gè)基準(zhǔn)電壓值,，并通過(guò)讀MCU的ADC寄存器值記錄對(duì)應(yīng)的數(shù)字量的值，并將這兩項(xiàng)的值保存到校正表中,。在測(cè)量輸入電壓時(shí),，將所得的數(shù)字量的值利用拉格朗日插值算法代入校正表可得精確的輸入電壓值,。
    1)校正表內(nèi)容校正的過(guò)程主要是通過(guò)建立校正表建立起實(shí)際輸入電壓值與測(cè)量輸入電壓值的聯(lián)系。校正表存放兩項(xiàng)數(shù)據(jù),。一項(xiàng)是1～59 V的整數(shù)電壓值,，另一項(xiàng)是式(5)的和。因?yàn)橄到y(tǒng)測(cè)量的輸入電壓值是只保留到小數(shù)點(diǎn)后2位的近似值,，而式(5)中包含測(cè)量的ADC和DAC的十進(jìn)制數(shù)字量值更為精確,。由式(4)可看出式(5)的值與測(cè)量的輸入電壓值存在比例關(guān)系，所以它們與實(shí)際輸入電壓的曲線關(guān)系相同,。因此,，另一項(xiàng)的內(nèi)容存放的是式(5)的和。
    2)建立校正表的過(guò)程從1～59 V,，用電壓源每隔1 V輸入一次電壓,，通過(guò)讀MCU的ADC和DAC寄存器的值，記錄每次ADC和DAC的數(shù)字量十進(jìn)制的值,。將記錄的ADC和DAC的值代入式(5)計(jì)算其和并保存到校正表中,。
3．1．3 計(jì)算式(5)的和值
    通過(guò)程序改變MCU的DAC寄存器的值實(shí)現(xiàn)改變DAC的輸出電壓值，在改變DAC寄存器的值的同時(shí)通過(guò)觀察ADC的寄存器的值確定ADO的輸入電壓值是否在量程范圍之內(nèi),。當(dāng)ADO的輸入在量程范圍之內(nèi)時(shí),，通過(guò)讀DAC寄存器和ADC的寄存器值可分別獲得MCU的DAC和ADC的數(shù)字量十進(jìn)制值，將獲得的值代入式(5)可得其和,。
3．1．4 計(jì)算輸入電壓
    計(jì)算輸入電壓函數(shù)實(shí)現(xiàn)功能是利用拉格拉日插值公式計(jì)算出輸入電壓,。通過(guò)坐標(biāo)軸觀察校正表中數(shù)據(jù)，實(shí)際輸入電壓值與測(cè)量值滿足線性關(guān)系,。在輸入電壓校正表中,，查找與式(6)的值最接近的2個(gè)點(diǎn)，然后代入拉格拉日線性插值公式計(jì)算出輸入電壓,。
   
3．2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    利用傳統(tǒng)方法直接送入ADC測(cè)量輸入電壓的精度理想情況下最高為59．1／1024=57．7mV,，由于硬件參數(shù)誤差和干擾等原因會(huì)使測(cè)量誤差大于20mV，無(wú)法滿足系統(tǒng)的測(cè)量精度和準(zhǔn)確度要求,。利用本文所提出的17位高精度A／D測(cè)量方法測(cè)量精度可減小為0.45mV,，通過(guò)軟件校正的方法測(cè)量誤差可控制在10mV以內(nèi)，滿足了設(shè)計(jì)要求,。通過(guò)本文所述提高測(cè)量精度的方法,，最高可實(shí)現(xiàn)20位ADC，測(cè)量精度可減小為0.056 mV,。

4 結(jié)束語(yǔ)
    本文基于NXP的LPC2368,，利用其內(nèi)部集成的ADC和DAC，實(shí)現(xiàn)高精度且精度可調(diào)的ADC，這種方法容易實(shí)現(xiàn),，可以應(yīng)用在眾多數(shù)據(jù)采集領(lǐng)域,，如傳感器的數(shù)據(jù)采集、電壓信號(hào)的測(cè)量等,，只要選用的MCU自帶ADC和DAC,，就可以采用本文方法實(shí)現(xiàn)最高精度達(dá)20位的高精度且精度可調(diào)的ADC。