美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發(fā)布了《2011自動(dòng)化測試技術(shù)展望》,，就影響測試測量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結(jié)果,。該報(bào)告所闡述的發(fā)展趨勢覆蓋了消費(fèi)電子、汽車、半導(dǎo)體、航空航天、醫(yī)療設(shè)備和通信等眾多產(chǎn)業(yè),，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實(shí)踐案例，優(yōu)化測試組織架構(gòu),。

　　《2011自動(dòng)化測試技術(shù)展望》以學(xué)術(shù)和工業(yè)研究,、網(wǎng)上論壇、問卷調(diào)查,、商業(yè)咨詢,、客戶反饋等多種形式廣泛進(jìn)行調(diào)查，提出了下一代測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢,，以應(yīng)對(duì)該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術(shù)挑戰(zhàn),。報(bào)告從四個(gè)方面進(jìn)行了闡述：

　　-- 測試資源整合：將設(shè)計(jì)驗(yàn)證和生產(chǎn)測試的資源整合在一起,，需要重視人力資源、流程控制和技術(shù)等方面的革新,。

　　-- 系統(tǒng)軟件棧：一個(gè)高度集成的軟件架構(gòu)可以提升測試性能,，并縮短開發(fā)時(shí)間時(shí)間。

　　-- 異質(zhì)計(jì)算：未來的測試系統(tǒng)將會(huì)需要不同類型的運(yùn)算節(jié)點(diǎn),，來滿足愈加嚴(yán)格的數(shù)據(jù)分析與處理要求,。

　　--IP to the Pin：在設(shè)計(jì)與測試階段共享FPGA IP可顯著縮短對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證測試的時(shí)間，提高產(chǎn)品測試的效率和故障檢測覆蓋率,。